1.一种用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，包括：
上位机(1)、供电单元、信号线(3)、LVDT调理器(4)、电缆(6)、夹具(7)、基准平面板(8)、LVDT位移传感器(9)、插座(10)、检具体(11)、传感器固定部件(12)、按钮(15)；
在检具体(11)上通过传感器固定部件(12)将若干个LVDT位移传感器(9)固定，基准平面板(8)固定在检具体(11)上，LVDT位移传感器(9)设于检具体(11)和基准平面板(8)开设的安装孔中，LVDT位移传感器(9)的活动测头高出基准平面板(8)；LVDT位移传感器(9)通过插座(10)和电缆(6)连接LVDT调理器(4)；
在检具体(11)上安装夹具(7)以便夹紧测量工件；
LVDT调理器(4)通过信号线(3)连接上位机(1)；LVDT调理器(4)上设有按钮(15)，用于启动测量的数据交互。
2.如权利要求1所述的用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，还包括：
校准板(13)，用于放置于基准平面板(8)来校准测量法兰平面度的装置的零位值。
3.如权利要求1或2所述的用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，
供电单元包括AC/DC电源适配器(2)、交流电源输入线(5)；交流电源输入线(5)连接到AC/DC电源适配器(2)，AC/DC电源适配器(2)连接LVDT调理器(4)。
4.如权利要求1或2所述的用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，
LVDT调理器(4)包括调理电路、A/D采样电路和MCU；所述调理电路的输入端连接各LVDT位移传感器(9)，输出端通过A/D采样电路连接MCU；MCU连接上位机（1）。
5.如权利要求2所述的用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，
所述校准板(13)上设有校准板提手(14)。
6.如权利要求1或2所述的用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，
插座(10)采用航空插座。
7.如权利要求1或2所述的用于测量法兰平面度的装置，其特征在于，
上位机(1)上设有显示屏。