1.一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于，包括承载机柜以及设置在承载机柜内的pc人机交互单元、老炼测试电源以及若干试验抽屉，所述pc人机交互单元与老炼测试电源通过通讯转接板连接，与试验抽屉之间通过网络交换机连接，老炼测试电源与试验抽屉电连接，老炼测试电源为整个系统提供电源，pc人机交互单元实现测试模式、参数的编辑下发以及监控显示、存储，为后续系统可靠性筛选分析提供数据支撑，试验抽屉用于待测器件测试，
2.根据权利要求1所述的一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于：所述主控子板包括第一mcu芯片、以太网连接器、第一收发器以及第二收发器，第一mcu芯片通过以太网连接器和第一收发器与pc人机交互单元连接，第一mcu芯片通过第二收发器与电源子板、模拟信号发生子板以及温控子板连接，进行次级数据交互。
3.根据权利要求2所述的一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于：所述电源子板包括第二mcu芯片，第二mcu芯片连接主控子板和通过板载的cpld可编程逻辑芯片和ads8328芯片组成二级电源健康管理系统，实现电压源输出电压和输出电流的监测，过、欠压和过流、过温的保护。
4.根据权利要求2所述的一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于：模拟信号发生子板通过第三mcu芯片连接主控子板，模拟信号发生子板包括fpga芯片，fpga芯片与第三mcu芯片通过一组并行接口连接，fpga芯片分别连接两颗数据位10bit的高速dac芯片和一颗低速dac芯片，低速dac芯片为两颗高速dac芯片提供vpp参考电压并输出2路直流偏置量控制电压提供给偏置调节运放op27，fpga芯片通过dds直接数字频率合成技术将模拟信号量化后的数字信号传输给高速dac芯片，并为高速dac芯片提供一路120mhz的参考时钟信号，两个高速dac芯片的两个输出端与第一高速运放ad8047的同相输入端和反相输入端连接组成差分电路，实现i/v转换，第一高速运放ad8047的输出端与偏置调节运放op27的输出端和第二高速运放ad8047连接组成运放的减法电路。
5.根据权利要求2所述的一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于：所述温控子板通过stm32f1xx的dma功能并行采集温控夹具的热敏电阻反馈的温度值。
6.根据权利要求1-5任一所述的一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于：背板通过fpc柔性导线将主控子板的并行信号及相关控制信号连接到高速串行母板（13），通过电流导线将二级电源输出转接到高速串行母板（13），通过屏蔽线将2路模拟信号连接到高速串行母板（13），通过导线与温控夹具的加热电阻和热敏电阻相连。
7.根据权利要求6所述的一种高速adc/dac的测试系统，其特征在于：高速串行母板（13）与主控子板交互，输出最大频率20mhz的波形时序可编辑的数字信号，经过专用电子引脚pe芯片，进行电平转换和驱动提升分别分配到工位子板上。
8.一种高速adc/dac的测试方法，其特征在于：适用于权利要求1-7任一所述的一种高速adc/dac的测试系统，具体包括：
9.一种高速adc/dac的测试方法，其特征在于：适用于权利要求1-7任一所述的一种高速adc/dac的测试系统，具体包括：