IC测试机的加热装置的制作方法

本实用新型涉及一种ic测试机的加热装置，尤指加热器能够依滑轨移动至正对于置物台或移动出置物台上方的加热装置，以降低成本、方便使用。

背景技术：

一般ic测试机具有用于放置ic晶片的置物台，以及用于对ic晶片加热的加热装置，该加热装置于使用时，系通过人工搬运方式直接将加热装置搬移至置物台上方，通过加热装置对放置于置物台上的ic晶片进行加热，并于加热装置对ic晶片加热完毕后，再通过人工搬运方式将加热装置搬移出置物台上方，此种方式不仅费工，还拉长整体ic晶片的加热作业时间，导致成本增加；再者，该加热装置于人工搬移时，容易与外物碰撞而损坏，或倾倒造成危险，而不方便使用。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的乃在于，利用设置于置物台二侧的滑轨组连接加热器，让加热器依滑轨组移动至正对于置物台或移动出置物台上方，不需进行人工搬移，减少ic晶片加热的作业时间，以及避免加热装置于搬运时与外物碰撞造成损坏，或倾倒产生危险，以达到降低成本、方便使用的效果。

为达上述目的，本实用新型ic测试机的加热装置，该加热装置包含有滑轨组以及加热器，该滑轨组分别设置于置物台两侧，加热器连接于滑轨组，并位于置物台上方，使加热器依滑轨组移动至正对于置物台或移动出置物台上方。

前述ic测试机的加热装置，其中该滑轨组具有滑轨以及设置于滑轨上的滑块，而加热器具有加热本体以及加热本体两侧所连接的侧板，该侧板连结于滑轨组的滑块，使加热器依滑轨组移动时，带动滑块于滑轨上位移。

前述ic测试机的加热装置，其中该加热器的侧板下方侧连接有固定座，该固定座具有固定部以及连接于固定部两侧的固定板，该侧板定位于两固定板之间，而固定部连接于滑轨组的滑块。

前述ic测试机的加热装置，其中该滑轨组的滑轨端部设置有用于限制滑块位移范围的挡块。

前述ic测试机的加热装置，其中该加热器的加热本体一侧设置有把手。

本实用新型不需人工进行搬移，减少ic晶片加热的作业时间，以及避免加热装置于搬运时与外物碰撞造成损坏，或倾倒产生危险，以达到降低成本、方便使用的效果。

附图说明

图1是本实用新型的立体外观图。

图2是本实用新型的侧视图。

图3是本实用新型移动至置物台上方的立体外观图。

图4是本实用新型移动至置物台上方的侧视图。

图5是本实用新型移动至置物台上方的俯视图。

图6是本实用新型移动至置物台上方的另一视角的侧视图。

附图标记说明：10-加热装置；1-滑轨组；11-滑轨；12-滑块；13-挡块；2-加热器；21-加热本体；22-侧板；23-固定座；231-固定部；232-固定板；24-把手；3-置物台；4-底座；5-ic晶片。

具体实施方式

请参阅图1至图6所示，由图中可清楚看出，该ic测试机具有用于对ic晶片5加热的加热装置10，以及用于放置ic晶片5的置物台3，该加热装置10包含有滑轨组1以及加热器2，其中：

该滑轨组1具有滑轨11以及设置于滑轨11上的滑块12，该滑轨11分别设置于前述置物台3两侧，且滑轨11端部设置有用于限制滑块12位移范围的挡块13，以避免滑块12位移脱出滑轨11。

该加热器2具有加热本体21以及加热本体21两侧所连接的侧板22，该侧板22下方侧连接有固定座23，该固定座23具有固定部231以及连接于固定部231两侧的固定板232，该侧板22定位于两固定板232之间，且固定部231连接于滑轨组1的滑块12，使加热器2与滑轨组1稳定连接，且加热本体21位于置物台3上方，该加热本体21一侧设置有把手24。

该置物台3于本实施例中设置于底座4表面上，而滑轨组1分别固定于底座4二侧。

当加热装置10对ic晶片5进行加热时，系通过把手24拉动加热本体21，使侧板22依滑轨组1移动，带动滑块12于滑轨11上朝靠近置物台3的方向位移，让加热本体21移动至正对于置物台3，并与置物台3表面间隔一间距，以对放置于置物台3表面上的ic晶片5进行加热；当加热装置10完成对ic晶片5的加热作业时，系通过把手24推动加热本体21，使侧板22依滑轨组1移动，带动滑块12于滑轨11上朝远离置物台3的方向位移，让加热本体21移动出置物台3上方。

是以，本实用新型为可解决现有的问题与缺失，其关键技术在于，利用设置于置物台3二侧的滑轨组1连接加热器2，让加热器2依滑轨组1移动至正对于置物台3或移动出置物台3上方，不需进行人工搬移，减少ic晶片5加热的作业时间，以及避免加热装置10于搬运时与外物产生碰撞造成损坏，或倾倒产生危险，达到降低成本、方便使用的效果。