用于集电器的测量装置和用于运行测量装置的方法以及校准设备与流程

文档序号:37944525发布日期:2024-05-11 00:26阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于测量至少一个铰接地设置在集电器单元(1)的集电器车辆处的集电器(2,2a,2b,2c,2d,2a’,2b’,2c’,2d’)相对于所述集电器车辆的位置(p)的测量装置,所述测量装置具有至少一个具有至少一个传感器(sa,sb,sc,sd)的、在所述集电器车辆处设置的传感器单元(su),

2.根据权利要求1所述的测量装置,

3.根据权利要求1或2所述的测量装置,

4.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

5.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

6.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

7.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

8.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

9.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

10.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

11.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

12.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

13.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

14.根据上述权利要求中任一项所述的测量装置,

15.根据权利要求14所述的测量装置,

16.一种集电器单元,所述集电器单元具有根据上述权利要求中任一项所述的测量装置。

17.一种用于运行根据权利要求1至15中任一项所述的测量装置的方法,

18.根据权利要求17所述的方法,

19.根据权利要求17或18所述的方法,

20.根据权利要求19所述的方法,

21.根据权利要求19所述的方法,

22.根据权利要求21所述的方法,

23.根据权利要求17至22中任一项所述的方法,

24.根据权利要求23所述的方法,

25.根据权利要求17至24中任一项所述的方法,

26.根据权利要求17至25中任一项所述的方法,

27.根据权利要求17至26中任一项所述的方法,

28.一种用于执行根据权利要求27所述的方法的校准设备,

29.根据权利要求28所述的校准设备,


技术总结
本发明涉及一种用于测量至少一个铰接地设置在集电器单元(1)的集电器车辆处的集电器(2,2a,2b,2c,2d,2a’,2b’,2c’,2d’)相对于集电器车辆的位置(P)的测量装置,所述测量装置具有至少一个具有至少一个传感器(Sa,Sb,Sc,Sd)的、在集电器车辆处设置的传感器单元(SU),其特征在于,在至少一个集电器(2,2a,2b,2c,2d,2a’,2b’,2c’,2d’)处设置有永磁体(M,Ma,Mb,Mc,Md),并且至少一个传感器(Sa,Sb,Sc,Sd)是霍尔传感器(Sa,Sb,Sc,Sd),其中所述测量装置从至少一个霍尔传感器(Sa,Sb,Sc,Sd)的至少一个传感器信号(x,y,z)中求取每个装配有永磁体(M,Ma,Mb,Mc,Md)的集电器(2,2a,2b,2c,2d,2a’,2b’,2c’,2d’)的位置(P)。

技术研发人员:萨曼·托拉布扎德,弗洛里安·诺尔特
受保护的技术使用者:保罗·瓦尔有限公司和两合公司
技术研发日:
技术公布日:2024/5/10
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