M变化；并且在扫描测试时的任何时刻，Ml和M2的总和等于或小于M。类似地，可以将可变数量的扫描通道通信地耦合到输入端口和输出端口以分别执行扫描输入移位操作和扫描输出移位操作。例如，数量为NI的扫描通道可以被选择用于执行扫描输入移位操作，以及数量为N2的扫描通道可以被选择用于执行扫描输出移位操作。在一个实施例中，数量为NI的扫描通道可以通信地耦合到数量为Ml的输入端口，而数量为N2的扫描通道可以通信地耦合到数量为M2的输出端口。在一些示例中，NI和N2可以大于、等于或小于M/2。例如，在一些实施方式中，NI和N2可以等于或小于M/2。在一些实施方式中，例如，在内部扫描通道的扫描压缩实施方式中，NI或N2可以大于M/2。
[0034]在一些示例情况下，可以要求DUT(诸如，DUT 200或300)的输出端口不具有驱动与DUT的输出端口和测试系统之间的连接关联的负载的驱动强度。例如，输出端口耦合到输出缓冲器，其驱动输出端口和测试系统的对应端口之间的连接。在一些情况下，可以期望所需要的输出缓冲器的数量应该被减少或完全消除。在这种情况下，扫描输出不从DUT的输出端口提供到测试系统，相反，输出端口用于从测试系统接收期望扫描输出，并且在DUT中，内在地执行期望扫描输出和(从扫描输出移位操作接收到的)实际扫描输出之间的比较。这种DUT的扫描测试进一步参考图4和图5A-5C解释。
[0035]图4示出根据本技术的一个示例实施例的DUT 400的示例测试。除了其它应用，该实施例可以用于这种情况，即其中在DUT 400的输出端口处不存在充足的驱动强度用于驱动输出端口和测试系统410中的对应端口之间的连接。在图4的实施例中，DUT 400的输出端口(例如，120，图4中未示出)可以用作输入端口，以从测试系统410接收测试图案结构或对应于测试图案结构的期望扫描输出。例如，测试系统410可以提供测试图案结构到与DUT 400的扫描输入通道关联的输入端口。与扫描输出通道关联的输出端口可以从测试系统410接收对应于测试图案结构的期望扫描输出，而不从输出端口接收扫描输出。因此，可以消除对驱动输出端口和测试系统中的对应端口之间的连接的负载的需要(以及可以消除对输出缓冲器的需要)。
[0036]在该实施例中，当在DUT 400处从测试系统410接收对应于期望扫描输出(示为424)的输入(示为422)时，在DUT 400中内在地执行期望扫描输出(424)和实际扫描输出(示为412)的比较。在本文，如图4中所示的，从DUT 400的内部扫描通道420接收实际扫描输出412。应该注意，该实施例提供来自测试系统410的增加数量的扫描输入通道，而不牺牲扫描输出端口的数量或ATPG效率。此外，该实施例允许设计简化，因为扫描输出必须另外地由高强度(以及高电压)驱动器驱动(以考虑测试系统410及相关的板的负载)。在该实施例中，DUT 400包括在内部连接配置中耦合到DUT 400的扫描通道420 (用于接收实际扫描输出)以及扫描输出端口(用于接收期望扫描输出)的比较器450。应该理解，DUT 400的扫描输出端口用作输入端口，因为这些端口从测试系统410接收对应于期望扫描输出的输入422。在一些实施例中，输入422可以与期望扫描输出424相同。在一些实施例中，可能需要禁用期望扫描输出424和实际扫描输出412的比较，并且因此，输入422可以包括期望扫描输出424和用于控制(启用/禁用)比较的一个或更多个比较使能信号。各种比较器配置参考图5进一步描述。
[0037]在一个实施例中，比较器450可以具有第一组M2个输入端(示为从I到M2)以及第二组M2个输入端(示为从I’到M2’)，其中第一组M2个输入端能够与扫描通道耦合，第二组M2个输入端能够与数量为M2的端口(其初始被选择为输出端口)耦合。在一个实施例中，数量为M2的端口能够从测试系统接收期望扫描输出，并且这些端口用作输入端口。测试系统410在DUT 400的数量为Ml的端口(选择为输入端口)处提供测试结构(诸如，测试图案或测试图案的测试周期)。与(在DUT400的N个输入端口处提供的)测试图案结构关联的扫描输出被提供到比较器450。例如，可以在数量为NI的扫描通道处执行对应于测试图案结构的扫描输入移位操作，并且可以在数量为N2的扫描通道处执行对应的扫描输出移位操作。在一个实施例中，可以在第一组M2个输入端接收来自数量为N2的扫描通道的扫描输出。比较器450还具有第二组M2个输入端，所述第二组M2个输入端耦合到DUT 400的数量为M2的端口，用于从测试系统410接收期望扫描输出。例如，比较器450被配置为从测试系统410接收与测试图案结构关联的期望扫描输出。比较器450进一步被配置为比较从数量为N2的扫描通道接收到的(在第一组M2个输入端接收到的)扫描输出与(在第二组M2个输入端接收到的)期望扫描输出，以产生测试结果(一个或更多个)。
[0038]DUT 400还包括存储寄存器460，其用于基于实际扫描输出和期望扫描输出的比较存储测试结果。存储寄存器460可以是能够以一个或更多个位的形式存储测试结果的缓冲器或存储器。存储寄存器460的示例可以包括一个或更多个触发器，诸如D触发器或锁存器。在该实施例中，其中DUT具有比较器450，控制信号可以是恒定信号，并且N1、N2、M1和M2的值可以基于恒定信号在DUT中被配置一次。例如，基于电恪丝(e-fuse)技术，N1、N2、M1和M2可以基于恒定信号被硬编码。
[0039]比较器450可以以各种配置设计，并且能够处理其中DUT输出可以不被指定用于测试图案结构的一些或所有周期的情况。这种情况的示例包括其中响应是由于DUT内的未初始化逻辑引起的“X”或未指定的值(“O”或“1”，但不可预测)，或未解决的逻辑功能(例如，相对值处的两个信号网之间的连接)或由于馈送包括“不关心”值的扫描输入通道的输入数据流引起的上述中的任一种。在这些情况下，由于输出不是确定的“O”或“I”值，所以不需要比较对应的扫描通道输出。这种输出可以被称为“M”(指示“要被掩码的”)。在一个实施例中，如果扫描输出数据值包括“M”，则其从通过比较器450与期望扫描输出比较中排除，除了确定DUT 400的故障/无故障性质的比较所需要的正规逻辑“I”位和逻辑“O”之夕卜。还可以存在其中应该忽略扫描输出以及需要避免其与期望扫描输出的比较的情况(例如，未知状态)。DUT中未知状态的示例可以包括新图案组的第一扫描图案何时被移入的情况，并且在这种情况下，必须阻止比较非初始化扫描触发器的扫描输出。此外，在一些情况下，在输入测试图案中可以提供强制的多个“M”，以确保图案鲁棒性，并且在这种情况下，不期望比较。
[0040]比较器450的各种配置能够确定扫描输出和期望扫描输出的比较何时必须被阻止的情况，以及参考图5A-5C描述的这些实施例。
[0041]图5A、图5B和图5C示出根据本技术的各种实施例的比较器的配置的示例。比较器450 (诸如，比较器510,530和550)的一些示例分别在图5A、图5B和图5C中示出。
[0042]在图5A的实施例中，比较器510从DUT (诸如，DUT 400)的扫描通道接收扫描输出(参见512)，并且从测试系统(诸如，测试系统410)接收期望扫描输出(参见514)。在该实施例中，从测试系统提供比较使能输入(参见516)到比较器510。在一个实施例中，基于比较使能输入516启用或禁用扫描输出和期望扫描输出514的比较。
[0043]可以通过为DUT中的每个输出端口提供两个扫描输入端口，配置图5A的实施例。例如，DUT的每个扫描输出端口被测试系统驱动的两个输入端口替代，并且两个输入端口与测试系统耦合。第一扫描输入端口(被配置用于每个输出端口)被配置为从测试系统接收期望扫描输出514，并且第二扫描输入端口(被配置用于每个输出端口)被配置为接收比较使能信号516。在一个实例中，如果断言比较使能信号(例如，逻辑“I”)，启用比较并且通过比较器510比较扫描输出和期望扫描输出。此外，如果去断言比较使能信号(例如，逻辑“O”)，禁用比较，并且在比较器510中阻止扫描输出和期望扫描输出的比较。
[0044]在图5B的实施例中，比较器520从DUT (诸如，DUT 400)的扫描通道接收扫描输出(参见512)，并且从测试系统接收包括期望扫描输出和比较使能信号的输入(参见522)。在该实施例中，以具有来自DUT的扫描输出的时钟的频率的两倍的时钟提供包括比较使能信号和期望扫描输出的输入522。
[0045]在该实施例中，针对扫描输出512的每个周期，两个周期的输入522被提供到DUT的端口，其中在第一周期，输入522对应于比较使能输入，并且在第二周期，输入522对应于期望扫描输出。在一个实施例中，如果第一周期处的输入522(S卩，比较使能输入)指示比较是有效的(例如，在第一周期中测试系统提供的输入是逻辑“I”)，在连续周期(第二周期)处的输入522用于与扫描输出数据的比较。此外，在一个实例中，如果第一周期中的输入522的值指示比较是无效的(例如，在第一周期中测试系统提供的输入522是逻辑“O”)，在连续周期(第二周期)中的输入522不用于/阻止与扫描输出数据的比较。如图5B中示出的，输入522可以被提供到具有切换(toggling)选择线(参见，sel)的解多路复用器524，其在具体时钟周期中提供期望扫描输出(参见，516)和比较使能输入(参见，514)中的一个。因此，应该注意，在时钟周期中，基于先前时钟周期的比较使能输入执行期望扫描输出516和扫描输出512的比较。
[0046]在图5C的实施例中，比较器530从DUT (诸如，DUT 400)的扫描通道的输出端接收扫描输出512。在该实施例中，被提供到比较器530(来自测试系统)的输入532被认为比较使能信号。从测试系统接收到的输入532仅被解释为比较使能信号，并且进行比较的值是固定的，例如，I或O。在该实施例中，测试图案通过DUT的输入端口被两次应用到扫描输入通道，并且两遍执行扫描输出与固定的“I”或“O”的比较。在第一遍，仅比较有效的“I”；而在第二遍，仅比较有效的“O”。在该实施例中，对于两遍中的比较，都忽略不关心输入(X)或“M”值。在该实施例中，仅需要一个输入端口被配置用于DUT中的原始输出端口。可以通过测试模式寄存器控制设置两个模式(例如，两遍)(在一个应用中，到比较器的输入532被设置为I，而在第二个应用中，到比较器的输入532被设置为O)。测试系统在每个周期提供的输入532用于启用或禁用比较。
[0047]本技术的各种其它实施例提供比较器的实施方式的其它可能方式。例如，在一个实施方式中，DUT中能够内在地产生对应于具体扫描测试周期的具体信号，其中必须禁用扫描输出比较。这能够基于测试模式控制写序列(例如，测试仪描述语言(TesterDescript1n Language, TDL)内的具体实例)或通过内部产生的信号(即