冷热冲击设备的制作方法

本申请涉及试验设备技术领域，尤其涉及冷热冲击设备。

背景技术：

冷热冲击设备是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于各类电工、电子产品和材料进行高低温急剧温度变化及保持的环境模拟可靠性试验，获得温度环境变化后的参数及性能，并对试验样品在给定的环境条件下检测产品本身的适应能力与特性是否改变做出评价。目前，现有的冷热冲击设备结构复杂、占地面积较大，需要采购不同的交变试验箱未满足不同产品的试验，这样种结构不仅降低了企业的试验效率，同时增加了企业的采购成本，另外现有交变试验箱在工作时易产生振动，容易发出噪声影响试验过程。

因此，急需提供冷热冲击设备，以解决现有技术的不足。

技术实现要素：

基于以上，有必要针对现有的试验箱占地面积大、试验效率低以及试验过程噪音大的问题，提供一种冷热冲击设备。

本申请提供一种冷热冲击设备。所述冷热冲击设备包括冷热冲击头、固定部、密封箱、测试板、样品收纳架和测温组件。所述冷热冲击头用于通入气流。所述固定部为空心结构，所述固定部的一端与所述冷热冲击头连通，且所述冷热冲击头延伸至所述固定部的另一端，所述固定部的侧面设置有第一排气口。所述密封箱包围形成一个测试空腔，所述密封箱与所述固定部的另一端连通。所述测试板设置于所述测试空腔，用于提供电源信号以及通讯信号。所述样品收纳架设置于所述测试板表面，用于插入所述试验样品。所述测温组件设置于所述测试板所述测温组件包括测温头，所述测温头伸入所述样品收纳架内。

在其中一个实施例中，所述密封箱内还设置有样品固定装置，所述样品固定装置与所述样品收纳架连接。

在其中一个实施例中，所述测温组件还包括压紧气缸和测温头固定块，所述测温头通过所述测温头固定块与所述压紧气缸连接。

在其中一个实施例中，所述压紧气缸包括气缸固定部和气缸活动部，所述气缸活动部与所述测温头固定块连接。

在其中一个实施例中，所述冷热冲击设备还包括消音器和排气管，所述排气管的一端与所述第一排气口连通，所述排气管的另一端与所述消音器连通。

在其中一个实施例中，所述密封箱内壁设置有消音棉。

在其中一个实施例中，所述密封箱内还设置有电绝缘板，所述电绝缘板设置于所述测试板和所述密封箱之间。

在其中一个实施例中，所述密封箱与所述第一排气口正对的一侧设置有第二排气口。

在其中一个实施例中，所述密封箱的体积为4L-6L。

在其中一个实施例中，所述冷热冲击设备还包括除霜装置。

在本申请所提供的冷热冲击设备中，所述冷热冲击头可以提供不同温度的冷、热气流，所述冷、热气流的可控温度范围为-70℃至220℃。所述冷、热气流由所述冷热冲击头喷射进入所述密封箱，通过对所述冷、热气流温度进行设置，即可实现所述密封箱内的高温、低温和常温间的切换。当所述试验样品插入所述样品收纳架内时，通过设置于所述测试板的测温组件，可以测得插入所述样品收纳架的所述试验样品的温度。这样无需插拔，即可在同一个工位实现高温、低温和常温测试。这样所述试验样品的冷热冲击试验在同一个工位即可实现，从而可以避免设置多个箱体、减少所述冷热冲击设备的占地面积。而且，减少了所述试验样品的插拔次数，进而大幅度提高了试验效率、减小了在试验过程中对所述试验样品寿命的影响。

附图说明

图1为本申请一实施例提供的冷热冲击设备的主视图；

图2为本申请实施例提供的冷热冲击设备的整体结构图；

图3为本申请一实施例提供的冷热冲击设备的右视图；

图4为本申请一实施例提供的冷热冲击设备在试验过程中的气流循环模拟图。

附图标记说明

100：冷热冲击设备

10：冷热冲击头

20：固定部

21：第一排气口

30：密封箱

31：测试空腔

32：样品固定装置

33：电绝缘板

34：第二排气口

40：测试板

50：样品收纳架

60：测温组件

610：测温头

620：压紧气缸

621：气缸固定部

622：气缸活动部

630：测温头固定块

70：消音器

80：排气管

90：除霜装置

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本申请的冷热冲击设备进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

以下结合附图详细说明本申请实施例的冷热冲击设备。

请参见附图1、附图2，本申请提供一种冷热冲击设备100。所述冷热冲击设备100包括冷热冲击头10、固定部20、密封箱30、测试板40、样品收纳架50和测温组件60。所述冷热冲击头10用于通入气流。所述固定部20为空心结构，所述固定部20的一端与所述冷热冲击头10连通，且所述冷热冲击头10延伸至所述固定部20的另一端，所述固定部20的侧面设置有第一排气口21。所述密封箱30包围形成一个测试空腔31，所述密封箱30与所述固定部20的另一端连通。所述测试板40设置于所述测试空腔31，用于提供电源信号以及通讯信号。所述样品收纳架50设置于所述测试板40表面，用于插入所述试验样品。所述测温组件60设置于所述测试板40所述测温组件60包括测温头610，所述测温头610伸入所述样品收纳架50内。

在本实施例中，所述测试板40为PCB板(印刷电路板)。所述测试板40是电子元器件电气连接的载体，可以避免人工接线的差错，并可实现电子元器件自动插装或贴装、自动焊锡、自动检测，保证了电子设备的质量、便于维修。在本实施例中，所述测试板40可以将包含有所述试验样品的信号通讯至电脑和外部测试仪器，或者接受外部输入的信号及给所述试样样品提供电源。

在本实施例中，所述测温头610优选为热电偶。当所述热电偶与试验样品接触时，不受中间介质的影响，可以获得较高精度的温度测量。另外，所述热电偶的测量范围较广，常用的热电偶由零下50度-1600度均可进行连续测量。

在本实施例中，所述密封箱30与所述固定部20连通的出口内径大于所述冷热冲击头10的内径，这样在进行冷热冲击实验时，气流可以由所述冷热冲击头10喷射进入所述密封箱30内，并且从所述固定部20和所述冷热冲击头10之间的空间通过第一排气口21排出，实现气流循环。

所述固定部20和所述密封箱30之间设置有衔接板，所述衔接板表面设置有凹槽容腔。所述冷热冲击头10嵌入所述凹槽容腔内，这样能够避免所述冷热冲击头10直接与所述密封箱30连通时，从所述冷热冲击头10中喷射的所述冷、热气流从连接位置处的逸散。所述冷热冲击头10是冷热冲击机的一个输出端。由所述冷热冲击机可以输出不同温度的冷、热气流至所述冷热冲击头10。所述冷、热气流的可控温度范围为-70℃至220℃。所述冷、热气流由所述冷热冲击头10喷射进入所述密封箱30，通过对所述冷、热气流温度进行设置，即可实现所述密封箱30内的高温、低温和常温间的切换。当所述试验样品插入所述样品收纳架50内，通过设置于所述测试板40的测温头610，可以测得插入所述样品收纳架50的所述试验样品的温度。这样无需插拔，即可在同一个工位实现高温、低温和常温测试。这样所述试验样品的冷热冲击试验在同一个工位即可实现，从而可以避免设置多个箱体、减少所述冷热冲击设备100的占地面积。而且，减少了所述试验样品的插拔次数，进而大幅度提高了试验效率、减小了在试验过程中对所述试验样品寿命的影响。

在一个实施例中，所述密封箱30内还设置有样品固定装置32，所述样品固定装置32与所述样品收纳架50连接。

在本实施例中，所述样品固定装置32与所述样品收纳架50连接。所述样品固定装置32可以是不锈钢框架，当试样插入样品收纳架50时，通过所述样品固定装置32的限定，可以保证插入的位置和力度的合理。

在一个实施例中，所述测温组件60还包括压紧气缸620和测温头固定块630，所述测温头610通过所述测温头固定块630与所述压紧气缸620连接。

在冷热冲击试验过程中，可以通过所述压紧气缸620的作用来改变与所述压紧气缸620有对应连接关系的所述测温头固定块630、所述测温组件60的状态。在冷热冲击试验开始时，由所述压紧气缸620控制所述测温头固定块630、所述测温组件60的状态由试验开始前的压合状态改变为抬升状态。这样能够避免在试验开始向所述样品收纳架50中插入所述试验样品时，所述热电偶对所述试验样品的表面造成损伤。在插入所述试验样品后，由所述压紧气缸620控制所述测温头固定块630、所述测温组件60的状态由抬升状态改变为压合状态。这样能够保证所述热电偶与所述试验样品的表面充分接触，从而能够保证所述测温头610所测得的温度值稳定、真实、有效。

在一个实施例中，所述压紧气缸620包括气缸固定部621和气缸活动部622，所述气缸活动部622与所述测温头固定块630连接。

在本实施例中，所述压紧气缸620包括气缸固定部621和气缸活动部622，所述气缸活动部622与所述测温头固定块630连接。所述气缸活动部622在气压的作用下在气缸固定部621中直线往复运动，这样能够带动所述测温头固定块630的运动，从而能够调整所述测温组件60的状态，避免在试验开始向所述样品收纳架50中插入所述试验样品时，所述热电偶对所述试验样品的表面造成损伤，并且能够保证所述热电偶与所述试验样品的表面充分接触，从而能够保证所述测温头610所测得的温度值稳定、真实、有效。

在本实施例中，所述气缸固定部621设置有限位部，所述气缸活动部622在沿着所述限位部的方向进行移动。所述气缸活动部622沿着所述限位部的方向进行移动。这样能够保证所述测温组件60也在所述限位部的方向进行移动。这样能够使得所述测温组件60由压合状态改变为抬升状态，或者由抬升状态改变为压合状态。这样能够避免在试验开始向所述样品收纳架50中插入所述试验样品时，所述热电偶对所述试验样品的表面造成损伤。在插入所述试验样品后，由所述压紧气缸620控制所述测温头固定块630、所述测温组件60的状态由抬升状态改变为压合状态。这样能够保证所述热电偶与所述试验样品的表面充分接触，从而能够保证所述测温头610所测得的温度值稳定、真实、有效。

另外，在本实施例中，所述测温头610包括压力调节螺丝和弹簧。通过调节所述压力调节螺丝能够调节所述测温组件60对所述试验样品的压力，以保证所述测温头610能够与所述试验样品的表面充分接触。所述弹簧用于缓解所述压力调节螺丝对所述试验样品所产生的压力，这样能够避免所述试验样品被压的太紧而导致损坏。

在一个实施例中，所述冷热冲击设备100还包括消音器70和排气管80，所述消音器70通过所述排气管80与设置于所述固定部20侧面的第一排气口21连通。

在本实施例中，所述冷热冲击式设备100还包括消音器70和排气管80，所述消音器70通过所述排气管80与设置于所述固定部20侧面的第一排气口21连通。在持续工作过程中，由于有大量气流喷入，因此需要通过所述排气管80进行对应的大流量排气，以形成气流循环。在大流量气流喷入的同时，也形成了巨大的噪音，在本实施例中，通过所述消音器70，可以对所述大量气流进行降噪处理。

在一个实施例中，所述密封箱30内壁设置有消音棉。

在本实施例中，在持续的冷热冲击试验过程中，由于有大量的所述冷、热气流喷入所述密封箱30，将会产生巨大的噪音。在本实施例中，所述消音棉是一种由单种或多种不同纤维经多种工艺加工而成的卷状或片状材料，吸音系数较高。通过在所述密封箱30内壁设置消音棉，能够大幅减小所述冷、热气流吹入所述密封箱30内的噪音。

在一个实施例中，所述密封箱30内还设置有电绝缘板33，所述电绝缘板33设置于所述测试板40和所述密封箱30之间。

在本实施例中，所述电绝缘板33可以为聚缩醛(POM)板，在此不做限定。所述电绝缘板33设置于所述测试板40和所述密封箱30之间，所述电绝缘板33的尺寸大于所述测试板40的尺寸。由于所述电绝缘板33的电绝缘性质，能够避免所述密封箱30内发生短路。

请参见附图3、附图4，在一个实施例中，所述测试空腔31与所述第一排气口21正对的一侧设置有第二排气口34。

在本实施例中，所述测试空腔31与所述第一排气口21正对的一侧设置有第二排气口34。进行所述冷热冲击试验的所述冷、热气流主要通过所述消音器70排出。在所述第一排气口21正对的一侧设置有第二排气口34，这样所述第二排气口34能够辅助所述消音器70进行排气。这样在所述密封箱30内能够形成气流循环，从而可以使得所述密封箱30内能够快速达到温度均匀。

在一个实施例中，所述密封箱30的体积为4L-6L。

在本实施例中，所述密封箱30的体积为4L-6L。这样在所述冷热冲击机所提供的气体流量处于6L/S-8L/S的范围时，所述密封箱30内能够实现所述冷、热气流的高密度的密闭环境。这样能够实现所述密封箱30内的快速升温、降温、快速完成冷热冲击试验，从而能够提高所述试验样品的试验产量，而且能够大幅提高所述试验样品测试结果的严谨性、准确性。

在一个实施例中，还包括除霜装置90，所述除霜装置90设置于所述固定部20和所述密封箱30之间。

在本实施例中，所述除霜装置90设置于所述固定部20和所述密封箱30之间。在所述试验样品进行冷热冲击试验的过程中，由所述冷热冲击机输出不同温度的高、低温气流，这样所述冷热冲击设备100的内壁会产生液体、结霜。这样通过所述除霜装置90可以除去所述冷热冲击设备100内壁在试验过程中产生的霜，避免因为结霜而影响所述冷热冲击设备100的寿命以及试验的精确性。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意组合，为使描述整洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。