专利名称：电子记忆装置检测系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种电子记忆装置检测系统及方法。通过本发明的方法，电子记忆装置的制造及检测资料储存于网络上的资料服务器，不需占用电子记忆装置本身的记忆空间。大幅提高电子记忆装置的检测效率及节省人力成本。
背景技术：
近些年来，随着科技不断进步，台湾已成为世界上举足轻重的半导体制造王国。而半导体制造的进步亦带动相关产业的发展日益进步，其中电子记忆装置产业即为其中最明显的例子。
基本上，电子记忆装置包括内存模块、快闪记忆卡及活动盘。随着半导体产品日益小型化、积体化、多功能化以及制程技术的逐年缩小等趋势，电子记忆装置的制造及检测技术亦朝向更高层次的境界迈进。本发明所欲揭露的即是一种使用于电子记忆装置检测系统及方法。透过本发明的方法，电子记忆装置的制造及检测资料储存于网络上的资料服务器，不需占用电子记忆装置本身的记忆空间。大幅提高电子记忆装置的检测效率及节省人力成本。
请参考图1，图1为现有技术中一电子记忆装置的检测步骤。如图所示，电子记忆装置的检测步骤是经过数个不同的检测平台，每一检测平台负责不同的检测项目。如图一所示，制造完成的电子记忆装置10需经过检测平台20、检测平台30、检测平台40的检测才能完成全部的检测程序。于本例中，检测平台20、检测平台30、检测平台40分别负责电子记忆装置处理速度、密度及读取写入的检测。传统上，当电子记忆装置制造完成时，所有有关该电子记忆装置的制造及检测资料都储存于该电子记忆装置的中，当该电子记忆装置被传送至检测平台20时，该检测平台20会将储存于该电子记忆装置的中有关该电子记忆装置的制造及检测资料读取出来，并根据该制造及检测资料调整检测平台20的检测环境及检测条件，并据以检测该电子记忆装置，检测的结果亦储存于该电子记忆装置中，待检测完毕后再经资料读取装置50读出后做进一步的分析及处理。此种检测的方法有下列缺点(1)、当制造及检测资料过多时，无法同时加载电子记忆装置的中，需分多次加载，因此，检测步骤需增加，浪费操作时间及操作成本。
(2)、因制造及检测数据是一次同时加载，数据是固定的，无法进行动态检测，动态检测需独立进行，浪费时间及成本。
(3)、检测的结果亦储存于该电子记忆装置中，待检测完毕后再经资料读取装置读出后做进一步的分析及处理，无法及时了解检测的结果以进行检测的调整修正。
综上所述，现有技术中检测电子记忆装置的系统及方法具备诸多缺点。
发明内容
本发明的目的是提供一种电子记忆装置检测系统，其包括有一资料服务器，用以储存电子记忆装置的制造资料及检测资料、一接受检测的电子记忆装置，复数个电子记忆装置检测平台，用以自该资料服务器中取出该电子记忆装置的制造及检测资料并据以检测该电子记忆装置，及一网络架构，用以连接该资料服务器及该电子记忆装置检测平台。本发明的电子记忆装置检测系统可及时反应检测的状况，系统可根据及时反应的检测状况调整检测环境以进行动态检测，大幅提高电子记忆装置的检测效率及节省时间及成本。
本发明的次要目的是提供一种电子记忆装置检测方法。通过本发明的方法，电子记忆装置的制造及检测资料储存于网络上的资料服务器，不需占用电子记忆装置本身的记忆空间，本发明的电子记忆装置检测系统可及时反应检测的状况，系统可根据及时反应的检测状况调整检测环境以进行检测，大幅提高电子记忆装置的检测效率及节省时间及成本。
为了便于进一步理解本发明的优点与特征，下面结合附图以具体实例对本发明进行详细说明。
图1为现有技术中一电子记忆装置的检测步骤；图2为本发明的电子记忆装置检测系统的系统架构示意图；图3为本发明的电子记忆装置检测方法的操作流程的示意图。
附图标记说明10--电子记忆装置；20，30，40--检测平台；50--资料读取装置；21-本发明的系统；22--资料服务器；23--电子记忆装置；241，242，243，244--检测平台；25--网络架构；26--工单号码；100，110，120，130，140，150，160，170，180--步骤。
具体实施例方式
虽然本说明书使用含有本发明较佳实施例的所附图予以描述，但本领域的熟练技术人员可修改在本文中所描述的发明主要组成而同时获致本发明的功效，因此，以下的描述对本领域熟练技术人员而言为一广泛的描述及说明，其内容及目的不在于限制本发明。
首先参考图2，图2为本发明的电子记忆装置检测系统的系统架构示意图。由图2可知，本发明的一种电子记忆装置检测系统21其包括有一资料服务器22，用以储存电子记忆装置23的制造资料及检测资料、一接受检测的电子记忆装置23，复数个电子记忆装置检测平台241、242、243及244，用以自该资料服务器22中取出该电子记忆装置23的制造及检测资料并据以检测该电子记忆装置23，及一网络架构25，用以连接该资料服务器22及该复数个电子记忆装置检测平台241、242、243及244等。
请再参考图2，于实际操作中，所有用以制造电子记忆装置的工单(或制造命令)都储存于资料服务器22中，且每一工单(或制造命令)都包含一工单号码(或制造命令号码)可作为搜寻或处理该工单(或制造命令)的索引码(Index)。当一电子记忆装置23制造完成时，相对应的工单号码(或制造命令号码)26将写入该制造完成准备接受检测的电子记忆装置23中，该制造完成准备接受检测的的电子记忆装置23随即被移入检测平台241接受检测，检测平台241首先自电子记忆装置23中读取该工单号码(或制造命令号码)26，并将该工单号码(或制造命令号码)26通过网络架构25传送至该资料服务器22中，资料服务器22于接收该工单号码(或制造命令号码)26后，便使用该工单号码(或制造命令号码)26作为索引码(Index)，自该资料服务器22中读取该工单号码(或制造命令号码)26所对应的工单内容(包括各项制造资料及检测资料，例如，该电子记忆装置23的处理速度、密度及一些其它参数等)，并将读取的该工单内容(或制造命令内容)通过网络架构25传送至该检测平台241，该检测平台241接收该工单内容(或制造命令内容)后，便依据该工单内容(或制造命令内容)中的各项制造资料设定该检测平台241上的检测环境及检测条件以检测该电子记忆装置23。检测的结果便立即通过网络架构25传送至该资料服务器22中，并储存于该资料服务器22中。检测的过程中，若有任何的错误讯息出现，错误讯息亦可立即透过网络架构25传送至该资料服务器22端(或网络架构25上另一台监控的计算机端)，此时，位于该资料服务器22端(或网络架构25上另一台监控的计算机端)的监控人员便可立刻根据该错误讯息以修正检测环境及检测条件以正确地进行检测。检测平台241检测完毕该电子记忆装置23后，该电子记忆装置23随即被移入下一检测平台242接受检测，如同在检测平台241中一般，检测平台242首先自电子记忆装置23中读取该工单号码(或制造命令号码)26，并将该工单号码(或制造命令号码)26透过网络架构25传送至该资料服务器22中，资料服务器22于接收该工单号码(或制造命令号码)26后，便使用该工单号码(或制造命令号码)26作为索引码(Index)，自该资料服务器22中读取该工单号码(或制造命令号码)26所对应的工单内容(包括各项制造资料及检测资料，例如，该电子记忆装置23的处理速度、密度及一些其它参数等)，并将读取的该工单内容(或制造命令内容)透过网络架构25传送至该检测平台242，该检测平台242接收该工单内容(或制造命令内容)后，便依据该工单内容(或制造命令内容)中的各项制造资料设定该检测平台242上的检测环境及检测条件以检测该电子记忆装置23。检测的结果便立即通过网络架构25传送至该资料服务器22中，并储存于该资料服务器22中。如此，周而复始，电子记忆装置23将被移入检测平台243及检测平台244接受检测直到完成整个检测过程。
请再参考图3，图3为本发明的电子记忆装置检测方法的操作流程的示意图。由图3可知，本发明的一种电子记忆装置检测方法，其步骤包括步骤100储存用以制造电子记忆装置的工单(或制造命令)于一资料服务器中，且每一工单(或制造命令)都包含一工单号码(或制造命令号码)可作为搜寻或处理该工单(或制造命令)的索引码(Index)；步骤110当一电子记忆装置制造完成时，将相对应的工单号码(或制造命令号码)写入该制造完成准备接受检测的电子记忆装置中；步骤120将该制造完成准备接受检测的的电子记忆装置移入一检测平台接受检测；步骤130检测平台自电子记忆装置中读取储存于其中的该工单号码(或制造命令号码)，并将该工单号码(或制造命令号码)通过一网络架构传送至该资料服务器中；步骤140资料服务器接收该工单号码(或制造命令号码)，并使用该工单号码(或制造命令号码)作为索引码(Index)，自该资料服务器中读取该工单号码(或制造命令号码)所对应的工单内容；步骤150资料服务器并将读取的该工单内容(或制造命令内容)通过网络架构传送至该检测平台；步骤160该检测平台接收该工单内容(或制造命令内容)，便依据该工单内容(或制造命令内容)中的各项制造资料及检测数据设定该检测平台上的检测环境及检测条件以检测该电子记忆装置；步骤170该检测平台并将检测的结果透过网络架构传送至该资料服务器中，并储存于该资料服务器中；步骤180将该电子记忆装置移入另一检测平台接受检测并重复步骤130至步骤170直到完成整个检测程序。
本发明如前述的说明，确能达到预期的作用及效果，惟，上述本发明较佳实施例的说明，用以揭示本发明的技术特征，而非限制本发明。因此，凡结构上的细微变更或组件数目上的变更及等效的取换，仍应隶属本发明的范畴。
权利要求
1.一种电子记忆装置检测系统，包括一资料服务器，用以储存一电子记忆装置的制造资料及检测资料，该制造数据及检测数据具备一相对应的索引值；一电子记忆装置，该电子记忆装置为接受检测的对象；复数个检测平台，用以依据该索引值，自该资料服务器中取出该电子记忆装置的制造及检测资料并据以检测该电子记忆装置；及一网络架构，用以连接该资料服务器及该复数个电子记忆装置检测平台。
2.如权利要求1所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该资料服务器包含一数据库。
3.如权利要求1所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该电子记忆装置为一内存模块。
4.如权利要求1所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该电子记忆装置可一快闪记忆卡。
5.如权利要求1所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该电子记忆装置为一活动盘。
6.如权利要求1所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该网络架构可为一以微软窗口(Microsoft Windows)架构为基础的网络架构。
7.如权利要求1所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该网络架构为一以Linux架构为基础的网络架构。
8.一种电子记忆装置检测方法，其步骤包括(a)储存用以制造电子记忆装置的工单于一资料服务器中，且每一工单都包含一工单号码可作为搜寻或处理该工单的索引码(Index)；(b)当一电子记忆装置制造完成时，将相对应的工单号码写入该制造完成准备接受检测的电子记忆装置中；(c)将该制造完成准备接受检测的电子记忆装置移入一检测平台接受检测；(d)检测平台从电子记忆装置中读取储存于其中的该工单号码，并将该工单号码通过一网络架构传送至该资料服务器中；(e)资料服务器接收该工单号码，并使用该工单号码作为索引码(Index)，自该资料服务器中读取该工单号码所对应的工单内容；(f)资料服务器并将读取的该工单内容通过网络架构传送至该检测平台；(g)该检测平台接收该工单内容，依据该工单内容中的各项制造资料设定该检测平台上的检测环境及检测条件以检测该电子记忆装置；(h)该检测平台并将检测的结果通过网络架构传送至该资料服务器中，并储存于该资料服务器中；(i)将该电子记忆装置移入另一检测平台接受检测并 重复步骤(d)至步骤(i)直到完成整个检测程序。
9.如权利要求8所述的一种电子记忆装置检测方法，其中，该资料服务器包含一数据库。
10.如权利要求8所述的一种电子记忆装置检测方法，其中，该电子记忆装置可为一内存模块。
11.如权利要求8中所述的一种电子记忆装置检测方法，其中，该电子记忆装置为一快闪记忆卡。
12.如权利要求8所述的一种电子记忆装置检测方法，其中，该电子记忆装置可为一活动盘。
13.如权利要求8所述的一种电子记忆装置检测方法，其中，该网络架构可为一以微软窗口(Microsoft Windows)架构为基础的网络架构。
14.如权利要求8所述的一种电子记忆装置检测系统，其中，该网络架构可为一以Linux架构为基础的网络架构。
全文摘要
本发明公开了一种电子记忆装置检测系统及方法，系统包括一资料服务器，用以储存电子记忆装置的制造资料及检测资料、一接受检测的电子记忆装置，复数个电子记忆装置检测平台，用以自该资料服务器中取出该电子记忆装置的制造及检测资料并据以检测该电子记忆装置，及一网络架构，用以连接该资料服务器及该复数个电子记忆装置检测平台。透过本发明的系统及方法，电子记忆装置的制造及检测资料储存于网络上的资料服务器，不需占用电子记忆装置本身的记忆空间，且系统可及时反应检测的状况，并可根据及时反应的检测状况调整检测环境以进行动态检测，大幅提高电子记忆装置的检测效率及节省时间及成本。
文档编号G06F15/16GK1536505SQ0310932
公开日2004年10月13日 申请日期2003年4月7日 优先权日2003年4月7日
发明者郭世泓 申请人:勤茂资通股份有限公司