1.一种射频电路的测试装置，其特征在于，包括：
载台，用于放置射频电路；
升降机构，包括垂直设置的培林柱和与所述培林柱间隙配合的测试板，所述测试板位于所述载台的上方并沿所述培林柱进行垂直升降，所述测试板上设有SMA高频连接器，所述SMA高频连接器用于将所述射频电路连接至一测试仪器；
调整机构，所述调整机构设置于所述培林柱的顶端，与所述测试板连接，用于调整所述测试板的升降位置。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括底座，所述载台固定设于所述底座的上表面；所述升降机构的培林柱有多个，并列固定在所述底座的上表面，所述测试板与各个所述培林柱间隙配合。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试板上设有多个分别适应于各个所述培林柱的轴承，所述测试板通过各个所述轴承与各个所述培林柱进行间隙配合。
4.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述升降机构还包括固定架，所述固定架与各个所述培林柱的顶端连接，用于对各个所述培林柱的顶端进行固定。
5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述调整机构为快速夹手，所述快速夹手固定在所述固定架上，并与所述测试板进行活动连接，通过转动所述快速夹手来调整所述测试板的升降位置。
6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述快速夹手包括支撑座、活动杆、枢轴和连杆，所述支撑座固定在所述固定架上，所述活动杆的中间段与所述支撑座铰接，所述活动杆的一端通过所述枢轴与所述连杆的一端进行铰接，所述连杆的另一端与所述测试板进行活动连接，所述活动杆的另一端设有握持部，用户通过按压所述握持部以调节所述测试板的升降位置。
7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述SMA高频连接器包括SMA-KF测试头，所述SMA-KF测试头的一端设有双头探针，各个所述探针分别用于与所述射频电路的通信引脚和接地引脚进行接触，所述SMA-KF测试头的另一端设有SMA接口，所述SMA接口用于连接高频电缆。
8.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述SMA高频连接器包括两个所述SMA-KF测试头，两个所述SMA-KF测试头并列固定在所述测试板上，使得每个所述SMA-KF测试头的双头探针延伸且超过所述测试板的下表面，使得每个所述SMA-KF测试头的SMA接口延伸且超过所述测试板的上表面。
9.如权利要求1-8任一项所述的测试装置，其特征在于，所述载台采用绝缘材料，表面设有适应于所述射频电路的卡槽。
10.如权利要求1-8任一项所述的测试装置，其特征在于，所述测试板采用亚克力材料。