一种极片错位的检测方法和装置的制造方法

一种极片错位的检测方法和装置的制造方法
【专利摘要】本发明实施例提供了一种极片错位的检测方法和装置。本发明实施例提供的一种极片错位的检测方法，包括：检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错位，本发明实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息就可以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破坏性检测，也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且由于降低了检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目的。
【专利说明】
一种极片错位的检测方法和装置
技术领域
[0001] 本发明涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种极片错位的检测方法和装置。
【背景技术】
[0002] 近年来，由于叠片锂电池被广泛应用于智能手机、笔记本电脑和电动汽车中，因此 叠片锂电池的安全问题越来越被广泛关注，其中重点需要关注的是叠片锂电池内部短路引 发的安全问题。叠片锂电池中包含至少一个叠片电芯，叠片锂电池的内部短路是由其中一 个叠片电芯发生短路引起的，其中，叠片电芯发生短路一般是由于叠片电芯内的极片产生 错位引起的，在叠片电芯内的极片产生错位引起短路的情况主要包括以下两种：
[0003] 情况1、在叠片锂电池充放电过程，阴极片会生成富余的锂析出，析出的锂会集中 在绝缘膜的边缘，并形成枝状结晶，当枝状结晶达到一定程度后会刺破绝缘膜，致使阴极片 和阳极片连通造成短路；
[0004] 情况2、由于叠片电芯内的极片发生错位，致使发生错位的极片与相邻的极片直接 接触，进而引起叠片电芯短路。
[0005] 在现有技术中，检测叠片电芯内的极片是否发生错位的方法主要有以下两种方 式：
[0006] 方式1:采用人工方式对电芯进行破坏性检测，即对待测角进行切割，然后在影像 投影仪下进行人工检测；
[0007]方式2:使用CT扫描，检测极片是否发生错位。
[0008]在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：
[0009]方式1和方式2的检测成本较高，检测效率较低，并且由于检测成本高，只能使用抽 检的检测方式，因此无法对所有的叠片电芯的进行错位检测。

【发明内容】

[0010] 有鉴于此，本发明实施例提供了一种极片错位的检测方法和装置，用以解决现有 技术中检测成本较高，检测效率较低的问题，以及无法对所有的叠片电芯的进行错位检测 的问题。
[0011] -方面，本发明实施例提供了一种极片错位的检测方法，所述方法应用于检测叠 片电芯中的极片是否发生错位，所述方法包括：
[0012] 检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，其中所述坐标 信息包括:X轴坐标和Y轴坐标；
[0013] 判断所述X轴坐标与所述第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值是否超过第一 阈值，以及，判断所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值是否超过第二阈值；
[0014] 如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过所述第一阈值和/或所述Y轴坐 标与所述半径的差值的绝对值超过第二阈值，则确定所述第一极片发生错位；
[0015] 如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过所述第一阈值，以及所述Y轴 坐标与所述半径的差值的绝对值未超过第二阈值，则确定所述第一极片未发生错位；
[0016] 其中，所述预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的。
[0017] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述检测待 测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息包括：
[0018] 通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的倒圆角进行照射形 成切线；
[0019] 检测形成切线时的入射角度值；
[0020] 根据所述入射角度值，确定所述圆心的位置；
[0021 ]根据所述位置，确定所述圆心在所述预设坐标系中的所述坐标信息。
[0022] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述检测待 测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息包括：
[0023] 检测通过第二射线以第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极 片的倒圆角进行照射形成切线时的第一入射角度值，以及检测所述第二射线以所述第一入 射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时两个 切线之间的第一垂直距离;检测通过第三射线以第二入射角对所述待测角上的所述第一极 片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第二入射角度值，以及检测所述第三射 线以所述第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射 形成切线时两个切线之间的第二垂直距离；
[0024]根据所述第一入射角度值、所述第一垂直距离、所述第二入射角度值和所述第二 垂直距离，确定所述待测角上所述第一极片的倒圆角的所述圆心在所述预设坐标系中的所 述坐标信息。
[0025]如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一垂 直距离是根据所述第二射线对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进 行照射形成切线时的投影高度确定的，所述第二垂直距离是根据所述第三射线对所述待测 角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定的。
[0026] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一射 线、所述第二射线和所述第三射线均包括:X射线；
[0027] 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池；
[0028] 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成 的圆相切。
[0029] 上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果:本发明实施例提供了一种极 片错位的检测方法，检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，根 据所述坐标信息判断第一极片是否发生错位，本发明实施例中只需要检测出待测角上第一 极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息就可以判断第一极片是否发生错位，检测方 法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破坏性检测，也无需使用昂贵的设备进行检测，因此 降低了检测成本，且检测效率较高，并且由于降低了检测成本，且检测效率较高，因此可以 实现对所有叠片电芯进行错位检测的目的。
[0030] 另一方面，本发明实施例还提供了一种极片错位的检测装置，所述装置用于检测 叠片电池中的极片是否发生错位，所述装置包括：
[0031] 检测单元，用于检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信 息，其中所述坐标信息包括:X轴坐标和Y轴坐标；
[0032] 判断单元，用于判断所述X轴坐标与所述第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对 值是否超过第一阈值，以及，判断所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值是否超过第二阈 值；
[0033] 确定单元，如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过所述第一阈值和/或 所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过第二阈值，用于确定所述第一极片发生错位；
[0034] 所述确定单元，如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过所述第一阈 值，以及所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过第二阈值，用于确定所述第一极片 未发生错位；
[0035] 其中，所述预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的。
[0036] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述检测单 元包括：
[0037] 照射模块，用于通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的倒圆 角进行照射形成切线；
[0038] 第一检测子模块，用于检测形成切线时的入射角度值；
[0039]第一确定模块，用于根据所述入射角度值，确定所述圆心的位置；
[0040] 所述第一确定模块，用于根据所述位置，确定所述圆心在所述预设坐标系中的所 述坐标信息。
[0041] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述检测单 元包括：
[0042]第二检测模块，用于检测通过第二射线以第一入射角对所述待测角上的所述第一 极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第一入射角度值，以及检测所述第二 射线以所述第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照 射形成切线时两个切线之间的第一垂直距离；
[0043]所述第二检测模块，用于检测通过第三射线以第二入射角对所述待测角上的所述 第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第二入射角度值，以及检测所述 第三射线以所述第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进 行照射形成切线时两个切线之间的第二垂直距离；
[0044] 第二确定模块，用于根据所述第一入射角度值、所述第一垂直距离、所述第二入射 角度值和所述第二垂直距离，确定所述待测角上所述第一极片的倒圆角的所述圆心在所述 预设坐标系中的所述坐标信息。
[0045] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一垂 直距离是根据所述第二射线对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进 行照射形成切线时的投影高度确定的，所述第二垂直距离是根据所述第三射线对所述待测 角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定的。
[0046] 如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述第一射 线、所述第二射线和所述第三射线均包括:X射线；
[0047] 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池；
[0048] 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成 的圆相切。
[0049] 上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果:本发明实施例提供了一种极 片错位的检测装置，检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，确 定单元根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错位，本发明实施例中只需要检测出待测 角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息就可以判断第一极片是否发生错 位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破坏性检测，也无需使用昂贵的设备进行 检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且由于降低了检测成本，且检测效率较高， 因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目的。
【附图说明】
[0050] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发 明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。
[0051] 图1为本发明实施例一提供的一种极片错位的检测方法的流程示意图；
[0052] 图2为本发明实施例二提供的一种极片错位的检测方法的流程示意图；
[0053]图3为本发明实施例三提供的一种极片错位的检测方法的流程示意图；
[0054] 图4为本发明实施例中提供的一种射线与第一极片和第二极片形成切线时的示意 图；
[0055] 图5为本发明实施例四提供的一种极片错位的检测装置的结构示意图；
[0056] 图6为本发明实施例五提供的一种极片错位的检测装置的结构示意图；
[0057] 图7为本发明实施例六提供的一种极片错位的检测装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0058]为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描 述。
[0059] 应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基 于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其 它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0060] 在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制 本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的"一种"、"所述"和"该" 也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
[0061] 应当理解，本文中使用的术语"和/或"仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示 可以存在三种关系，例如，Α和/或Β，可以表示:单独存在A，同时存在Α和Β，单独存在Β这三种 情况。另外，本文中字符7"，一般表示前后关联对象是一种"或"的关系。
[0062] 应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二等来描述极片和射线， 但这些极片和射线不应限于这些术语。这些术语仅用来将极片和射线彼此区分开。例如，在 不脱离本发明实施例范围的情况下，第一极片也可以被称为第二极片，类似地，第二极片也 可以被称为第一极片。
[0063] 取决于语境，如在此所使用的词语"如果"可以被解释成为"在……时"或"当…… 时"或"响应于确定"或"响应于检测"。类似地，取决于语境，短语"如果确定"或"如果检测 (陈述的条件或事件)"可以被解释成为"当确定时"或"响应于确定"或"当检测（陈述的条件 或事件)时"或"响应于检测(陈述的条件或事件)"。
[0064] 实施例一
[0065] 图1为本发明实施例一提供的一种极片错位的检测方法的流程示意图，如图1所 示，本发明实施例一提供的一种极片错位的检测方法，所述方法应用于检测叠片电芯中的 极片是否发生错位，具体可以包括如下步骤：
[0066] S101、检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，其中所 述坐标信息包括:X轴坐标和Y轴坐标。
[0067] 其中，所述预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的。
[0068] 具体的，叠片电芯中包括若干个极片，其中，极片包括：阴极片和阳极片，阴极片和 阳极片交替叠片，当其中一个极片相对于其他极片发生错位后，发生错位的极片的位置相 对于其他没有发生错位的极片的位置产生了偏移，该偏移包括平行偏移和/或旋转偏移。当 判断第一极片相对于第二极片是否发生错位时，预先根据第二极片的摆放位置建立坐标 系，即预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的，进一步的，第二极片的摆放位置为基 准位置，判断第一极片的当前位置相对于基准位置来说是否发生偏移，无论第一极片发生 何种类型的偏移，第一极片在预设坐标系中所覆盖的坐标范围发生了改变，即第一极片的 坐标范围相对于第二极片的坐标范围发生了改变，因此只需要判断第一极片中的某个点的 坐标在预设坐标系中是否发生改变，则可以判断出第一极片是否发生错位，为了便于准确 检测，判断待测角上第一极片的倒圆角的圆心是否发生偏移，因此需要检测待测角上第一 极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息。
[0069] 其中，第一极片和第二极片可以是相邻的阴极片和阳极片，当然也可以是叠片电 芯中任意两个极片。
[0070] S102、判断所述X轴坐标与所述第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值是否超 过第一阈值，以及，判断所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值是否超过第二阈值;如果 所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过所述第一阈值和/或所述Y轴坐标与所述半径 的差值的绝对值超过第二阈值，则执行S103;如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值 未超过所述第一阈值，以及所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过第二阈值，则执 行S104。
[0071] 具体的，当第一极片发生错位后，待测角上第一极片的倒圆角的圆心也会发生改 变，进一步的，待测角上第一极片的倒圆角的圆心的坐标发生改变，由于第一极片的位置无 论如何改变，待测角上第一极片的倒圆角的半径不会发生变化，因此，判断第一极片相对于 第二极片是否发生错位时，只要分别判断待测角上第一极片的倒圆角的圆心的X轴坐标和Y 轴坐标与半径的差值是否发生改变就可以了，并且由于细微的错位不会对电芯造成短路， 并且错位时的偏移方向不确定，因此需要判断待测角上第一极片的倒圆角的圆心的X轴坐 标与第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值是否超过第一阈值，以及判断待测角上第一 极片的倒圆角的圆心的Y轴坐标与第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值是否超过第二 阈值，当X轴坐标与第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值未超过第一阈值且Y轴坐标与 第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值未超过第二阈值时，可以确定第一极片未发生可 以引起电芯短路的错位，其他任何情况都可以确定第一极片发生了可以引起电芯短路的错 位。
[0072]其中，第一阈值和第二阈值的取值根据实际建立的预设坐标系确定。
[0073] S103、确定所述第一极片发生错位。
[0074] S104、确定所述第一极片未发生错位。
[0075]本发明实施例提供了一种极片错位的检测方法，检测待测角上第一极片的倒圆角 的圆心在预设坐标系中坐标信息，根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错位，本发明 实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息就可 以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破坏性检测， 也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且由于降低了 检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目的。
[0076] 实施例二
[0077] 图2为本发明实施例二提供的一种极片错位的检测方法的流程示意图，针对实施 例一中S101所述检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息的实现 提供了如图2所示的方法流程：
[0078] SA1011、通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的倒圆角进行 照射形成切线。
[0079] 具体的，当一个圆为确定时，可以通过该圆的切线确定出该圆的圆心，待测角上第 一极片的倒圆角为一个圆的一部分，通过射线照射可以形成该倒圆角的切线，由于通过切 线确定圆的圆心时至少通过该圆的两条切线确定，因此通过射线形成该倒圆角的切线时要 通过不同入射角来对该倒圆角进行照射来形成切线，这样就可以至少获取该倒圆角的两条 切线，进而可以确定出该倒圆角的圆心位置。
[0080] SA1012、检测形成切线时的入射角度值。
[0081 ] SA1013、根据所述入射角度值，确定所述圆心的位置。
[0082]具体的，在通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的倒圆角进 行照射形成切线时，结合各个切线的入射角度值，可以模拟出各个射线在预设坐标系中的 位置，然后根据获取的各个切线的入射角度值和各个切线的位置确定圆心的位置，例如:可 以通过各个射线在预设坐标系中的位置结合通过各个切线的入射角度值计算得到圆心的 位置，或者根据各个切线的位置和各个切线的入射角度值确定与各个切线分别垂直的直线 的焦点位置，该焦点位置则是该倒圆角的圆心位置。
[0083] SA1014、根据所述位置，确定所述圆心在所述预设坐标系中的所述坐标信息。
[0084]其中，所述第一射线包括:Χ射线；
[0085] 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池；
[0086] 所述预设坐标系的X轴和Υ轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成 的圆相切。
[0087] 本发明实施例提供了一种极片错位的检测方法，检测待测角上第一极片的倒圆角 的圆心在预设坐标系中坐标信息，根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错位，本发明 实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息就可 以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破坏性检测， 也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且由于降低了 检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目的。
[0088] 实施例三
[0089] 图3为本发明实施例三提供的一种极片错位的检测方法的流程示意图，针对实施 例一中S101所述检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息的实现 还提供了如图3所示的方法流程：
[0090] SB1011、检测通过第二射线以第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述 第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第一入射角度值，以及检测所述第二射线以所述 第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线 时两个切线之间的第一垂直距离;检测通过第三射线以第二入射角对所述待测角上的所述 第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第二入射角度值，以及检测所述 第三射线以所述第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进 行照射形成切线时两个切线之间的第二垂直距离。
[0091] 具体的，待测角上的第一极片的倒圆角和待测角上的第二极片的倒圆角可以通过 相同入射角度的射线形成切线，在形成切线时可以获取该切线在预设坐标系中的位置，以 及该切线的入射角度值，通过两次射线以不同入射角对待测角上的第一极片的倒圆角和待 测角上的第二极片的倒圆角进行照射形成的切线，以及相关的切线信息，通过计算可以确 定出第一极片的在待测角上的倒圆角的圆心位置，如图4所示的一种射线与第一极片和第 二极片形成切线时的示意图，第一极片为阳极片，第二极片为阴极片，预设坐标系的X轴和Y 轴分别以待测角上阳极片的两个边建立的，在第二射线与第一级片的倒圆角和第二极片的 倒圆角形成切线时，可以确定出第二射线的入射角度值、第二射线在预设坐标系中的位置， 以及第二射线在第一级片的倒圆角和第二极片的倒圆角形成切线时两条切线之间的垂直 距离，同样可以确定出第三射线的入射角度值、第三射线在预设坐标系中的位置，以及第三 射线在第一级片的倒圆角和第二极片的倒圆角形成切线时两条切线之间的垂直距离。 [0092] SB1012、根据所述第一入射角度值、所述第一垂直距离、所述第二入射角度值和所 述第二垂直距离，确定所述待测角上所述第一极片的倒圆角的所述圆心在所述预设坐标系 中的所述坐标信息。
[0093]
.确定第一极片的倒圆角的圆心的X 轴坐标
确定 第一极片的倒圆角的圆心的Y轴坐标。
[0094]其中，rl为第一级片倒圆角所在原的半径，r2为第二级片倒圆角所在原的半径，dl 为第一垂直距离，d2为第二垂直距离，α?为第一入射角度值，α2为第二入射角度值。
[0095]所述第一垂直距离是根据所述第二射线对所述待测角上的所述第一极片和所述 第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定的，所述第二垂直距离是根据所述 第三射线对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时 的投影高度确定的。
[0096] 所述第二射线和所述第三射线均包括:X射线；
[0097] 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池；
[0098] 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成 的圆相切。
[0099] 本发明实施例提供了一种极片错位的检测方法，检测待测角上第一极片的倒圆角 的圆心在预设坐标系中坐标信息，根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错位，本发明 实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息就可 以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破坏性检测， 也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且由于降低了 检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目的。
[0100] 实施例四
[0101] 图5为本发明实施例四提供的一种极片错位的检测装置的结构示意图，所述装置 用于检测叠片电池中的极片是否发生错位，具体可以包括:检测单元51、判断单元52和确定 单元53。
[0102] 检测单元51，用于检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信 息，其中所述坐标信息包括:X轴坐标和Y轴坐标；
[0103] 判断单元52,用于判断所述X轴坐标与所述第一极片的倒圆角的半径的差值的绝 对值是否超过第一阈值，以及，判断所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值是否超过第二 阈值；
[0104]确定单元53,如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过所述第一阈值和/ 或所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过第二阈值，用于确定所述第一极片发生错 位；
[0105] 所述确定单元53,如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过所述第一 阈值，以及所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过第二阈值，用于确定所述第一极 片未发生错位；
[0106] 其中，所述预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的。
[0107] 本发明实施例四提供的一种极片错位的检测装置，可以用于执行图1所示方法实 施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。
[0108] 本发明实施例提供了一种极片错位的检测装置，检测待测角上第一极片的倒圆角 的圆心在预设坐标系中坐标信息，确定单元根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错 位，本发明实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标 信息就可以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破 坏性检测，也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且 由于降低了检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目 的。
[0109] 实施例五
[0110] 基于实施例四，图6为本发明实施例四提供的一种极片错位的检测装置的结构示 意图，所述装置用于检测叠片电池中的极片是否发生错位，具体可以包括:检测单元51、判 断单元52和确定单元53,其中检测单元51包括:照射模块511、第一检测子模块512和第一确 定模块513。
[0111] 照射模块511，用于通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的 倒圆角进行照射形成切线；
[0112] 第一检测子模块512,用于检测形成切线时的入射角度值；
[0113] 第一确定模块513,用于根据所述入射角度值，确定所述圆心的位置；
[0114] 所述第一确定模块513,用于根据所述位置，确定所述圆心在所述预设坐标系中的 所述坐标信息；
[0115]所述第一射线包括:X射线；
[0116] 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池；
[0117] 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成 的圆相切。
[0118] 本发明实施例五提供的一种极片错位的检测装置，可以用于执行图2所示方法实 施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。
[0119] 本发明实施例提供了一种极片错位的检测装置，检测待测角上第一极片的倒圆角 的圆心在预设坐标系中坐标信息，确定单元根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错 位，本发明实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标 信息就可以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破 坏性检测，也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且 由于降低了检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目 的。
[0120] 实施例六
[0121] 基于实施例四，图7为本发明实施例四提供的一种极片错位的检测装置的结构示 意图，所述装置用于检测叠片电池中的极片是否发生错位，具体可以包括:检测单元51、判 断单元52和确定单元53,其中检测单元51包括:第二检测模块514和第二确定模块515。
[0122] 第二检测模块514,用于检测通过第二射线以第一入射角对所述待测角上的所述 第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第一入射角度值，以及检测所述 第二射线以所述第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进 行照射形成切线时两个切线之间的第一垂直距离；
[0123] 所述第二检测模块514,用于检测通过第三射线以第二入射角对所述待测角上的 所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第二入射角度值，以及检测 所述第三射线以所述第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆 角进行照射形成切线时两个切线之间的第二垂直距离；
[0124] 第二确定模块515,用于根据所述第一入射角度值、所述第一垂直距离、所述第二 入射角度值和所述第二垂直距离，确定所述待测角上所述第一极片的倒圆角的所述圆心在 所述预设坐标系中的所述坐标信息。
[0125] 所述第一垂直距离是根据所述第二射线对所述待测角上的所述第一极片和所述 第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定的，所述第二垂直距离是根据所述 第三射线对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时 的投影高度确定的。
[0126] 所述第二射线和所述第三射线均包括:X射线；
[0127] 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池；
[0128] 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成 的圆相切。
[0129] 本发明实施例六提供的一种极片错位的检测装置，可以用于执行图3所示方法实 施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。
[0130] 本发明实施例提供了一种极片错位的检测装置，检测待测角上第一极片的倒圆角 的圆心在预设坐标系中坐标信息，确定单元根据所述坐标信息判断第一极片是否发生错 位，本发明实施例中只需要检测出待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标 信息就可以判断第一极片是否发生错位，检测方法比较简单，并且无需对叠片电芯进行破 坏性检测，也无需使用昂贵的设备进行检测，因此降低了检测成本，且检测效率较高，并且 由于降低了检测成本，且检测效率较高，因此可以实现对所有叠片电芯进行错位检测的目 的。
[0131] 在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，终端和方法，可以 通过其它的方式实现。例如，以上所描述的终端实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的 划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如，多个单元或组 件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示 或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，终端或单元的间接 耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0132] 所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显 示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个 网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目 的。
[0133] 另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以 是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单 元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
[0134] 上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存 储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机 装置(可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等)或处理器(Processor)执行本发明各个 实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory ，R0M)、随机存取存储器 (Random Access Memory ，RAM)、磁碟或者光盘等各种 可以存储程序代码的介质。
[0135] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精 神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
【主权项】
1. 一种极片错位的检测方法，其特征在于，所述方法应用于检测叠片电芯中的极片是 否发生错位，所述方法包括： 检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，其中所述坐标信息 包括:X轴坐标和Y轴坐标； 判断所述X轴坐标与所述第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值是否超过第一阈 值，以及，判断所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值是否超过第二阈值； 如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过所述第一阈值和/或所述Y轴坐标与 所述半径的差值的绝对值超过第二阈值，则确定所述第一极片发生错位； 如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过所述第一阈值，以及所述Y轴坐标 与所述半径的差值的绝对值未超过第二阈值，则确定所述第一极片未发生错位； 其中，所述预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的。2. 如权利要求1所述方法，其特征在于，所述检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在 预设坐标系中坐标信息包括： 通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的倒圆角进行照射形成切 线； 检测形成切线时的入射角度值； 根据所述入射角度值，确定所述圆心的位置； 根据所述位置，确定所述圆心在所述预设坐标系中的所述坐标信息。3. 如权利要求1所述方法，其特征在于，所述检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在 预设坐标系中坐标信息包括： 检测通过第二射线以第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的 倒圆角进行照射形成切线时的第一入射角度值，以及检测所述第二射线以所述第一入射角 对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时两个切线 之间的第一垂直距离;检测通过第三射线以第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和 所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第二入射角度值，以及检测所述第三射线以 所述第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成 切线时两个切线之间的第二垂直距离； 根据所述第一入射角度值、所述第一垂直距离、所述第二入射角度值和所述第二垂直 距离，确定所述待测角上所述第一极片的倒圆角的所述圆心在所述预设坐标系中的所述坐 标ig息。4. 如权利要求3所述方法，其特征在于，所述第一垂直距离是根据所述第二射线对所述 待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定 的，所述第二垂直距离是根据所述第三射线对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极 片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定的。5. 如权利要求2-4任一所述方法，其特征在于，所述第一射线、所述第二射线和所述第 三射线均包括:X射线； 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池； 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成的圆 相切。6. -种极片错位的检测装置，其特征在于，所述装置用于检测叠片电池中的极片是否 发生错位，所述装置包括： 检测单元，用于检测待测角上第一极片的倒圆角的圆心在预设坐标系中坐标信息，其 中所述坐标信息包括:X轴坐标和γ轴坐标； 判断单元，用于判断所述X轴坐标与所述第一极片的倒圆角的半径的差值的绝对值是 否超过第一阈值，以及，判断所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值是否超过第二阈值； 确定单元，如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过所述第一阈值和/或所述 Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值超过第二阈值，用于确定所述第一极片发生错位； 所述确定单元，如果所述X轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过所述第一阈值，以 及所述Y轴坐标与所述半径的差值的绝对值未超过第二阈值，用于确定所述第一极片未发 生错位； 其中，所述预设坐标系是根据第二极片的摆放位置建立的。7. 如权利要求6所述装置，其特征在于，所述检测单元包括： 照射模块，用于通过第一射线以不同入射角对所述待测角上所述第一极片的倒圆角进 行照射形成切线； 第一检测子模块，用于检测形成切线时的入射角度值； 第一确定模块，用于根据所述入射角度值，确定所述圆心的位置； 所述第一确定模块，用于根据所述位置，确定所述圆心在所述预设坐标系中的所述坐 标ig息。8. 如权利要求6所述装置，其特征在于，所述检测单元包括： 第二检测模块，用于检测通过第二射线以第一入射角对所述待测角上的所述第一极片 和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第一入射角度值，以及检测所述第二射线 以所述第一入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形 成切线时两个切线之间的第一垂直距离； 所述第二检测模块，用于检测通过第三射线以第二入射角对所述待测角上的所述第一 极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的第二入射角度值，以及检测所述第三 射线以所述第二入射角对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照 射形成切线时两个切线之间的第二垂直距离； 第二确定模块，用于根据所述第一入射角度值、所述第一垂直距离、所述第二入射角度 值和所述第二垂直距离，确定所述待测角上所述第一极片的倒圆角的所述圆心在所述预设 坐标系中的所述坐标信息。9. 如权利要求8所述装置，其特征在于，所述第一垂直距离是根据所述第二射线对所述 待测角上的所述第一极片和所述第二极片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定 的，所述第二垂直距离是根据所述第三射线对所述待测角上的所述第一极片和所述第二极 片的倒圆角进行照射形成切线时的投影高度确定的。10. 如权利要求7-9任一所述装置，其特征在于，所述第一射线、所述第二射线和所述第 三射线均包括:X射线； 所述X射线的入射方向平行于所述叠片电池； 所述预设坐标系的X轴和Y轴分别与所述待测角上所述第二极片的倒圆角所形成的圆
【文档编号】G01B15/00GK106091999SQ201610595319
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年7月26日 公开号201610595319.2, CN 106091999 A, CN 106091999A, CN 201610595319, CN-A-106091999, CN106091999 A, CN106091999A, CN201610595319, CN201610595319.2
【发明人】黄渭, 何平, 林礼清, 林昱成
【申请人】东莞新能源科技有限公司