一种探针检测治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检测治具应用领域，尤其涉及一种用于PCB开短路测试的探针检测治具。
【背景技术】
[0002]目前，现有的PCB的开短路测试检测治具存在如下缺点:一是该检测治具中的最小测试探针的直径一般为0.15mm，在高精密PCB的产品中该测试探针因直径过大而无法进行正常的检测；二是该检测治具的测试探针一般不具备精准的卡环设计，而固定测试探针的黑胶棉无法起到稳定固定的作用，黑胶棉老化后，会导致测试探针掉落，从而导致压伤或损坏所要测试的产品。
[0003]在2011.07.06公告的、公告号为CN20189269U的中国实用新型专利中，公开了一种改良的探针检测结构，是指检测治具的针板内设有预定数目的检测用探针、供探针复位的弹性组件、及供检测值传输至检测机的导线；其中，针板包含有中间承板、底板和面板，它们相互通过数轴销穿置结合，该中间承板设有容纳孔供弹性组件容置，该底板位于中间承板下方承接着弹性组件，设有与中间承板的容纳孔对应并呈较小的穿孔，该导线一端连接在弹性组件一端，另端连接在检测机或接头；其特征在于:该面板设有上板、下板和夹设在上、下板之间的弹性薄板，在上、下板分别设有与弹性组件相对应的针孔，该探针一端设为尖锥体，是由面板的上板针孔处插入，并刺破弹性薄板和经过下板针孔而插置在对应弹性组件的一端内径位置。本实用新型制作更具简易、方便和经济性，及可使探针高密度的布设在检测治具，并对具有高密度被检测点的被测物实施精准、确实检测效果，从而更加适于实用。
[0004]但该检测结构是在针板内设置更多数目的探针，以高密度的布设来实现，因此，其仍没有解决现有检测治具中测试探针直径过大和固定不稳定的缺点。
【发明内容】
[0005]为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种探针检测治具，已达到减小测试探针的直径，使其在高精密PCB的产品中正常检测，并且使测试探针固定得更稳定，避免其掉落的目的。
[0006]为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是:一种探针检测治具，包括被测电路板、探针装置和连接器，所述探针装置包括针盘、探针和线盘，所述针盘内设置有卡住所述探针的卡槽，所述探针直径设置为0.08mm，所述探针下部的八分之一处设置有卡环；所述线盘设置在所述针盘的下方，所述线盘内设置有与所述探针位置相配合的弹簧，所述弹簧的底端与所述连接器电连接，所述探针通过压入弹簧内与所述连接器通电连接进而对被测电路板进行开短路检测。通过将探针的直径设置为0.08_，使其在高精密PCB的产品中可正常的检测，探针可高密度分布，使其更高效的进行检测；在探针的下部设置有卡环，卡环可较好的控制探针的突量，使探针固定的更加稳定，避免其掉落，也避免了压伤或损坏所要测试的产品，有效的提升了测试的良品率。
[0007]进一步地，所述针盘设置为堆栈的板材结构，其包括面板、间隔层、导引层和挡针层，针盘采取多层堆栈的结构，以此替代传统的黑胶棉，减少了探针上下运行的阻力，使探针运行更加顺畅。
[0008]进一步地，所述针盘还包括一备用调节板，以调节探针露出所述面板的高度。
[0009]进一步地，所述针盘相邻两层之间设置有铜支柱，以铜支柱相连接及密合，使针盘更加牢固，还可使板材公差的可控范围更小，保证了探针的突出量，有效的控制针痕。
[0010]进一步地，所述弹簧的表面镀有一镀金层，以增强弹簧的通导性。
【附图说明】
[0011 ] 图1为本实施例的结构示意图。
[0012]图中:
[0013]1-被测电路板；2_探针装置；3_连接器；4-针盘；5-探针；6-线盘；7-卡槽；8-卡环；9-弹簧。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0015]参见附图1所示，本实施例的一种探针检测治具，包括被测电路板1、探针装置2和连接器3，探针装置I包括针盘4、探针5和线盘6，针盘4内设置有卡住探针5的卡槽7，针盘4设置为多层堆栈的板材结构，可减少探针5上下运行的阻力，使探针5运行更加顺畅；针盘4包括面板、间隔层、备用调节板、导引层和挡针层，面板位于自上而下的第一层，为测试点定位层，间隔层和导引层均设置有六层，间隔层与导引层穿插设置，备用调节板设置在面板与最上方的间隔层之间，以调节探针5露出面板的高度，挡针层位于最下层，防止探针5掉落；针盘4相邻两层之间设置有铜支柱，以铜支柱相连接及密合，使针盘4更加牢固，还可使板材公差的可控范围更小，保证了探针5的突出量，有效的控制针痕。探针5直径设置为0.08mm，使其在高精密PCB的产品中可正常的检测，探针5可高密度分布，使其更高效的进行检测；探针5下部的八分之一处设置有卡环8，卡环8可较好的控制探针5的突量，使探针5固定的更加稳定，避免其掉落，也避免了压伤或损坏所要测试的产品，提升了测试的良品率；线盘6设置在针盘4的下方，线盘6内设置有与探针5位置相配合的弹簧9，弹簧9的表面镀有一镀金层，以增强弹簧9的通导性，弹簧9的底端与连接器3电连接，探针5通过压入弹簧9内与连接器3通电连接，进而对被测电路板I进行开短路检测。
[0016]以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种探针检测治具，包括被测电路板(I)、探针装置(2)和连接器(3)，其特征在于:所述探针装置(2 )包括针盘(4 )、探针(5 )和线盘(6 )，所述针盘(4 )内设置有卡住所述探针(5)的卡槽(7)，所述探针(5)直径设置为0.08_，所述探针(5)下部的八分之一处设置有卡环(8);所述线盘(6)设置在所述针盘(4)的下方，所述线盘(6)内设置有与所述探针(5)位置相配合的弹簧(9 )，所述弹簧(9 )的底端与所述连接器(3 )电连接，所述探针(5 )通过压入弹簧(9 )内与所述连接器(3 )通电连接进而对被测电路板(I)进行开短路检测。2.根据权利要求1所述的一种探针检测治具，其特征在于:所述针盘(4)设置为堆栈的板材结构，其包括面板、间隔层、导引层和挡针层。3.根据权利要求2所述的一种探针检测治具，其特征在于:所述针盘(4)还包括一备用调节板，以调节探针露出所述面板的高度。4.根据权利要求3所述的一种探针检测治具，其特征在于:所述针盘(4)相邻两层之间设置有铜支柱。5.根据权利要求1所述的一种探针检测治具，其特征在于:所述弹簧(9)的表面镀有一镀金层。
【专利摘要】本实用新型公开了一种探针检测治具，包括被测电路板（1）、探针装置（2）和连接器（3），探针装置（2）包括针盘（4）、探针（5）和线盘（6），针盘（4）内设置有卡住探针（5）的卡槽（7），探针（5）直径设置为0.08mm，探针（5）下部的八分之一处设置有卡环（8）；线盘（6）设置在针盘（4）的下方，线盘（6）内设置有与探针（5）位置相配合的弹簧（9），弹簧（9）的底端与连接器（3）电连接，探针（5）通过压入弹簧（9）内与连接器（3）通电连接进而对被测电路板（1）进行开短路检测。本实用新型减小了探针的直径，使其在高精密PCB的产品中正常检测，并使探针固定得更稳定，避免其掉落。
【IPC分类】G01R1/073
【公开号】CN204758649
【申请号】CN201520447950
【发明人】苏军梅
【申请人】深圳市芽庄电子有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年6月26日