r> 图中，1、光敏器件，2、壳体，3、遮光体。
【具体实施方式】
[0017]以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
[0018]本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。
[0019]实施例1:一种光线入射角度检测装置，如图1所示，包括两个光敏器件I，两个光敏器件I的电气参数一致，且两个光敏器件I的受光面面积及形状相同；两个光敏器件I的受光面相互平行，且存在间距；在垂直于光敏器件I受光面的方向上，两个光敏器件I相互重叠。
[0020]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
[0021]首先，检测两个光敏器件的电流值^及I 2;其次，应用公式
实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2;
K1=K2;
Tcin Ct _x/[L重叠 (Li Li实际)];
SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L1?为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离； α为入射光线的入射角度。
[0022]从而得出入射角度α。
[0023]实施例2:与实施例1的不同之处在于，如图2所示，两个光敏器件I在垂直于受光面的方面上不相互重叠。
[0024]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
[0025]首先，检测两个光敏器件的电流值^及I 2;其次，应用公式
实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2;
K1=K2;
Tan α =x/ (L2+ L1 实际)；
SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离； α为入射光线的入射角度；
从而得出入射角度α。
[0026]实施例3:—种光线入射角度检测装置，如图3所示，包括三个光敏器件I ;其中两个所述光敏器件I的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件I。
[0027]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光，本实施例可以检测0-180度范围内的入射光角度。
[0028]首先检测三个光敏器件的电流值，I1, 12及I 3;其次，应用公式，
参照图3，入射光从左边射入时，
实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2;
K1=K2;
Tcin Ct _x/[L重叠 (Li Li实际)];
SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L1?为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离； α为入射光线的入射角度；
从而得出入射角度α。
[0029]入射光从右边射入时，入射角度α的得出方式与从左边射入时类似。
[0030]实施例4:如图4所示，一种光线入射角度检测装置，包括两个光敏器件I，两个光敏器件I的受光面相互垂直设置，其中一个光敏器件I位于另一个光敏器件I的一端，两个光敏器件I都固定于壳体2，两个光敏器件I的电气参数一致。
[0031]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
[0032]首先，检测两个光敏器件I的电流值，I1, I2;其次，应用公式，
实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2;
K1=K2;
Tana — (L1-L1 实际)/ L2 ；
SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态； K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态A= L2;
α为入射光线的入射角度。
[0033]从而得出入射角度α。
[0034]实施例5:—种光线入射角度检测装置，如图5所示，包括壳体2，壳体2上固定有一个光敏器件1，壳体2上还固定有位于光敏器件I上方的遮光体3。
[0035]实施例6:如图6所示，一种光线入射角度检测装置，包括两个光敏器件1，两个光敏器件I的电气参数一致，且两个光敏器件I的受光面面积及形状相同；两个光敏器件I受光面处于同一平面，且都固定于壳体2内。
[0036]两个光敏器件I的受光面上方设有固定连接于壳体2的遮光体3，在遮光体3的正中间区域开有透光孔31，透光孔31呈矩状；在垂直于光敏器件I受光面的方向上，透光孔31分别在两个光敏器件I受光面的覆盖面积及形状相同。
[0037]应用本实施例的光线入射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，且入射光由于入射角度变化所形成的轨迹方向平行于其中一个光敏器件I至另一个光敏器件I方向。
[0038]首先检测两个光敏器件的电流值，^及I 2;其次，应用公式
Si实际 /?实际-K1^I j/Kg*I2-L1^ig /L2实际;
Li实际+h实际-L总；
K1=K2;
Tan α =χ/ ( | L总 /^-L1 实际 | )；
S1^^为其中一个光敏器件的当前受光面积，为另一个光敏器件的当前受光面积；K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，为入射光线在另一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L,&为入射光线在两个光敏器件受光面的总照射长度；
X为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离； α为入射光线的入射角度。
[0039]从而得出入射角度α。
[0040]实施例7:与实施例6的不同之处在于，在垂直于光敏器件I受光面的方向上，透光孔31分别在两个光敏器件I受光面的覆盖面积不相等，但形状相同。
[0041]实施例8:如图7所示，一种光线入射角度检测装置，包括两个光敏器件I，两个光敏器件I的电气参数一致，且两个光敏器件I的受光面面积及形状相同；两个光敏器件I受光面处于同一平面，且都固定于壳体2。
[0042]其中一个光敏器件I的正上方设有遮光体3，遮光体3的形状及面积与该光敏器件I受光面的形状及面积相等。
[0043]应用本实施例的光线入