技术特征：
1.一种集成电路测试设备的测试方法，其特征在于，所述集成电路测试设备具有多个测试通道，每个所述测试通道与多个被测器件的多种类型的待控管脚中的其中一种连接；所述测试方法包括：接收第一指令，所述第一指令指示对至少一个目标被测器件执行测试操作；响应于所述第一指令，产生驱动信号集和选择信号；基于所述选择信号，结合第一映射表，确定多个被测器件组中每个所述测试通道的状态，所述状态包括使能状态、去使能状态其中之一；所述第一映射表包括所述测试通道与所述被测器件组、所述被测器件的待控管脚、所述选择信号之间的对应关系；其中，多个所述被测器件被分成多个被测器件组；每个所述被测器件组中的每个所述被测器件均具有对应的所述选择信号；根据所述驱动信号集，结合第二映射表，使得所述测试通道输出驱动信号；所述第二映射表包括多个被测器件的多个待控管脚与所述驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系；利用所述驱动信号，对所述目标被测器件执行测试操作。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述第二映射表包括第一子映射表和第二子映射表；所述根据所述驱动信号集，结合第二映射表，使得所述测试通道输出驱动信号，包括：根据所述驱动信号集，结合第一子映射表，确定多个被测器件的多个待控管脚与所述驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系系；基于多个被测器件的多个待控管脚与所述驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系，结合第二子映射表，使得所述测试通道输出驱动信号。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：建立所述第一子映射表；所述建立所述第一子映射表，包括：获取所述多个被测器件的多个待控管脚与所述驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系；其中，每一所述待控管脚与一个所述驱动信号对应；将获取的所述多个被测器件的多个待控管脚与所述驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系存储在所述第一子映射表中。4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：建立所述第二子映射表；所述建立所述第二子映射表，包括：建立多个所述测试通道与多个被测器件的多个待控管脚之间的连接关系，获取所述每个被测器件的每一类型的待控管脚与所述多个测试通道的连接关系，生成第二子映射表；其中，每一所述测试通道与一个或多个所述待控管脚连接。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，多个所述被测器件组之间所述选择信号相同的所述被测器件的同一类所述待控管脚与同一个所述测试通道连接；各所述被测器件组中至少两个所述被测器件的同一类所述待控管脚与同一个所述测试通道连接。6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述待控管脚包括：数据线管脚、片选使能管脚、输出使能管脚。
7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述驱动信号集包括以下至少之一：控制信号、数据输出信号、输出输入使能信号、数据期望信号。8.一种集成电路测试设备，其特征在于，包括：多个测试通道、处理器、信号产生单元以及测试单元；其中，每个所述测试通道用于：与多个被测器件的多种类型的待控管脚中的其中一种连接；所述处理器用于：接收第一指令，所述第一指令指示对至少一个目标被测器件执行测试操作；所述信号产生单元用于：响应于所述第一指令，产生驱动信号集和选择信号；所述处理器还用于：基于所述选择信号，结合第一映射表，确定多个被测器件组中每个所述测试通道的状态，所述状态包括使能状态、去使能状态其中之一；所述第一映射表包括所述测试通道与所述被测器件组、所述被测器件的待控管脚、所述选择信号之间的对应关系；其中，多个所述被测器件被分成多个被测器件组；每个所述被测器件组中的每个所述被测器件均具有对应的所述选择信号；根据所述驱动信号集，结合第二映射表，使得所述测试通道输出驱动信号；所述第二映射表包括多个被测器件的每一待控管脚与所述驱动信号集中的每个驱动信号之间的对应关系；所述测试单元用于：利用所述驱动信号，对所述目标被测器件执行测试操作。9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述信号产生单元包括算法图形产生器或者矢量驱动器。10.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述集成电路测试设备还包括电源，所述电源与所述处理器连接，并被所述处理器所控制；所述电源用于：在所述处理器的控制作用下，向所述目标被测器件提供电源。11.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述集成电路测试设备包括老化测试设备。
技术总结
本申请提供了一种集成电路测试设备及其测试方法。包括：接收第一指令，第一指令指示对至少一个目标被测器件执行测试操作；响应于第一指令，产生驱动信号集和选择信号；基于选择信号，结合第一映射表，确定多个被测器件组中每个测试通道的状态，状态包括使能状态、去使能状态其中之一；第一映射表包括测试通道与被测器件组、被测器件的待控管脚、选择信号之间的对应关系；每个被测器件组中的每个被测器件均具有对应的选择信号；根据驱动信号集，结合第二映射表，使得测试通道输出驱动信号；第二映射表包括多个被测器件的多个待控管脚与驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系；利用驱动信号，对目标被测器件执行测试操作。对目标被测器件执行测试操作。对目标被测器件执行测试操作。
技术研发人员：汝峰 张洋洋 陈轶 王梦达
受保护的技术使用者：长江存储科技有限责任公司
技术研发日：2022.07.05
技术公布日：2022/9/20