本实用新型涉及噪声测试领域，特别涉及一种新型半导体激光器相位噪声测试装置。
背景技术：
现有的相位噪声分析测试仪是一款相位噪声和阿伦方差同时测试的高精度噪声测试仪，采用先进的相位测量技术，使用触摸屏、处理器、内存、独显、固态硬盘和工控键盘等，开关机只需十秒左右，几秒以内就出现测试结果，实现图形化用户操作界面，工控键盘与触摸屏均可同时使用，使用操作简单，只需按下开始即可在几秒内进行测试，不需要熟练的技术工程师，就可轻易实现学习和使用；现有的相位噪声测试装置在使用的时候存在一定的弊端，传统相位噪声测试装置在长放置不用的时候，其表面容易沾染灰尘，不具有隔尘结构，相位噪声测试装置携带较为不便，增加了相位噪声测试装置的户外携带难度，传统相位噪声测试装置的散热效果较差，给使用者带来了一定的影响，为此，我们提出一种新型半导体激光器相位噪声测试装置。
技术实现要素：
本实用新型的主要目的在于提供一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：
一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，包括测试机主体，所述测试机主体的前端外表面活动安装有旋转底板，且旋转底板的上端外表面固定安装有控制键盘，所述旋转底板的上端外表面靠近控制键盘的一侧固定安装有触控面板，所述测试机主体的前端内表面固定安装有显示面板，且测试机主体的前端外表面靠近显示面板的一侧固定安装有控制开关，所述测试机主体的前端外表面靠近控制开关的上方活动安装有调节旋钮，所述测试机主体的一侧外表面活动安装有伸缩把手，所述测试机主体的上端外表面固定安装有散热罩，且散热罩的前端内表面活动安装有引风扇，所述旋转底板的前端外表面固定安装有密封条，且旋转底板的下端外表面活动安装有转动销，所述伸缩把手的一侧内表面活动安装有一号伸缩杆，且伸缩把手的另一侧内表面活动安装有二号伸缩杆，所述伸缩把手的下端外表面固定安装有按钮，且伸缩把手的内部内表面靠近按钮的上端活动安装有弹簧销，所述伸缩把手的内部内表面靠近弹簧销的一侧活动安装有二号卡扣，所述伸缩把手的内部内表面靠近弹簧销的另一侧活动安装有一号卡扣，所述测试机主体、显示面板和引风扇均与控制开关电性连接。
优选的，所述旋转底板的整体结构为长方体结构，且旋转底板的转动角度范围为零至九十度。
优选的，所述伸缩把手的横截面厚度为两点五厘米，且伸缩把手的伸缩范围为零至十五厘米。
优选的，所述散热罩的散热方式为风冷散热，且散热罩的整体结构为长方体框架结构。
优选的，所述调节旋钮的数量为两组，且调节旋钮的前端外表面固定安装有防滑套。
优选的，所述测试机主体的一侧内表面靠近伸缩把手的上方设有通风网。
与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：该新型半导体激光器相位噪声测试装置，设置旋转底板，当使用者需要对测试机主体进行收纳的时候，通过转动旋转底板，使得旋转底板在转动销的作用下顺时针旋转九十度，使得旋转底板卡在测试机主体的前端，密封条可以增加其密封性，有效避免显示面板和调节旋钮沾染灰尘，提高测试机主体自身防尘效果，使用者通过拉动伸缩把手，使得伸缩把手在一号伸缩杆和二号伸缩杆的作用下进行长度的延伸，按压按钮，使得一号卡扣和二号卡扣在弹簧销的作用下弹出，卡入一号伸缩杆和二号伸缩杆的卡槽处，起到固定的作用，从而使得测试机主体的携带更加便捷，散热罩通过引风扇的运转，可以将外部空气吸入测试机主体，再从通风网排出，有效增加测试机主体内的空气流通性，起到很好的散热效果，整个装置简单，操作方便，防尘的效果相对于传统方式更好。
附图说明
图1为本实用新型一种新型半导体激光器相位噪声测试装置的整体结构示意图。
图2为本实用新型一种新型半导体激光器相位噪声测试装置的局部视图。
图3为本实用新型一种新型半导体激光器相位噪声测试装置图2中A处的放大视图。
图4为本实用新型一种新型半导体激光器相位噪声测试装置图2中B处的放大视图。
图中：1、旋转底板；2、控制键盘；3、显示面板；4、触控面板；5、控制开关；6、调节旋钮；7、伸缩把手；8、通风网；9、引风扇；10、散热罩；11、测试机主体；12、密封条；13、转动销；14、一号伸缩杆；15、二号伸缩杆；16、一号卡扣；17、弹簧销；18、二号卡扣；19、按钮。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
如图1-4所示，一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，包括测试机主体11，测试机主体11的前端外表面活动安装有旋转底板1，且旋转底板1的上端外表面固定安装有控制键盘2，旋转底板1的上端外表面靠近控制键盘2的一侧固定安装有触控面板4，测试机主体11的前端内表面固定安装有显示面板3，且测试机主体11的前端外表面靠近显示面板3的一侧固定安装有控制开关5，测试机主体11的前端外表面靠近控制开关5的上方活动安装有调节旋钮6，测试机主体11的一侧外表面活动安装有伸缩把手7，测试机主体11的上端外表面固定安装有散热罩10，且散热罩10的前端内表面活动安装有引风扇9，旋转底板1的前端外表面固定安装有密封条12，且旋转底板1的下端外表面活动安装有转动销13，伸缩把手7的一侧内表面活动安装有一号伸缩杆14，且伸缩把手7的另一侧内表面活动安装有二号伸缩杆15，伸缩把手7的下端外表面固定安装有按钮19，且伸缩把手7的内部内表面靠近按钮19的上端活动安装有弹簧销17，伸缩把手7的内部内表面靠近弹簧销17的一侧活动安装有二号卡扣18，伸缩把手7的内部内表面靠近弹簧销17的另一侧活动安装有一号卡扣16，测试机主体11、显示面板3和引风扇9均与控制开关5电性连接。
旋转底板1的整体结构为长方体结构，且旋转底板1的转动角度范围为零至九十度；伸缩把手7的横截面厚度为两点五厘米，且伸缩把手7的伸缩范围为零至十五厘米；散热罩10的散热方式为风冷散热，且散热罩10的整体结构为长方体框架结构；调节旋钮6的数量为两组，且调节旋钮6的前端外表面固定安装有防滑套；测试机主体11的一侧内表面靠近伸缩把手7的上方设有通风网8。
需要说明的是，本实用新型为一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，使用者通过按压控制开关5，可以启动测试机主体11，控制键盘2和调节旋钮6对测试机主体11的运行参数起到调试的作用，当使用者需要对测试机主体11进行收纳的时候，通过转动旋转底板1，使得旋转底板1在转动销13的作用下顺时针旋转九十度，使得旋转底板1卡在测试机主体11的前端，密封条12可以增加其密封性，有效避免显示面板3和调节旋钮6沾染灰尘，提高测试机主体11自身防尘效果，使用者通过拉动伸缩把手7，使得伸缩把手7在一号伸缩杆14和二号伸缩杆15的作用下进行长度的延伸，按压按钮19，使得一号卡扣16和二号卡扣18在弹簧销17的作用下弹出，卡入一号伸缩杆14和二号伸缩杆15的卡槽处，起到固定的作用，从而使得测试机主体11的携带更加便捷，散热罩10通过引风扇9的运转，可以将外部空气吸入测试机主体11，再从通风网8排出，有效增加测试机主体11内的空气流通性，起到很好的散热效果，较为实用。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。