用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置的制造方法
【专利说明】
[0001]技术领域:
[0002]本实用新型涉及一种用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置。
[0003]【背景技术】:
[0004]对于通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类材料，需要研宄各种聚合物的微观结构在材料表面发生导电时的微观结构变化过程，现有的红外光谱仪未配备研宄材料表面导电过程中微观结构的谱带变化的附件，因而不能研宄材料在较高电压作用下表面存在微小电流时，被测材料在高电压下的作用下发生聚合物内部结构从一种排列状态转变到另一种排列状态(例如相变、构象、键长、键角等的变化)时，红外谱带的峰位、峰形、峰高的变化情况。不能研宄在材料表面导电时被测试样的分子间发生相互作用时的化学变化过程。
[0005]
【发明内容】
:
[0006]本实用新型的目的是提供一种用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置。
[0007]上述的目的通过以下的技术方案实现:
[0008]一种用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，其组成包括:2个底座，所述的底座通过底座固定螺柱固定支撑外电极，所述的外电极贴在薄膜试样上，所述的薄膜试样上同时贴有内电极，所述的内电极通过内电极固定杆支撑，所述的内电极与所述的外电极之间具有用于红外光谱仪研宄材料表面导电过程中微观谱带变化时的光通路的孔隙。
[0009]所述的用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，所述的内电极与所述的内电极固定杆之间通过内电极螺柱连接，所述的内电极螺柱旋进所述的内电极圆心并插入所述的内电极固定杆上端的圆形孔洞中。
[0010]所述的用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，所述的底座与所述的内电极固定杆为一体。
[0011]有益效果:
[0012]1.本实用新型是利用现有仪器的光路条件，在相关样品池的可用空间内，完成当材料表面导电时被测试样的分子间发生相互作用时的化学变化过程的附件，将被测样品保持在一定的电压作用下，达到在薄膜材料表面导电过程中，利用红外光谱仪来测试材料表面导电过程中内部微观结构的变化情况。
[0013]本实用新型底座与红外光谱仪样品舱的可用空间相对应，对试样进行
[0014]红外光谱测试时直接将本实用新型放在入红外光谱仪的样品舱内即可，方便实用。
[0015]本实用新型底座与外电极相接触，所述的底座对外电极起到支撑与绝
[0016]缘的作用，是为了避免外电极与需要绝缘的红外光谱仪等部件接触，因为在测试过程中，当金属电极施加上电压时只能与试样接触，不能与其它器件相接触，底座起到了电气绝缘和机械支撑作用。底座由玻璃钢层压厚板加工制成，底座内槽与圆环形外电极的形状及尺寸要非常匹配，玻璃钢层压板具有优异的电绝缘性能和机械性能，能够完全满足测试支撑定位和绝缘要求。
[0017]本实用新型外电极与薄膜试样平整紧密贴合。所述的两个外电极之间
[0018]与所述的薄膜试样紧密贴和，以便在试样表面施加上试验电压。
[0019]本实用新型内电极由固定杆支撑。内电极与固定杆的连接装置是一个
[0020]能够旋进圆形内电极螺柱，旋进点为内电极圆心位置，从内电极延伸出来的螺柱插入固定杆上端的圆形孔洞中。孔洞的内径与从内电极延伸出来的螺柱的外径尺寸严格精密匹配，以便保证内电极稳定的与试样贴紧。固定杆由玻璃钢层压厚板加工而成，与底座是一体的。
[0021]本实用新型内电极由金属制造，内电极与薄膜试样平整贴紧，所述的
[0022]两个内电极之间与所述的薄膜试样贴紧以方便施加试验电压。
[0023]【附图说明】:
[0024]附图1是本实用新型的结构示意图。
[0025]附图2是附图1的左视图。
[0026]附图3是附图1的俯视图。
[0027]【具体实施方式】:
[0028]实施例1:
[0029]一种用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，其组成包括:2个底座6，所述的底座通过底座固定螺柱7固定支撑外电极2，所述的外电极贴在薄膜试样I上，所述的薄膜试样上同时贴有内电极4，所述的内电极通过内电极固定杆5支撑，所述的内电极与所述的外电极之间具有用于红外光谱仪研宄材料表面导电过程中微观谱带变化时的光通路的孔隙3。
[0030]实施例2:
[0031]根据实施例1所述的用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，所述的内电极与所述的内电极固定杆之间通过内电极螺柱连接，所述的内电极螺柱旋进所述的内电极圆心并插入所述的内电极固定杆上端的圆形孔洞中。
[0032]实施例3:
[0033]根据实施例1或2所述的用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，所述的底座与所述的内电极固定杆为一体。
【主权项】
1.一种用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，其组成包括:2个底座，其特征是:所述的底座通过底座固定螺柱固定支撑外电极，所述的外电极贴在薄膜试样上，所述的薄膜试样上同时贴有内电极，所述的内电极通过内电极固定杆支撑，所述的内电极与所述的外电极之间具有用于红外光谱仪研宄材料表面导电过程中微观谱带变化时的光通路的孔隙。
2.根据权利要求1所述的用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，其特征是:所述的内电极与所述的内电极固定杆之间通过内电极螺柱连接，所述的内电极螺柱旋进所述的内电极圆心并插入所述的内电极固定杆上端的圆形孔洞中。
3.根据权利要求1或2所述的用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置，其特征是:所述的底座与所述的内电极固定杆为一体。
【专利摘要】用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量装置。现有的红外光谱仪未配备研究材料表面导电过程中微观结构的谱带变化的附件不能研究在材料表面导电时被测试样的分子间发生相互作用时的化学变化过程。本实用新型的组成包括：2个底座（6），所述的底座通过底座固定螺柱（7）固定支撑外电极（2），所述的外电极贴在薄膜试样（1）上，所述的薄膜试样上同时贴有内电极（4），所述的内电极通过内电极固定杆（5）支撑，所述的内电极与所述的外电极之间具有用于红外光谱仪研究材料表面导电过程中微观谱带变化时的光通路的孔隙（3）。本实用新型用于红外光谱仪的材料表面导电性能测量。
【IPC分类】G01N21-25
【公开号】CN204405533
【申请号】CN201520118095
【发明人】李子帙, 李亮亮, 施玉红
【申请人】哈尔滨理工大学
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2015年2月27日