激光打标高精度校准测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于测量领域，具体涉及一种激光打标高精度校准测量装置。
【背景技术】
[0002]当前只要涉及到激光打标行业中，振镜扫描范围都会出现有畸变现象，这种畸变要通过坐标点来进行处理。由于振镜在扫描时因为光路和聚焦透镜的畸变会引起定位失真，所以就需对这种失真进行校准，校准工作需要激光设备在出厂前就需要完成，校准一旦完成，就不需要再次进行，除非使用很长时间后，精度不能满足要求时，可以再校准，校准是比较精细的调整，建议非专业人员不要进行，否则适得其反。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种激光打标高精度校准测量装置，测量精度高，能达到10~5um级，平台精度高，精度为5um。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:一种激光打标高精度校准测量装置，包括平台、清洗机、带有PCI控制板卡的工控机和电器控制箱，所述工控机的信号输出端与电器控制箱的信号输入端连接，所述电器控制箱的第一信号输出端和第二信号输出端分别与清洗机和平台的信号输入端连接，所述平台的信号输出端与工控机的信号输入端连接，所述平台上表面设有标刻测试纸，所述清洗机的X轴与Y轴形成XY振镜，所述XY振镜下方设有平场透镜，所述平场透镜平面与平台平行，所述平台上方设有相机，相机下表面设有镜头，所述镜头下表面设有照明光环。
[0005]作为优选，所述照明光环为LED光环。
[0006]作为优选，标刻测试纸为相纸或墨纸。
[0007]本实用新型的有益效果在于:通过PCI控制板卡控制平台的移动，同时控制清洗机的X轴和Y轴，以调整XY振镜。电器控制箱为整个系统提供动力。标刻测试纸用于在上面形成激光点。
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型结构示意图。
[0009]图中:1、平台；2、清洗机；3、工控机；4、电器控制箱；5、标刻测试纸；6、XY振镜；7、平场透镜；8、相机；9、镜头；10、照明光环。
【具体实施方式】
[0010]下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
[0011]如图1所示，一种激光打标高精度校准测量装置，包括平台1、清洗机2、带有PCI控制板卡的工控机3和电器控制箱4，所述工控机3的信号输出端与电器控制箱4的信号输入端连接，所述电器控制箱4的第一信号输出端和第二信号输出端分别与清洗机2和平台I的信号输入端连接，所述平台I的信号输出端与工控机3的信号输入端连接，所述平台I上表面设有标刻测试纸5，所述清洗机2的X轴与Y轴形成XY振镜6，所述XY振镜6下方设有平场透镜7，所述平场透镜7平面与平台I平行，所述平台I上方设有相机8，相机8下表面设有镜头9，所述镜头9下表面设有照明光环10。作为优选，所述照明光环10为LED光环。作为优选，标刻测试纸5为相纸或墨纸。
[0012]通过PCI控制板卡控制平台I的移动，同时控制清洗机2的X轴和Y轴，以调整XY振镜6。电器控制箱4为整个系统提供动力。标刻测试纸5用于在上面形成激光点。
【主权项】
1.一种激光打标高精度校准测量装置，其特征在于:包括平台、清洗机、带有PCI控制板卡的工控机和电器控制箱，所述工控机的信号输出端与电器控制箱的信号输入端连接，所述电器控制箱的第一信号输出端和第二信号输出端分别与清洗机和平台的信号输入端连接，所述平台的信号输出端与工控机的信号输入端连接，所述平台上表面设有标刻测试纸，所述清洗机的X轴与Y轴形成XY振镜，所述XY振镜下方设有平场透镜，所述平场透镜平面与平台平行，所述平台上方设有相机，相机下表面设有镜头，所述镜头下表面设有照明光环。
2.根据权利要求1所述的激光打标高精度校准测量装置，其特征在于:所述照明光环为LED光环。
3.根据权利要求1或2所述的激光打标高精度校准测量装置，其特征在于:标刻测试纸为相纸或墨纸。
【专利摘要】本实用新型公开一种激光打标高精度校准测量装置，包括平台、清洗机、带有PCI控制板卡的工控机和电器控制箱，所述工控机的信号输出端与电器控制箱的信号输入端连接，所述电器控制箱的第一信号输出端和第二信号输出端分别与清洗机和平台的信号输入端连接，所述平台的信号输出端与工控机的信号输入端连接，所述平台上表面设有标刻测试纸，所述清洗机的X轴与Y轴形成XY振镜，所述XY振镜下方设有平场透镜，所述平场透镜平面与平台平行，所述平台上方设有相机，相机下表面设有镜头，所述镜头下表面设有照明光环。本实用新型测量精度高，能达到10~5um级，平台精度高，精度为5um。
【IPC分类】G01C25-00
【公开号】CN204286458
【申请号】CN201420765225
【发明人】何刘, 黄永忠, 王德友, 黄波, 赵书阁
【申请人】成都莱普科技有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年12月9日