技术总结
一种射频电路的测试装置，其主要包括载台、升降机构、调整机构和底座。其中，载台用于放置射频电路；升降机构包括垂直设置的培林柱和与培林柱间隙配合的测试板，测试板位于载台的上方并沿培林柱进行垂直升降，测试板上设有SMA高频连接器，SMA高频连接器用于将所述射频电路连接至一测试仪器；调整机构设置于培林柱的顶端，通过一连杆与测试板连接，用于调整测试板的升降位置；载台和培林柱均固定在底座上。本测试装置由于通过升降机构和调整机构来控制SMA高频连接器与射频电路的接触状态，使得射频电路的测试过程得以简化，避免了以往焊接连线的不便情形，利于提高射频电路的测试效率。
技术研发人员：俞江;蒙冠显
受保护的技术使用者：深圳市鼎耀科技有限公司
技术研发日：2018.12.29
技术公布日：2019.10.25