一种道集同相轴校正的方法及装置的制造方法

文档序号:10685808阅读:203来源:国知局
一种道集同相轴校正的方法及装置的制造方法
【专利摘要】本申请实施例公开了一种道集同相轴校正的方法及装置,所述方法包括:获取预设类型的道集数据;根据预设的品质参数,选取部分或全部所述获取的道集数据;对所述选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据;利用所述模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。本申请实施例提供的道集同相轴校正的方法及装置,可以提高道集同相轴校正的效率。
【专利说明】
一种道集同相轴校正的方法及装置
技术领域
[0001]本申请涉及地球物理勘探数据处理技术领域,特别涉及一种道集同相轴校正的方法及装置。
【背景技术】
[0002]石油地球物理勘探是通过人工激发和接收地震波来获得地下构造形态和地层性质的勘探方法。近年来,宽方位高密度地震勘探已成为提高地震勘探效果的重要选择。
[0003]与常规地震勘探相比,宽方位高密度地震勘探具有以下特点:(I)宽方位高密度勘探具有地震成像信息量大及空间连续性好的特点,可获得较完整的地震波场和较好的成像效果,振幅保真性更高。(2)由于近地表散射干扰具有三维随机性,宽方位勘探更利于压制近地表散射干扰和多次波,以提高成像精度特别是复杂构造的成像精度。(3)在断裂区和裂缝性储层中存在明显的HTI各向异性特征,常规(窄方位)勘探可能会弱化或忽略与裂缝平行观测方向的勘探效果,而宽方位地震资料的方位角和炮检距分布范围较广且更均匀,利用方位角和炮检距信息可更好地分析地震波在各向异性介质中传播的旅行时、速度、振幅、频率和相位差异性,在此情况下会明显地改善对裂缝发育带的识别能力。
[0004]伴随着宽方位地震采集技术的逐渐成熟和推广应用,配套的宽方位地震数据处理技术也得以创立和发展。其中,炮检距向量片(offset vector tile,0VT)处理技术采用分片技术构建同时拥有炮检距和方位角的共反射点道集,并针对这些道集以片为单位进行处理。一个OVT道集可以对应一个炮检距向量片。炮检距向量片是十字排列内一个小区域(或称为数据子集),其大小等于两相邻接收线和两相邻炮线间的区域。每个OVT片均由沿炮线方向有限范围的炮点和沿接收线方向有限范围的检波点构成,这两个限定范围决定了每个OVT片的方位角和炮检距范围。高品质OVT道集非常有利于识别地层的各向异性特征,为宽方位叠前地震信息分析提供了基础。此外,因OVT道集偏移后能保留所有方位角信息,则经方位各向异性校正处理可消除方位各向异性对宽方位地震成像的影响,并进一步提高宽方位地震勘探的成像精度。但是,由于各向异性或剩余时差的影响,OVT道集上的大炮检距同相轴在时间上存在波形起伏或抖动,对成像质量产生非常不利的影响。因此,需要消除这些波形起伏或抖动,达到同相轴校正的目的。
[0005]目前,实现在OVT道集同相轴校正的方法主要有两种:一种方法是剩余方位动校正,即用速度方位各向异性表征NMO随方位角呈椭圆变化。具体包括:在OVT道集上拾取同相轴时间,对测得的旅行时用最小平方法拟合方位椭圆,求取各向异性参数,再进行动校正。另一种方法是HTI各向异性偏移,具体包括:在OVT道集上拾取剩余时差,这些拾取值作为输入用于非线性层析,以修改叠前时间偏移或叠前深度偏移速度模型,再重新偏移。
[0006]在实现本申请过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:现有的两种方法在实践中都需要拾取同相轴时间,比较繁琐和费时费力,校正效率低。

【发明内容】

[0007]本申请实施例的目的是提供一种道集同相轴校正的方法及装置,以提高道集同相轴校正的效率。
[0008]为解决上述技术问题,本申请实施例提供一种道集同相轴校正的方法及装置是这样实现的:
[0009]一种道集同相轴校正的方法,包括:
[0010]获取预设类型的道集数据;
[0011 ]根据预设的品质参数,选取部分或全部所述获取的道集数据;
[0012]对所述选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据;
[0013]利用所述模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。
[0014]优选方案中,所述预设类型的道集数据包括:炮检距向量片道集数据,S卩OVT道集数据。
[0015]优选方案中,所述道集数据包括:道头信息,以及与所述道头信息对应的地震振幅数据。
[0016]优选方案中,所述道头信息包括下述中的至少一种:震源类型、接收器类型、炮点号、炮点坐标、检波点号、检波点坐标、炮线号、接收线号、炮点高程、检波点高程、面元号、炮检距、方位角、道号。
[0017]优选方案中,所述品质参数包括:数据的信噪比、方位角范围和/或炮检距范围。
[0018]优选方案中,当所述品质参数包括数据的信噪比时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述道集数据,包括:选取数据的信噪比最高的M个道集数据,所述M为正整数,所述M小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。
[0019]优选方案中,当所述品质参数包括炮检距范围时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述道集数据,包括:选取炮检距范围中炮检距值最小的N个道集数据;所述N为正整数,所述N小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。
[0020]优选方案中,当所述品质参数包括方位角范围时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述道集数据,包括:选取方位角范围中任意一部分方位角对应的P个道集数据;所述P为正整数,所述P小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。
[0021]优选方案中,所述对选取的部分或全部所述道集数据进行叠加得到模型道数据,包括:对所述选取的部分或全部所述道集数据进行求平均运算,将所述求平均运算得到的结果作为模型道数据。
[0022]优选方案中,所述利用模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,包括:输入所述模型道集中相邻时间序列的道集数据,计算所述相邻时间序列之间的时移量;利用所述时移量对所述模型道集中的道集数据进行校正。
[0023]—种道集同相轴校正的装置,包括:道集数据获取模块、道集数据选取模块、模型道数据确定模块和调整模块;其中,
[0024]所述道集数据获取模块,用于获取预设类型的道集数据;所述预设类型的道集数据包括:炮检距向量片道集数据,即OVT道集数据;
[0025]所述道集数据选取模块,用于根据预设的品质参数,选取部分或全部所述道集数据获取模块获取的道集数据;
[0026]所述模型道数据确定模块,用于对所述道集数据选取模块选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据;
[0027]所述调整模块,用于利用所述模型道数据确定模块确定的模型道数据对所述道集数据获取模块获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。
[0028]由以上本申请实施例提供的技术方案可见,本申请实施例提供的道集同相轴校正的方法及装置,避免了常规方法中拾取同相轴时间带来的繁琐和校正效果的不确定性,利用根据数据品质选取的道集数据计算模型道数据,并基于所述模型道数据利用动态时间调整进行OVT道集数据的同相轴校正,校正效果好,效率高。
【附图说明】
[0029]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0030]图1是本申请道集同相轴校正的方法一个实施例的流程图;
[0031]图2是本申请中实施例一个OVT道集的示意图;
[0032]图3是利用本申请方法实施例对图2的OVT道集进行同相轴校正后的结果;
[0033]图4是本申请道集同相轴校正装置一个实施例的模块图。
【具体实施方式】
[0034]本申请实施例提供一种道集同相轴校正的方法及装置。
[0035]为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。
[0036]图1是本申请道集同相轴校正的方法一个实施例的流程图。如图1所示,所述道集同相位校正方法可以包括:
[0037]SlOl:获取预设类型的道集数据。
[0038]可以获取预设类型的道集数据。所述预设类型的道集数据包括:炮检距向量片道集数据,即OVT道集数据。
[0039]通常,一个地震道(简称‘一道’)可分为两个部分,例如可以是道头信息和地震振幅数据。通常,道头信息可以包含下述中的至少一种:震源类型、接收器类型、炮点号、炮点坐标、检波点号、检波点坐标、炮线号、接收线号、炮点高程、检波点高程、面元号、炮检距、方位角、道号等。所述地震振幅数据可以是接收到的来自地下的地震波信号。
[0040]通常一个道集中可以含有X道,则有X个道头信息和X个地震振幅数据。其中所述道头信息和所述地震振幅数据可以是一一对应的。
[0041]图2是本申请中实施例一个OVT道集的示意图。图2中,顶部编号为道集的面元号(CMP),可以看到所述道集的面元号为1000;道号(Trace)编号为:1到300;图中各位置的灰度值可以表示所述获取的道集在该位置处的地震振幅数据。由图可以看出,获取的道集数据在时间上存在波形起伏或抖动的情况。
[0042]S102:根据预设的品质参数,选取部分或全部所述获取的道集数据。
[0043]可以根据预设的品质参数,选取部分或全部所述获取的道集数据。所述品质参数可以包括:数据的信噪比、方位角范围和/或炮检距范围。
[0044]当所述品质参数包括数据的信噪比时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述获取的道集数据,具体可以包括:从所述获取的道集数据中选取数据的信噪比最高的M个道集数据。其中,所述M可以为正整数。所述M可以小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。
[0045]当所述品质参数包括炮检距范围时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述获取的道集数据,具体可以包括:从所述获取的道集数据中选取炮检距范围中炮检距值最小的N个道集数据。其中,所述N可以为正整数。所述N可以小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。
[0046]当所述品质参数包括方位角范围时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述获取的道集数据,具体可以包括:从所述获取的道集数据中选取方位角范围中任意一部分方位角对应的P个道集数据。其中,所述P可以为正整数。所述P可以小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。
[0047]S103:对所述选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据。
[0048]可以对所述选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据。所述模型道数据可以是所述获取的预设类型的道集数据的一部分。
[0049]所述对选取的部分或全部所述获取的道集数据进行叠加得到模型道数据,具体可以包括:对所述选取的部分或全部所述获取的道集数据进行求平均运算,可以将所述求平均运算得到的结果作为模型道数据。
[0050]S104:利用所述模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。
[0051]可以利用所述模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。具体地,可以包括:对于所述获取的道集数据中的一道的数据,计算该道数据与所述模型道数据之间的时移量,利用所述时移量对该道数据进行校正。
[0052]图3是利用本申请方法实施例对图2的OVT道集进行同相轴校正后的结果。由图可见,校正后的道集数据中在时间上已经不存在波形起伏或抖动的情况。
[0053]上述实施例提供的道集同相轴校正的方法,根据数据品质选取模型道,利用根据数据品质选取的道集数据计算模型道数据,并基于所述模型道数据利用动态时间调整进行OVT道集数据的同相轴校正,避免了常规方法中拾取同相轴时间带来的繁琐和校正效果的不确定性,校正效果好,效率高。
[0054]图4是本申请道集同相轴校正装置一个实施例的模块图。如图4所示,所述道集同相轴校正的装置可以包括:道集数据获取模块401、道集数据选取模块402、模型道数据确定模块403和调整模块404。其中,
[0055]所述道集数据获取模块401,可以用于获取预设类型的道集数据;所述预设类型的道集数据包括:炮检距向量片道集数据,即OVT道集数据;
[0056]所述道集数据选取模块402,可以用于根据预设的品质参数,选取部分或全部所述道集数据获取模块401获取的道集数据;
[0057]所述模型道数据确定模块403,可以用于对所述道集数据选取模块402选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据;
[0058]所述调整模块404,可以用于利用所述模型道数据确定模块403确定的模型道数据对所述道集数据获取模块401获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。
[0059]上述实施例公开的道集同相轴校正装置与本申请的道集同相轴校正方法实施例相对应,可以实现本申请方法实施例并取得方法实施例的技术效果。
[0060]在20世纪90年代,对于一个技术的改进可以很明显地区分是硬件上的改进(例如,对二极管、晶体管、开关等电路结构的改进)还是软件上的改进(对于方法流程的改进)。然而,随着技术的发展,当今的很多方法流程的改进已经可以视为硬件电路结构的直接改进。设计人员几乎都通过将改进的方法流程编程到硬件电路中来得到相应的硬件电路结构。因此,不能说一个方法流程的改进就不能用硬件实体模块来实现。例如,可编程逻辑器件(Programmable Logic Device,PLD)(例如现场可编程门阵列(Field Programmable GateArray,FPGA))就是这样一种集成电路,其逻辑功能由用户对器件编程来确定。由设计人员自行编程来把一个数字系统“集成”在一片PLD上,而不需要请芯片制造厂商来设计和制作专用的集成电路芯片2。而且,如今,取代手工地制作集成电路芯片,这种编程也多半改用“逻辑编译器(logic compiler)”软件来实现,它与程序开发撰写时所用的软件编译器相类似,而要编译之前的原始代码也得用特定的编程语言来撰写,此称之为硬件描述语言(Hardware Descript1n Language,HDL),而HDL也并非仅有一种,而是有许多种,如ABEL(Advanced Boolean Express1n Language)、AHDL(Altera Hardware Descript1nLanguage)、Confluence、CUPL(CornelI University Programming Language)、HDCa1、JHDL(Java Hardware Descript1n Language)、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL(RubyHardware Descript1n Language)等,目前最普遍使用的是VHDL(Very-High_SpeedIntegrated Circuit Hardware Descript1n Language)与Verilog2。本令页域技术人员也应该清楚,只需要将方法流程用上述几种硬件描述语言稍作逻辑编程并编程到集成电路中,就可以很容易得到实现该逻辑方法流程的硬件电路。
[0061 ] 控制器可以按任何适当的方式实现,例如,控制器可以采取例如微处理器或处理器以及存储可由该(微)处理器执行的计算机可读程序代码(例如软件或固件)的计算机可读介质、逻辑门、开关、专用集成电路(Applicat1n Specific Integrated Circuit,ASIC)、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器的形式,控制器的例子包括但不限于以下微控制器:ARC 625D、Atmel AT91SAM、Microchip PIC18F26K20以及Silicone Labs C8051F320,存储器控制器还可以被实现为存储器的控制逻辑的一部分。
[0062]本领域技术人员也知道,除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外,完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件,而对其内包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至,可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。
[0063]上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元,具体可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。
[0064]为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然,在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
[0065]通过以上的实施方式的描述可知,本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,在一个典型的配置中,计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。该计算机软件产品可以包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。该计算机软件产品可以存储在内存中,内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括短暂电脑可读媒体(transitory media),如调制的数据信号和载波。
[0066]本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
[0067]本申请可用于众多通用或专用的计算机系统环境或配置中。例如:个人计算机、月艮务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、置顶盒、可编程的消费电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何系统或设备的分布式计算环境等等。
[0068]本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
[0069]虽然通过实施例描绘了本申请,本领域普通技术人员知道,本申请有许多变形和变化而不脱离本申请的精神,希望所附的权利要求包括这些变形和变化而不脱离本申请的精神。
【主权项】
1.一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,包括: 获取预设类型的道集数据; 根据预设的品质参数,选取部分或全部所述获取的道集数据; 对所述选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据; 利用所述模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。2.根据权利要求1所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,所述预设类型的道集数据包括:炮检距向量片道集数据,即OVT道集数据。3.根据权利要求1所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,所述道集数据包括:道头信息,以及与所述道头信息对应的地震振幅数据。4.根据权利要求3所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,所述道头信息包括下述中的至少一种:震源类型、接收器类型、炮点号、炮点坐标、检波点号、检波点坐标、炮线号、接收线号、炮点高程、检波点高程、面元号、炮检距、方位角、道号。5.根据权利要求1所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,所述品质参数包括:数据的信噪比、方位角范围和/或炮检距范围。6.根据权利要求5所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,当所述品质参数包括数据的信噪比时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述获取的道集数据,包括: 从所述获取的道集数据中选取数据的信噪比最高的M个道集数据,所述M为正整数,所述M小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。7.根据权利要求5所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,当所述品质参数包括炮检距范围时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述获取的道集数据,包括: 从所述获取的道集数据中选取炮检距范围中炮检距值最小的N个道集数据;所述N为正整数,所述N小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。8.根据权利要求5所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,当所述品质参数包括方位角范围时,所述根据预设的品质参数选取部分或全部所述获取的道集数据,包括: 从所述获取的道集数据中选取方位角范围中任意一部分方位角对应的P个道集数据;所述P为正整数,所述P小于所述获取的预设类型的道集数据的总个数。9.根据权利要求1所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,所述对选取的部分或全部所述获取的道集数据进行叠加得到模型道数据,包括:对所述选取的部分或全部所述获取的道集数据进行求平均运算,将所述求平均运算得到的结果作为模型道数据。10.根据权利要求1所述的一种道集同相轴校正的方法,其特征在于,所述利用模型道数据对所述获取的道集数据进行动态时间调整,包括:对于所述获取的道集数据中的一道的数据,计算该道数据与所述模型道数据之间的时移量,利用所述时移量对该道数据进行校正。11.一种道集同相轴校正的装置,其特征在于,包括:道集数据获取模块、道集数据选取模块、模型道数据确定模块和调整模块;其中, 所述道集数据获取模块,用于获取预设类型的道集数据;所述预设类型的道集数据包括:炮检距向量片道集数据,即OVT道集数据; 所述道集数据选取模块,用于根据预设的品质参数,选取部分或全部所述道集数据获取模块获取的道集数据; 所述模型道数据确定模块,用于对所述道集数据选取模块选取的部分或全部所述道集数据进行叠加,得到模型道数据; 所述调整模块,用于利用所述模型道数据确定模块确定的模型道数据对所述道集数据获取模块获取的道集数据进行动态时间调整,以完成所述获取的道集数据的同相轴校正。
【文档编号】G01V1/36GK106054253SQ201610621044
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年8月1日
【发明人】张铁强, 孙鹏远, 钱忠平, 王文闯, 马渊明, 晏伟
【申请人】中国石油天然气集团公司, 中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
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