一种二维光纤阵列的测试方法与流程

本发明涉及光纤领域，特别是涉及一种二维光纤阵列的测试方法。

背景技术：

随着对带宽需求的增大，电互连已经成为高速处理器与高速网络之间的一个瓶颈。因此，用光互连取代电互连已经成为必然的发展趋势。同时，随着并行多处理器等并行技术的发展，并行光互连已经得到了广泛的重视。光纤阵列并行光互连是一种带宽高、成本低、可靠性高、发展前景好的并行光互连方法，能够广泛的用于芯片间、电路板间和系统间的光互连。一维光收发模块的研制主要是由美国的一些联合研究项目进行，传输媒质经常用一维光纤阵列。由于其每个互连通道不能传送超过200gbit/s的数据，为了满足带宽的需要，只有提高互连通道密度。因此人们开始重视二维光纤阵列。

在此之前一直没有测试二维光纤阵列光学性能的方法，只有测试其纤芯距的方法，对二维光纤阵列的损耗测试没有涉及。

技术实现要素：

本发明主要解决的技术问题是提供一种二维光纤阵列的测试方法，可适用于各种型号规格的二维光纤阵列测试，能够有效检测二维光纤阵列光学损耗，提前筛选二维光纤阵列的数据范围，减少应用过程中的耦合时间及匹配误差，提高耦合效率。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种二维光纤阵列的测试方法，具体步骤包括：

a、使用六维高精度调节架与插回损测试仪将非二维光纤阵列辅助测试结构进行对准测试，得出非二维光纤阵列辅助测试结构的光学损耗m1；

b、使用六维高精度调节架与插回损测试仪将非二维光纤阵列辅助测试结构与二维光纤阵列进行对准测试，得出光纤阵列的组合光学损耗m2；

c、将上述步骤得出的光学损耗m2减去m1可计算出其中的二维光纤阵列的损耗m3，根据m3值的大小范围来判断二维光纤阵列是否满足使用要求，达到二维光纤阵列在应用前的性能判别要求。

在本发明一个较佳实施例中，所述非二维光纤阵列辅助测试结构为一维光纤阵列。

在本发明一个较佳实施例中，所述一维光纤阵列与所述的二维光纤阵列的光纤纤芯距必须相同。

在本发明一个较佳实施例中，所述非二维光纤阵列辅助测试结构由单通道光纤阵列和对应纤芯距的plc芯片组成。

本发明的有益效果是：本发明二维光纤阵列的测试方法，可适用于各种型号规格的二维光纤阵列测试，能够有效检测二维光纤阵列光学损耗，提前筛选二维光纤阵列的数据范围，减少应用过程中的耦合时间及匹配误差，提高耦合效率。

附图说明

图1是本发明二维光纤阵列的测试方法一较佳实施例的结构示意图；

图2是图1中一维光纤阵列端面示意图；

图3为图1二维光纤阵列端面示意图；

图4是本发明二维光纤阵列的测试方法了另一较佳实施例的结构示意图；附图中各部件的标记如下：一维光纤阵列11、二维光纤阵列12、单通道光纤阵列21、对应纤芯距的plc芯片22和二维光纤阵列23。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参阅图1至图3，本发明实施例1包括：

一种二维光纤阵列的测试方法，包括一维光纤阵列11、二维光纤阵列12。使用六维高精度调节架与插回损测试仪将单纤一维光纤阵列进行对准测试，得出一维光纤阵列的光学损耗m1。使用六维高精度调节架与插回损测试仪将一维光纤阵列11与二维光纤阵列12进行对准测试，得出光纤阵列的组合光学损耗m2。将测试得出的组合光学损耗m2减去一维光纤阵列11的光学损耗m1，得出二维光纤阵列12的光学损耗m3。

请参阅图4，本发明实施例2包括：

一种二维光纤阵列的测试方法，包括单通道光纤阵列21、对应纤芯距的plc芯片22和二维光纤阵列23。使用六维高精度调节架与插回损测试仪将单通道光纤阵列21和对应纤芯距的plc芯片22进行对准测试，得出单通道光纤阵列21和对应纤芯距的plc芯片22的光学损耗m1。使用六维高精度调节架与插回损测试仪将单通道光纤阵列21和对应纤芯距的plc芯片22与二维光纤阵列12进行对准测试，得出光纤阵列的组合光学损耗m2。将测试得出的组合光学损耗m2减去单通道光纤阵列21和对应纤芯距的plc芯片22的光学损耗m1，得出二维光纤阵列12的光学损耗m3。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种二维光纤阵列的测试方法，具体步骤包括：A、测试出非二维光纤阵列辅助测试结构的光学损耗M1；B、使用六维高精度调节架与插回损测试仪将非二维光纤阵列辅助测试结构与二维光纤阵列进行对准测试，得出光纤阵列的组合光学损耗M2；C、将上述步骤得出的光学损耗M2减去M1可计算出其中的二维光纤阵列的损耗M3，根据M3值的大小范围来判断二维光纤阵列是否满足使用要求，达到二维光纤阵列在应用前的性能判别要求。通过上述方式，本发明二维光纤阵列的测试方法可适用于各种型号规格的二维光纤阵列测试，能够有效检测二维光纤阵列光学损耗，提前筛选二维光纤阵列的数据范围，减少应用过程中的耦合时间及匹配误差，提高耦合效率。

技术研发人员：谢燕;万祥;童严;时尧成;戴道锌
受保护的技术使用者：苏州天步光电技术有限公司
技术研发日：2018.12.29
技术公布日：2019.04.05