射角度检测方法，接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，且入射光由于入射角度变化所形成的轨迹方向平行于其中一个光敏器件I至另一个光敏器件I方向，正上方未设置遮光体3的光敏器件I受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
[0044]首先，检测两个光敏器件的电流值，^及I 2;其次，应用公式
实际 /S2 -K1*I j/Kg*I2-L1^ig /L2;
K1=K2;
Tan a =x/ L1 实际；
SgP:^为其中一个光敏器件的当前受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2S入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，处于完全受光照状态；
X为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离； α为入射光线的入射角度。
[0045]从而得出入射角度α。
[0046]实施例9:与实施例8的不同之处在于，遮光体3覆盖至另一个光敏器件I。
【主权项】
1.一种光线入射角度检测方法，其特征在于，包括: (1)设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面； (2)沿入射光的投射方向，其中一个光敏器件在另一个光敏器件受光面所在平面形成投影； (3)其中一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态，另一个光敏器件的受光面的实际受光面积随入射光线的角度变化而变化，且使该光敏器件的实际受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面； (4)检测两个光敏器件的电流值； (5)应用公式 当两个光敏器件平行设置，且在垂直于光敏器件受光面方向上，两者不相重叠时，应用公式，如下， 实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2; K1=K2;Tan α =x/ (L2+ L1 实际)； SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态； K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态； X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离； α为入射光线的入射角度； 当两个光敏器件平行设置，且在垂直于光敏器件受光面方向上，两者存在相重叠区域时，应用公式，如下， 实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2; K1=K2;Tcin Ct _x/[L重叠 (Li Li实际)]; SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态； K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度； L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态； L1?为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面； X为两个光敏器件受光面之间的垂直距离； α为入射光线的入射角度； 当两个光敏器件的受光面相互垂直设置时，应用公式，如下， 实际 /S2-K1^I1ZK2*I2-L1^ig /L2; K1=K2;Tana — (L1-L1 实际)/ L2 ； SgP:^为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态； K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度； L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态A= L2; α为入射光线的入射角度。
2.一种光线入射角度检测装置，其特征在于，包括壳体、设于所述壳体且受光面相互平行的两个光敏器件；且其中一个光敏器件能够对另一个光敏器件的受光面形成遮挡。
3.根据权利要求2所述的一种光线入射角度检测装置，其特征在于，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件存在相互重叠的区域。
4.根据权利要求2所述的一种光线入射角度检测装置，其特征在于，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件不存在相互重叠的区域。
5.一种光线入射角度检测装置，其特征在于，包括壳体、设于所述壳体且受光面相互垂直的两个光敏器件；且其中一个光敏器件位于另一个光敏器件的一端。
6.一种光线入射角度检测装置，其特征在于，包括壳体及设于壳体上的三个光敏器件；其中两个所述光敏器件的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件。
7.一种光线入射角度检测装置，其特征在于，包括壳体、设于所述壳体的至少一个光敏器件、设于所述壳体且用于遮挡所述光敏器件受光面的遮光体。
8.—种光线入射角度检测方法，其特征在于，包括: (1)设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面； (2)设置遮光体使两个所述光敏器件的受光总面积始终相同，且使单个光敏器件的受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面； (3)检测两个光敏器件的电流值； (4)应用公式Si实际 /?实际-K1^I j/Kg*I2-L1^ig /L2实际; Li实际+h实际-L总； K1=K2;Tan α =χ/ ( | L总 /^-L1 实际 | )； S1^^为其中一个光敏器件的当前受光面积，为另一个光敏器件的当前受光面积；K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同； 为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，为入射光线在另一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L,&为入射光线在两个光敏器件受光面的总照射长度； X为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离； α为入射光线的入射角度。
9.一种光线入射角度检测方法，其特征在于，包括: (1)设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面； (2)在其中一个光敏器件正上方设置遮光体，所述遮光体在垂直于该光敏器件受光面方向上正好完全覆盖该遮光体的受光面，且使该光敏器件的实际受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面； 另一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态； (3)检测两个光敏器件的电流值； (4)应用公式 实际 /S2 -K1*I j/Kg*I2-L1^ig /L2; K1=K2;Tan a =x/ L1 实际； S1^^为其中一个光敏器件的当前受光面积，&为另一个光敏器件的受光面积； K1为其中一个光敏器件的感光系数；K 2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2S入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度； X为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离； α为入射光线的入射角度。
10.—种光线入射角度检测装置，其特征在于，包括壳体、设于所述壳体且受光面处于同一平面的两个光敏器件、设于所述壳体且位于所述光敏器件上方用于遮挡光线的遮光体。
【专利摘要】本发明涉及光线传感器，特别涉及一种光线入射角度检测装置及方法。本发明的是通过以下技术方案得以实现的：一种光线入射角度检测方法，包括：（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;（2）沿入射光的投射方向，其中一个光敏器件在另一个光敏器件受光面所在平面形成投影；（3）其中一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态，另一个光敏器件的受光面的实际受光面积随入射光线的角度变化而变化；（4）检测两个光敏器件的电流值；（5）应用公式得出光线入射角度。本发明能简单有效的检测光线入射角度。
【IPC分类】G01C1-00
【公开号】CN104729456
【申请号】CN201510106944
【发明人】凌杨, 李金鹏, 齐洋, 周建, 王迪, 张小平
【申请人】湖州佳格电子科技有限公司
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2015年3月12日