一种芯片老化测试装置的制作方法

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片老化测试装置。

背景技术：

芯片，又称微电路、微芯片、集成电路。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。芯片在生产出来后需要做一系列的测试，其中老化测试是为了检测出芯片的使用寿命。现有的芯片老化测试装置中，放置待测芯片的夹具和电路板是固定在一起的，放进老化测试机，电路板放进测试装置内后还需要接通，测试完后又要断开电路板，将电路板和夹具一起取出，操作不方便，浪费时间。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种芯片老化测试装置，具备电路板放置在测试设备内，夹具和电路板可拆卸，能够单独放置或取出夹具，电路板对夹具固定的优点，解决了夹具和电路板是固定在一起，放置或取出芯片时需要整体拿取，操作不方便，浪费时间的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片老化测试装置，包括底座、盖板、电路板、支撑杆和移动杆，所述电路板一侧的前后两端对称安装有接口，所述电路板中间开设有第二凹槽，所述第二凹槽中间安装有齿轮，所述齿轮下表面中间固定有连接杆，所述连接杆背离齿轮的一端穿过电路板下表面安装有旋钮，所述齿轮的两侧通过轮齿与移动杆啮合连接，两个所述移动杆的相对一侧均固定有轮齿，两个所述移动杆安装在第二凹槽内部的两侧，两个移动杆相背离的一端均固定有夹板，所述第二凹槽两侧的电路板上对称开设有引脚孔，所述引脚孔内插接有引脚，所述引脚固定在底座底部的两侧，所述底座背面上方的中间开设有第一凹槽，所述第一凹槽的两侧与支撑杆的两端连接，所述支撑杆上套装有扭力弹簧，所述底座通过扭力弹簧与盖板弹性连接，所述盖板正面中间安装有卡扣，所述卡扣与底座正面开设的扣槽卡接。

优选的，所述第二凹槽采用侧Z形结构。

优选的，所述夹板顶端超过电路板的上表面。

优选的，所述引脚与引脚孔相适配。

优选的，所述扭力弹簧一端与底座固定，扭力弹簧另一端与盖板固定。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置引脚，达到了底座和电路板可拆卸的效果，本实用新型设置有引脚和引脚孔，引脚固定在底座下方的两侧，引脚与放置在底座内部的待测芯片连通，底座通过引脚插接在引脚孔内，底座与电路板固定，待测芯片通过引脚与电路板连通，使芯片能够通电工作，测试完后，电路板继续放置在测试装置内，不用取出，直接将底座连同引脚从电路板上的引脚孔内拔出，取出芯片，实现底座和电路板之间的可拆卸，操作简单。

2、本实用新型通过设置夹板，达到了固定底座的效果，本实用新型设置有夹板，底座通过引脚固定在电路板上，引脚是比较脆弱的，为避免底座的晃动折断引脚，在检测时通过夹板固定住底座，先转动旋钮，连接杆带动齿轮转动，齿轮与轮齿的啮合带动移动杆向外移动，夹板被移动杆推出，两个夹板之间的距离大于底座前后两端的长度，引脚插进引脚孔后，反向转动旋钮，移动杆向内移动，夹板将底座的前后两端夹住，对底座进行固定，防止底座移动折断引脚。

附图说明

图1为本实用新型的主视结构示意图；

图2为本实用新型的后视结构示意图；

图3为本实用新型的电路板俯视结构示意图；

图4为本实用新型的俯视结构示意图。

图中：1、底座；2、盖板；3、卡扣；4、扣槽；5、夹板；6、旋钮；7、引脚；8、电路板；9、接口；10、第一凹槽；11、扭力弹簧；12、支撑杆；13、引脚孔；14、第二凹槽；15、移动杆；16、轮齿；17、齿轮；18、连接杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至图4，本实用新型提供的一种实施例：一种芯片老化测试装置，包括底座1、盖板2、电路板8、支撑杆12和移动杆15，电路板8一侧的前后两端对称安装有接口9，电路板8通过接口9与老化检测设备连接，电路板8中间开设有第二凹槽14，第二凹槽14采用侧Z形结构，侧Z形的第二凹槽14两侧放置移动杆15，移动杆15能够在齿轮17的带动下分别向相背离的方向运动，使两个夹板5之间的距离同步扩大或者缩小，第二凹槽14中间安装有齿轮17，齿轮17下表面中间固定有连接杆18，连接杆18背离齿轮17的一端穿过电路板8下表面安装有旋钮6，齿轮17的两侧通过轮齿16与移动杆15啮合连接，两个移动杆15的相对一侧均固定有轮齿16，两个移动杆15安装在第二凹槽14内部的两侧，两个移动杆15相背离的一端均固定有夹板5，夹板5顶端超过电路板8的上表面，夹板5能够夹住固定底座1，底座1通过引脚7固定在电路板8上，引脚7是比较脆弱的，为避免底座1的晃动折断引脚7，在检测时通过夹板5固定住底座1，先转动旋钮6，连接杆18带动齿轮17转动，齿轮17与轮齿16的啮合带动移动杆15向外移动，夹板5被移动杆15推出，两个夹板5之间的距离大于底座1前后两端的长度，引脚7插进引脚孔13后，反向转动旋钮6，移动杆15向内移动，夹板5将底座1的前后两端夹住，对底座1进行固定，防止底座1移动折断引脚7，第二凹槽14两侧的电路板8上对称开设有引脚孔13，引脚孔13内插接有引脚7，引脚7与引脚孔13相适配，使引脚7能够插进引脚孔13内，引脚7固定在底座1底部的两侧，底座1与电路板8固定，引脚7与放置在底座1内部的待测芯片连通，待测芯片通过引脚7与电路板8连通，使芯片能够通电工作，测试完后，电路板8继续放置在测试装置内，不用取出，直接将底座1连同引脚7从电路板8上的引脚孔13内拔出，取出芯片，实现底座1和电路板8之间的可拆卸，操作简单，底座1背面上方的中间开设有第一凹槽10，第一凹槽10的两侧与支撑杆12的两端连接，支撑杆12上套装有扭力弹簧11，底座1通过扭力弹簧11与盖板2弹性连接，扭力弹簧11一端与底座1固定，扭力弹簧11另一端与盖板2固定，打开盖板2后，盖板2在扭力弹簧11的作用下能够自动弹回将底座1封闭，盖板2正面中间安装有卡扣3，卡扣3与底座1正面开设的扣槽4卡接，通过卡扣3与扣槽4将盖板2与底座1固定。

工作原理：本实用新型工作中，电路板8通过接口9与老化检测设备连接，打开盖板2，将待测芯片放进底座1内，闭合盖板2，转动旋钮6，连接杆18带动齿轮17转动，齿轮17与轮齿16的啮合带动移动杆15向外移动，夹板5被移动杆15推出，引脚7插进引脚孔13内，反向转动旋钮6，移动杆15向内移动，夹板5将底座1的前后两端夹住，测试完后，通过旋钮6拧松夹板5，直接将底座1连同引脚7从电路板8上的引脚孔13内拔出，取出芯片，相比于传统产品更好。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。