一种PCB耐压测试治具的制作方法

本实用新型属于线路板加工技术领域，具体涉及一种PCB耐压测试治具。

背景技术：

对于生产的PCB，需要进行耐压测试，传统的手工测试方法是：外接耐压测试仪，用耐压测试仪的两个测试探头接触PCB的两个测试点，在耐压测试仪上施加测试电压，设定的测试时间执行后，测试完成。但是这种方式测试效率太低，每次只能测试两个点，即一对测试点。现有技术中虽然有耐压测试治具，但是由于测试探针固定，对于不同的PCB需要采用不同的治具进行测试，极其不便。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明提供一种PCB耐压测试治具，本实用新型中，通过可调节位置的滑块设置，能够适应不同测试点的PCB的探针要求，同时采用多探针结构，能够同时检测多对测试点，加大的提高了测试的效率。

本发明的技术方案为：一种PCB耐压测试治具，其特征在于，包括测试部和固定部，所述测试部包括测试座，所述测试座上设有测试板，所述测试板下方于测试座内连接有测试仪；所述测试板对称设有滑槽，所述滑槽下端设有连接口，所述滑槽内对称设有滑块，所述滑块上设有探针，所述探针下方连接有导线，所述导线与测试仪连接；所述固定部包括固定座，所述固定座上设有升降机构，所述升降机构下方连接有压板。特别的，所述升降机构可通过任一现有技术实现。

进一步的，所述压板为有机玻璃压板。

进一步的，所述压板表面对称设有弧形突块。

进一步的，所述弧形突块为聚氯乙烯突块。

进一步的，所述弧形突块内部为中空结构。

本实用新型中，通过中空设置的聚氯乙烯弧形突块，能够在有机玻璃压板固定待测试的PCB时提供很好的缓冲作用，避免有时候压板在下压的过程力道较大，对PCB造成损坏。

进一步的，所述滑块的水平截面为凸字型结构，所述滑块包括卡接部，固定部、缓冲部，所述卡接部对称设于固定部下端的两侧，所述缓冲部设于固定部上方。通过滑块的结构设置，能够保证滑块在滑槽内部滑动的同时，避免滑块脱出。本实用新型中，通过可调节位置的滑块设置，能够适应不同测试点的PCB的要求，同时采用多探针结构，能够同时检测多对测试点，加大的提高了测试的效率。

进一步的，所述缓冲部为圆柱形缓冲部，所述缓冲部部分包裹着探针，所述缓冲部为硅胶缓冲部。通过硅胶缓冲部的设置，能够使得探针在于测试点接触后，避免与PCB板体的直接接触，同时对于放置PCB到探针的时候有一个缓冲作用，对于PCB板体的测试孔内金属层也有一定的保护作用。

本实用新型中，通过将PCB放置于测试板，调整探针位置与测试点对齐，通过升降机构将压板下压使得PCB固定，即可开始耐压测试。通过设置在滑槽内的滑块，能够保证滑块在滑槽内部滑动的同时，避免滑块脱出。本实用新型中，通过可调节位置的滑块设置，能够适应不同测试点的PCB的探针要求，同时采用多探针结构，能够同时检测多对测试点，加大的提高了测试的效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的局部结构示意图；

图3为本实用新型的局部结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

一种PCB耐压测试治具，其特征在于，包括测试部10和固定部20，所述测试部包括测试座11，所述测试座上设有测试板12，所述测试板下方于测试座内连接有测试仪13；所述测试板对称设有滑槽1，所述滑槽下端设有连接口（未标注），所述滑槽内对称设有滑块2，所述滑块上设有探针3，所述探针下方连接有导线4，所述导线穿过连接口与测试仪连接；所述固定部包括固定座21，所述固定座上设有升降机构5，所述升降机构下方连接有压板6。特别的，所述升降机构可通过任一现有技术实现。

进一步的，所述压板为有机玻璃压板。

进一步的，所述压板表面对称设有弧形突块。

进一步的，所述弧形突块为聚氯乙烯突块。

进一步的，所述弧形突块内部为中空结构。

本实用新型中，通过中空设置的聚氯乙烯弧形突块，能够在有机玻璃压板固定待测试的PCB时提供很好的缓冲作用，避免有时候压板在下压的过程力道较大，对PCB造成损坏。

进一步的，所述滑块2的水平截面为凸字型结构，所述滑块包括卡接部21，固定部22、缓冲部23，所述卡接部对称设于固定部下端的两侧，所述缓冲部设于固定部上方。通过滑块的结构设置，能够保证滑块在滑槽内部滑动的同时，避免滑块脱出。本实用新型中，通过可调节位置的滑块设置，能够适应不同测试点的PCB的要求，同时采用多探针结构，能够同时检测多对测试点，加大的提高了测试的效率。

进一步的，所述缓冲部为圆柱形缓冲部，所述缓冲部部分包裹着探针，所述缓冲部为硅胶缓冲部。通过硅胶缓冲部的设置，能够使得探针在于测试点接触后，避免与PCB板体的直接接触，同时对于放置PCB到探针的时候有一个缓冲作用，对于PCB板体的测试孔内金属层也有一定的保护作用。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。需注意的是，本实用新型中所未详细描述的技术特征，均可以通过任一现有技术实现。