一种液晶面板厚度测量装置的制作方法

本实用新型涉及一种液晶面板的厚度测量装置，属于液晶面板质量检测技术领域。

背景技术：

液晶面板蚀刻减薄后的厚度是减薄行业一项重要的控制指标，减薄完成后的液晶面板需要测量其厚度来管控是否达到客户要求的目标厚度，液晶面板的厚度超出管控范围后的部分主要有两种：1、薄化后的厚度大于目标厚度，处理的办法是再次装入治具进行重新减薄，直到厚度达到目标厚度；2、薄化后的厚度小于目标厚度，这部分液晶面板只能做制程报废处理，会带来一定的经济损失。

目前减薄后的液晶面板主要通过数显千分尺对面板四侧边缘分别至少测量一个点来检测液晶面板厚度的均一性，以控制蚀刻后的产品厚度。但是千分尺的测量与液晶面板的接触为点接触，很容易造成液晶面板玻璃的损坏，从而加大了液晶面板的报废率，降低了减薄工厂的产能。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型提供一种液晶面板厚度测量装置，降低了测量时液晶面板玻璃破损的风险，提高了蚀刻减薄后的厚度测量效率，提升了蚀刻减薄工厂的产能。

为解决以上技术问题，本实用新型的技术方案为采用一种液晶面板厚度测量装置，它包括上下固定连接的上压块和下压块，所述上、下压块等长等宽，所述上压块包括依次连接的固定块和测试块，固定块和测试块的上平面位于同一水平面上；固定块上开设有固定螺栓通孔，下压块上对应固定块上固定螺栓通孔的位置开设有固定螺栓半通孔，固定螺栓通孔与固定螺栓半通孔之间通过固定螺栓连接在一起；所述固定块的厚度与下压块的厚度相等，测试块的厚度比下压块的厚度小0.4或0.5cm。

进一步的，所述上压块还包括缓冲块，缓冲块与测试块连接，其上平面与测试块上平面位于同一水平面上，其下平面为倾斜平面，缓冲块的最大厚度与测试块的厚度相等。

进一步的，所述固定螺栓通孔在固定块上开设有两个以上，加强上下压块的固定连接。

进一步的，所述固定块与测试块的连接处底部设置有凹槽。

优选的是，所述下压块的长为30～50cm，宽为30～50cm，厚为6～9cm。

优选的是，所述上压块和下压块的制作材料为金属铝。

本实用新型提供的厚度测量装置，通过测试块与下压块之间形成的间隙对液晶面板厚度进行检测，根据液晶面板蚀刻薄化的现有规格，其间隙多为0.4或0.5cm之间，因此本实用新型将测试块与下压块之间的间隙精密加工为固定值，通过间隙插入液晶面板对其厚度进行检测，其接触面积大，不易对液晶面板造成损失。

与现有技术相比，本实用新型将液晶面板厚度检测的点接触改为面接触，降低了测量时液晶面板玻璃破损的风险；固定间隙厚度的检测，在保证蚀刻减薄品质的同时，大大提高了检测效率，从而提升了蚀刻减薄工厂的产能。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的正面透视结构示意图；

图3为本实用新型的俯视图。

图例说明：

1、上压块；2、下压块；3、固定螺栓通孔；4、固定螺栓半通孔；5、固定螺栓；6、凹槽；11、固定块；12、测试块；13、缓冲块。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。

参见图1至图3，本实用新型提供了一种液晶面板厚度测量装置，它包括上下固定连接的上压块1和下压块2，所述上、下压块等长等宽，所述上压块1包括依次连接的固定块11、测试块12和缓冲块13，固定块11、测试块12和缓冲块13的上平面位于同一水平面上，缓冲块13的下平面为倾斜平面，缓冲块的最大厚度与测试块的厚度相等；固定块11上开设有固定螺栓通孔3，下压块上对应固定块上固定螺栓通孔的位置开设有固定螺栓半通孔4，固定螺栓通孔3与固定螺栓半通孔4之间通过固定螺栓5连接在一起；所述固定块11的厚度与下压块2的厚度相等，测试块12的厚度比下压块2的厚度小0.4或0.5cm。进一步的，所述固定块11与测试块12的连接处底部设置有凹槽6。

进一步的，所述固定螺栓通孔3在固定块上开设有两个以上，加强上下压块的固定连接。

本实用新型提供的测量装置的优选尺寸为：长为30～50cm，宽为30～50cm，厚为6～9cm。其制作材料优选为金属铝。

本实用新型提供的厚度测量装置，通过测试块与下压块之间形成的间隙对液晶面板厚度进行检测，根据液晶面板蚀刻薄化的现有规格，其间隙多为0.4cm或0.5cm，因此本实用新型将测试块与下压块之间的间隙精密加工为固定值，通过间隙插入液晶面板对其厚度进行检测，其接触面积大，不易对液晶面板造成损失。

以上仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出的是，上述优选实施方式不应视为对本实用新型的限制，本实用新型的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型的精神和范围内，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。