一种测试柜的制作方法

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种测试柜。

背景技术：

固态硬盘(Solid State Drives)，简称固盘，其是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。

固态硬盘在出厂上市之前需要进行一系列的测试，其中的一种测试为RDT(reliable data transfer,可靠数据传输)测试。RDT测试的作用是扫描固态硬盘的flash里面的坏块。在固态硬盘的主控芯片上设置好参数，固态硬盘上电后，硬盘自动按照预设的程序对flash进行扫描，把坏的单元标记出来。

RDT测试需要在高温下进行。目前，一般采用的做法是在大型的烘房内批量进行实验，然而该方式却存在以下弊端：一方面，烘房只适用于大批量的生产，若小批量也采用烘房进行实验，无疑会造成巨大的能源浪费，另一方面，烘房体积过大，其内温度不好控制，并且烘房内的高温环境不利于人们在里面操作。

技术实现要素：

本实用新型实施例提出一种测试柜，用以解决现有技术中不适于小批量RDT测试以及烘房温度不好控制、不利于用户操作的问题。

本实用新型实施例提出一种测试柜，其包括：

柜体，所述柜体内设有温度检测单元、加热单元以及供电源；

测试板，所述测试板设于所述柜体内；所述测试板与所述供电源连接，且用于与固态硬盘连接，以对所述固态硬盘供电以进行测试；以及

控制器，分别与所述温度检测单元以及所述加热单元连接，用于根据所述温度检测单元的检测结果来控制所述加热单元的工作状态。

其进一步的技术方案为，所述测试板包括一底板以及设于所述底板上的固态硬盘卡槽。

其进一步的技术方案为，还包括：基板，所述基板固定设于所述柜体内；所述测试板固定设于所述基板上。

其进一步的技术方案为，所述基板上设有多个所述测试板，多个所述测试板在所述基板上均匀分布；所述测试板上设有多个所述固态硬盘卡槽，多个所述固态硬盘卡槽在所述测试板上均匀分布。

其进一步的技术方案为，所述柜体的前侧还设有一显示装置，所述显示装置与所述控制器连接，用于显示所述检测单元的检测结果。

其进一步的技术方案为，所述柜体的前侧还设有电压表以及电流表，其中：

所述电压表与所述加热单元连接，用于检测所述加热单元的加热电压；

所述电流表与所述加热单元连接，用于检测所述加热单元的加热电流。

其进一步的技术方案为，所述柜体的前侧设有柜门，所述柜门上设有观察窗口。

其进一步的技术方案为，所述温度检测单元为温度探头。

其进一步的技术方案为，所述加热单元为加热丝。

其进一步的技术方案为，所述控制器为可编程逻辑控制器。

通过应用本实用新型实施例的技术方案，在测试柜内进行RDT测试，一方面，测试的固态硬盘数量可更加灵活地控制，适合于小批量的测试，且更加的节约能源；另一方面，测试柜的体积远比烘房要小，其内温度更好控制，并且操作人员在测试柜外面即可进行操作，用户体验更好。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试柜的结构示意图；

图2为图1中测试板的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的一种测试柜的加热电路的示意框图；

图4为本实用新型实施例提供的一种测试柜的测试电路的示意框图。

附图标记

1、柜体；2基板；3、控制器；4、温度检测单元；5、加热单元；6、供电源；7、测试板；71、固态硬盘卡槽；72、底板；8、显示装置；9、电压表；10、电流表；11、柜门；12、固态硬盘；111、观察窗口。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本实用新型实施例说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本实用新型实施例。如在本实用新型实施例说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

参见图1-图4，本实用新型实施例提出的一种测试柜，如图所示，其包括柜体1、测试板7以及控制器3，各部件的介绍如下：

柜体1，其内部即为进行RDT测试的区域。为了满足RDT测试的需求，在本实用新型实施例中，在柜体1的内部设置加热单元5，通过加热单元5可提高柜体1内的温度，以满足RDT测试的高温需求。进一步地，为了监控柜体1内的温度，在柜体1内设置温度检测单元4，温度检测单元4可实时检测柜体1内的温度，方便用户实时了解柜体1内的温度。进一步地，在柜体1内设置供电源6，以对固态硬盘12供电。固态硬盘12在通电时将按照预设的程序进行RDT测试。

控制器3，控制器3分别与加热单元5以及温度检测单元4连接，用于根据所述温度检测单元4的检测结果来控制所述加热单元5的工作状态。控制器3实时获取温度检测单元4检测到的温度数据，并根据获取到的温度数据控制加热单元5的工作状态。具体地，在获取到的温度低于预设的目标温度时，控制器3控制加热单元5工作，以提升箱体内的温度；在获取到的温度大于或者等于预设的目标温度时，控制器3控制加热单元5停止工作，从而可维持箱体的温度为目标温度。需要说明的是，预设的目标温度为RDT测试所需的温度。

测试板7，测试板7设于柜体1内；测试板7与供电源6连接，且用于与固态硬盘12连接，以对固态硬盘12供电以进行测试。在测试时，测试板7同时与供电源6以及固态硬盘连接。通过测试板7，固态硬盘可正常接收供电源的供电，并且自行完成测试的过程。

通过应用本实施例的技术方案，在测试柜内进行RDT测试，一方面，测试的固态硬盘数量可更加灵活地控制，适合于小批量的测试，且更加的节约能源；另一方面，测试柜的体积远比烘房要小，其内温度更好控制，并且操作人员在测试柜外面即可进行操作，用户体验更好。

参见图1-图2，在某些实施例，例如本实施例中，测试柜还包括基板2，基板2固定设于柜体1内。具体地，可通过紧固件将基板2固定设于柜体1内。基板2上设有测试板7。具体地，可通过紧固件将测试板7固定设于基板2上。

进一步地，基板2上设有多个测试板7，多个测试板7在基板2上均匀分布。这样的设置方式，更加利于柜体1内温度的均匀。

进一步地，测试板7包括一底板72以及设于底板72上的固态硬盘卡槽71。

进一步地，测试板7上设有多个固态硬盘卡槽71，多个固态硬盘卡槽71在测试板7上均匀分布。测试板7上设有多个固态硬盘卡槽71，可增加同时测试的固态硬盘12的数量，提高测试的效率。

测试板7与供电源6连接，在测试时，固态硬盘12插入到固态硬盘卡槽71内，供电源通过测试板7对固态硬盘12供电，固态硬盘12在上电后安装预先在其主控芯片上设定的程序自行进行RDT测试。

进一步地，测试板7为PCB转接板。

参见图1，在某些实施例，例如本实施例中，柜体1的前侧设有一显示装置8，该显示装置8与控制器3连接，用于显示检测单元检测到的温度。通过在柜体1的前侧设置显示装置8，并实时显示柜体1内的温度，方便用户实时了解柜体1内的温度情况。

进一步地，柜体1的前侧还设有电压表9以及电流表10，其中：压表与加热单元5连接，用于检测加热单元5的加热电压。电流表10与加热单元5连接，用于检测加热单元5的加热电流。通过电流表10和电压表9分别检测加热单元5的电流和电压，方便用户实时了解加热单元5的工作状态。

参见图1，在某些实施例，例如本实施例中，柜体1的前侧设有柜门11，用于打开与关闭柜体1。在柜门11上设有观察窗口111。具体地，观察窗口111包括边框以及设于边框内的透明玻璃。通过观察窗口111可在不打开柜门11的情况下，看到测试柜内的情况，使得用户可以随时观察固态硬盘12的测试状态，获取更多的测试信息。

在某些实施例，例如本实施例中，温度检测单元4为温度探头。温度探头可检测箱体内的温度，并将检测结果实时传输给控制器3。

进一步地，加热单元5为加热丝，加热丝与控制器3连接，且受热于控制器3。

进一步地，控制器3为可编程逻辑控制器，俗称PLC控制器。控制器3对各器件的操控过程可通过对控制器3进行配置实现，控制器3的配置过程为本领域技术人员所熟知，对此不再赘述。

最好需要说明的是，RDT测试的具体过程为本领域技术人员所熟知，在此不在赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，尚且本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

以上所述，为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。