用于包衣厚度测量的测量头及其测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及药品的包衣厚度测量技术领域，更具体地涉及一种基于石英晶体振荡技术、用于包衣厚度测量的测量头及其测量装置。
【背景技术】
[0002]薄膜包衣技术是将包衣液(聚合物溶液或混悬液)通过喷头雾化后与悬浮的颗粒接触碰撞，在颗粒表面形成薄膜层(厚度5—50μπι)，是目前制药行业广泛应用的技术之一。其中，包衣厚度及其均匀性是影响药品质量、疗效及制造成本的一项重要指标，同时也是评价包衣效果和包衣机质量的主要指标。
[0003]目前，对包衣厚度的测量方法主要有直接测量法和间接测量法。其中，直接测量法根据测量原理不同，可分为:显微图像测量法、近红外光谱法、拉曼光谱法、X射线荧光光谱法及太赫兹光谱法等；间接测量法则普遍采用称重法。虽然上述测量方法可以测出包衣厚度也具有其各自的优劣，但上述测量方法均是对包衣厚度进行离线测量，即在包衣完成后进行的厚度测量，故不能对包衣厚度进行实时在线测量及控制。而对包衣厚度进行实时在线测量是提高包衣质量的有效方法，特别是在药品研制和研发阶段，因此有必要提供一种实时在线测量包衣厚度的方法。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是提供一种用于包衣厚度测量的测量头及其测量装置，以基于石英晶体振荡技术实现药品包衣厚度的实时在线测量及控制，从而提高包衣质量。
[0005]为实现上述目的，本发明提供了一种用于包衣厚度测量的测量头，包括夹具、晶振片、上电极、下电极及压盖，晶振片安装于夹具内，上电极和下电极分别连接晶振片的上表面和下表面，压盖盖于夹具且具有一开孔，雾化包衣液经开孔滑落于晶振片。
[0006]与现有技术相比，由于本发明用于包衣厚度测量的测量头，包括夹具、晶振片、上电极、下电极及压盖，晶振片安装于夹具内，上电极和下电极分别连接晶振片的上表面和下表面，压盖盖于夹具且具有一开孔;使用时，将该测量头放置于包衣机中，并将测量头内部的上电极及下电极外接测量电路，包衣过程中，雾化包衣液从压盖的开孔进入并粘附于晶振片上，此时晶振片的谐振频率将发生改变，进一步地通过上、下电极所引入的外部测量电路以测量出包衣厚度。即，本发明基于石英晶体振荡技术实现了药品包衣厚度的实时在线测量，进而可以实时在线地对包衣厚度进行控制，最终可以有效地提高包衣质量。此外，该测量头结构简单，便于操作。
[0007]较佳地，为保障测量的准确性，本发明的测量头还包括安装于夹具内的内密封圈和外密封圈，晶振片夹紧于内密封圈及外密封圈之间，且内密封圈抵触夹具的底部，外密封圈抵触压盖。
[0008]较佳地，内密封圈和外密封圈为橡胶密封圈，由于其比较柔软，对晶振片作用力很小，且内、外密封圈与晶振片之间可以看作是线接触，接触面积小，因此对晶振片的振动影响极小。
[0009]在本发明的一优选实施例中，夹具包括至少一个腔体，每一腔体对应地安装有内密封圈、晶振片、上电极、下电极、外密封圈及压盖。
[0010]较佳地，三个腔体之间互成120夹角，以提高测量的准确性。
[0011]相应地，本发明还提供了一种用于包衣厚度测量的测量装置，包括测量头及测量电路。其中，测量头如上所述，且测量头的上电极和下电极均连接所述测量电路。
[0012]与现有技术相比，使用该用于包衣厚度测量的测量装置时，将测量头放置于包衣机中，测量电路置于包衣机外，包衣过程中，雾化包衣液从压盖的开孔进入并粘附于晶振片上，此时晶振片的谐振频率将发生改变，进一步地通过上、下电极所引入的外部测量电路以测量出包衣厚度。即，本发明基于石英晶体振荡技术实现了药品包衣厚度的实时在线测量，进而可以实时在线地对包衣厚度进行控制，最终可以有效地提高包衣质量。
[0013]通过以下的描述并结合附图，本发明将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明的实施例。
【附图说明】
[0014]图1为本发明基于包衣厚度测量的测量装置的结构框图。
[0015]图2为图1中测量头的装配图。
[0016]图3为图2的爆炸图。
[0017]图4为本发明晶振片与测量电路连接后的电路图。
【具体实施方式】
[0018]现在参考附图描述本发明的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。
[0019I 请参考图1，本发明基于包衣厚度测量的测量装置包括相互连接的测量头100及测量电路200。
[0020]具体地，请参考图2及图3，测量头100包括夹具I，其包括三个互成120度夹角的腔体。每一腔体内均依次安装有内密封圈2、下电极3、晶振片4、上电极5、外密封圈6及压盖7，且内密封圈2抵触腔体的底部，上电极3的两端分别连接晶振片4的上表面及测量电路200，下电极45两端分别连接晶振片4的下表面及测量电路，晶振片124紧于内密封圈2和外密封圈6之间，外密封圈6抵触压盖7，压盖7盖于腔体上且具有一开孔71。
[0021]具体地，在本实施例中，压盖7与夹具I的腔体之间采用螺纹连接，以方便拆卸及更换位于腔体内的内密封圈2、晶振片4、下电极3、上电极5及外密封圈6等内部元件；内密封圈2和外密封圈6为橡胶密封圈，由于其比较柔软，对晶振片4作用力很小，且内、外密封圈2、6与晶振片4之间可以看作是线接触，接触面积小，因此对晶振片4的振动影响极小，从而对测量结果的准确性的影响也极小。
[0022]另外，由于本实施例中夹具I由三个互成120度夹角的腔体构成，每一腔体对应有内密封圈2、晶振片4、下电极3、上电极5、外密封圈6及压盖7，测量时，雾化包衣液可从三个压盖7的开孔71进入测量头100内，从而可以实现多方位同时测量，从而避免了因测量头100置入包衣机时因方位的改变而导致测量结果不准确的问题。
[0023]此外，需要说明的是，本发明测量头100只需包括一个腔体即可，腔体的个数及腔体之间的夹角可视具体情况而定，不受上述描述所限。
[0024]具体地，再请参考图4，测量电路200包括电阻Rl、R2、R3、电容Cl及芯片，该芯片的型号为MAX913。电阻RI的一端连接+5V电源，另一端连接电阻R2的一端、晶振片4及芯片的引脚2;电阻R2的另一端接地；电阻R3的一端连接电容CI的一端、芯片的引脚3，另一端连接晶振片4及芯片的引脚7;电容Cl的一端接地，且其连接电阻R3的一端同时连接芯片的引脚3;芯片的引脚4、5、6均接地，引脚I接+5V电源，弓丨脚8作为输出。
[0025]下面，请参考图4以描述本发明的工作原理:
[0026]使用时，将测量头置入包衣机中，通过上电极5及下电极3将晶振片4引入测量电路200，测量电路200置于包衣机外。包衣过程中，雾化包衣液从压盖7的开孔71进入并粘附于晶振片4上，此时晶振片4的谐振频率将发生改变，测量电路200根据该谐振频率的变化情况便可测量出晶振片4上待测物质量的变化量，最后再计算出其厚度，从而实现了包衣厚度的测量。
[0027]从以上描述可以看出，本发明基于包衣厚度测量的测量头100及其测量装置，是基于石英晶体振荡技术实现了药品包衣厚度的实时在线测量，进而可以实时在线地对包衣厚度进行控制，最终可以有效地提高包衣质量。此外，该测量头100及其测量装置结构简单，便于操作。
[0028]以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。
【主权项】
1.一种用于包衣厚度测量的测量头，其特征在于:包括夹具、晶振片、上电极、下电极及压盖，所述晶振片安装于所述夹具内，所述上电极和下电极分别连接所述晶振片的上表面和下表面，所述压盖盖于所述夹具且具有一开孔，雾化包衣液经所述开孔滑落于所述晶振片。2.如权利要求1所述的用于包衣厚度测量的测量头，其特征在于:还包括安装于所述夹具内的内密封圈和外密封圈，所述晶振片夹紧于所述内密封圈及外密封圈之间，且所述内密封圈抵触所述夹具的底部，所述外密封圈抵触所述压盖。3.如权利要求2所述的用于包衣厚度测量的测量头，其特征在于:所述内密封圈和外密封圈为橡胶密封圈。4.如权利要求2或3所述的用于包衣厚度测量的测量头，其特征在于:所述夹具包括至少一个腔体，每一所述腔体对应地安装有所述内密封圈、晶振片、上电极、下电极、外密封圈及压盖。5.如权利要求4所述的用于包衣厚度测量的测量头，其特征在于:三个所述腔体之间互成120度夹角。6.—种用于包衣厚度测量的测量装置，包括测量头及测量电路，其特征在于:所述测量头包括夹具、晶振片、上电极、下电极及压盖，所述晶振片安装于所述夹具内，所述上电极分别连接所述晶振片的上表面及所述测量电路，所述下电极分别连接所述晶振片的下表面及所述测量电路，所述压盖盖于所述夹具且具有一开孔，雾化包衣液经所述开孔滑落于所述晶振片。7.如权利要求6所述的用于包衣厚度测量的测量装置，其特征在于:所述测量头还包括安装于所述夹具内的内密封圈和外密封圈，所述晶振片夹紧于所述内密封圈及外密封圈之间，且所述内密封圈抵触所述夹具的底部，所述外密封圈抵触所述压盖。8.如权利要求7所述的用于包衣厚度测量的测量装置，其特征在于:所述内密封圈和外密封圈为橡胶密封圈。9.如权利要求7或8所述的用于包衣厚度测量的测量装置，其特征在于:所述夹具包括至少一个腔体，每一所述腔体对应地安装有所述内密封圈、晶振片、上电极、下电极、外密封圈及压盖。10.如权利要求9所述的用于包衣厚度测量的测量装置，其特征在于:三个所述腔体之间互成120度夹角。
【专利摘要】本发明公开了一种用于包衣厚度测量的测量头，包括夹具、晶振片、上电极、下电极及压盖，晶振片安装于夹具内，上电极和下电极分别连接晶振片的上表面和下表面，压盖盖于夹具且具有一开孔，雾化包衣液经开孔滑落于晶振片。与现有技术相比，本发明的测量头基于石英晶体振荡技术实现了药品包衣厚度的实时在线测量，进而可以实时在线地对包衣厚度进行控制，最终可以有效地提高包衣质量。此外，该测量头结构简单，便于操作。本发明同时公开了一种用于包衣厚度测量的测量装置。
【IPC分类】G01B7/06
【公开号】CN105674870
【申请号】CN201610191009
【发明人】何高法, 任建兵
【申请人】重庆科技学院
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年3月30日