一种带限位结构的芯片测试装置的制作方法

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术：

芯片是在电子学中是一种把电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，芯片在出厂之前都需要进行性能测试，符合规格要求的芯片才可以进行包装出厂。

现有的芯片测试装置上缺少限位装置，或者限制效果差导致先测试过程中出现误差，进而造成误判等现象，不仅增加了测试成本，更导致了测试的质量下降，使得事倍功半，其次测试装置中缺少减震装置，测试时会发生震动作用，会对芯片内部造成损伤。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决现有技术中缺少限位装置和减震装置的问题，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种带限位结构的芯片测试装置，包括底座、显示屏和测试座，所述底座一侧安装有显示屏，所述底座上安装有控制面板，所述底座上安装有测试座，所述测试座上开设有安装槽，所述安装槽中安装有限位装置、所述测试座与底座之间安装有减震装置。

优选地，所述限位装置包括双向螺纹杆、安装块和直角限位杆，所述安装槽活动安装有双向螺纹杆，且双向螺纹杆一端贯穿测试座，所述安装槽中对称活动安装有安装块，两个所述安装块远离底座的一侧均安装有直角限位杆，两个所述直角限位杆相对面对称开设有直角卡槽。

优选地，所述安装槽两端对称安装有两个轴承，所述双向螺纹杆安装在两个轴承的内环上，所述双向螺纹杆同时贯穿两个安装块，两个所述安装块上对称开设有螺纹孔，所述双向螺纹杆上设有两段相反方向的螺纹，且螺纹孔与双向螺纹杆两段螺纹分别螺纹啮合。

优选地，所述安装槽两侧壁上靠近安装块处均对称开设有两个滑槽，两个所述安装块上均对称安装有两个连接杆，每个所述连接杆远离安装块的一端均安装有滑块，所述滑块与滑槽相互配合。

优选地，所述减震装置包括弹杆和弹簧，所述测试座与底座之间安装有多个弹杆，每个所述弹杆上均套设有弹簧。

优选地，所述双向螺纹杆远离测试座的一端固定安装有旋钮。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1、本实用新型在测试座上开设有安装槽，安装槽中安装有限位装置，通过转动双向螺纹杆，使得两个安装块相互靠进，在通过两个安装块上的直角限位杆将芯片卡住，对芯片进行限位固定，增加了测试时的稳定性，减少了芯片的偏位情况，提高了测试真实性，更提高了测试的效率；

2、本实用新型在测试座与底座之间安装有弹杆，弹杆上套设有弹簧，减少了测试测试座的震动作用。提高了测试的稳定性，也减少了测试时的震动对芯片的损坏，保证了芯片的质量。

3、综上所述，本实用新型在测试座上开设了安装槽，在安装槽中安装了限位装置，通过两个直角限位杆将芯片固定在测试座上，使其在测试时不发生偏位，提高了测试的质量，其次在测试座和底座之间安装了减震装置，减少了测试时发生的震动对芯片的损坏，保证了测试后芯片的质量。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置的正视图；

图2为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置测试座的侧视图；

图3为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置A部分结构的放大图。

图中：1底座、2显示屏、3测试座、4安装槽、5双向螺纹杆、6旋钮、7轴承、8控制面板、9安装块、10连接杆、11滑块、12滑槽、13直角限位杆、14弹杆、15弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3，一种带限位结构的芯片测试装置，包括底座1、显示屏2和测试座3，底座1一侧安装有显示屏2，底座1上安装有控制面板8，底座1上安装有测试座3，测试座3上开设有安装槽4，安装槽4中安装有限位装置、测试座3与底座1之间安装有减震装置。

限位装置包括双向螺纹杆5、安装块9和直角限位杆13，安装槽4活动安装有双向螺纹杆5，且双向螺纹杆5一端贯穿测试座3，双向螺纹杆5远离测试座3的一端固定安装有旋钮6，安装槽4两端对称安装有两个轴承7，双向螺纹杆5安装在两个轴承7的内环上，双向螺纹杆5同时贯穿两个安装块9，两个安装块9上对称开设有螺纹孔，双向螺纹杆5上设有两段相反方向的螺纹，且螺纹孔与双向螺纹杆5两段螺纹分别螺纹啮合，安装槽4中对称活动安装有安装块9，安装槽4两侧壁上靠近安装块9处均对称开设有两个滑槽12，两个安装块9上均对称安装有两个连接杆10，每个连接杆10远离安装块9的一端均安装有滑块11，滑块11与滑槽12相互配合，两个安装块9远离底座1的一侧均安装有直角限位杆13，两个直角限位杆13相对面对称开设有直角卡槽，值得注意的是，通过转动双向螺纹杆5，带动两个安装块9相互靠进，两个直角限位杆13上的直角卡槽相互靠进，将芯片卡在两个直角卡槽之间，增加了芯片测试时的稳定性，解决了芯片在测试时发生偏位的现象，太高了测试的真实性和测试的的效率。

减震装置包括弹杆14和弹簧15，测试座3与底座1之间安装有多个弹杆14，每个弹杆14上均套设有弹簧15。

本实用新型的工作原理为：将芯片放置在测试座3上，转动旋钮6带动双向螺纹杆5，双向螺纹杆5上设有两个安装块9，安装块9分别与双向螺纹杆5上相反方向的螺纹相啮合，在双向螺纹杆5转动时，两个安装块9会相互靠进或者相互远离，相互靠近时安装块9上的两个直角限位杆13也会相互靠近，两个直角限位杆13上的直角卡槽会将芯片的直角边卡住，达到对芯片限位的作用。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内，不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。