一种平面度检测装置的制造方法
【专利说明】
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检测装置领域，特别是涉及一种平面度检测装置。
【【背景技术】】
[0002]随着手机等电子产品的品种越来越丰富，产品的外观越来越多样化，其外壳等部件也越来越精密。因此电子产品的各配件对平面度等参数要求越来越高，而在实际生产中如何高效率地检测产品的平面度等参数也是一个急需解决的问题。
[0003]现有技术中，对平面度的检验主要是平台加塞规的方式，这种方式对产品的平面检测比较有效，但是这方式的检测只局限于是在同一面上。另外，手工测量导致测量速度较慢，并且不同人员操作容易导致不良漏出。
[0004]鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。
【【实用新型内容】】
[0005]本实用新型要解决的技术问题是提供一种高效率的平面度检测装置。
[0006]本实用新型采用如下技术方案:
[0007]—种平面度检测装置，用于检测零件的平面度，零件包括一上待测面，平面度检测装置的特征在于:
[0008]上滑轨，上滑轨的底部设置有上凹槽，上凹槽底面包括一上检测平面；
[0009]下滑轨，下滑轨的顶部设置有下凹槽，下滑轨的顶部与上滑轨的底部相扣，以使得下滑轨的下凹槽与上滑轨的上凹槽组成中空区域；
[0010]上待测面与上检测平面相配合，以使得当上待测面的平面度符合要求时，允许上待测面从上检测平面表面滑过，零件通过该中空区域。
[0011 ]优选地，上滑轨与下滑轨通过螺栓固定。
[0012]优选地，零件为宽度方向一致的部件，中空区域为宽度一致的结构。
[0013]优选地，零件还包括一下待测面，下待测面与上待测面互相平行，下滑轨的下凹槽包括一下检测平面，以使得零件通过中空区域时，下待测面从下检测平面滑过。
[0014]优选地，平面度检测装置还包括一支架，该支架位于上滑轨与下滑轨的底部，使得上滑轨与下滑轨保持倾斜。
[0015]优选地，零件为手机外壳。
[0016]与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于:本实用新型中平面度检测装置包括上滑轨与下滑轨，上滑轨的上凹槽与下滑轨的下凹槽组成中空区域。当零件的上待测面的平面度符合要求，此时零件的上带检测面从上凹槽的上检测平面表面滑过，零件可以从中空区域通过;反之则不可以。本平面度检测装置实现了高效地检测零件的平面度。
【【附图说明】】
[0017]图1为本实用新型的平面度检测装置的一个实施例的立体结构图；
[0018]图2为图1所示零件200的立体结构图；
[0019]图3为图1所示上滑轨110的立体结构图；
[0020]图4为图1所示下滑轨120的立体结构示意图；
[0021]图5为图1中的下滑轨120与上滑轨110组合结构示意图。
【【具体实施方式】】
[0022]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0023]实施例1:
[0024]本实用新型实施例1提供了一种平面度检测装置。请参阅图1，图1为本实用新型的平面度检测装置的一个实施例的立体结构图，如图1所示，平面度检测装置包括上滑轨110和下滑轨120，用于检测零件200的平面度。
[0025]图2为图1所示零件200的立体结构图，如图2所示，这里的零件200具体为手机外壳。该手机外壳200包括一上待测面210，具体地，这个上待测面210为手机外壳200使用中与其他部件相扣的面，因此该表面一般需要较高的平面度要求。
[0026]图3为图1所示上滑轨110的立体结构图，如图3所示，为了实现测量平面度，上滑轨11 ο的底部设置有上凹槽111，上凹槽111底面包括一上检测平面111a。图4为图1所示下滑轨120的立体结构示意图，如图4所示，下滑轨120的顶部设置有下凹槽121。图5为图1中的下滑轨120与上滑轨110组合结构示意图，结合图1与图5可以看出，下滑轨120的顶部与上滑轨110的底部相扣，此时下滑轨120的下凹槽121与上滑轨110的上凹槽111组成中空区域140。
[0027]如图1所示，当零件200放置于下滑轨120上，上待测面210与上检测平面11 la相配合，例如二者设定一定的间隙值。当上待测面210的平面度符合要求时，上待测面210的比较平整，可以允许上待测面210从上检测平面11 la表面滑过，零件200此时可以通过中空区域140。相反，当上待测面210的平面度不符合要求时，由于上待测面210的不平整，上待测面210不能从上检测平面111a表面滑过，零件200此时不能通过中空区域140。因此，本实用新型实施例中的平面度检测装置不用直接去测量待测面的平面度，而就可以高效率地检测出零件200的平面度是否符合要求。
[0028]在本实施例中，零件200为宽度方向一致的部件，相对应地，中空区域140为宽度一致的结构。这种结构的零件200比较容易在中空区域140内滑动，中空区域140也可以同时检测零件200的宽度一致性，是一种优选地结构。
[0029]本实施例中的零件200还包括一下待测面，这里的下待测面具体地为手机外壳的背面。下待测面与上待测面210互相平行，同时下滑轨120的下凹槽121包括一下检测平面121a，当零件200通过中空区域时，下待测面从下检测平面121a滑过。同理，本实施例中的平面度检测装置可以同时检测下待测面210的平面度，也间接检测了零件200的高度。
[0030]另外，如图2所示，手机外壳200的表面具有若干突起220，为了保证突起220在检测过程中不阻碍手机外壳200在上滑轨110与下滑轨120之间滑行，如图3所示，上滑轨110的上检测平面111a上设置有若干滑动槽111b，以使得手机外壳200滑动时突起220可以通过滑动槽11 lb移动。
[0031]为了固定上滑轨110与下滑轨120，上滑轨110包括6个螺纹孔113，而下滑轨120则包括6个螺纹孔122，螺纹孔113与螺纹孔122—一匹配，相互配合，上滑轨110与下滑轨120这样可以通过螺栓固定，这样便于二者的加工与组装。容易理解的是，在本实用新型的其他实施方式中，上滑轨110与下滑轨120的螺纹孔的数量与位置可以根据需要设置，并不仅限于本实施例中举例。
[0032]如图1所示，平面度检测装置还包括一支架130，该支架130位于上滑轨110与下滑轨120的底部，使得上滑轨110与下滑轨120保持倾斜，能够使得手机外壳200从下滑轨120上依靠重力往下滑落。
[0033]当然容易理解的是，本实施例中的手机外壳200只是一种示例，其他的零件都可以应用本实施例中的平面度检测装置来检测平面度。
[0034]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种平面度检测装置，用于检测零件的平面度，所述零件包括一上待测面，所述平面度检测装置的特征在于: 上滑轨，所述上滑轨的底部设置有上凹槽，所述上凹槽底面包括一上检测平面； 下滑轨，所述下滑轨的顶部设置有下凹槽，所述下滑轨的顶部与所述上滑轨的底部相扣，以使得所述下滑轨的下凹槽与所述上滑轨的上凹槽组成中空区域； 所述上待测面与所述上检测平面相配合，以使得当所述上待测面的平面度符合要求时，允许所述上待测面从所述上检测平面表面滑过，所述零件通过所述该中空区域。2.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于:所述上滑轨与下滑轨通过螺栓固定。3.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于:所述零件为宽度方向一致的部件，所述中空区域为宽度一致的结构。4.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于:所述零件还包括一下待测面，所述下待测面与上待测面互相平行，所述下滑轨的下凹槽包括一下检测平面，以使得所述零件通过所述中空区域时，所述下待测面从所述下检测平面滑过。5.如权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于:所述平面度检测装置还包括一支架，该支架位于所述上滑轨与下滑轨的底部，使得所述上滑轨与下滑轨保持倾斜。6.如权利要求1至5任一项所述的平面度检测装置，其特征在于:所述零件为手机外壳。
【专利摘要】本实用新型涉及平面度检测技术领域，提供了一种平面度检测装置，用于检测零件的平面度，该零件包括一上待测面，平面度检测装置的特征在于：上滑轨，上滑轨的底部设置有上凹槽，上凹槽底面包括一上检测平面；下滑轨，下滑轨的顶部设置有下凹槽，下滑轨的顶部与上滑轨的底部相扣，以使得下滑轨的下凹槽与上滑轨的上凹槽组成中空区域；上待测面与上检测平面相配合，以使得当上待测面的平面度符合要求时，允许上待测面从上检测平面表面滑过，零件通过该中空区域。本实用新型提供了一种高效率的平面度检测装置。
【IPC分类】G01B5/28
【公开号】CN205102764
【申请号】CN201520920453
【发明人】常铁生
【申请人】东莞常安精密工业有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年11月17日