技术特征：
技术总结
本发明属于量子计算领域，特别是一种量子测控系统，量子测控系统包括主控模块；直流信号生成模块，提供用于量子比特调控的直流信号；脉冲信号生成模块，提供用于量子比特调控的脉冲信号；微波调制信号生成模块，提供用于量子比特调控的第一微波调制信号和用于量子比特逻辑状态读取检测的第二微波调制信号；量子比特读取检测模块，用于采集量子比特逻辑状态读取回传信号，并上传至所述主控模块，并由所述用户逻辑模块进行处理。本发明能够实现量子芯片上的量子比特的调控和测量，以方便量子计算研究。
技术研发人员：孔伟成
受保护的技术使用者：合肥本源量子计算科技有限责任公司
技术研发日：2019.01.30
技术公布日：2019.03.29