技术总结
本实用新型提供一种PCB耐压测试治具，包括测试部和固定部，所述测试部包括测试座，所述测试座上设有测试板，所述测试板下方于测试座内连接有测试仪；所述测试板对称设有滑槽，所述滑槽下端设有连接口，所述滑槽内对称设有滑块，所述滑块上设有探针，所述探针下方连接有导线，所述导线与测试仪连接；所述固定部包括固定座，所述固定座上设有升降机构，所述升降机构下方连接有压板。本实用新型中，通过可调节位置的滑块设置，能够适应不同测试点的PCB的探针要求，同时采用多探针结构，能够同时检测多对测试点，加大的提高了测试的效率。
技术研发人员：刘小刚;王平;彭镜辉
受保护的技术使用者：广合科技（广州）有限公司
技术研发日：2018.08.30
技术公布日：2019.06.14