样品测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种样品分析检测领域，特别涉及一种样品测量装置。
【背景技术】
[0002]光谱技术可对样品进行分析检测，其可以用于检测包括呈气态、液态、固态及两种及以上混合物的物化性质。吸收光谱是实用性很强的一种光谱技术，其基本原理是:假设在光的散射作用可以被忽略的前提下，将入射光通过一定长度的待测样品，然后测量透射光辐射的强度，所述透射光相对于入射光辐射的强度的衰减定义为吸收。通过对吸收光的定性和定量分析能够获得待测样品的相应物化性质。基于所述吸收光谱技术设计制造的光谱仪器可应用的领域众多，包括电厂、环保、水泥厂、石化化工、玻璃制造等行业。
[0003]所述光谱仪器实际使用时，将一束一定频率的光照射在待测样品上，样品中的介质与电磁波作用，介质内部吸收电磁波辐射的能量而发生量子化的能级跃迀，从低能级跃迀到高能级。不同介质的分子(原子)结构不同所决定的其能量级差也不同，从而决定了可吸收的光的频率也不同，通过测量被吸收的光的波长和强度，可以得到被测介质的特征吸收光谱，通过对吸收光谱进行定性定量分析，能够得到分子(原子)的绝对浓度和绝对吸收截面等信息。
[0004]在实际的工业过程中，由于环境复杂多变，要求光谱仪器具有较强的通用性，以此满足不同平台的使用。然而目前市场上存在光谱仪器其通用性较差，针对不同的测量环境，通常需要制造不同的光谱仪器来分别进行检测分析。
[0005]为此，有必要提出一种能够满足通用性要求的光谱测量仪器。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型的目的是提供一种样品测量装置，其能够满足通用性要求。
[0007]本实用新型的上述目的可采用下列技术方案来实现:
[0008]一种样品测量装置，包括:光源、第一光学元件、第二光学元件、回返光学元件和检测单元，其中，所述光源发出的光辐射依次经过所述第一光学元件、第二光学元件并形成主光路；所述第一光学元件、第二光学元件将所述主光路分为输入段、过渡段和测量段；所述主光路被回返光学元件反射后形成反射光路，所述反射光路在过渡段和测量段与主光路平行；沿着所述主光路方向上，所述第一光学元件至第二光学元件之间的距离调节时，或第二光学元件至回返光学元件之间的距离调节时，反射光路与主光路保持平行；所述检测单元包括第一探测器，所述第一探测器能接收主光路与待测样品相互作用后的光辐射。
[0009]在优选的实施方式中，所述光源为激光、LED、氙灯、红外光源、超辐射光源、SLED,宽带光源中的任一种或几种组合。
[0010]在优选的实施方式中，所述第一光学元件的两个通光面非平行，所述通光面能将所述光源发出的光福射分束，分为第一光路、第二光路和主光路。
[0011]在优选的实施方式中，所述第一光路上设置有能容置标准样品的参考室；
[0012]所述检测单元还包括与所述参考室相适配的第二探测器，所述第二探测器用于检测所述第一光路与所述标准样品相互作用后的光辐射。
[0013]在优选的实施方式中，所述检测单元还包括第三探测器，其设置在所述第二光路上，用于接收所述第二光路的光辐射。
[0014]在优选的实施方式中，所述第二光学元件为光焦度为零的光学元件，包括平板玻璃、弯月透镜、反射棱镜、单楔形窗、双楔形窗、望远镜光学组中的任意一种或多种组合。
[0015]在优选的实施方式中，所述第二光学元件的通光面均为平面。
[0016]在优选的实施方式中，所述回返光学元件为回返棱镜、直角棱镜、角锥棱镜、内反射膜反射镜、内反射膜直角镜、内反射膜三面镜中的任意一种或多种组合。
[0017]在优选的实施方式中，所述回返光学元件包含待测样品接触面和光学反射面，所述待测样品接触面和光学反射面在结构上是分离的。
[0018]在优选的实施方式中，所述回返光学元件的光学反射面为全反射面和/或镀有内反射膜。
[0019]本实用新型的特点和优点是:本实用新型所述样品测量装置通过设置光源、第一光学元件、第二光学元件、回返光学元件和检测单元。所述光源发出的光辐射依次经过所述第一光学元件、第二光学元件并形成主光路；所述第一光学元件、第二光学元件将所述主光路分为输入段、过渡段和测量段，所述主光路被回返光学元件反射后形成反射光路，所述反射光路在过渡段和测量段与主光路平行沿着所述主光路方向上，所述第一光学元件至第二光学元件之间的距离，或第二光学元件至回返光学元件之间的距离可调节，当调节所述第一光学元件至第二光学元件之间的距离，或第二光学元件至回返光学元件之间的距离时，所述反射光路在过渡段和测量段与相应的主光路保持平行，使得所述样品测量装置位于主光路的光学元件沿着所述主光路的方向移动时，不会对整个光路有任何影响，其能够根据实际使用环境设置所述第一光学元件至第二光学元件之间的距离，或第二光学元件至回返光学元件之间的距离以适应不同的检测环境，因而整个样品测量装置具有较好的通用性。
[0020]本实用新型还有一个附加的特点和优点是:本实用新型所述的第二光学元件的样品接触面能耐腐蚀耐污染、且所述回返光学元件的样品接触面和反射面在结构上是分离的，所述回返光学元件的样品接触面也能耐腐蚀耐污染。因而整个样品测量装置具有极强的环境适应性，可以长期可靠的应用在工业过程领域。
【附图说明】
[0021]图1A是本实用新型实施例中一种样品测量装置的光路传播主视图；
[0022]图1B是本实用新型实施例中一种样品测量装置的光路传播俯视图；
[0023]图2是现有技术中一种反射镜的光路传播示意图；
[0024]图3是本实用新型实施例中一种样品测量装置中回返光学元件的光路传播示意图；
[0025]图4是本实用新型实施例中一种样品测量装置中回返光学元件的结构示意图；
[0026]图4.1是全反射原理示意图；
[0027]图5A是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件的主视图；
[0028]图5B是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件的左视图；
[0029]图6是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0030]图7是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0031]图8是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0032]图9是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0033]图10是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0034]图11是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0035]图12A是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件布置示意图；
[0036]图12B是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播不意图；
[0037]图13A是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件布置示意图；
[0038]图13B是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播不意图；
[0039]图14是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0040]图15是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件内部的光路传播示意图；
[0041]图16A是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件主视图；
[0042]图16B是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件俯视图；
[0043]图17A是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件主视图；
[0044]图17B是本实用新型实施例中一种样品测量装置中第二光学元件俯视图；
[0045]图18是本实用新型实施例中一种样品测量系统布置图。
【具体实施方式】
[0046]下面将结合附图和具体实施例，对本实用新型的技术方案作详细说明，应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围，在阅读了本实用新型之后，本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落入本申请所附权利要求所限定的范围内。
[0047]本实用新型的目的是提供一种样品测量装置，其能够满足通用性要求。