技术总结
本实用新型公开了一种液晶面板厚度测量装置，它包括上下固定连接的上压块和下压块，所述上、下压块等长等宽，所述上压块包括依次连接的固定块和测试块，固定块和测试块的上平面位于同一水平面上；固定块上开设有固定螺栓通孔，下压块上对应固定块上固定螺栓通孔的位置开设有固定螺栓半通孔，固定螺栓通孔与固定螺栓半通孔之间通过固定螺栓连接在一起；所述固定块的厚度与下压块的厚度相等，测试块的厚度比下压块的厚度小0.4或0.5cm。本实用新型将液晶面板厚度检测的点接触改为面接触，降低了测量时液晶面板玻璃破损的风险；固定间隙厚度的检测，在保证蚀刻减薄品质的同时，大大提高了检测效率，从而提升了蚀刻减薄工厂的产能。
技术研发人员：蒲中军;邓飞;袁辉;阮献春;唐毅强;向勇;王晓;张永强;王枭;左虎
受保护的技术使用者：成都工投电子科技有限公司
文档号码：201720142335
技术研发日：2017.02.16
技术公布日：2017.09.29