1.一种高速自动校准芯片内部环振频率的控制器，其特征在于，所述控制器还包括第一分频器、第二分频器、频率初始值寄存器、数字频率计、配置单元、校验值调整单元及比较器，内置环振的时钟输出端口、第一分频器、频率初始值寄存器、数字频率计、比较器、校验值调整单元、配置单元依次连接，所述内置环振与配置单元连接，所述频率初始值寄存器与校验值调整单元连接，所述配置单元与比较器连接，所述第二分频器与数字频率计连接。
2.根据权利要求1所述的高速自动校准芯片内部环振频率的控制器，其特征在于，所述第一分频器、第二分频器采用50％占空比的分频器。
3.一种采用如权利要求1所述的控制器的测试装置，包括测试机台，其特征在于，所述测试装置还包括内置环振、非易失性存储器，所述内置环振、测试机台分别与控制器连接，所述控制器与非易失性存储器连接。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括功能电路，所述非易失性存储器与读取其内指定区域内存储数据并配置内置环振的功能电路连接，所述功能电路的配置端口与内置环振的输入口连接。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述功能电路与控制器的配置端口均通过数据选择器与内置环振的输入口连接。
6.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述非易失性存储器采用ROM或EPROM或快闪存储器或全静态非易失SRAM。