一种用于芯片的可靠性高的检测设备的制作方法

本发明涉及芯片检测领域，特别涉及一种用于芯片的可靠性高的检测设备。

背景技术：

芯片是半导体元件产品的统称，芯片检测的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性，如消耗功率、运行速度、耐压度等，经检测后的芯片，依其电气特性划分为不同等级，经一般测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂，而未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定作降级品或废品芯片，所以检测设备是芯片制造中必不可少的设备之一。

现有的芯片检测一般是通过人工按压检测的，导致芯片受力不均匀，使得部分焊接点无法与探针接触，从而影响检测效果，不仅如此，在检测时，需要人为将芯片放置在探针处，导致定位不准确，也给使用者带来了工作负担，降低了检测的便捷性。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是：为了克服现有技术的不足，提供一种用于芯片的可靠性高的检测设备。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于芯片的可靠性高的检测设备，包括主体和工作台，所述工作台固定在主体内的底部，所述主体内设有plc，还包括检测机构和定位机构；

所述检测机构包括套管、升降杆、压板、检测组件和两个升降组件，所述套管固定在主体内的顶部，所述套管的下方设有通孔，所述升降杆的一端与压板固定连接，所述升降杆的另一端穿过通孔设置在套管的内部，所述升降杆与通孔同轴设置，两个升降组件分别设置在套管内的两侧，所述升降组件与升降杆传动连接，所述工作台上设有凹槽，所述检测组件设置在凹槽的内部；

所述检测组件包括移动板、两个限位组件和若干个探针，所述移动板水平设置在凹槽的内部，所述移动板的两侧分别与两个限位组件连接，所述探针均匀分布在移动板的上方；

所述定位机构包括固定盒和两个移动盒，所述主体的一侧设有进料口，两个移动盒分别设置在工作台的两侧，所述移动盒的一端与主体的远离进料口的一侧的内壁固定连接，所述移动盒的另一端穿过进料口设置在主体的外部，所述固定盒设置在两个移动盒之间，所述移动盒内设有移动组件，所述移动组件与固定盒传动连接；

所述固定盒内设有固定组件，所述固定盒的靠近工作台的一侧设有第一开口，所述固定组件包括第一电机、绕线盘和两个固定单元，所述第一电机固定在固定盒内的底部，所述第一电机与绕线盘传动连接，两个固定单元分别设置在第一电机的两侧，所述固定单元包括拉线、固定板和第一弹簧，所述拉线的一端缠绕在绕线盘上，所述拉线的另一端与固定板固定连接，所述第一弹簧的两端分别与固定盒的一侧的内壁和固定板连接，所述第一弹簧处于拉伸状态，所述第一电机与plc电连接。

作为优选，为了带动压板上下移动，所述升降组件包括第二电机、齿轮和齿条，所述第二电机固定在套管内的底部，所述第二电机与齿轮传动连接，所述齿条固定在升降杆上，所述齿轮与齿条啮合，所述第二电机与plc电连接。

作为优选，为了使得齿条移动流畅，所述齿轮上涂有润滑油。

作为优选，为了限制限制升降杆的移动方向，所述升降组件还包括升降板和两个导向杆，所述升降杆的远离压板的一端与升降板固定连接，两个导向杆分别设置在套管内的两侧，所述导向杆的两端分别与套管内的顶部和第二电机的上方固定连接，所述移动板的两端分别套设在两个导向杆上，所述升降板与导向杆滑动连接。

作为优选，为了限制移动板的移动方向，所述限位组件包括限位杆、两个第二弹簧和两个固定块，所述限位杆的两端分别通过两个固定块与凹槽的一侧的内壁固定连接，所述升降板的两端分别套设在两个限位杆上，两个第二弹簧分别设置在移动板的上方和下方，所述第二弹簧的两端分别与移动板和固定块连接。

作为优选，为了延长拉线的使用寿命，所述拉线的制作材料为尼龙。

作为优选，为了限制固定板的移动方向，所述固定单元还包括支杆，所述支杆的两端分别与固定盒的一侧的内壁和第一电机固定连接，所述固定板套设在支杆上，所述固定板与支杆滑动连接。

作为优选，为了检测固定板所受到的压力，两个固定板的相互靠近的一侧的内壁上均设有压力传感器，所述压力传感器与plc电连接。

作为优选，为了带动固定盒移动，所述移动盒的靠近工作台的一侧设有第二开口，所述移动组件包括第三电机、丝杆和滑块，所述第三电机固定在移动盒内的底部，所述第三电机与丝杆传动连接，所述滑块套设在丝杆上，所述滑块的与丝杆的连接处设有与丝杆匹配的螺纹，所述固定盒的两端分别与两个滑块固定连接，所述第三电机与plc电连接。

作为优选，为了限制滑块的移动方向，所述移动组件还包括支撑杆，所述支撑杆的两端分别与移动盒的两侧的内壁固定连接，所述支撑杆与丝杆平行设置，所述滑块套设在支撑杆上，所述滑块与支撑杆滑动连接。

本发明的有益效果是，该用于芯片的可靠性高的检测设备通过检测机构，通过挤压芯片与探针接触充分，避免芯片受力不均匀，导致芯片上部分焊接点无法与探针接触，影响检测效果，与现有的检测机构相比，该检测机构提升了检测效果，提高了设备的可靠性，通过定位机构，无需人为将芯片放置在探针处，避免定位不准确，影响检测效果，与现有的定位机构相比，该定位机构减轻了使用者的工作负担，提高了检测的便捷性。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的用于芯片的可靠性高的检测设备的结构示意图；

图2是本发明的用于芯片的可靠性高的检测设备的检测机构的结构示意图；

图3是图1的a部放大图；

图4是本发明的用于芯片的可靠性高的检测设备的定位机构的结构示意图；

图中：1.主体，2.工作台，3.套管，4.第二电机，5.齿轮，6.齿条，7.升降杆，8.压板，9.升降板，10.导向杆，11.移动板，12.探针，13.限位杆，14.第二弹簧，15.固定块，16.固定盒，17.移动盒，18.第一电机，19.绕线盘，20.拉线，21.固定板，22.第一弹簧，23.支杆，24.第三电机，25.丝杆，26.滑块，27.支撑杆。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

如图1所示，一种用于芯片的可靠性高的检测设备，包括主体1和工作台2，所述工作台2固定在主体1内的底部，所述主体1内设有plc，还包括检测机构和定位机构；

该用于芯片的可靠性高的检测设备通过检测机构，通过挤压芯片与探针12接触充分，避免芯片受力不均匀，导致芯片上部分焊接点无法与探针12接触，影响检测效果通过定位机构，无需人为将芯片放置在探针12处，避免定位不准确，影响检测效果。

如图2-3所示，所述检测机构包括套管3、升降杆7、压板8、检测组件和两个升降组件，所述套管3固定在主体1内的顶部，所述套管3的下方设有通孔，所述升降杆7的一端与压板8固定连接，所述升降杆7的另一端穿过通孔设置在套管3的内部，所述升降杆7与通孔同轴设置，两个升降组件分别设置在套管3内的两侧，所述升降组件与升降杆7传动连接，所述工作台2上设有凹槽，所述检测组件设置在凹槽的内部；

所述检测组件包括移动板11、两个限位组件和若干个探针12，所述移动板11水平设置在凹槽的内部，所述移动板11的两侧分别与两个限位组件连接，所述探针12均匀分布在移动板11的上方；

当进行检测工作时，升降组件工作，带动升降杆7向下移动，使得压板8向靠近工作台2的方向移动，从而使得压板8与探针12上方的芯片接触并挤压芯片，使得芯片与探针12接触充分，避免芯片受力不均匀，导致芯片上部分焊接点无法与探针12接触，影响检测效果，提高了设备的可靠性。

如图4所示，所述定位机构包括固定盒16和两个移动盒17，所述主体1的一侧设有进料口，两个移动盒17分别设置在工作台2的两侧，所述移动盒17的一端与主体1的远离进料口的一侧的内壁固定连接，所述移动盒17的另一端穿过进料口设置在主体1的外部，所述固定盒16设置在两个移动盒17之间，所述移动盒17内设有移动组件，所述移动组件与固定盒16传动连接；

所述固定盒16内设有固定组件，所述固定盒16的靠近工作台2的一侧设有第一开口，所述固定组件包括第一电机18、绕线盘19和两个固定单元，所述第一电机18固定在固定盒16内的底部，所述第一电机18与绕线盘19传动连接，两个固定单元分别设置在第一电机18的两侧，所述固定单元包括拉线20、固定板21和第一弹簧22，所述拉线20的一端缠绕在绕线盘19上，所述拉线20的另一端与固定板21固定连接，所述第一弹簧22的两端分别与固定盒16的一侧的内壁和固定板21连接，所述第一弹簧22处于拉伸状态，所述第一电机18与plc电连接。

实际上，使用者将芯片放置在两个固定板21之间，再控制第一电机18启动，绕线盘19转动，收紧拉线20，使得两个固定板21向相互靠近的方向移动，从而使得两个固定板21夹紧芯片，再控制移动组件工作，带动固定盒16向靠近工作台2的方向移动，使得芯片移动至探针12的上方，再控制第一电机18反转，放长拉线20，使得固定板21不再夹紧芯片，使得芯片落至在探针12的上方。

作为优选，为了带动压板8上下移动，所述升降组件包括第二电机4、齿轮5和齿条6，所述第二电机4固定在套管3内的底部，所述第二电机4与齿轮5传动连接，所述齿条6固定在升降杆7上，所述齿轮5与齿条6啮合，所述第二电机4与plc电连接。

第二电机4启动，齿轮5转动，带动齿条6移动，使得调节杆向下移动，从而带动压板8向靠近工作台2的方向移动，使得压板8按压芯片，使得芯片与探针12接触，便于检测。

作为优选，为了使得齿条6移动流畅，所述齿轮5上涂有润滑油，减小了齿轮5与齿条6之间的摩擦力，使得齿条6移动流畅。

作为优选，为了限制限制升降杆7的移动方向，所述升降组件还包括升降板9和两个导向杆10，所述升降杆7的远离压板8的一端与升降板9固定连接，两个导向杆10分别设置在套管3内的两侧，所述导向杆10的两端分别与套管3内的顶部和第二电机4的上方固定连接，所述升降板9的两端分别套设在两个导向杆10上，所述升降板9与导向杆10滑动连接。

升降杆7向下移动时，带动升降板9在导向杆10上移动，限制了升降杆7的移动方向，使得升降杆7移动时更加的稳定。

作为优选，为了限制移动板11的移动方向，所述限位组件包括限位杆13、两个第二弹簧14和两个固定块15，所述限位杆13的两端分别通过两个固定块15与凹槽的一侧的内壁固定连接，所述移动板11的两端分别套设在两个限位杆13上，两个第二弹簧14分别设置在移动板11的上方和下方，所述第二弹簧14的两端分别与移动板11和固定块15连接。

当进行检测工作时，压板8向下移动，按压芯片，使得芯片与探针12接触，同时带动移动板11向下移动，位于移动板11的下方的第二弹簧14处于压缩状态，位于移动板11的上方的第二弹簧14处于拉伸状态，当检测完成后，压板8向上移动，通过两个第二弹簧14的回复力，使得移动板11向上移动，从而通过探针12带动芯片恢复至原位，便于固定组件固定芯片。

作为优选，为了延长拉线20的使用寿命，所述拉线20的制作材料为尼龙。

作为优选，为了限制固定板21的移动方向，所述固定单元还包括支杆23，所述支杆23的两端分别与固定盒16的一侧的内壁和第一电机18固定连接，所述固定板21套设在支杆23上，所述固定板21与支杆23滑动连接。

通过设置支杆23，限制了固定板21的移动方向，提高了固定板21移动时的稳定性。

作为优选，为了检测固定板21所受到的压力，两个固定板21的相互靠近的一侧的内壁上均设有压力传感器，所述压力传感器与plc电连接。

通过压力传感器，检测固定板21之间的压力，当检测到的压力值达到设定值后，表面固定板21已经夹紧芯片，从而控制固定组件停止工作，避免固定板21移动过度，损坏芯片。

作为优选，为了带动固定盒16移动，所述移动盒17的靠近工作台2的一侧设有第二开口，所述移动组件包括第三电机24、丝杆25和滑块26，所述第三电机24固定在移动盒17内的底部，所述第三电机24与丝杆25传动连接，所述滑块26套设在丝杆25上，所述滑块26的与丝杆25的连接处设有与丝杆25匹配的螺纹，所述固定盒16的两端分别与两个滑块26固定连接，所述第三电机24与plc电连接。

第三电机24启动，丝杆25转动，带动滑块26向远离第三电机24的方向移动，从而带动固定盒16向靠近工作台2的方向移动，使得固定板21夹紧的芯片移动至凹槽的上方。

作为优选，为了限制滑块26的移动方向，所述移动组件还包括支撑杆27，所述支撑杆27的两端分别与移动盒17的两侧的内壁固定连接，所述支撑杆27与丝杆25平行设置，所述滑块26套设在支撑杆27上，所述滑块26与支撑杆27滑动连接。

通过设置支撑杆27，避免滑块26在丝杆25上移动时发生转动，死的滑块26在丝杆25上移动时更加的稳定。

实际上，使用者将芯片放置在两个固定板21之间，再控制第一电机18启动，绕线盘19转动，收紧拉线20，使得两个固定板21向相互靠近的方向移动，从而使得两个固定板21夹紧芯片，再控制移动组件工作，带动固定盒16向靠近工作台2的方向移动，使得芯片移动至探针12的上方，再控制第一电机18反转，放长拉线20，使得固定板21不再夹紧芯片，使得芯片落至在探针12的上方，再控制第二电机4启动，齿轮5转动，带动齿条6移动，使得升降杆7向下移动，使得压板8向靠近工作台2的方向移动，从而使得压板8与探针12上方的芯片接触并挤压芯片，使得芯片与探针12接触充分，避免芯片受力不均匀，导致芯片上部分焊接点无法与探针12接触，影响检测效果，提高了设备的可靠性。

与现有技术相比，该用于芯片的可靠性高的检测设备通过检测机构，通过挤压芯片与探针12接触充分，避免芯片受力不均匀，导致芯片上部分焊接点无法与探针12接触，影响检测效果，与现有的检测机构相比，该检测机构提升了检测效果，提高了设备的可靠性，通过定位机构，无需人为将芯片放置在探针12处，避免定位不准确，影响检测效果，与现有的定位机构相比，该定位机构减轻了使用者的工作负担，提高了检测的便捷性。

以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。