一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法_2

文档序号:9522228阅读:来源:国知局
[0045]C、归零:将内径千分尺量杆尺寸归零;
[0046]D、测量单元选位:将全站仪放置在其目镜可看到内径千分尺量杆的量杆凸面11的位置;
[0047]E、目镜观测:通过目镜,观察量杆凸面11的位置与目镜内十字丝是否重合;如果重合,记录测量点位置A,更换轨道侧端面的另一测量点目镜观测,若再次重合,记录测量点位置B,以此类推,当更换第三点还重合时,确认其垂直度符合要求;当任一不重合发生,进行下一步骤;
[0048]F、调整:调整内径千分尺量杆,直至重合,此时的调整量即为垂直度的误差并记录;
[0049]G、更换测量点:更换另一测量点继续测量,步骤同上并将测量调整量记录;
[0050]H、轨道调试:根据记录调试轨道,直至同一轨道多测量点经目镜观测全部重合后,垂直度调整并测量完毕;测量点的数量可以根据轨道长度或面积不同进行相应调整。
[0051]本实例的立式轨道垂直度和平面度的测量装置对多条立式轨道平面度的测量方法,步骤包括:
[0052]A、组装:将磁力座3上表面钻眼攻丝Μ10*1.5_15,形成磁力座螺纹槽31 ;截面呈Τ字形圆柱体结构的连接件2的下部加工成M10*l.5-12外螺纹(即连接件螺纹杆21),与磁力座相配,顶端加工成M12*l内螺纹,即连接件螺纹槽22,与内径千分尺量杆尾端螺纹杆12相配;这样,测量量杆1、连接件2和磁力座3通过螺纹连接组装成定位单元,检查、调试确认内径千分尺量杆与磁力座3垂直,并可以先行规划轨道的测量点;
[0053]Β、吸附:将磁力座3吸附在需要测量的轨道的正端面测量平面度;
[0054]C、归零:将内径千分尺量杆尺寸归零;
[0055]D、目测:将全站仪摆放在被测多条轨道的大致中心线上;
[0056]Ε、确定基准线:利用全站仪通过目镜观测测量出头、尾两条立式轨道的平面度数值,先观察头条立式轨道测量量杆的量杆凸面11的位置与目镜内十字丝是否重合,若不重合,调整测量量杆1,直至重合,此时的调整量即为头条立式轨道的平面度数值并记录;再观察尾条立式轨道测量量杆的量杆凸面11的位置与目镜内十字丝是否重合,若不重合,调整测量量杆1,直至重合,此时的调整量即为尾条立式轨道的平面度数值并记录;并根据数值记录对全站仪进行调整;反复此步骤,直至两平面度数值相同,则该条线即为平面度测量时的基准线;
[0057]F、轨道调试:根据基准线测量其它立式轨道的平面度数值,记录数据并调整轨道,直至同一条轨道多测量点测量数值相同。
[0058]本实例的一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法,改造成本低,定位精确,测量准确度高。
[0059]实施例2
[0060]本实例的一种垂直度的测量装置,应用于狭小空间内垂直面的垂直度,基本结构同实施例1,改进之处在于:磁力座3侧面设置有磁力通断旋钮32 ;并将整个定位单元微型化,以方便放入狭小空间内进行定位;测量单元为经玮仪。
[0061]本实例的立式轨道垂直度和平面度的测量装置的测量方法,其步骤基本实施例1,不同之处在于:步骤D、测量单元选位:将经玮仪放置在其目镜可看到内径千分尺量杆的量杆凸面11的位置;无需进行步骤Η,只检测该狭小空间内垂直面的垂直度。
[0062]实施例3
[0063]本实例的一种平面度的测量装置,应用于封闭空间内平面的平面度,结构同实施例2,封闭空间需要设置能够从外部观察的可视窗(比如玻璃窗),不同之处在于:测量单元为水平仪。
[0064]本实例的一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法,其步骤基本实施例2,不同之处在于:步骤D、测量单元选位:将水平仪放置在其目镜可看到内径千分尺量杆的量杆凸面11的位置;无需进行步骤H,只检测该封闭空间内平面的平面度。
[0065]以上示意性地对本发明创造及其实施方式进行了描述,该描述没有限制性。所以,如果本领域的普通技术人员受其启示,在不脱离本创造宗旨的情况下,不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例,均应属于本专利的保护范围。
【主权项】
1.一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置,包括测量单元和定位单元,其特征在于,所述测量单元为全站仪、经玮仪或水平仪;所述定位单元包括测量量杆(1)、连接件(2)和磁力座⑶;其中,所述测量量杆⑴通过连接件⑵固定在磁力座⑵的上表面;所述磁力座(2)的底面平面度小于0.005mm。2.根据权利要求1所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置,其特征在于:所述测量量杆(1)为内径千分尺量杆;所述连接件(2)截面呈T字形圆柱体结构,顶端开有连接件螺纹槽(22),下部为连接件螺纹杆(21),连接件螺纹槽(22)和测量量杆(1)的量杆尾端螺纹杆(12)配合连接;连接件螺纹杆(21)和磁力座(3)顶面开有的磁力座螺纹槽(31)配合连接。3.根据权利要求2所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置,其特征在于:所述磁力座(3)侧面设置有磁力通断旋钮(32)。4.根据权利要求2所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置,其特征在于:所述内径千分尺量杆的精度为0.005mm。5.一种权利要求1所述立式轨道垂直度和平面度的测量装置对垂直度的测量方法,其特征在于,步骤包括: A、组装:将测量量杆(1)、连接件(2)和磁力座(3)组装成定位单元,检查、调试确认测量量杆(1)与磁力座(3)垂直; B、吸附:将磁力座(3)吸附在需要测量的轨道的某一测量点; C、归零:将测量量杆(1)尺寸归零; D、测量单元选位:将全站仪放置其目镜可视测量量杆(1)的位置; E、目镜观测:通过目镜,观察测量量杆的量杆凸面(11)的位置与目镜内十字丝是否重合;如果重合,记录测量点位置,更换轨道的另一测量点目镜观测,若再次重合,记录测量点位置,以此类推;当任一不重合发生,进行下一步骤; F、调整:调整测量量杆(1),直至重合,此时的调整量即为垂直度的误差并记录; G、更换测量点:更换另一测量点继续测量,步骤同上并将测量调整量记录下来; H、轨道调试:根据记录调试轨道,直至同一轨道多测量点经目镜观测全部重合。6.一种权利要求1所述立式轨道垂直度和平面度的测量装置对多条立式轨道平面度的测量方法,其特征在于,步骤包括: A、组装:将测量量杆(1)、连接件(2)和磁力座(3)组装成定位单元,检查、调试确认测量量杆(1)与磁力座(3)垂直; B、吸附:将磁力座(3)吸附在需要测量的轨道的某一测量点; C、归零:将测量量杆(1)尺寸归零; D、目测:将全站仪摆放在被测多条轨道的大致中心线上; E、确定基准线:利用全站仪通过目镜观测测量出头、尾两条立式轨道的平面度数值,先观察头条立式轨道测量量杆的量杆凸面(11)的位置与目镜内十字丝是否重合,若不重合,调整测量量杆(1),直至重合,此时的调整量即为头条立式轨道的平面度数值并记录;再观察尾条立式轨道测量量杆的量杆凸面(11)的位置与目镜内十字丝是否重合,若不重合,调整测量量杆(1),直至重合,此时的调整量即为尾条立式轨道的平面度数值并记录;并根据数值记录对全站仪进行调整;反复此步骤,直至两平面度数值相同,则该条线即为平面度测量时的基准线; F、轨道调试:根据基准线测量其它立式轨道的平面度数值,记录数据并调整轨道,直至同一条轨道多测量点测量数值相同。7.根据权利要求5所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置的测量方法,其特征在于:步骤Η中所述多测量点为根据轨道长度或面积不同进行相应调整。8.根据权利要求5或6或7所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置的测量方法,其特征在于:步骤Β吸附前,先规划轨道的测量点;所述定位单元为多个,同时在立式轨道上定位。9.一种权利要求1所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置在狭小、密闭空间的应用,其特征在于:将定位单元置于狭小、密闭空间中的测量点上,再通过测量单元测量。
【专利摘要】本发明公开了一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法,属于垂直度和平面度测量技术领域。本发明的立式轨道垂直度和平面度的测量装置,包括测量单元和定位单元,测量单元为全站仪、经纬仪或水平仪;定位单元包括测量量杆、连接件和磁力座;其中,测量量杆通过连接件固定在磁力座的上表面;磁力座的底面平面度小于0.005mm。本发明的测量方法,步骤包括组装→吸附→归零→测量单元选位→目镜观测→调整→更换测量点→轨道调试。本发明通过测量单元和定位单元分开设置,定位单元用测量量杆和磁力座吸附来精确定位,可以实现任意空间的垂直度和平面度精确测量且不受外界因素影响的目的。
【IPC分类】G01B21/22, G01B21/30
【公开号】CN105277166
【申请号】CN201510868653
【发明人】曾联合, 魏红, 周磊, 胡玉华, 梁彦欣
【申请人】安徽马钢工程技术集团有限公司
【公开日】2016年1月27日
【申请日】2015年11月27日
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