一种测绘仪器检校微调装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种测绘仪器检校微调装置，包括机架，所述机架的安装孔内设有转轴，安装孔两侧的机架上设有紧固螺柱，转轴的上端安装有基座，基座的上表面上设有凹槽，凹槽上安装有截面为T形的基板。该测绘仪器检校微调装置的基板的截面为T字形，通过第一电动伸缩杆使基板能在基座的凹槽内的进行水平方向的调整，通过第二电动伸缩杆使套圈能在竖直方向的调整，同时，通过套圈内的第三电动伸缩杆以及卡块来调节套圈和光管的相对位置，并且第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆和第三电动伸缩杆通过控制器控制，使得电动伸缩杆能同时运行，也能分开运行，从而有效的缩短调节时间，提高调节精度，降低了误差。
【专利说明】
一种测绘仪器检校微调装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及检测仪器技术领域，具体为一种测绘仪器检校微调装置。
【背景技术】
[0002]测绘仪器校验台中的光管，是安装在检校台的两个固定套圈中，在套圈与光柱之间设有十字对角的四只调整螺杆将其固定在套圈中，还可以通过四支调整螺杆调节光管与套圈的相对位置，从而起到调节光管中轴线的作用，而现有检校台均采用手动拧动螺杆来调节光管中轴线，这种调整方法调节精度低、误差大，同时，调整时间长，为此，我们提出一种测绘仪器检校微调装置。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种测绘仪器检校微调装置，以解决上述【背景技术】中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:一种测绘仪器检校微调装置，包括机架，所述机架的安装孔内设有转轴，安装孔两侧的机架上设有紧固螺柱，所述转轴的上端安装有基座，基座的上表面上设有凹槽，凹槽上安装有截面为T形的基板，基板的两侧壁与凹槽之间留有空腔，并在空腔内安装有第一电动伸缩杆，第一电动伸缩杆的固定端固定在凹槽内壁上的盲孔内，第一电动伸缩杆的伸长端与基板紧密接触，所述基板上安装有第二电动伸缩杆，第二电动伸缩杆的顶端连接有套圈，套圈内设置有光管，所述套圈的内表面上设有第三电动伸缩杆，第三电动伸缩杆的伸长端连接有卡块，卡块与光管的表面紧密接触，所述基座的一侧设有控制器，控制器分别与第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆和第三电动伸缩杆电连接。
[0005]优选的，所述第三电动伸缩杆的伸长端端部连接有铰座，卡块的表面上设有凸耳，凸耳通过转轴转动设置在铰座上。
[0006]优选的，所述第二电动伸缩杆不少于三个且等距离分布在基板的表面上。
[0007]优选的，所述第三电动伸缩杆不少于四个且对称设置在套圈的内壁上。
[0008]优选的，所述套圈的内壁上设有盲孔，并且第三电动伸缩杆的固定端安装在套圈内壁的盲孔内。
[0009]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:该测绘仪器检校微调装置的基板的截面为T字形，通过第一电动伸缩杆使基板能在基座的凹槽内的进行水平方向的调整，通过第二电动伸缩杆使套圈能在竖直方向的调整，同时，通过套圈内的第三电动伸缩杆以及卡块来调节套圈和光管的相对位置，并且第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆和第三电动伸缩杆通过控制器控制，使得第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆和第三电动伸缩杆能同时运行，也能分开运行，从而有效的缩短调节时间，提高调节精度，降低了误差。
【附图说明】
[00?0]图1为本实用新型结构不意图；
[0011]图2为本实用新型的侧视结构不意图；
[0012]图3为本实用新型的套圈内部结构示意图。
[0013]图中:I机架、2转轴、3紧固螺柱、4基座、5凹槽、6基板、7第一电动伸缩杆、8第二电动伸缩杆、9套圈、10光管、11第三电动伸缩杆、12卡块、13控制器。
【具体实施方式】
[0014]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0015]请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案:一种测绘仪器检校微调装置，包括机架I，机架I的安装孔内设有转轴2，安装孔两侧的机架I上设有紧固螺柱3，转轴2的上端安装有基座4，基座4的上表面上设有凹槽5，凹槽5上安装有截面为T形的基板6，基板6的两侧壁与凹槽5之间留有空腔，并在空腔内安装有第一电动伸缩杆7，第一电动伸缩杆7的固定端固定在凹槽5内壁上的盲孔内，第一电动伸缩杆7的伸长端与基板6紧密接触，基板6上安装有第二电动伸缩杆8，第二电动伸缩杆8不少于三个且等距离分布在基板6的表面上，第二电动伸缩杆8的顶端连接有套圈9，套圈9内设置有光管1，套圈9的内表面上设有第三电动伸缩杆11，第三电动伸缩杆11不少于四个且对称设置在套圈9的内壁上，套圈9的内壁上设有盲孔，并且第三电动伸缩杆11的固定端安装在套圈9内壁的盲孔内，第三电动伸缩杆11的伸长端连接有卡块12，第三电动伸缩杆11的伸长端端部连接有铰座，卡块12的表面上设有凸耳，凸耳通过转轴转动设置在铰座上，卡块12与光管10的表面紧密接触，基座4的一侧设有控制器13，控制器13分别与第一电动伸缩杆7、第二电动伸缩杆8和第三电动伸缩杆11电连接，该测绘仪器检校微调装置的基板6的截面为T字形，通过第一电动伸缩杆7使基板6能在基座4的凹槽5内的进行水平方向的调整，通过第二电动伸缩杆8使套圈9能在竖直方向的调整，同时，通过套圈9内的第三电动伸缩杆11以及卡块12来调节套圈9和光管1的相对位置，并且第一电动伸缩杆7、第二电动伸缩杆8和第三电动伸缩杆11通过控制器13控制，使得第一电动伸缩杆7、第二电动伸缩杆8和第三电动伸缩杆11能同时运行，也能分开运行，从而有效的缩短调节时间，提高调节精度，降低了误差。
[0016]尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
【主权项】
1.一种测绘仪器检校微调装置，包括机架，所述机架的安装孔内设有转轴，安装孔两侧的机架上设有紧固螺柱，其特征在于:所述转轴的上端安装有基座，基座的上表面上设有凹槽，凹槽上安装有截面为T形的基板，基板的两侧壁与凹槽之间留有空腔，并在空腔内安装有第一电动伸缩杆，第一电动伸缩杆的固定端固定在凹槽内壁上的盲孔内，第一电动伸缩杆的伸长端与基板紧密接触，所述基板上安装有第二电动伸缩杆，第二电动伸缩杆的顶端连接有套圈，套圈内设置有光管，所述套圈的内表面上设有第三电动伸缩杆，第三电动伸缩杆的伸长端连接有卡块，卡块与光管的表面紧密接触，所述基座的一侧设有控制器，控制器分别与第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆和第三电动伸缩杆电连接。2.根据权利要求1所述的一种测绘仪器检校微调装置，其特征在于:所述第三电动伸缩杆的伸长端端部连接有铰座，卡块的表面上设有凸耳，凸耳通过转轴转动设置在铰座上。3.根据权利要求1所述的一种测绘仪器检校微调装置，其特征在于:所述第二电动伸缩杆不少于三个且等距离分布在基板的表面上。4.根据权利要求1所述的一种测绘仪器检校微调装置，其特征在于:所述第三电动伸缩杆不少于四个且对称设置在套圈的内壁上。5.根据权利要求1所述的一种测绘仪器检校微调装置，其特征在于:所述套圈的内壁上设有盲孔，并且第三电动伸缩杆的固定端安装在套圈内壁的盲孔内。
【文档编号】G01C25/00GK205664842SQ201620545247
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年6月6日
【发明人】吴迪, 于春娟
【申请人】陕西铁路工程职业技术学院