Pcb板内单端阻抗测试头的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及PCB板阻抗测试领域，尤其是涉及一种PCB板内单端阻抗测试头。
【背景技术】
[0002]PCB (Printed Circuit Board)板又叫印制电路板，是重要的电子元器件的支撑体。高速PCB板作为高科技附加值的电子元器件的载体得到广泛的应用，现如今，随着3G/4G网络的普及，许多电子产品对印制线路板中阻抗精度控制的要求越来越高，对于这种高精度的阻抗控制通常采用直接监测板内传输线的阻抗值的方式。目前，对于印刷电路板内的单端阻抗测试，市面已有的单端阻抗测试头其探针一般为固定间距，仅适用于与探针间距等宽的孔间距阻抗测量，而在印制电路板设计中，信号线过孔与回路地孔位置没有统一的规范，因而，一般的单端阻抗测试头无法满足测试要求。
【发明内容】
[0003]基于此，本发明在于克服现有技术的缺陷，提供一种PCB板内单端阻抗测试头，其可以调节探针间距，适用于不同孔间距的PCB板内单端阻抗测试，有利于管控PCB板内阻抗品质O
[0004]其技术方案如下:
[0005]—种PCB板内单端阻抗测试头，包括接头、连接板、载板、第一探针和第二探针，所述连接板包括第一传输线和第一屏蔽层，所述载板包括与所述第一传输线连通的第二传输线和与所述第一屏蔽层连通的第二屏蔽层，所述载板上设有与所述第二屏蔽层连通的限位槽，所述第一探针活动置于所述限位槽内并与所述限位槽连通，所述第二探针位于所述载板上、并与所述第二传输线远离所述第一传输线的一端连通，所述第一传输线和所述第一屏蔽层远离所述载板的一端均与所述接头连通。
[0006]在其中一个实施例中，还包括连通所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层的连接部，所述限位槽位于以所述连接部为圆心的同一个圆周上，所述第一屏蔽层位于所述接头到所述第二屏蔽层之间的长度和所述第一传输线的长度相等，所述圆周的半径与所述第二传输线长度相等。
[0007]在其中一个实施例中，所述第一屏蔽层靠近所述载板一端设有第一金手指，所述载板上设有与所述第一金手指相配合的第一插槽，所述第一插槽与所述第二屏蔽层连通，所述第一金手指与所述第一插槽配合形成所述连接部。
[0008]在其中一个实施例中，所述第一传输线靠近载板一端设有第二金手指，所述载板上设有与所述第二金手指配合的第二插槽，所述第二插槽与所述第二传输线连通。
[0009]在其中一个实施例中，所述连接板上设有手指插卡，所述载板上设有与所述手指插卡相配合的固定槽。
[0010]在其中一个实施例中，还包括固定于所述载板上的外壳，所述连接板位于所述外壳内，所述接头设于所述外壳上。
[0011]在其中一个实施例中，所述接头设有与所述第一屏蔽层连通的金属外壁，所述金属外壁内侧设有与所述第一传输线连通的导电杆。
[0012]在其中一个实施例中，所述接头还包括围绕所述导电杆设置的绝缘材料。
[0013]在其中一个实施例中，所述第一金手指、所述第二金手指、所述第一插槽、所述第二插槽、所述限位槽的表面均为电镀硬金。
[0014]在其中一个实施例中，所述连接板还包括第三屏蔽层，所述第一传输线位于所述第一屏蔽层和所述第三屏蔽层之间，所述载板还包括第四屏蔽层，所述第二传输线位于所述第二屏蔽层和所述第四屏蔽层之间。本发明的有益效果在于:
[0015]提供一种PCB板内单端阻抗测试头，其包括接头、连接板、载板和第一探针、第二探针，接头一端与阻抗测量仪器相连通，另一端与连接板连通，连接板的第一传输线、第一屏蔽层分别与载板的第二传输线、第二屏蔽层连通，载板上设有与第二屏蔽层连通的限位槽，第一探针活动置于限位槽内、并与限位槽连通，第二探针与第二传输线连通。综上，第二探针、第二传输线和第一传输线连通形成测试信号的传输路径，第一探针、限位槽、第二屏蔽层和第一屏蔽层连通形成测试信号的返回路径。本发明第一探针可以在限位槽内移动，通过移动第一探针的位置来改变第一探针与第二探针之间的间距，用于测量不同间距的过孔、地孔之间的单端传输线阻抗值，其测试点连续，测试范围大，尤其适用于较大孔间距的单端传输线的阻抗测量，只要设计相应长度的限位槽即可。本发明结构简单，操作容易，节约生产设计成本，可靠性高、灵活性强，提高了测试效率。
[0016]本发明还包括连通所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层的连接部，限位槽位于以所述连接部为圆心的同一个圆周上，第一探针活动置于限位槽内，因而第一探针到连接部的长度为圆周半径大小，即第一探针到第一屏蔽层的长度等于圆周半径，同时又由于圆周半径与第二传输线的长度相等，且第一传输线的长度与信号在第一屏蔽层内的传输距离相等，因而保证了信号测试的传输路径与返回路径长度相等，即信号在传输路径和返回路径的传输时间相同，保证信号在测试头内传输的相位差为O，避免信号传输相位差对测量阻抗造成影响，减小了测试波动，提高测试精度。
[0017]第一屏蔽层通过第一金手指与第一插槽的配合与第二屏蔽层连接，第一传输线通过第二金手指与第二插槽的配合与第二传输线连接，提高了接触点的抗氧化能力，减少阻抗突变，使信号传输路径通道一致，降低了损耗。
[0018]连接板上还设有手指插卡，载板上设有与所述手指插卡相配合的固定槽，手指插卡插入固定槽内，用于加强固定连接板。
[0019]本发明还包括包覆所述连接板的外壳，便于手持操作以及容置连接板。
[0020]所述第一金手指、所述第二金手指、所述第一插槽、所述第二插槽、所述限位槽的表面均为电镀硬金。电镀硬金使得镀层均匀度更高，具有较好的耐磨性，保证了多次插拔和摩擦后信号传输质量不受影响。
[0021]所述连接板还包括第三屏蔽层，所述第一传输线位于所述第一屏蔽层和所述第三屏蔽层之间，所述载板还包括第四屏蔽层，所述第二传输线位于所述第二屏蔽层和所述第四屏蔽层之间，有效地减少了电路中的噪声、串扰等，具有较好的抗干扰性能，同时，进一步满足了连接板和载板的强度需求。
【附图说明】
[0022]图1是本发明实施例所述的PCB板内单端阻抗测试头的结构示意图；
[0023]图2是本发明实施例所述的载板的结构示意图。
[0024]附图标记说明:
[0025]100、接头，110、金属外壁，120、导电杆，130、第一连接线缆，140、第二连接线缆，200、连接板，210、第一传输线，211、第一金手指，220、第一屏蔽层，221、第二金手指，230、手指插卡，300、载板，310、第二传输线，320、第二屏蔽层，330、限位槽，340、第一探针，350、第二探针，360、第一插槽，370、第二插槽，380、固定槽。
【具体实施方式】
[0026]下面对本发明的实施例进行详细说明:
[0027]如图1所示，一种PCB板内单端阻抗测试头，包括接头100、连接板200、载板300、第一探针340和第二探针350，连接板200和载板300构成测试头的阻抗电路板，第一探针340为地端探针，第二探针350为信号端探针。连接板200包括第一传输线210和第一屏蔽层220，载板300包括与第一传输线210连通的第二传输线310和与第一屏蔽层220连通的第二屏蔽层320。载板300上设有与第二屏蔽层320连通的限位槽330，第一探针340活动置于限位槽330内并与限位槽330连通，第二探针350位于载板300上、并与第二传输线310远离第一传输线210的一端连通，第一传输线210和第一屏蔽层220远离载板300的一端均与接头100连通。接头100远离连接板200的一端与阻抗测量仪器(附图未标识)连通。由上可知，第二探针350、第二传输线310和第一传输线210连通形成测试信号的传输路径，第一探针340、限位槽330、第二屏蔽层320和第一屏蔽层220连通形成测试信号的返回路径，PCB板的过孔、上述传输路径、接头100、阻抗测量仪器、接头100、上述返回路径、PCB板的地孔等构成整个阻抗测试回路。本发明第一探针340可以在限位槽330内移动，通过移动第一探针340的位置来改变第一探针340与第二探针350之间的间距，用于测量不同间距的过孔、地孔的阻抗值。其测试点连续，测试范围大，可根据不同孔间距做出适应性调整，其尤其适用于较大孔间距的单端传输线的阻抗