用于开关柜局部放电地电波检测的自校验传感器及其方法与流程

本发明涉及电气局部放电测量技术领域，具体是指用于开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器及其方法。

背景技术：

开关柜是电力系统的重要组成部分，其正常工作直接影响着电力系统的正常运行。开关柜在运行中出现毛刺、老化等缺陷时会产生局部放电信号，通过对局部放电的监测可以有效判断开关设备的状态，检测局部放电信号对保证开关柜的正常运行有着十分重要的意义。

地电波检测法对封闭式高压开关设备进行局部放电检测，改变了传统的测量方式，在开关设备出现故障之前，发现设备存在的缺陷和隐患，加强注意，长期监测对比，预防设备出现故障。

但现有的地电波在线监测仪器不能简便的在现场判断传感器是否存在异常和进行校验，无法判断监测仪器是否良好，在长时间监测中容易出现较大误差。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是克服技术上的缺陷，提供用于开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器及其方法，通过本方法能够简单便捷的对传感器进行判别校准。

为解决上述技术问题，本发明提供的技术方案为开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器：包括传感器，所述传感器由壳体、信号基板、隔离屏蔽罩、信号输出接口、信号校验接口、信号连接线组成。

作为改进，所述传感器的信号基板上设有信号接收区、信号校验区及隔离屏蔽区，所述信号基板的形状不限于圆形、正方形、长方形，所述信号接收区、信号校验区及隔离屏蔽区形状不限于圆形、正方形、长方形、环形。

作为改进，所述传感器板上的隔离屏蔽模块和隔离屏蔽罩焊接在一起组成干扰屏蔽单元，所述隔离屏蔽罩由金属或合金加工而成，所述隔离屏蔽罩加工的金属不限于不锈钢、铜、坡莫合金等。

用于开关柜局部放电地电波监测的方法：所述的装置为权利要求到权利要求上任意所述的传感器，进行校验时，由信号校验接口输入校验信号，通过信号基板的信号校验区将信号耦合到开关柜柜体表面，再通过信号基板的信号耦合区将校验信号采集并由信号输出接口传输到仪器上。

采用以上结构后，本发明具有如下优点：能够在现场对地电波传感器进行快速校准、传感器对噪声信号的主动性隔离屏蔽，提高了开关柜局部放电传感器的使用便捷程度、长期稳定性及其准确度。

附图说明

图1是本发明用于开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器的结构示意图。

图2是本发明用于开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器传感器基板的结构示意图。

如图所示：1、壳体，2、信号基板，3、隔离屏蔽罩，4、信号输出接口，5、信号校验接口，6、信号连接线，7、信号接收区，8、信号校验区，9、隔离屏蔽区。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的详细说明。

结合附图，用于开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器，包括传感器，所述传感器由壳体1、信号基板2、隔离屏蔽罩3、信号输出接口4、信号校验接口5、信号连接线6组成。

所述传感器的信号基板2上设有信号接收区7、信号校验区8及隔离屏蔽区9，所述信号基板2的形状不限于圆形、正方形、长方形，所述信号接收区7、信号校验区8及隔离屏蔽区9形状不限于圆形、正方形、长方形、环形。

所述传感器板上的隔离屏蔽模块和隔离屏蔽罩3焊接在一起组成干扰屏蔽单元，所述隔离屏蔽罩3由金属或合金加工而成，所述隔离屏蔽罩3加工的金属不限于不锈钢、铜、坡莫合金等。

用于开关柜局部放电地电波监测的方法：所述的装置为权利要求1到权利要求3上任意所述的传感器，进行校验时，由信号校验接口5输入校验信号，通过信号基板2的信号校验区8将信号耦合到开关柜柜体表面，再通过信号基板2的信号耦合区将校验信号采集并由信号输出接口4传输到仪器上。

本发明的工作原理，将隔离屏蔽罩3焊接到信号基板2的隔离屏蔽区，用于隔离屏蔽外界的噪声及其校验信号。

将信号基板2的信号接收区通过压接同轴电缆缆皮连接到信号输出接口，用于监测开关柜放电时产生的地电波信号。

将信号基板2的信号校验区通过导线连接到信号校验接口，用于发射校验信号。

以上对本发明及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本发明的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。

技术特征：

技术总结
本发明涉及电气局部放电测量领域，特别涉及用于开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器，所述开关柜局部放电地电波监测的自校验传感器由壳体、信号基板、隔离屏蔽罩、信号输出接口、信号校验接口、信号连接线等组成。本发明通过在基板上蚀刻信号耦合区、信号校验区以及隔离屏蔽区，在隔离屏蔽区焊接隔离屏蔽罩，输入信号通过压接同轴电缆传输，可实现开关柜局部放电地电波监测传感器现场快速校准、传感器对干扰信号的主动性隔离屏蔽，从而提高了开关柜局部放电传感器在线监测时测试传感器的简易程度、长期稳定性及其准确度。

技术研发人员：张宝金;杜玉新;张普;高常海;李敏;张红桥;杨丽影;张文阔
受保护的技术使用者：北京碧思特科技有限公司
技术研发日：2019.04.03
技术公布日：2019.06.21