一种评价膜层附着力变化的设备和方法_4

文档序号:8359619阅读:来源:国知局
r>[0126]能够对膜层进行恒力分割,且形成分割面积大小相等的多个单元进行评价,使评价结果更加准确可靠;
[0127]能够建立膜层附着力随时间或外力的变化曲线,从而更精确地评价膜层附着力情况;
[0128]能够有效评价膜层在环境变化前后的附着力变化情况,从而评估产品在信赖性测试中出现不良的风险。
[0129]可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种评价膜层附着力变化的设备,所述膜层设置在第一基板上,所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附,所述膜层被分割为多个单元,其特征在于,所述设备包括评价机台,所述评价机台包括相对设置的上固定机构和下固定机构,所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上,所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上,所述评价机台还包括施力装置,所述施力装置能够向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力,以使得所述上固定机构和所述下固定机构之间产生互相远离的相对移动。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述施力装置包括下拉机构,所述下拉机构设置在所述下固定机构下方,以对所述下固定机构施加预定值的拉力。
3.根据权利要求2所述的设备,其特征在于,所述下拉机构包括可拆卸地设置在所述下固定机构下方的至少一个砝码。
4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述上固定机构包括上真空吸附盘,所述下固定机构包括下真空吸附盘。
5.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述设备还包括分割机台,所述分割机台包括载台、设置在所述载台上方的刀头、和用于控制所述刀头的切割压力的压力控制器,所述载台用于放置所述第一基板,且所述第一基板上设置有所述膜层的一侧朝向所述刀头,所述分割机台用于将所述膜层分割为多个单元。
6.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述刀头上朝向所述载台的一侧设置有间隔均匀的多个刀片,所述刀头能够相对于所述载台移动,且所述刀头能够绕安装所述刀头的安装轴转动。
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的设备,其特征在于,所述评价机台上还设置有定时计时器,所述定时计时器用于设定所述施力装置施加拉力的时间。
8.根据权利要求1至6中任意一项所述的设备,其特征在于,所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与所述第二基板通过透明的胶体相贴附。
9.根据权利要求1至6中任意一项所述的设备,其特征在于,所述膜层为彩色滤光层。
10.根据权利要求1至6中任意一项所述的设备,其特征在于,所述设备还包括计算模块,所述计算模块用于: 建立坐标系,所述坐标系的横轴X为外力或时间,纵轴y为膜层分离单元数; 在所述坐标系中绘制出坐标值为(xN,yN)的多个点,N为正整数; 根据上述坐标值,拟合获取X与I的方程式I = kx+C,其中,k为斜率,C为常数。
11.根据权利要求10所述的设备,其特征在于,所述设备还包括判定模块,所述判定模块用于根据在常态条件下和在信赖性测试条件下分别获得的k值的差异来判断被测试的样品是否存在信赖性风险。
12.一种采用权利要求1至11中任意一项所述的设备评价膜层附着力变化的方法,其特征在于,包括以下步骤: 取第一测试样品,所述第一测试样品包括第一基板和设置在所述第一基板上的膜层; 将所述膜层分割成多个单元; 将所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附; 将所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上,将所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上; 所述施力装置向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力,以使得所述上固定机构和所述下固定机构之间产生互相远离的相对移动; 以外力和时间中的一者为变量,另一者为定量,然后统计在变量处于不同值的条件下的膜层分离单元数,得到膜层分离单元数与变量的关系。
13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述施力装置包括下拉机构,所述下拉机构设置在所述下固定机构下方,所述外力指所述下拉机构对所述下固定机构施加的拉力。
14.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述得到膜层分离单元数与变量的关系的步骤包括: 建立坐标系,坐标系的横轴X为变量,纵轴y为膜层分离单元数,在坐标系中绘制出坐标值为(xN,yN)的多个点,N为正整数; 根据上述坐标值,拟合获取膜层分离单元数与变量的方程式= klX+Ci,其中A1为斜率,C1S常数。
15.根据权利要求14所述的方法,其特征在于,所述方法还包括: 取第二测试样品,所述第二测试样品也包括第一基板和设置在所述第一基板上的膜层; 将所述膜层分割成多个单元; 将膜层被切割后的第二测试样品放置在信赖性测试条件中预定时间; 将所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附; 将所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上,将所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上; 所述施力装置向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力,以使得所述上固定机构和所述下固定机构之间产生互相远离的相对移动; 以外力和时间中的一者为变量,另一者为定量,然后统计在变量处于不同值的条件下的膜层分离单元数,得到信赖性测试条件下膜层分离单元数与变量的方程式= k2x+C2,其中,k2为斜率,C2为常数; 根据公式Λ = [0^2-10/\]*100%,计算环境变化前后膜层附着力变化的快慢情况,当Λ小于等于预定百分比时,判定样品没有信赖性风险。
16.根据权利要求15所述的方法,其特征在于,所述信赖性测试条件包括温度大于120°C、湿度大于95%、以及气压大于0.1MPa中的任意一项或多项,所述预定时间大于12小时。
17.根据权利要求12至16中任意一项所述的方法,其特征在于,所述设备还包括分割机台,所述分割机台包括载台、设置在所述载台上方的刀头、和用于控制所述刀头的切割压力的压力控制器,所述载台用于放置所述第一基板,且所述第一基板上设置有所述膜层的一侧朝向所述刀头,所述分割机台用于将所述膜层分割为多个单元, 在将所述膜层分割成多个单元的步骤中,利用所述压力控制器控制所述刀头以恒定的压力将所述膜层分割成多个单元。
18.根据权利要求13至16中任意一项所述的方法,其特征在于,以时间为定量,以拉力为变量,统计不同拉力条件下的膜层分离单元数,得到膜层分离单元数与拉力的关系。
19.根据权利要求13至16中任意一项所述的方法,其特征在于,以拉力为定量,以时间为变量,统计不同时间条件下的膜层分离单元数,得到膜层分离单元数与时间的关系。
【专利摘要】本发明公开了一种评价膜层附着力变化的设备和方法,所述膜层设置在第一基板上,所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附,所述膜层被分割为多个单元。所述设备包括评价机台,所述评价机台包括相对设置的上固定机构和下固定机构,所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上,所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上,所述评价机台还包括施力装置,所述施力装置能够向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力。本发明能够准确评价膜层附着力随时间或外力变化的规律,同时,能够分析膜层在环境变化前后的附着力变化情况,评估产品在信赖性测试中出现不良的风险。
【IPC分类】G01N19-04
【公开号】CN104677823
【申请号】CN201510130546
【发明人】元敏, 邢宏伟, 刘桂林
【申请人】合肥京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年3月24日
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