一种异形管状组件的光学测量定位装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于一种定位装置，具体涉及一种异形管状组件的光学测量定位装置。
【背景技术】
[0002]目前，在工程技术中，对于异形管状组件的测量，大多采用影像测量仪进行非接触式测量，在测量过程中，常需要借助辅助装置进行定位，而现有的定位装置在使用过程中，存在以下不足:定位元件不是一体式结构，在进行装配时，定位装置无法稳定的固定在影像测量仪的工作台上，致使工作台在移动过程中容易造成定位装置的晃动，影响了定位以及测量数据的准确性；另外，由于工件反光或者外部光线的影响，通常需要采用下光进行采点，容易出现定位装置透光不均匀，影响了采点的准确性。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种异形管状组件的光学测量定位装置。
[0004]本实用新型的技术方案是:一种异形管状组件的光学测量定位装置，包括底板，底板的两侧分别设置有竖直的侧板，两个侧板的顶部设置有上定位板，所述的底板为“ Π ”形，并且沿前端向内形成凹槽，底板的两侧形成向前凸出的端部，两个相对的侧板之间的底板上形成四个均布的下透光孔，底板右侧的前表面设置有一个强力磁铁，底板右侧的侧表面设置有两个强力磁铁；所述上定位板的上表面呈阶梯状，上表面的前端形成低端面，上表面的后端形成高端面，高端面上形成四个均布的上定位孔，每个上定位孔的周围形成四个均布的上透光孔，每个上定位孔靠近低端面的一侧形成开口。
[0005]所述的下透光孔与上定位孔的上、下位置对应。
[0006]所述的下透光孔的直径大于上定位孔的直径。
[0007]所述的上定位孔的直径大于上透光孔的直径。
[0008]本实用新型在底板内安装强力磁铁，使定位装置稳固的吸附在工作台一侧，不但消除了现有技术中装配误差对测量结果的影响，也避免了工作台在移动过程中的震动对测量结果准确性的影响；设置上透光孔和下透光孔，增加透光量的同时使透光更加均匀，保证了影像测量仪采点的准确性。
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型的立体图；
[0010]图2是本实用新型中底板的俯视图；
[0011]图3是本实用新型中顶板的俯视图。
[0012]图中:
[0013]I底板Ia凹槽
[0014]Ib端部2侧板
[0015]3上定位板3a低端面
[0016]3b高端面4开口
[0017]5上透光孔6上定位孔
[0018]7强力磁铁8下透光孔。
【具体实施方式】
[0019]下面，参照附图及实施例对本实用新型的一种异形管状组件的光学测量定位装置进行详细说明。
[0020]如图1?3所示，一种异形管状组件的光学测量定位装置，包括底板1，底板I的两侧分别设置有竖直的侧板2，两个侧板2的顶部设置有上定位板3。所述的底板I为“ π ”形，沿前端向内形成凹槽la，底板I的两侧形成向前凸出的端部lb，两个相对的侧板2之间的底板I上形成四个均布的下透光孔8，底板I右侧的前表面设置有一个强力磁铁7，底板I右侧的侧表面设置有两个强力磁铁7。侧板2的侧面呈长方形。
[0021]所述上定位板3的上表面呈阶梯状，上表面的前端形成低端面3a，上表面的后端形成高端面3b，在高端面3b上形成四个均布的上定位孔6，每个上定位孔6的周围形成四个均布的上透光孔5，每个上定位孔6靠近低端面3a的一侧形成开口 4。
[0022]所述下透光孔8与上定位孔6的上、下位置对应。下透光孔8的直径大于上定位孔6的直径。
[0023]所述上定位孔6的直径大于上透光孔5的直径。
[0024]本实用新型使用时，使底板I上的强力磁铁7吸附在影像测量仪(未图示)侧面，完成固定步骤后，将异形管状组件竖直插入上定位孔6中，观察上定位板3上表面和开口 4的前侧面，对异形管状组件进行定位，此时上透光孔5和下透光孔8的透光量充足，然后使用影像测量仪进行采点，进行数据测量。
[0025]本实用新型在底板内安装强力磁铁，使定位装置稳固的吸附在工作台一侧，不但消除了现有技术中装配误差对测量结果的影响，也避免了工作台在移动过程中的震动对测量结果准确性的影响；设置的上透光孔和下透光孔，增加透光量的同时使透光更加均匀，保证了影像测量仪采点的准确性。
【主权项】
1.一种异形管状组件的光学测量定位装置，包括底板(1)，底板(I)的两侧分别设置有竖直的侧板(2)，两个侧板(2)的顶部设置有上定位板(3)，其特征在于:所述的底板(I)为“Π”形，并且沿前端向内形成凹槽(la)，底板(I)的两侧形成向前凸出的端部(lb)，两个相对的侧板(2)之间的底板(I)上形成四个均布的下透光孔(8)，底板(I)右侧的前表面设置有一个强力磁铁(7 )，底板(I)右侧的侧表面设置有两个强力磁铁(7 );所述上定位板(3 )的上表面呈阶梯状，上表面的前端形成低端面(3a)，上表面的后端形成高端面(3b)，高端面(3b)上形成四个均布的上定位孔(6)，每个上定位孔(6)的周围形成四个均布的上透光孔(5 )，每个上定位孔(6 )靠近低端面(3a)的一侧形成开口( 4 )。2.根据权利要求1所述的异形管状组件的光学测量定位装置，其特征在于:所述的下透光孔(8)与上定位孔(6)的上、下位置对应。3.根据权利要求1所述的异形管状组件的光学测量定位装置，其特征在于:所述的下透光孔(8)的直径大于上定位孔(6)的直径。4.根据权利要求1所述的异形管状组件的光学测量定位装置，其特征在于:所述的上定位孔(6)的直径大于上透光孔(5)的直径。
【专利摘要】本实用新型公开了一种异形管状组件的光学测量定位装置，包括底板，其两侧设置竖直的侧板，两个侧板顶部设置上定位板，底板为“ㄇ”形，且沿前端向内形成凹槽，底板两侧形成向前凸出的端部，两个相对侧板之间的底板上形成均布的下透光孔，底板右侧前表面设置一个强力磁铁，底板右侧侧表面设置两个强力磁铁；上定位板上表面呈阶梯状,上表面的前端形成低端面,后端形成高端面，高端面上形成均布的上定位孔，上定位孔周围形成均布的上透光孔，上定位孔靠近低端面的一侧形成开口。本实用新型消除了装配误差对测量结果的影响，避免了工作台在移动过程中的震动对测量结果的影响，增加透光量的同时使透光更加均匀，保证了影像测量仪采点的准确性。
【IPC分类】G01D11/00, H01F7/00
【公开号】CN204788437
【申请号】CN201520485777
【发明人】王建, 杨超, 张连飞
【申请人】中核（天津）机械有限公司
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2015年7月8日