所述三极管Ql的基极通过串联的电阻R7和开关S2与电源电路2的+5V电压输出端相接，且通过电阻R3接地；所述三极管Ql的集电极通过电阻Rl与电源电路2的+5V电压输出端相接，所述三极管Ql的发射极与光耦隔离芯片U3的第I引脚相接，所述光耦隔离芯片U3的第2引脚接地，所述光耦隔离芯片Ul的第3引脚接地，所述光耦隔离芯片U3的第4引脚为第二继电器驱动电路4-2的输出端。
[0031]如图2所示，本实施例中，所述施密特触发器3包括芯片74LS19、电容Cl、电阻R6和电阻R8，所述芯片74LS19的第I引脚为施密特触发器3的输入端且通过并联的电阻R8和电容Cl接地，所述芯片74LS19的第2引脚为施密特触发器3的输出端CPLD_I_01且通过电阻R6接地。
[0032]本实施例中，所述数据收发器I为ARM芯片、DSP芯片、CPLD芯片或FPGA芯片。
[0033]如图3所示，本实施例中，所述晶闸管故障指示电路5由发光二极管Dl和电阻RlO组成，所述电阻RlO的一端为晶闸管故障指示电路5的输入端CPLD_0_Y0，所述电阻RlO的另一端与发光二极管Dl的阳极相接，所述发光二极管Dl的阴极接地。
[0034]如图4所示，本实施例中，所述晶闸管状态信号传输电路6包括芯片DS2450，所述芯片DS2450的第5引脚为晶闸管状态信号传输电路6的输入端CPLD_0_Y1，所述芯片DS2450的第3引脚为晶闸管状态信号传输电路6的输出端DATA且通过电阻Rll与电源电路2的+5V电压输出端相接。具体实施时，所述芯片DS2450的第I引脚与电源电路2的+5V电压输出端相接，所述芯片DS2450的第4引脚接地。芯片DS2450实现的是单总线的传输方式，传输距离能够达到50m。
[0035]本实用新型进行晶闸管故障检测的原理为:当晶闸管控制级未加触发控制脉冲时，晶闸管的击穿与否，会表现出不同的电阻值，晶闸管击穿时，自身的电阻值大小一般在几十欧姆到几百欧姆之间，晶闸管未击穿时，其电阻值一般为几千欧姆，通过检测晶闸管的电阻值大小就能够判断晶闸管击穿与否。
[0036]本实用新型使用时，当要对晶闸管SCR进行故障检测时，闭合开关SI和开关S2，三极管Ql和三极管Q2均处于导通状态，光耦隔离芯片Ul和光耦隔离芯片U3均处于导通状态，当晶闸管SCR击穿时，由于晶闸管SCR的自身电阻值较小，因此继电器Kl和继电器K2的常开触点闭合，光耦隔离芯片U2也处于导通状态，此时晶闸管状态检测电路4输出高电平；此高电平送入施密特触发器3后，施密特触发器3的输出端CPLD_I_01输出低电平，并输出给数据收发器1，当数据收发器I接收到施密特触发器3输出的低电平信号时，判断为晶闸管SCR击穿，发光二极管Dl点亮，指示晶闸管SCR击穿，出现了故障；当晶闸管SCR未击穿时，由于晶闸管SCR的自身电阻值较大，因此继电器Kl和继电器K2的常开触点还处于打开状态，光耦隔离芯片U2不导通，此时晶闸管状态检测电路4输出低电平；此低电平送入施密特触发器3后，施密特触发器3的输出端CPLD_I_01输出高电平，并输出给数据收发器1，当数据收发器I接收到施密特触发器3输出的高电平信号时，判断为晶闸管SCR未击穿。以上数据收发器I接收到的晶闸管状态信号还能够通过晶闸管状态信号传输电路6传输出去，供50m距离内的设备接收和作进一步的分析处理。
[0037]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型作任何限制，凡是根据本实用新型技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。
【主权项】
1.一种中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:包括数据收发器(I)和为电路中各用电模块供电的电源电路(2)，所述数据收发器(I)的输入端接有施密特触发器(3)，所述施密特触发器(3)的输入端接有用于对中频电炉晶闸管的工作状态进行实时检测的晶闸管状态检测电路(4)，所述数据收发器(I)的输出端接有晶闸管故障指示电路(5)和晶闸管状态信号传输电路￠);所述晶闸管状态检测电路(4)包括常开触点串联在晶闸管的供电回路中的继电器Kl和继电器K2，以及用于驱动继电器Kl的第一继电器驱动电路(4-1)、用于驱动继电器K2的第二继电器驱动电路(4-2)和型号为TPL521-1的光耦隔离芯片U2，所述继电器Kl的线圈的一端与光耦隔离芯片U2的第2引脚相接，所述光耦隔离芯片U2的第I引脚与第一继电器驱动电路(4-1)的输出端相接，所述继电器Kl的线圈的另一端与继电器K2的线圈的一端相接，所述继电器K2的线圈的另一端与第二继电器驱动电路(4-2)的输出端相接；所述光耦隔离芯片U2的第4引脚与电源电路⑵的+5V电压输出端相接，所述光耦隔离芯片U2的第3引脚为晶闸管状态检测电路(4)的输出端。
2.按照权利要求1所述的中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:所述第一继电器驱动电路(4-1)包括开关S1、三极管Q2和型号为TPL521-1的光耦隔离芯片U1，所述三极管Q2的基极通过串联的电阻R5和开关SI与电源电路(2)的+5V电压输出端相接，且通过电阻R9接地；所述三极管Q2的集电极与电源电路(2)的+5V电压输出端相接，所述三极管Q2的发射极通过电阻R4与光耦隔离芯片Ul的第I引脚相接，所述光耦隔离芯片Ul的第2引脚接地，所述光耦隔离芯片Ul的第4引脚通过电阻R2与电源电路⑵的+12V电压输出端相接，所述光耦隔离芯片Ul的第3引脚为第一继电器驱动电路(4-1)的输出端。
3.按照权利要求1所述的中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:所述第二继电器驱动电路(4-2)包括开关S2、三极管Ql和型号为TPL521-1的光耦隔离芯片U3，所述三极管Ql的基极通过串联的电阻R7和开关S2与电源电路(2)的+5V电压输出端相接，且通过电阻R3接地；所述三极管Ql的集电极通过电阻Rl与电源电路(2)的+5V电压输出端相接，所述三极管Ql的发射极与光耦隔离芯片U3的第I引脚相接，所述光耦隔离芯片U3的第2引脚接地，所述光耦隔离芯片Ul的第3引脚接地，所述光耦隔离芯片U3的第4引脚为第二继电器驱动电路(4-2)的输出端。
4.按照权利要求1所述的中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:所述施密特触发器(3)包括芯片74LS19、电容Cl、电阻R6和电阻R8，所述芯片74LS19的第I引脚为施密特触发器(3)的输入端且通过并联的电阻R8和电容Cl接地，所述芯片74LS19的第2引脚为施密特触发器(3)的输出端且通过电阻R6接地。
5.按照权利要求1所述的中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:所述数据收发器(I)为ARM芯片、DSP芯片、CPLD芯片或FPGA芯片。
6.按照权利要求1所述的中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:所述晶闸管故障指示电路(5)由发光二极管Dl和电阻RlO组成，所述电阻RlO的一端为晶闸管故障指示电路(5)的输入端，所述电阻RlO的另一端与发光二极管Dl的阳极相接，所述发光二极管Dl的阴极接地。
7.按照权利要求1所述的中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，其特征在于:所述晶闸管状态信号传输电路(6)包括芯片DS2450，所述芯片DS2450的第5引脚为晶闸管状态信号传输电路(6)的输入端，所述芯片DS2450的第3引脚为晶闸管状态信号传输电路(6)的输出端且通过电阻Rll与电源电路(2)的+5V电压输出端相接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种中频电炉晶闸管故障检测及数传电路，包括数据收发器和电源电路，数据收发器的输入端接有施密特触发器，施密特触发器的输入端接有晶闸管状态检测电路，数据收发器的输出端接有晶闸管故障指示电路和晶闸管状态信号传输电路；晶闸管状态检测电路包括常开触点串联在晶闸管的供电回路中的继电器K1和继电器K2，以及第一继电器驱动电路、第二继电器驱动电路和光耦隔离芯片U2，光耦隔离芯片U2的第1引脚与第一继电器驱动电路的输出端相接，继电器K1的线圈的另一端与继电器K2的线圈的一端相接，继电器K2的线圈的另一端与第二继电器驱动电路的输出端相接。本实用新型检测效率高，耗费的人力物力少，检测结果直观。
【IPC分类】G01R31-26
【公开号】CN204595156
【申请号】CN201520341912
【发明人】王斌, 牛坤, 张军亮, 王振, 张向阳, 倪云峰, 叶新民
【申请人】淮北市华明工业变频设备有限公司
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年5月25日