述的任何步骤或操作。附加地，有形数据存储设备可以被体现为一个或更多个易失性存储器设备、一个或更多个非易失性存储器设备和/或一个或更多个易失性存储器设备和非易失性存储器设备的组合。
[0064]本领域技术人员将认识到，在所要求保护的发明的范围内，可以对所述实施例进行修改，并且许多其它实施例是可能的。
【主权项】
1.一种测试集成电路或类似设备的方法，至少一个设备包括与数量为M的输入/输出端口即I/O端口关联的数量为N的扫描通道，所述方法包括: 产生与测试图案结构关联的至少一个控制信号，所述测试图案结构被配置为经实施以扫描所述至少一个设备； 从所述数量为M的I/O端口中选择数量为Ml的端口，以便基于所述至少一个控制信号接收对应于所述测试图案结构的扫描输入； 从所述数量为M的I/O端口中选择数量为M2的端口，以便基于所述至少一个控制信号提供对应于所述测试图案结构的扫描输出，Ml和M2中的每个是选自O到M之间的数值范围的数值，并且Ml和M2的总和小于或等于M ;以及 基于将所述扫描输入提供到所述数量为Ml的端口以及从所述数量为M2的端口接收所述扫描输出，执行所述至少一个设备的扫描测试。2.根据权利要求1所述的方法，还包括: 将来自所述数量为N的扫描通道的数量为NI的扫描通道与所述数量为Ml的端口通信地耦合，以基于所述至少一个控制信号执行对应于所述扫描输入的扫描输入移位操作；以及 将来自所述数量为N的扫描通道的数量为N2的扫描通道与所述数量为M2的端口通信地耦合，以基于所述至少一个控制信号执行对应于所述扫描输出的扫描输出移位操作。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述至少一个控制信号包括输入分区选择信号、输出分区选择信号和通道选择信号，并且其中所述数量为N的扫描通道被分组为多个分区。4.根据权利要求3所述的方法，还包括: 基于所述输入分区选择信号从所述多个分区选择第一组分区，用于执行所述扫描输入移位操作； 基于所述通道选择信号选择下列项中的至少一个: 用于所述扫描输入移位操作的所述第一组分区的一个或更多个扫描通道；以及 用于所述扫描输出移位操作的所述第一组分区的一个或更多个扫描通道；以及 基于所述输出分区选择信号从所述多个分区选择第二组分区，用于执行所述扫描输出移位操作。5.根据权利要求4所述的方法，其中所述至少一个控制信号包括输入选择信号和输出选择信号，并且其中所述测试图案结构包括共享扫描输入和对应于所述多个分区的多个专用扫描输入中的至少一个，并且其中所述方法还包括: 基于所述输入选择信号，选择所述测试图案结构的共享扫描输入和每个分区的所述测试图案结构的专用扫描输入中的至少一个，所述共享扫描输入是被提供到每个分区的共同输入，而所述多个专用扫描输入能够提供到所述多个分区；以及 基于所述输出选择信号，选择对应于所述扫描输出的共享扫描输出和从每个分区选择对应于所述扫描输出的专用输出的至少一个。6.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个设备包括比较器，所述比较器具有能够与所述数量为N2的扫描通道通信地耦合的第一组M2个输入端，以及能够与所述数量为M2的端口通信地耦合的第二组M2个输入端，所述数量为M2的端口能够从测试系统接收期望扫描输出，并且其中测试所述至少一个设备还包括: 将对应于所述测试图案结构的所述扫描输出提供到所述比较器的所述第一组M2个输入端，从所述数量为N2的扫描通道接收所述扫描输出； 将对应于所述测试图案结构的期望扫描输出提供到所述比较器的所述第二组M2个输入端； 比较提供到所述第一组M2个输入端的所述扫描输出和提供到所述第二组M2个输入端的所述期望扫描输出，以产生测试结果；以及存储所述测试结果。7.根据权利要求6所述的方法，还包括将比较使能输入提供到所述比较器，其中基于所述比较使能输入启用或禁用所述扫描输出和所述期望扫描输出的所述比较。8.根据权利要求6所述的方法，还包括以具有与所述扫描输出移位操作关联的时钟的频率两倍的频率的时钟提供来自所述测试系统的输入，所述输入包括比较使能输入和所述期望扫描输出，其中基于先前时钟周期下的所述比较使能输入在时钟周期下执行所述期望扫描输出和所述扫描输出的所述比较。9.根据权利要求6所述的方法，其中所述测试系统包括被划分成数量为I的组的数量为P的端口，每组与数量为P/Ι的端口关联，每组能够测试数量为J的设备，所述数量为J的设备的每个包括具有所述第一组M2个输入端和所述第二组M2个输入端的所述比较器，以及其中测试组中所述数量为J的设备包括: 比较提供到所述数量为J的设备中的每个的所述比较器的所述第一组M2个输入端的所述扫描输出和提供到所述数量为J的设备中的每个的所述比较器的所述第二组M2个输入端的所述期望扫描输出，以产生测试结果；以及 在比较所述扫描输出和所述期望扫描输出后，将与所述每个设备关联的所述测试结果存储到与所述每个设备关联的寄存器，其中针对所述数量为J的设备执行所述扫描测试，以便防止所述扫描测试在基于与所述数量为J的设备的一个设备关联的测试结果确定故障后、在针对所述数量为J的设备的每个存储所述测试结果之前中止。10.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个控制信号是下列信号中的至少一个: 恒定信号；以及从所述测试系统或所述至少一个设备产生的信号。11.一种被配置为由测试系统测试扫描的集成设备，所述DUT包括: 数量为M的输入/输出端口即I/O端口，来自所述数量为M的I/O端口的每个I/O端口被配置为接收对应于测试图案结构的扫描输入并且提供对应于所述测试图案结构的扫描输出； 多个扫描通道，其与所述数量为M的I/O端口耦合并且被配置为接收所述扫描输入以及提供所述扫描输出；以及 选择电路，其与来自所述数量M的I/O端口的每个I/O端口和来自所述多个扫描通道的每个扫描通道耦合，所述选择电路被配置为: 从所述数量为M的I/O端口中选择数量为Ml的I/O端口，以基于至少一个控制信号接收所述扫描输入，以及 从所述数量为M的I/O端口中选择数量为M2的I/O端口，以基于所述至少一个控制信号提供所述扫描输出，Ml和M2的每个是选自O到M之间的数值范围的数值，并且Ml和M2的总和小于或等于M012.根据权利要求11所述的设备，其中所述选择电路进一步被配置为: 将来自所述数量为N的扫描通道的数量为NI的扫描通道与所述数量为Ml的端口通信地耦合，以基于所述至少一个控制信号执行对应于所述扫描输入的扫描输入移位操作；以及 将来自所述数量为N的扫描通道的数量为N2的扫描通道与所述数量为M2的端口通信地耦合，以基于所述至少一个控制信号执行对应于所述扫描输出的扫描输出移位操作。13.根据权利要求12所述的设备，其中所述至少一个控制信号包括输入分区选择信号、输出分区选择信号和通道选择信号，并且其中所述数量为N的扫描通道被分组为多个分区。14.根据权利要求13所述的设备，还包括: 基于所述输入分区选择信号从所述多个分区选择第一组分区，用于执行所述扫描输入移位操作； 基于所述通道选择信号选择下列项中的至少一个: 用于所述扫描输入移位操作的所述第一组分区的一个或更多个扫描通道；以及 用于所述扫描输出移位操作的所述第一组分区的一个或更多个扫描通道；以及 基于所述输出分区选择信号从所述多个分区选择第二组分区，用于执行所述扫描输出移位操作。15.根据权利要求14所述的设备，其中所述设备还包括比较器，所述比较器具有能够与所述数量为N2的扫描通道通信地耦合的第一组M2个输入端，以及能够与所述数量为M2的端口通信地耦合的第二组M2个输入端，所述数量为M2的端口能够从测试系统接收期望扫描输出，并且其中测试所述设备还包括: 将对应于所述测试图案结构的所述扫描输出提供到所述比较器的所述第一组M2个输入端，从所述数量为N2的扫描通道接收所述扫描输出； 将对应于所述测试图案结构的期望扫描输出提供到所述比较器的所述第二组M2个输入端； 比较提供到所述第一组M2个输入端的所述扫描输出和提供到所述第二组M2个输入端的所述期望扫描输出，以产生测试结果；以及 存储所述测试结果。16.根据权利要求11所述的设备，还包括用于基于所述测试图案结构产生所述至少一个控制信号的控制电路。17.根据权利要求15所述的设备，其中所述比较器被配置为接收比较使能输入，以用于启用或禁用所述扫描输出和所述期望扫描输出的所述比较。18.一种用于扫描测试集成电路设备的测试系统，至少一个设备包括与数量为M的输入/输出端口即I/O端口关联的数量为N的扫描通道，所述测试系统包括: 控制电路，其被配置为基于测试图案结构产生至少一个控制信号，所述测试图案结构被配置为经实施以执行所述至少一个设备的扫描测试，并且所述至少一个控制信号被配置为启用: 从所述数量为M的I/O端口中选择数量为Ml的I/O端口，以基于所述至少一个控制信号接收对应于所述测试图案结构的扫描输入，以及 从所述数量为M的I/O端口中选择数量为M2的端口，以基于所述至少一个控制信号提供对应于所述测试图案结构的扫描输出，Ml和M2的每个是选自O到M之间的数值范围的数值，以及Ml和M2的总和小于或等于M,使得所述扫描测试被配置为基于提供所述扫描输入到所述数量为Ml的端口以及从所述数量为M2的端口接收所述扫描输出而执行。19.根据权利要求18所述的系统，其中所述至少一个控制信号使得所述至少一个设备中的所述选择电路进一步执行: 将来自所述数量为N的扫描通道的数量为NI的扫描通道与所述数量为Ml的端口通信地耦合，以基于所述至少一个控制信号执行对应于所述扫描输入的扫描输入移位操作；以及 将来自所述数量为N的扫描通道的数量为N2的扫描通道与所述数量为M2的端口通信地耦合，以基于所述至少一个控制信号执行对应于所述扫描输出的扫描输出移位操作。20.根据权利要求19所述的系统，其中所述至少一个控制信号包括输入分区选择信号、输出分区选择信号和通道选择信号，并且其中所述数量为N的扫描通道被分组为多个分区。
【专利摘要】公开一种测试被测设备(DUT)的方法和测试系统。生成与从测试系统接收到的测试图案结构关联的至少一个控制信号(705)。从DUT中数量为M的I/O端口选择M1个端口，以基于控制信号接收对应于测试图案结构的扫描输入(710)，以及从数量为M的I/O端口选择M2个端口，以基于控制信号提供扫描输出(715)。M1和M2中的每个是选自0到M的数值，其中M1和M2的总和小于或等于M。DUT的扫描测试基于提供扫描输入到M1个端口以及从M2个端口接收扫描输出来执行(730)。
【IPC分类】G01R31/311
【公开号】CN104903736
【申请号】CN201480003921
【发明人】R·A·帕瑞克基, S·拉维, P·纳拉亚南, M·谢蒂
【申请人】德克萨斯仪器股份有限公司
【公开日】2015年9月9日
【申请日】2014年1月24日
【公告号】US8839063, US20140208177, WO2014116914A1