位置检测装置、钟表、位置检测方法和钟表的时刻校正方法与流程

本发明涉及位置检测装置、钟表、位置检测方法和钟表的时刻校正方法。

背景技术：

在具有齿轮的钟表中，存在一种接收电波并使用接收的电波对时刻的偏差进行校正的钟表。在这样的钟表中，提出了以下这样的方案：例如通过在分针齿轮和时针齿轮上设置透射孔，并且在与这些齿轮对应的位置处设置发光元件和受光元件，在每次对齿轮进行驱动时检测有无来自发光元件的透射光，从而对齿轮的位置进行检测(例如，参考专利文献1)。

专利文献1：日本专利3295315号公报

然而，在专利文献1记载的发明中，有时在驱动脉冲信号变为截止状态之后，齿轮由于惯性还会摆动一定期间。此时，在专利文献1记载的发明中，在摆动的期间内相对于本来的停止位置向旋转方向前进的时刻，透过为了进行位置检测而设置的透射孔，由此，可能在不正确的位置(例如前1个脉冲)处检测出透射光。由此，指针停止在与本来应该停止的位置偏离的位置处，可能无法修正为基于接收的电波的时刻。

技术实现要素：

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供能够防止齿轮的位置的错误检测的位置检测装置、钟表、位置检测方法和钟表的时刻校正方法。

(1)为了达到上述目的，本发明的一个方式的位置检测装置具有：发光元件；受光元件，其接收来自所述发光元件的透射光；驱动电机，其对齿轮进行驱动；以及控制部，其按照每个规定的时机判断所述受光元件的受光结果是否发生了变化，在本次的判断结果与上次的判断结果不同的情况下进行控制，使所述驱动电机停止，在所述驱动电机停止的期间内再次判断所述受光结果，在再次判断的结果为上次的受光结果与本次的受光结果相同的情况下，检测出所述本次的停止位置作为基准位置。

(2)另外，在本发明的一个方式的位置检测装置中，也可以是，所述控制部在所述受光元件受光的情况下判断为受光状态发生了变化，在再次判断的结果为上次的受光结果与本次的受光结果都是所述受光元件正在受光的情况下，检测出所述本次的停止位置作为基准位置。

(3)另外，在本发明的一个方式的位置检测装置中，也可以是，所述控制部在每对所述驱动电机进行一次驱动时，对所述受光元件的受光结果进行多次判断。

(4)另外，在本发明的一个方式的位置检测装置中，也可以是，所述控制部控制为在对所述驱动电机进行驱动后，使所述发光元件以规定时间发光，在所述发光元件发光的期间内判断所述受光元件的受光结果。

(5)另外，在本发明的一个方式的位置检测装置中，也可以是，所述位置检测装置具有：设置有至少1个透射孔的齿轮；以及板，其安装有所述齿轮，并且在与所述齿轮相对的位置处设置有透射孔，所述驱动电机对所述齿轮进行驱动，所述发光元件与所述受光元件被配置为隔着所述齿轮和所述板，所述控制部对所述驱动电机进行驱动，控制所述发光元件的发光，根据所述受光元件的受光结果对所述齿轮的所述基准位置进行检测。

(6)为了达到上述目的，本发明的一个方式的钟表具有：(1)～(5)中的任意一项所述的位置检测装置；以及接收电路，其接收表示时刻的时刻信息，所述控制部根据所述接收电路接收的所述时刻信息和所述位置检测装置检测出的位置，对显示时刻进行校正。

(7)为了达到上述目的，本发明的一个方式的位置检测方法是以下这样的位置检测装置的位置检测方法，该位置检测装置具有发光元件、接收来自所述发光元件的透射光的受光元件、齿轮、以及对所述齿轮进行驱动的驱动电机，所述位置检测方法包括以下步骤：驱动步骤，控制部对所述驱动电机进行驱动；判断步骤，所述控制部按照每个规定的时机判断所述受光元件的受光结果是否发生了变化；停止步骤，所述控制部在本次的判断结果与上次的判断结果不同的情况下进行控制，使所述驱动电机停止；再判断步骤，在所述驱动电机停止的期间内，所述控制部对所述受光结果进行再次判断；以及位置检测步骤，在再次判断的结果为上次的受光结果与本次的受光结果相同的情况下，所述控制部检测出所述本次的停止位置作为基准位置。

(8)为了达到上述目的，本发明的一个方式的钟表的时刻校正方法是以下这样的钟表的时刻校正方法，该钟表具有位置检测装置和接收电路，该位置检测装置具有发光元件、接收来自所述发光元件的透射光的受光元件、齿轮、以及对所述齿轮进行驱动的驱动电机，该接收电路接收时刻信息，所述时刻校正方法包括以下步骤：驱动步骤，控制部对所述驱动电机进行驱动；判断步骤，所述控制部按照每个规定的时机判断所述受光元件的受光结果是否发生了变化；停止步骤，所述控制部在本次的判断结果与上次的判断结果不同的情况下进行控制，使所述驱动电机停止；再判断步骤，在所述驱动电机停止的期间内，所述控制部对所述受光结果进行再次判断；位置检测步骤，在再次判断的结果为上次的受光结果与本次的受光结果相同的情况下，所述控制部检测出所述本次的停止位置作为基准位置；以及校正步骤，所述控制部根据所述接收电路接收到的所述时刻信息和所述位置检测装置检测出的位置，对显示时刻进行校正。

根据本发明能够防止齿轮的位置的错误检测。

附图说明

图1是本实施方式的钟表的主要部分的主视图。

图2是本实施方式的时分轮系的主视图。

图3是本实施方式的秒轮系的主视图。

图4是将本实施方式的钟表的主要部分在同一平面上展开的截面图。

图5是包括本实施方式的控制电路的钟表的框图。

图6是本实施方式的位置检测的处理的流程图。

图7是示出本实施方式的每进行1次的电机驱动而进行1次检测的情况下的位置检测的一例的时序图。

图8是示出在图7的状态P21、P22、P23、P31、P32、以及P33下的透射孔1A和透射孔5A的状态的图。

图9是本实施方式的变形例的位置检测的处理的流程图。

图10是示出本实施方式的每进行1次的电机驱动而进行3次检测的情况下的位置检测的一例的时序图。

标号说明

1：下板；2：中板；3：时针齿轮；4：分针齿轮；5：第2分中间轮；6：秒针齿轮；7：发光元件；8：受光元件；10：上板；11：转子；12：第1分中间轮；13：跨轮；14：转子；15：第1秒中间轮；16：第2秒中间轮；17：第3秒中间轮；20：定子；21：定子；22：驱动线圈；23：驱动线圈；24：基板；100：钟表；101：控制电路；110：接收电路；120：振荡电路；130：电源电路；140：存储部；150：控制部；160：驱动部；M1：第1驱动电机；161：轮系；M2：第2驱动电机；162：轮系；170：显示部；171：时针；172：分针；173：秒针；180：位置检测部；1A、2A、3A、4A、5A、5B、6A、6B：透射孔。

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

图1是本实施方式的钟表100的主要部分的主视图。图2是本实施方式的时分轮系的主视图。图3是本实施方式的秒轮系的主视图。图4是将本实施方式的钟表100的主要部分在同一平面上展开的截面图。另外，图4是在图1的II-II处展开的截面图。

如图1～图4所示，钟表100具有下板1、中板2、时针齿轮3、分针齿轮4、第2分中间轮5、秒针齿轮6、发光元件7、受光元件8、上板10、转子11、第1分中间轮12、跨轮13、转子14、第1秒中间轮15、第2秒中间轮16、第3秒中间轮17、基板24、控制电路101、第1驱动电机M1、以及第2驱动电机M2。另外，第1驱动电机M1具有定子20和驱动线圈22。第2驱动电机M2具有定子21和驱动线圈23。如图4所示，在基板24上安装有控制电路101。

如图4所示，下板1具有透射孔1A，中板2具有透射孔2A，时针齿轮3具有至少1个透射孔3A。如图2和图4所示，分针齿轮4具有至少1个透射孔4A，第2分中间轮5具有至少1个透射孔5A。如图3和图4所示，秒针齿轮6具有至少1个透射孔6A。

另外，图4所示的例子是透射孔1A、透射孔3A、透射孔4A、透射孔5A、透射孔2A、以及透射孔6A从发光元件7朝向受光元件8而在基准时刻排列在一条直线上的状态的图。透射孔1A和透射孔2A的位置是固定的。并且，透射孔3A、透射孔4A、透射孔5A、以及透射孔6A的位置随着齿轮的旋转而发生变化。

另外，在图4中，发光元件7和受光元件8的配置也可以相反。另外，图2、图3以及图4中示出的各孔的位置、形状以及数量只是一例，并不限于此。另外，图1省略了设置在各齿轮上的透射孔。

另外，如图2所示，时分轮系与转子11、第1分中间轮12、第2分中间轮5、分针齿轮4、跨轮13、以及时针齿轮3依次啮合。另外，在分针齿轮4上安装有分针172(图5)。并且，在时针齿轮3上安装有时针171。

另外，如图3所示，秒轮系与转子14、第1秒中间轮15、第2秒中间轮16、第3秒中间轮17、以及秒针齿轮6依次啮合。另外，在秒针齿轮6上安装有秒针173(图5)。

接着，对控制电路101的结构进行说明。

图5是包括本实施方式的控制电路101的钟表100的框图。

如图5所示，钟表100具有控制电路101、驱动部160、显示部170以及位置检测部180。

控制电路101具有接收电路110、振荡电路120、电源电路130、存储部140、以及控制部150。

驱动部160具有第1驱动电机M1、轮系161、第2驱动电机M2、以及轮系162。另外，轮系161包括图1和图2示出的转子11、第1分中间轮12、第2分中间轮5、时针齿轮3、分针齿轮4、以及跨轮13。另外，轮系162包括图1和图3示出的转子14、第1秒中间轮15、第2秒中间轮16、第3秒中间轮17、以及秒针齿轮6。第1驱动电机M1和第2驱动电机M2例如是步进电机。

显示部170具有时针171、分针172、以及秒针173。

位置检测部180具有发光元件7和受光元件8。

接着，对钟表100的动作进行说明。

钟表100例如是电波钟表。钟表100进行计时，例如接收标准时刻电波，根据使用接收到的标准时刻电波和位置检测部180而检测出的各齿轮的旋转位置关系，对时刻的显示进行校正。

接收电路110在规定的时机接收包括时刻代码信号的标准时刻电波，从接收的标准时刻电波中提取时刻代码信号，将提取出的时刻代码信号输出到控制部150。

振荡电路120生成基准信号。基准信号的频率例如是32.768kHz。振荡电路120将生成的基准信号输出到控制部150。

电源电路130包括电池，将电力提供给接收电路110、存储部140以及控制部150。

存储部140存储用于控制控制部150的控制程序、后述的规定时间△t1、规定时间△t2等。

发光元件7例如是发光二极管。发光元件7根据控制部150的控制而开始发光以及结束发光。

受光元件8例如是光电二极管。受光元件8接收发光元件7发出的光，将受光的结果作为检测信号输出到控制部150。

控制部150例如是CPU(中央运算装置)。控制部150根据存储部140存储的控制程序，生成用于驱动第1驱动电机M1的驱动脉冲D11和D12，将生成的驱动脉冲D11和D12输出到第1驱动电机M1。控制部150根据存储部140存储的控制程序，生成用于驱动第2驱动电机M2的驱动脉冲D21和D22，将生成的驱动脉冲D21和D22输出到第2驱动电机M2。

另外，控制部150使用基于时针齿轮3、分针齿轮4以及第2分中间轮5的组合的、受光元件8接收到的检测信号，进行时分轮系中的各个齿轮的旋转位置关系的检测。控制部150使用基于秒针齿轮6的检测信号，进行秒轮系中的各个齿轮的旋转位置关系的检测。并且，控制部150根据接收电路110输出的时刻代码信号和检测出的位置，判断是否需要进行显示部170的时刻校正，在判断为需要进行时刻校正的情况下，驱动第1驱动电机M1和第2驱动电机M2，进行控制以便对显示时刻进行校正。

第1驱动电机M1根据控制部150输出的驱动脉冲D11和D12，使轮系161旋转，由此，使时针171和分针172进行走针。

第2驱动电机M2根据控制部150输出的驱动脉冲D21和D22，使轮系162旋转，由此，使秒针173进行走针。

显示部170包括表盘(未图示)，显示部170通过时针171、分针172以及秒针173显示时刻。

时针171每12小时旋转1次，分钟172每60分钟旋转1次，秒针173每1分钟旋转1次。

这里，说明控制部150向驱动电机(第1驱动电机M1、第2驱动电机M2)输出1个脉冲的驱动脉冲时的齿轮的动作和控制部150的控制和处理的例子。在输出驱动脉冲后，齿轮旋转规定的角度，但是，此时由于惯性作用于转子(11或14)，因此，转子旋转到比确定的停止位置稍靠前的位置处。将此方向设为正向，则转子随着惯性力在正向上继续旋转，旋转到比规定的停止位置稍靠前的位置处后，这次在反向上旋转，并且从反向再次向正向旋转。这样，转子重复摆动而惯性力衰减，最终停止到规定的位置。

使用图8对与此时的转子啮合的齿轮的动作进行说明。图8是示出在图7的状态P21、P22、P23、P31、P32、以及P33下的透射孔1A和透射孔5A的状态的图。另外，图8是示出透射孔1A和透射孔5A的状态的图。在透射孔1A和透射孔5A的关系处于P21的状态的情况下，根据该状态输出1个脉冲的驱动脉冲后，转子被驱动，啮合的齿轮旋转规定的角度而在P23的状态下停止。然而，如上所述那样，由于转子根据惯性力继续旋转到比规定的位置稍靠前的位置处，因此，齿轮也与之对应地旋转到比规定的位置稍靠前的位置处。P22示出了此时的状态的一例。在P22的状态下，由于透过透射孔1A和透射孔5A，因此，检测到受光。接着，齿轮在反转方向上旋转，重复摆动，最终在P23的状态下停止。

这样，存在这样的情况：本来由于是不会透过透射孔的位置关系而不应该检测出受光，但由于齿轮根据惯性而旋转到超过了规定的位置的位置处而使光透过。这样，在比本来应该检测的位置靠前的位置处，受光元件8接收发光元件7发出的光，并将接收到的结果作为检测信号输出到控制部150，因此，无法进行本来应该检测的正确的位置的检测。因此，在本实施方式中，在输出驱动脉冲之后，控制部150对受光元件8的检测信号进行一次确认。另外，将获得了透射光的状态的检测信号设为H电平，将没有获得透射光的状态的检测信号设为L电平。另外，将检测的信号电平小于规定阈值的情况下的电平设为L电平，将检测的信号电平为规定阈值以上的情况下的电平设为H电平。在检测出H电平的检测信号的情况下，控制部150使驱动电机停止，即，不输出驱动脉冲，在经过规定时间后，对检测信号的电平进行再次检测。如果该再次检测的结果是H电平，则控制部150判定为得到了透射光，即，判定为各齿轮的透射孔到达下板1的透射孔1A。并且，控制部150将获得了透射光的位置判断为表示基准时刻的基准位置。另外，基准时刻是预先规定的所显示的显示时刻，例如12时。另外，基准时刻是预先规定为各齿轮和各透射孔的配置及形状的时刻，也可以是12个小时中的多个。另外，如图3所示，秒针齿轮6具有多个透射孔6A，多个透射孔6A中的1个在圆弧方向上比其他的透射孔长。控制部150将该圆弧方向上较长的透射孔的位置判断为0秒的基准位置。

接着，对本实施方式的位置检测的处理步骤进行说明。

图6是本实施方式的位置检测的处理的流程图。

(步骤S101)控制部150判断是否是输出用于驱动驱动电机(第1驱动电机M1或第2驱动电机M2)的驱动脉冲的时机。控制部150在判断为不是输出用于驱动驱动电机的驱动脉冲的时机的情况下(步骤S101；否)，重复步骤S101的处理，控制部150在判断为是输出用于驱动驱动电机的驱动脉冲的时机的情况下(步骤S101；是)，进入步骤S102的处理。

(步骤S102)控制部150使输出到驱动电机的驱动脉冲(也称为驱动信号)从L(低)电平变为H(高)电平。

(步骤S103)控制部150在经过了针对驱动电机的驱动而规定的时间后，使驱动脉冲从H电平变为L电平。

(步骤S104)控制部150进行控制，使得发光元件7开始发光。另外，开始发光的时机是预先规定的周期的时刻、从驱动脉冲的上升开始经过了预先规定的时间后、以及从驱动脉冲的下降开始经过了预先规定的时间后等。

(步骤S105)控制部150在使发光元件7发光后，判断是否是经过了检测所需的预先规定的时间后的检测时机。控制部150在判断为不是检测时机的情况下(步骤S105；否)，重复步骤S105的处理，在判断为是检测时机的情况下(步骤S105；是)，进入步骤S106的处理。

(步骤S106)控制部150取得受光元件8输出的检测信号。接着，控制部150判断检测信号的电平是否是H电平。控制部150在判断为检测信号的电平是H电平的情况下(步骤S106；是)，使处理进入步骤S107，在判断为检测信号的电平不是H电平的情况下(步骤S106；否)，使处理进入步骤S109。

(步骤S107)控制部150进行控制，使驱动电机以规定时间停止。即，控制部150使驱动脉冲以规定时间维持L电平。另外，规定时间是对齿轮驱动后，例如齿轮的摆动结束的期间，是设计者预先通过实际测量或仿真而确定的时间。

(步骤S108)控制部150取得受光元件8输出的检测信号。接着，控制部150判断检测信号的电平是否是H电平。控制部150在判断为检测信号的电平是H电平的情况下(步骤S108；是)，使处理进入步骤S110，在判断为检测信号的电平不是H电平的情况下(步骤S108；否)，使处理进入步骤S109。在该步骤S108中，在对齿轮进行驱动后，在被认为摆动结束的规定时间后再次取得在步骤S105的时机取得的检测信号是否正确，再次确认检测信号的电平。

(步骤S109)控制部150结束发光元件7的发光。接着，控制部150使处理返回步骤S101。

(步骤S110)控制部150检测在步骤S108的时机停止的位置作为齿轮的基准位置。控制部150使处理进入步骤S111。

(步骤S111)控制部150结束发光元件7的发光。接着，控制部150使处理返回步骤S101。

(步骤S112)控制部150取得接收电路110输出的时刻代码信号(表示时刻的时刻信息)。接着，控制部150对取得的时刻信息与基于齿轮基准位置的基准时刻进行比较，判断是否需要对时刻显示进行校正。控制部150例如在时刻信息与基准时刻之差大于预先规定的时间的情况下，判断为需要校正，在时刻信息与基准时刻之差小于预先规定的时间的情况下判断为不需要校正。在判断为需要校正的情况下，控制部150生成对时刻显示进行校正的驱动脉冲，通过将生成的驱动脉冲输出到驱动电机来进行时刻显示的校正。

至此，结束位置检测的处理。

接着，对本实施方式的位置检测的一例进行说明。另外，在以下的说明中，使用图7和图8对透过第2分中间轮5的透射孔5A的光是检测信号的情况的例子进行说明。图7是示出本实施方式的每进行1次电机驱动而进行1次检测的情况下的位置检测的一例的时序图。在图7中，横轴表示时刻，纵轴表示各信号的电平。另外，将检测的信号电平小于规定阈值的情况下的电平设为L电平，将检测的信号电平为阈值以上的情况下的电平设为H电平。另外，在图7所示的例子，在第一次的检测时机S1和第三次的检测时机S3时检测出的检测信号是准确的，在第二次的检测时机S2时检测出的检测信号是错误的。另外，在图7中，状态P21、P22、P23、P31、P32以及P33分别表示透射孔1A与透射孔5A的状态，透射孔1A和透射孔5A的状态如图8所示。

另外，在图7中，波形g201表示基于第2分中间轮5的透射孔5A的光量的变化(透射孔5A相对于透射孔1A的开口率)。另外，L电平是透射孔5A不位于检测位置，即处于检测位置的下板1的透射孔1A被第2分中间轮5遮挡的状态。另外，从L电平到H电平的变化是透射孔5A的一端到达检测位置的状态。再者，H电平是透射孔5A通过检测位置的上方的状态。

另外，波形g202表示驱动脉冲D11，波形g203表示驱动脉冲D12。波形g204表示发光元件7的发光状态，波形g205表示受光元件8接收到的检测信号，波形g206表示检测时机。

首先，控制部150在时刻t1时，使输出到第1驱动电机M1的驱动脉冲D11从L电平变为H电平。接着，控制部150在经过了针对第1驱动电机M1的驱动而规定的时间后的时刻t2时，使驱动脉冲D11从H电平变为L电平。即，控制部150在时刻t1～t2的期间，将驱动脉冲D11输出到第1驱动电机M1。

在时刻t3时，控制部150进行控制，使发光元件7开始发光。

控制部150在使发光元件7发光后，在经过检测所需的预先规定的时间后的时刻t4的检测时机S1时，取得受光元件8输出的检测信号。在时刻t4时，由于透射孔1A被第2分中间轮5遮挡，因此，检测信号是L电平。

在时刻t5时，控制部150进行控制，使发光元件7结束发光。

在时刻t6时，控制部150使输出到第1驱动电机M1的驱动脉冲D12从L电平变为H电平。时刻t6时的状态P21是如图8的标号g301所示的区域的图像那样，透射孔5A没有到达透射孔1A，透射孔1A被第2分中间轮5遮挡。

控制部150在经过了预先规定的时间后的时刻t7时，使驱动脉冲D12从H电平变为L电平。

在时刻t8时，控制部150进行控制，使发光元件7开始发光。接着，控制部150在使发光元件7发光后，经过了检测所需的预先规定的时间后的时刻t9的检测时机S2时，取得受光元件8输出的检测信号。

检测时机S2的状态P22是如图8的标号g302所示的区域的图像那样，是透射孔5A的一端由于第2分中间轮5的摆动而暂时与透射孔1A重合的状态，或者混入了噪声的错误状态。在此时的检测信号超过规定阈值的情况下，控制部150将检测信号判断为H电平。在使用此时取得的检测信号进行位置检测的情况下，由于检测时机S2的检测信号是错误的，因此，无法进行准确的位置检测，在将该位置作为基准位置的情况下，无法准确地对时刻进行校正。因此，在本实施方式中，在检测出检测信号的H电平的情况下，使电机(在图6的例子中为第1驱动电机M1)以规定时间停止后，再次取得检测信号，由此，进行检测信号的再次确认。

控制部150使第1驱动电机M1停止，即使驱动脉冲D11维持L电平。在本实施方式中，在电机停止过程中，发光元件一直持续发光，但也可以是在不妨碍检测的时机开始发光，在检测结束后适当结束发光。另外，时刻t11表示齿轮摆动后的时刻。时刻t11时的状态P23是如图8的标号g303所表示的区域的图像那样，透射孔5A没有到达透射孔1A，透射孔1A被第2分中间轮5遮挡。由于第1驱动电机M1停止，因此，时刻t11和时刻t13的透射孔1A和透射孔5A的状态大致相同，处于状态P23。

在从检测时机S2(时刻t9)起经过规定时间Δt1后的时刻t13的检测时机S2’时，控制部150再次取得检测信号。检测时机S2’时的检测信号是L电平。因此，由于检测时机S2’时取得的检测信号是L电平，所以，控制部150将在检测时机S2时取得的检测信号判断为错误。另外，由于分别在检测时机S2和检测时机S2’时取得的检测信号不一致，因此，控制部150也可以将检测时机S2时取得的检测信号判断为错误。

在时刻t14时，控制部150进行控制，使发光元件7结束发光。

在时刻t15时，控制部150使驱动脉冲D11从L电平变为H电平。接着，在时刻t17时，控制部150使驱动脉冲D11从H电平变为L电平。另外，如波形g201所示，在时刻t16时，透射孔5A开始到达透射孔1A。时刻t16的状态P31是如图8的标号g304所示的区域的图像那样，透射孔5A开始到达透射孔1A的状态。

在时刻t18时，控制部150进行控制，使发光元件7开始发光。接着，控制部150在使发光元件7发光后，经过检测所需的预先规定的时间后的时刻t19的检测时机S3时，取得受光元件8输出的检测信号。

检测时机S3的状态P32是如图8的标号g305所示的区域的图像那样，透射孔5A到达透射孔1A的状态。因此，检测信号是H电平。

为了判断在检测时机S3时取得的检测信号是否错误，控制部150再次使第1驱动电机M1停止。由于第1驱动电机M1停止，因此，时刻t21和时刻t23的透射孔1A和透射孔5A的状态大致相同，处于状态P33。

另外，规定时间△t1和△t2也可以是相同时间。规定时间△t1和△t2例如是0.5秒。接着，控制部150在使发光元件7发光后，从检测时机S3起经过规定时间△t2后，并且在经过检测所需的预先规定的时间后的时刻t23的检测时机S3’时，控制部150取得受光元件8输出的检测信号。在检测时机S3’时，检测信号是H电平。检测时机S3’的状态P33是如图8的标号g306所示的区域的图像那样，透射孔5A到达透射孔1A的状态。

因此，由于在每个检测时机S3’取得的检测信号都是H电平，因此，控制部150判断为在检测时机S3时取得的检测信号没有错误。并且，控制部150检测出检测时机S3’的位置作为第2分中间轮5的基准位置。

在时刻t24时，控制部150进行控制，使发光元件7结束发光。

另外，在图7中，以驱动第1驱动电机M1时的透射孔1A与透射孔5A的状态为例进行了说明，但控制部150在驱动各齿轮时，通过进行相同的处理来对各齿轮的位置进行检测。另外，存储部140预先存储了齿轮的位置和时刻之间的关系。

另外，在本实施方式中，受光结果是使用规定的阈值对受光元件接收到的信号电平是H电平还是L电平进行判断后的结果。另外，在本实施方式中，例如在检测时机S1的检测结果是本次的检测结果的情况下，在检测时机S1的前一个检测时机时所检测出的结果是上次的检测结果。在这种情况下，由于上次的检测结果是L电平，本次的检测结果是L电平，因此，控制部150使驱动电机不停止。另一方面，在检测时机S2是本次的检测结果的情况下，上次的检测结果是检测时机S1时的检测结果。在这种情况下，由于上次的检测结果是L电平，本次的检测结果是H电平，因此，控制部150在使驱动电机以规定时间停止后，再次在检测时机S2’时判断检测结果。在检测时机S2’，检测时机S2时的检测结果是上次的检测结果，为H电平，检测时机S2’时的检测结果是本次的检测结果，为L电平。这样，由于控制部150再次判断的结果是上次的检测结果和本次的检测结果不一致，因此，不将本次的停止位置P23用作基准位置。另一方面，由于检测时机S3(上次)的检测结果和检测时机S3’(本次)的检测结果都是H电平，因此，由于上次的检测结果和本次的检测结果一致，因此，控制部150将本次的停止位置P23用作基准位置。

另外，在图7所示的例子中，叙述了对受光元件的检测信号为H电平的情况进行检测的例子，但不限于此，也可以是，受光元件检测L电平。例如，在要对齿轮的透射孔的旋转方向的结束端脱离透射孔1A时的位置进行检测的情况下，会检测出本来是H电平但变为L电平的位置。在这种情况下，根据齿轮的惯性，也会发生与上述现象相同的现象。即，齿轮由于惯性而超过透射孔1A，之后，通过返回而停止在规定的位置处。在由于惯性而超过透射孔1A的状态下，由于透射孔1A被齿轮遮挡，因此，检测信号是L电平，但最终返回正确的位置处后，检测出H电平。即使在这样的状态下进行位置检测的情况下，有时也无法进行正确的位置检测。根据本实施方式，即使在这样的情况下也能够进行正确的位置检测。

如上所述，本实施方式的位置检测装置(控制电路101、位置检测部180)具有发光元件7；受光元件8，其接收来自发光元件的透射光；驱动电机(第1驱动电机M1、第2驱动电机M2)，其对齿轮(例如时针齿轮3、分针齿轮4、第2分中间轮5、秒针齿轮6)进行驱动；以及控制部150，其按照每个规定的时机判断受光元件的受光结果是否发生变化，在本次的判断结果(例如检测时机S3)与上次的判断结果(例如检测时机S2’)不同的情况下进行控制，使驱动电机停止，在驱动电机停止的期间(例如检测时机S3’)内，控制部150再次判断受光结果，在再次判断的结果为上次的受光结果(例如检测时机S3)与本次的受光结果(例如检测时机S3’)相同的情况下，控制部150检测出本次的停止位置(例如状态P33)作为基准位置。

根据该结构，在本实施方式中，在进行一次检测后，使驱动电机停止，之后进行再次检测，因此，即使在存在部件的制造差异或电源电压的变动导致的惯性变动引起的齿轮摆动状态变化的情况下，也能够防止位置的错误检测。

<变形例>

在上述例子中，对齿轮的透射孔的旋转方向的开始端稍微到达透射孔1A之后，返回而到达规定的位置的例子进行了说明，但齿轮的动作不限于此。根据电压、指针的条件(不平衡等)，转子和齿轮基于惯性的动作会发生变化。由于转子一边摆动一边停止，因此，在摆动过程中，在发生了齿轮在处于返回方向时透射孔1A被齿轮遮挡的状态的情况下，检测信号变为L电平。在这样的状态下进行位置检测时，即使在本来应该检测H电平的位置处，也无法进行正确的位置检测。

使用图8对此时的齿轮的动作进行说明。在透射孔1A与透射孔5A的关系处于P31的状态的情况下，在该状态下输出1个脉冲的驱动脉冲后，转子被驱动，啮合的齿轮旋转规定的角度后在P33的状态下停止。然而，如上所述那样，由于惯性力作用于转子，因此，转子在继续旋转到比规定的位置稍靠前的位置后变为P32的状态，之后，这次进行反转，例如，有时返回到P21的状态。接着，齿轮再次在正向上旋转，最终在P33的状态下停止。如果在处于P21的状态时控制部150进行检测，则本来应该检测出H电平，但结果检测出L电平，无法进行正确的位置检测。

在上述的例子中，对每进行1次的电机驱动而进行1次检测的情况下的例子进行了说明，但在变形例中，为了防止这样的现象，每进行1次的电机驱动的次数也可以是2次以上。以下，说明每进行1次的电机驱动而进行3次检测的例子。

首先，对位置检测的处理步骤进行说明。

图9是本实施方式的变形例的位置检测处理的流程图。另外，对于与图6中说明的处理相同的处理，使用相同标号而省略说明。

(步骤S101～S103)控制部150进行步骤S101～S103的处理。接着，控制部150使处理进入步骤S201。

(步骤S201)控制部150进行控制，使发光元件7开始发光。接着，控制部150将检测次数设定为1，使处理进入步骤S202。

(步骤S202)控制部150在使发光元件7发光后，判断是否是经过检测所需的预先规定的时间后的检测时机。控制部150在判断为不是检测时机的情况下(步骤S202；否)，重复步骤S202的处理，在判断为是检测时机的情况下(步骤S202；是)，使处理进入步骤S203。

(步骤S203)控制部150取得受光元件8输出的检测信号。接着，控制部150判断检测信号的电平是否是H电平。控制部150在判断为检测信号的电平是H电平的情况下(步骤S203；是)，使处理进入步骤S204，在判断检测信号的电平不是H电平的情况下(步骤S203；否)，使处理进入步骤S206。

(步骤S204)控制部150设定表示检测出H电平的标志。另外，控制部150在每次检测时，也可以将检测出H电平的次数设定为与H电平检测标志相关联。另外，控制部150也可以将H电平检测标志和检测次数写入存储部140。

(步骤S205)控制部150在检测次数中加1。

(步骤S206)控制部150通过判断检测次数是否达到3次来判断3次检测是否结束。控制部150在判断为3次检测结束的情况下(步骤S206；是)，使处理进入步骤S207，在判断为3次检测没有结束的情况下(步骤S206；否)，使处理返回步骤S202。

(步骤S207)控制部150通过确认H电平检测标志来判断是否至少一次检测到H电平。控制部150在判断为至少一次检测到H电平的情况下(步骤S207；是)，使处理进入步骤S107，在判断为至少一次没有检测到H电平的情况下(步骤S207；否)，使处理进入步骤S109。

接着，对变形例的位置检测的一例进行说明。

图10是示出本实施方式的每进行1次的电机驱动而进行3次检测的情况下的位置检测的一例的时序图。

图7和图10的差异在于发光元件的发光时机和检测时机。

控制部150输出驱动脉冲D11，进行控制，使发光元件7开始发光，之后，在经过检测所需的预先规定的时间后的检测时机S11时，取得受光元件8输出的第1次的检测信号。

在检测时机S12时，取得受光元件8输出的第2次检测信号。

在检测时机S13时，取得受光元件8输出的第3次检测信号。另外，检测时机S11～S13例如是预先规定的时间间隔。

由于在检测时机S11～S13时分别取得的检测信号中不包括H电平，因此，控制部150进行控制，使发光元件7结束发光，在一定时间后，输出驱动脉冲D12。

控制部150在进行控制使发光元件7开始发光后，在经过预先规定的时间后的检测时机S21时，取得受光元件8输出的第1次的检测信号。

在检测时机S22时，取得受光元件8输出的第2次检测信号。

在检测时机S23时，取得受光元件8输出的第3次检测信号。

由于在检测时机S21～S23分别取得的检测信号中包括H电平，因此，控制部150使第1驱动电机M1停止，使发光元件7继续发光。

控制部150为了再次确认检测信号，在规定时间△t1后的检测时机S2’时，至少一次再次取得检测信号。

由于在检测时机S2’时取得的检测信号是L电平，因此，控制部150将在检测时机S22时取得的检测信号判断为错误。接着，控制部150进行控制，使发光元件7结束发光，接着，输出驱动脉冲D11。

控制部150在进行控制使发光元件7开始发光之后，在经过预先确定的时间后的检测时机S31时，取得受光元件8输出的第1次的检测信号。

在检测时机S32时，取得受光元件8输出的第2次检测信号。

在检测时机S33时，取得受光元件8输出的第3次检测信号。

由于在检测时机S31～S33分别取得的检测信号中包括H电平，因此，控制部150使第1驱动电机M1停止，使发光元件7继续发光。

控制部150为了对检测信号进行再次确认，在规定时间△t2后的检测时机S3’时，至少一次再次取得检测信号。另外，规定时间△t1和△t2也可以是相同时间。规定时间△t1和△t2例如是0.5秒。另外，规定时间△t1例如也可以是从时刻S21或时刻S22到检测时机S2’的期间。

由于在检测时机S3’时取得的检测信号是H电平，因此，控制部150将在检测时机S31～S33时取得的检测信号判断为不是错误。接着，控制部150进行控制，使发光元件7结束发光。

另外，每进行1次驱动而进行3次检测的情况下的发光元件7的发光时机例如在图10中也可以是输出驱动脉冲之后(第1次)、输出下一次的驱动脉冲之前(第3次)、以及这两次的发光时刻之间(第2次)。

如上所述，根据本实施方式，即使在齿轮的透射孔的旋转方向的开始端和结束端进行摆动而到达透射孔1A和透射孔2A的情况下，在使驱动电机停止后，通过进行多次检测，能够去除噪声而进行准确的位置检测。

另外，这样，通过在1次驱动中进行多次检测，例如能够去除电路内产生的噪声和来自外部的入射光等导致的噪声而能够进行准确的位置检测。

在使用了图9和图10的例子中，对每进行1次驱动而进行3次检测的例子进行了说明，但检测次数也可以是2次、4次以上。

另外，在检测次数是3次的情况下，也可以是，控制部150例如在图10的检测时机S21时对H电平进行检测，在检测时机S22和S23时L电平持续的情况下，控制部15将检测时机S21时的检测信号判断为错误而不进行再次确认。另外，也可以是，控制部150在3次的检测中，检测到2次H电平的情况下，进行再次确认。由此，在本实施方式中，在每次发生错误时可以不进行再次确认。在进行再次确认的情况下，由于指针在规定时间例如0.5秒内没有被驱动，因此，使用者有可能看到指针的动作。另外，在图10所示的例子中，由于在检测时机S23～S2’和检测时机S33～S3’这两次，每次分别等待0.5秒后进行再次确认，因此，指针实质上停止1秒(＝0.5秒×2)。这样，如果按照每个错误进行再次确认，则使用者有时能够看到指针不动作的状态。因此，根据本实施方式，在错误的可能性较高的状态下(只在检测时机S21为H电平，或者H电平为1次等)，通过不进行再次确认，从而使得不会发生这样的指针停止。

另外，在图7～图10所示的例子中，对仅在检测信号的检测时使发光元件7发光的例子进行了说明，但也可以是始终发光。如图7所示，在使发光元件7间断地发光的情况下，发光期间至少包括检测时刻即可，例如，也可以包括从驱动脉冲的上升后到检测时机的期间。

如上所述，在本实施方式的位置检测装置(控制电路101、位置检测部180)中，控制部150在对驱动电机(第1驱动电机M1、第2驱动电机M2)进行驱动后，进行控制，使发光元件7以规定时间(例如△t1、△t2、0.5秒)发光，并且在发光元件发光的期间内，判断受光元件8的受光结果。

通过该结构，即使在存在部件的制造差异或电源电压的变动导致的齿轮摆动状态的变化的情况下，也能够防止位置的错误检测。

另外，上述的实施方式中的控制电路101的功能整体或部分功能也可以通过将用于实现这些功能的程序记录在计算机可读取的记录介质中并使计算机系统读入记录在该记录介质中的程序并执行来实现。另外，这里所说的“计算机系统”包括OS和周围设备等硬件。

另外，“计算机可读取的记录介质”是软盘、光磁盘、ROM、CD-ROM等便携式介质、计算机系统内置的硬盘等存储部。并且，“计算机可读取的记录介质”包括：如经由互联网等网络或电话线路等通信线路发送程序时的通信线路那样，在短时间内动态地保持程序的介质；如成为该情况下的服务器或客户端的计算机系统内部的易失性存储器那样在一定时间内保持程序的介质。另外，上述程序可以是用于实现上述功能的一部分的程序，还可以是通过与已经记录在计算机系统中的程序的组合来实现上述功能的程序。