技术特征：
1.一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，包括：将样品增益芯片接入littman-metcalf型可调谐激光器，设置测试参数，做测试前准备；对样品增益芯片依次进行光功率测试、光波长测试、放大自发辐射光谱测试，得到光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据；对光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据进行分析，判定样品增益芯片是否合格，得到增益芯片参数及测试结果。2.如权利要求1所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，所述测试前准备，具体步骤为：将样品增益芯片接入littman-metcalf型可调谐激光器；启动littman-metcalf型可调谐激光器；读取控制电路驱动样品增益芯片的驱动电流参数、致动器的空间位置参数、支撑板的温度参数、角度调整机构的角度、光开关的通道位置；检查样品增益芯片的接入情况；启动高精度恒温箱，读取高精度恒温箱的温度值；设置测试参数，包括高精度恒温箱的模拟温度、光功率计的采样率、光波长计的波长分辨率、光谱仪的波长分辨率、样品增益芯片的从小到大等间距排列的多个驱动电流、支撑板的模拟温度、角度调整机构的角度。3.如权利要求2所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，所述光功率测试，具体步骤为：光开关置于光功率测试的通道位置；按照设置的测试参数，控制高精度恒温箱的模拟温度、支撑板的模拟温度、角度调整机构的角度，分别加载多个不同的驱动电流于样品增益芯片，并记录不同驱动电流下的光功率数据，得到一组光功率分布数据；角度调整机构的角度增加5
°
，重新测量一组光功率分布数据。对两组光功率分布数据进行分析，得到样品增益芯片的光功率参数数据，包括功率随注入电流变化分布迹线、阈值电流、最佳工作电流。4.如权利要求3所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，对两组光功率分布数据进行对应点差值运算，得到一组差值分布数据，根据差值分布数据，绘制功率随注入电流变化分布迹线；在一组差值分布数据中，差值分布数据大于预先设定光功率值的第一个驱动电流值，为阈值电流；计算第二组光功率分布数据中相邻两点的斜率，得到一组斜率值，斜率最小的驱动电流值，为最佳工作电流。5.如权利要求3所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，所述光波长测试，具体步骤为：光开关置于光波长测试的通道位置；根据设置的测试参数及光功率测试中得到的阈值电流，控制高精度恒温箱的模拟温度、支撑板的模拟温度、角度调整机构的角度，分别加载高于光功率测试中得到的阈值电流
的驱动电流于样品增益芯片，并记录不同驱动电流下的谐振波长数据，得到光波长分布数据；对光波长分布数据进行分析，得到样品增益芯片的光波长参数数据，包括激射波长随驱动电流变化分布迹线、谐振扫描范围。6.如权利要求3所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，所述放大自发辐射光谱测试，具体步骤为：光开关置于放大自发辐射光谱测试的通道位置；根据设置的测试参数及光功率测试中得到的阈值电流，控制高精度恒温箱的模拟温度、支撑板的模拟温度、角度调整机构的角度，分别加载指定电流于样品增益芯片，并记录指定电流下的放大自发辐射光谱数据，得到放大自发辐射光谱分布数据，指定电流为阈值电流加指定偏移量；对放大自发辐射光谱分布数据进行分析，得到样品增益芯片的放大自发辐射光谱参数数据，包括带宽、光谱纹波、光束出射角度。7.如权利要求1所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法，其特征在于，所述判定样品增益芯片是否合格，包括四种情况：光功率差值分布数据中阈值电流以下相应两点功率差值小于预先设定的功率值，则不合格；谐振扫描范围小于等于预先设定的谐振中心波长范围，则不合格；放大自发辐射光谱分布数据中相邻两点功率差值的绝对值大于等于预先设定的功率值，则不合格；同时满足上述三种情况，则合格。8.一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试系统，其特征在于，包括测试准备模块、测试实施模块和数据分析模块；测试准备模块，被配置为：将样品增益芯片接入littman-metcalf型可调谐激光器，设置测试参数，做测试前准备；测试实施模块，被配置为：对样品增益芯片依次进行光功率测试、光波长测试、放大自发辐射光谱测试，得到光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据；数据分析模块，被配置为：对光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据进行分析，判定样品增益芯片是否合格，得到增益芯片参数及测试结果。9.计算机可读存储介质，其上存储有程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法中的步骤。10.电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7任一项所述的一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法中的步骤。
技术总结
本发明提出了一种基于LM-TL的增益芯片参数自动测试方法及系统，涉及芯片测试技术领域,该方法包括：将样品增益芯片接入Littman-Metcalf型可调谐激光器，设置测试参数，做测试前准备；对样品增益芯片依次进行光功率测试、光波长测试、放大自发辐射光谱测试，得到光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据；对光功率参数数据、光波长参数数据、放大自发辐射光谱数据进行分析，判定样品增益芯片是否合格，得到增益芯片参数及测试结果；本发明通过采用宽范围自由空间光外腔扫频激光源作为测试设备，对不同批次、不同波导光束出射角度及不同激射中心波长的半蝶形封装增益芯片特征参数进行自动测试及分析。芯片特征参数进行自动测试及分析。芯片特征参数进行自动测试及分析。
技术研发人员：盛立文 黄琳 乔山 张爱国 刘志明 尹炳琪 张志辉 李鹏 韩纪磊 韦育 张一琪
受保护的技术使用者：中电科思仪科技股份有限公司
技术研发日：2022.08.29
技术公布日：2022/11/11