和卡合部64而呈现“凸”字形，该卡合部64的形状与该滑槽42的第二阶槽424的形状相配合，并容置于该第二阶槽424内，该卡合部64的厚度略小于该第二阶槽424的高度。该突起部62的形状与该滑槽42的第一阶槽422相配合并可凸伸出该滑槽42，该突起部62的外壁设置有与该支撑杆52的支撑固定孔54相配合的外螺纹。因此，使用者可以将该支撑杆52的支撑固定孔54螺合于该定位块60的突起部62，直到该定位块60的卡合部64抵靠于该滑槽42的第二阶槽424的顶壁，该支撑机构50即完成固定。
[0055]请参阅图7，各定位机构70与各支撑机构50有相似的结构，不同之处在于各定位机构70的定位杆72的高度大于各支撑杆52的高度。上述各定位机构70同样包含有定位杆72和定位块60,该定位杆72的底面中心具有一垂直底面的定位固定孔74,该定位固定孔74的内壁具有内螺纹。因此，该定位杆72的定位固定孔74可同样螺合于该定位块60的突起部62。
[0056]在此说明，该八组支撑机构50分别配置于该转盘40的各滑槽42中，而该四组定位机构70分别配置于不相邻的各滑槽42中。
[0057]上述各支撑机构50与上述各定位机构70除了可采用前述螺合方式定位于转盘40的滑槽42之外，两者也都可通过磁吸方式来定位于滑槽42。例如，该转盘40为导磁材料，该定位块60为磁性材料,使支撑机构50与定位机构70的定位块60能够先以磁力吸附且定位于滑槽60后，再将定位块60与支撑杆52、定位杆72进行螺合，同样都可以使支撑杆52、定位杆72定位于滑槽42，并可以进行移动。
[0058]值得一提的是，定位机构70除了可以使用前述螺合与磁吸方式定位于滑槽42之夕卜，还可以利用磁吸方式直接定位于转盘40的表面上，而不受限于滑槽42的设置位置。请参考图8，定位机构70所采用的磁吸机构80包含有磁性材料82 (例如，磁铁)及第二固定件84，而且该转盘40是由导磁材料制成。因此，使用者可使用该第二固定件84将该磁性材料82螺合固定于定位杆72的底面，且第二固定件84靠近磁性材料82的一端不突出磁性材料82的底面。因此，该定位机构70便能够藉由该磁吸机构80固定于该转盘40的顶面，并能够任意调整位置而不受限于滑槽42的位置。
[0059]根据电路板球面弯曲应变测试的规范，在检测时，上述各支撑机构50至该转盘40中心的距离必须相等，使用者除了能够通过该滑槽42周缘的刻度件44进行精确定位之外，本发明也可在转盘40中心的上方设置不同半径的基准圆盘90，如图9所示。其中，基准圆盘90与转盘40为同心圆，以便于让使用者可以选择符合待测电路板尺寸规范的基准圆盘90，再将各支撑机构50抵靠且固定于该基准圆盘90的周缘，即可完成调整各支撑机构50的位置。
[0060]通过前述结构，本电路板球面挠曲应变测试治具I的操作方式如下:
[0061 ] 首先，如图3及图9所示，使用者根据待测电路板的尺寸大小与电路板球面弯曲应变的测试规范，通过该刻度件44的刻度或选择适当的基准圆盘90来移动各支撑机构50至测试位置，再通过螺合或磁吸固定于该转盘40的滑槽42。
[0062]其次，如图1OA所示，根据测试设备的架设情况直接固定该电路板16的方向，当发现电路板16的布线(未图示)与支撑杆52的顶端发生干涉时，使用者则可以先卸除电路板16，然后转动该转盘40直至电路板16下方的布线与各支撑杆52无干涉情形，然后通过该固定机构30固定该转盘40的转动。
[0063]最后，如图1OB所示，再以相同方向放置电路板16，并调整各定位机构70并紧靠于待测电路板16的周缘，螺合或磁吸固定于该转盘40的滑槽42或转盘40顶面，即完成检测治具的设置。
[0064]除此之外，定位机构70的磁力吸附固定方式还有另一实施方式，请参考图11，上述各定位机构92包含有定位杆922和磁性材料926，该定位杆922的底部具有凹部924，以供该磁性材料926容置其中，当该转盘40由导磁材料制成时，该定位机构92可直接吸附于该转盘40而能够自由移动。
[0065]相较于常用技术，本发明的电路板球面挠曲应变测试治具I可适用于更多不同尺寸与形状的电路板，减少所需治具的组数与空间浪费，而该转盘40具有360度转动的特性，更能避免因上述各支撑机构50对电路板布线的干涉，导致电路的破坏，确保电路板球面挠曲应变测试与电性测试的正确性。
[0066]最后，必须再次说明的是，本发明在前述实施例中所揭露的构成元件，仅为举例说明，并非用来限制本发明的范围，凡是其他容易想到的结构变化，或与其他等效元件的替代变化，也应被本发明的权利要求所涵盖。
【主权项】
1.一种电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于，包括: 承载平台； 转盘，其以能够转动的方式置放于所述承载平台的顶面，所述转盘的顶面具有自所述转盘的中心呈等角度间隔而直线发散的多条滑槽；以及 多组支撑机构，各所述支撑机构以能够滑动的方式设于所述滑槽。2.如权利要求1所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 各所述支撑机构包含有能够相连接的支撑杆和定位块，所述定位块以能够滑动的方式设置于所述滑槽内。3.如权利要求2所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于，所述转盘为导磁材料，所述定位块为磁性材料。4.如权利要求2所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于，所述支撑杆与所述定位块为螺合连接。5.如权利要求4所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 各所述支撑杆的底面设有支撑固定孔， 各所述滑槽的横截面形状为倒T型， 各所述定位块具有能够容置于所述滑槽内的卡合部和能够凸伸出所述滑槽的突起部，且所述突起部设有外螺纹，以螺合于所述支撑固定孔。6.如权利要求4所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于，所述转盘为导磁材料，所述定位块为磁性材料。7.如权利要求1所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 还能够根据待测电路板的尺寸设置适当的基准圆盘于所述转盘的中心上方。8.如权利要求1所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 所述转盘的顶面设有至少一个刻度件，所述刻度件依附于所述滑槽边。9.如权利要求1?8中任一项所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 还包含有固定机构，所述固定机构设置于所述承载平台，以固定所述转盘的转动。10.如权利要求1?8中任一项所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 还包含有多组定位机构，所述多组定位机构以能够滑动的方式设于所述滑槽，各所述定位机构包含有能够相连接的定位杆和定位块，其中，各所述定位杆的高度大于各所述支撑杆的高度。11.如权利要求1?8中任一项所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于， 还包含有多组定位机构，其中，各所述定位机构包含有定位杆和磁性材料，所述磁性材料设于所述定位杆的底面，其中，所述转盘为导磁材料，使所述定位杆能够定位于所述转盘的顶面而不受限于所述滑槽的位置，且各所述定位杆的高度大于各所述支撑杆的高度。12.如权利要求11所述的电路板球面挠曲应变测试治具，其特征在于，各所述定位机构包含有第二固定件，以连接所述定位杆与所述磁性材料。
【专利摘要】一种电路板球面挠曲应变测试治具，包含有承载平台、转盘及多组支撑机构；其中，该转盘以能够转动的方式置放于承载平台的顶面，各支撑机构至少具有一支撑杆，该支撑杆以能够滑动的方式设置于该转盘；相较于常用治具，本发明的测试治具能够将该支撑机构固定于该滑槽的任意位置，更容易适用在不同尺寸的电路板，而且该转盘能够360度转动，能够避免电路板布线与该支撑机构的干涉，确保检测的正确性。
【IPC分类】G01B21/32
【公开号】CN105509696
【申请号】CN201410495121
【发明人】谢承和, 叶志高
【申请人】环旭电子股份有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2014年9月25日