一种全自动化学发光测定仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及化学发光测定领域，尤其涉及一种全自动化学发光测定仪。
【背景技术】
[0002]化学发光测定技术因其准确度高，在生物医药检测领域得到广泛应用。在检测过程中，根据不同的检测项目，需要对送检样本添加不同的试剂。目前的检测流程通常采用人工操作或者半自动操作，由于工作人员对检测样杯上的标签进行人工识别，这样的人工操作流程存在检测速度慢和效率低下的问题，同时存在安全风险。而半自动测定仪只能实现部分的自动化，也仍然需要和人工操作相配合，导致测定费时费力，并且数据无法直接传输到电脑中，在实验需要精准的要求下，仍然不可避免会造成失误。
【发明内容】
[0003]所要解决的问题:针对以上问题，本发明提供一种全自动化学发光测定仪，将待测样品的混合、反应、温育、磁分离、检测等程序全部自动化管理，提高了检测效率，降低了操作失误。
[0004]为解决以上技术问题，本发明采用如下技术方案:
一种全自动化学发光测定仪，包括机械臂模块、制冷模块、电源模块、试剂样本盘、采样针组件、搅拌组件、反应杯架、温育装置、磁分离组件、清洗站组件、测量装置；
所述的机械臂模块用于在三维空间内抓取反应杯；
所述的制冷模块为试剂样本盘提供低温环境；
所述的电源模块为测定仪运作供电；
所述的试剂样本盘用于放置样本管和试剂瓶；
所述的采样针组件将试剂样本盘中的样本液或者试剂注入到温育装置中的反应杯中； 所述的搅拌组件对温育装置中的反应杯进行搅拌；
所述的反应杯架用于放置反应杯便于机械臂模块抓取反应杯；
所述的温育装置为反应杯提供恒温环境；
所述的磁分离组件对温育装置上的反应杯进行磁分离；
所述的清洗站组件对磁分离后的反应杯进行清洗；
所述的测量装置对清洗后的反应杯进行测量。
[0005]进一步的技术方案，所述的机械臂模块包括X轴导轨组件、Y轴导轨组件、Z轴导轨组件、X轴电机、Y轴电机、Z轴电机、机械抓手和机械抓手电机，所述的X轴导轨组件和X轴电机相连，所述的Y轴导轨组件和Y轴电机相连，所述的Z轴导轨组件和Z轴电机相连，所述的机械抓手和机械抓手电机相连;所述的Y轴导轨组件设于X轴导轨组件上，所述的Z轴导轨组件设于Y轴导轨组件上，所述的机械抓手设于Z轴导轨组件上;所述的机械抓手包括夹爪、检测装置，所述的检测装置设于夹爪上方；
所述的试剂样本盘包括混匀装置、保温罩、有机玻璃盖、样本盘、试剂盘、样本盘支架；所述的样本盘设于样本盘支架上，所述的混匀装置位于样本盘的下方，所述的试剂盘位于样本盘的内部，所述的保温罩设于样本盘的外围，所述的有机玻璃盖设于保温罩上并与保温罩密封配合，所述的样本盘的圆周外圈设有样本管孔，所述的保温罩的侧面设有制冷窗，所述的制冷窗和制冷模块密封配合；
所述的温育装置包括温育盘、导电滑环、转盘电机、加热片、温度传感器、温育盘支架，所述的温育盘设于温育盘支架上，所述的温育盘的背面设有加热片和温度传感器;所述的导电滑环设于温育盘的中心，加热片和温度传感器的导线均缠绕在导电滑环上;所述的转盘电机的转动轴和温育盘的中心相连；所述的温育盘的圆边上设有若干反应杯孔；
所述的磁分离组件包括前后运动电机、推动装置、磁铁架、磁铁、磁铁固定块、磁分离支架、磁分离底座、弹簧装置，所述的磁铁架通过推动装置与前后运动电机相连，磁铁架上设有若干磁铁座，所述的磁铁固定块设于磁铁座内，所述的磁铁设于磁铁固定块中同时作用于反应杯的侧面接近底部处，所述的前后运动电机、推动装置和磁铁架均设于磁分离支架上，所述的磁分离支架设于磁分离底座上，所述的弹簧装置设于磁铁座内部，并位于磁铁固定块后面；
所述的测量装置包括光电倍增管、翻盖电机、翻盖、测量装置旋转电机、测量室、增强液加注口，所述的光电倍增管和测量室相连，所述的翻盖电机通过测量装置连杆与翻盖相连，所述的测量室内部设有转子，转子上设有若干反应杯放置位，所述的转子包括一个初始反应杯放置位和一个检测反应杯放置位，所述的初始反应杯放置位位于测量室开口的正下方，所述的检测反应杯放置位位于测量室的检测位上，所述的翻盖和测量室的开口密封配合使整个测量室内部形成密封空间，所述的测量装置旋转电机和转子相连，所述的增强液加注口位于测量室中的检测位的上方。
[0006]进一步的技术方案，所述的制冷模块包括导气罩、上壳罩、下壳罩、半导体制冷片、散热风扇、冷风风扇、导冷片、支撑块和散热片;所述上壳罩与下壳罩相连;所述的导冷片设于上壳罩内部，所述的散热片设于下壳罩内部;所述支撑块支撑散热片于下壳罩内；所述导气罩设于冷风风扇的出风口处并与上壳罩相连接，形成一个气流通道;所述的半导体制冷片位于导冷片和散热片中间，所述半导体制冷片的冷面紧贴导冷片，其热面紧贴散热片;所述的导冷片与散热片连接;所述冷风风扇设于导冷片上方并紧贴在导冷片上;所述散热风扇设于散热片的下方并紧贴在散热片上。
[0007]所述的采样针组件包括采样针、采样针支架、采样针旋转器、采样针旋转电机、采样针上下运动电机、采样针底座、采样针升降器、磁铁锁紧块，所述的采样针升降器设于采样针底座上，所述的磁铁锁紧块与采样针上下运动电机的旋转轴相连，所述的旋转轴和采样针升降器相连，所述的采样针设于采样针支架上，所述的采样针支架和采样针旋转器连接，所述的采样针旋转器和采样针旋转电机相连；
所述的搅拌组件包括搅拌桨、搅拌桨支架、搅拌电机、搅拌旋转器、搅拌旋转电机、搅拌上下运动电机、搅拌底座、搅拌升降器、磁铁锁紧块，所述的搅拌升降器设于搅拌底座上，所述的磁铁锁紧块与搅拌上下运动电机的旋转轴相连，所述的旋转轴和搅拌升降器相连，所述的搅拌桨设于搅拌桨支架上，所述的搅拌电机和搅拌桨相连，所述的搅拌桨支架和搅拌旋转器连接，所述的搅拌旋转器和搅拌旋转电机相连；
所述的清洗站组件包括清洗站支架、花键轴、组合清洗针和清洗站上下运动电机，所述的清洗站支架包括支架底板、支架立板、支架顶板和支架横板，所述的支架立板设于支架底板上，所述的支架顶板设于支架立板的顶部，所述的支架立板上设有清洗导轨和清洗滑块，所述的支架横板设于支架立板的中部并固定在清洗滑块上，所述的清洗滑块设于清洗导轨上，所述的清洗站上下运动电机设于支架底板上，所述的花键轴穿过支架顶板与支架横板相连，所述的组合清洗针设于花键轴上，所述的清洗站上下运动电机的丝杆穿过支架横板与支架顶板上的螺帽相连。
[0008]进一步的技术方案，所述的检测装置包括固定块、光耦、弹簧、挡杆、挡片，所述的固定块中设有滑槽，所述的挡杆从上至下依次是挡头、挡板和触杆，所述的挡头的上部设于滑槽内，所述的弹簧套在挡头的下部和挡板之间，所述的挡片固定在挡头上并位于挡头和光耦之间，所述的光耦固定在固定块上。所述的夹爪由对称的夹爪臂和夹口构成，夹口位于夹爪臂的端部，所述的夹口呈弧形。所述的夹爪臂的下端内侧设有凹槽。
[0009]所述的混匀装置包括摇匀齿轮、旋转电机、摇匀电机、同步带、连杆、中心轴、转轴和偏心轮，所述的摇匀齿轮设于中心轴的顶部，所述的旋转电机通过同步带与中心轴的底部相连，所述的偏心轮设于摇匀电机上，所述的偏心轮通过连杆与中心轴的底部相连，所述的转轴套设于中心轴的中部并与试剂盘固定相连。
[0010]所述的温育盘中的加热片通过胶黏贴于温育盘背面。所述的反应杯孔的底部还设有小圆孔，所述的温度传感器固定在温育盘背面的小圆孔内。所述的反应杯孔的外侧为镂空状。
[0011]所述的前后运动电机是丝杆电机。所述的推动装置包括磁分离直线导轨和磁分离滑块，所述的磁分离滑块位于磁分离直线导轨上，所述的磁分离滑块和丝杆电机的螺帽固定相连，所述的磁分离滑块和磁铁架固定相连。所述的磁铁架的末位为低位磁铁固定块，所述的低位磁铁固定块中的磁铁作用于反应杯的底部。
[0012]所述的测量装置还包括测量装置磁铁座，所述的测量装置磁铁座设于测量室的外侦U，其和转子的初始反应杯放置位位于同一直线上。所述的转子包括转子同步带和转子同步带轮，所述的转子同步带轮和测量装置旋转电机的转轴相连，带动转子旋转使转子上的反应杯到达光电倍增管的检测位。
[0013]进一步的技术方案，所述的制冷模块还包括保温棉，所述的保温棉位于上壳罩与下壳罩之间。所述的支撑块设于散热片两侧，所述的支撑块的高度不高于散热片与半导体制冷片的接触面。
[0014]所述的制冷模块还包括固定座，所述下壳罩通过固定座和底板相连，将制冷模块固定在底板上；
所述的采样针组件和搅拌组件中的磁铁锁紧块13相同，其包括两个磁性相反的环形磁铁，环形磁铁和采样针上下运动电机或者搅拌上下运动电机的旋转轴相连，旋转轴与采样针升降器或搅拌升降器的同步带轮相连。
[0015]所述的组合清洗针包括清洗针弹片、清洗针架、清洗针、清洗针套，所述的清洗针设于清洗针套内，所述的清洗针包括注液针、吸液针，所述的清洗针弹片的一端和清洗针套的顶部相连，其另一端与清洗针架固定连接，所述的注液针的针头与软管相连，所述的吸液针的针头与软管相连。所述的清洗针架与花键轴相连。所述的清洗针套的顶部设有卡槽，用于卡住清洗针弹片。
[0016]进一步的技术方案，所述的X轴导轨组件包括X轴导轨支架、X轴直线导轨、X轴同步带、X轴同步轮、X轴滑块;所述的X轴直线导轨设于X轴导轨支架上，所述的X轴滑块设于X轴直线导轨上，所述的X轴同步带和X轴同步轮带动X轴滑块在X轴直线导轨上来回滑动，所述的X轴同步轮的转轴和X轴电机相连;所述的Y轴导轨组件包括Y轴导轨支架、Y轴直线导轨、Y轴同步带、Y轴同步轮、Y轴滑块;所述的Y轴直线导轨设于Y轴导轨支架上，所述的Y轴滑块设于Y轴直线导轨上，所述的Y轴同步带和Y轴同步轮带动Y轴滑块在Y轴直线导轨上来回滑动，所述的Y轴同步轮的转轴和Y轴电机相连;所述的Z轴导轨组件包括Z轴光杆、Z轴直线轴承、Z轴同步带、Z轴同步轮，所述的Z轴直线轴承设于