专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本发明有关于一种测试装置，特别是有关于一种用于测试具通用序列埠界面的周边装置的测试装置。
背景技术：
由于在现今的计算机系统中，通用序列埠界面(Uiversal Serial Bus，USB)的使用已相当的频繁与广泛，尤其是在电脑周边装置的使用上，占了大部分的使用率；所以当然地，工厂在生产具通用序列埠界面的周边装置后，便需于出货前对这些装置作测试工作。
而现阶段业界对于测试具通用序列埠界面的周边装置的方式，大多利用个人计算机并安装有具通用序列埠界面的控制卡来测试，请参阅图1，为习用测试具通用序列埠界面的周边装置的方块示意图；如图所示，个人计算机系统10，其内安装有具通用序列埠界面的控制卡12，另有待测试的周边装置14及16，连接至具通用序列埠界面的控制卡12，如鼠标、列表机、数字相机、Memory Stick等等，各式各样具通用序列埠界面的周边装置。
个人电脑10安装驱动程序后，再利用测试软件对周边装置14及16进行测试，来确认其是否为正常，当然若测试过后计算机判断为不良，则无法通过测试，如此便达到测试周边装置是否正常为可出厂的目的。
然而，在进行此测试过程中，所须具备的设备至少需要一台个人计算机，且须安装相关的驱动程序及测试软件，对于目前业界在追求低成本高效率的同时，实在不符合时代潮流。
因此，如何针对上述习用测试具通用序列埠界面的周边装置的缺点，以及使用时所发生的问题提出一种新颖的解决方案，设计出一种可有效利用资源的构造，不仅可有效降低设备成本，且可简化测试流程，提高测试效率，长久以来一直是使用者殷切盼望及本发明所要解决的问题所在，而本发明人基于多年从事于资讯产业的相关研究、开发及销售的实务经验。乃思及改良的意念，经多方设计、探讨、试作样品及改良后，终于研究出一种测试装置，以解决上述的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试装置，仅利用一微处理器通过一具通用序列埠界面的控制晶片来连接待测试的周边装置，以达到测试此周边装置时，降低成本及简化测试流程的目的。
一种测试装置，是测试具通用序列埠界面的周边装置，其中包括有一微处理器；一记忆体，内预设有一韧体程序，且该记忆体连接至该微处理器；及一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接至该微处理器，并设有复数个连接埠，用以连接待测的周边装置；其中所述记忆体内的韧体程序，是用以控制微处理器通过控制晶片对该待测的周边装置进行测试。
一种测试装置，用以测试至少一周边装置，该周边装置具通用序列埠界面，其中所述的测试装置包含一微处理器，内设有一记忆体，该记忆体存有一预设韧体程序；及一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接微处理器；其中该控制晶片设有复数个连接埠，用以连接待测的该周边装置。
所述记忆体内还设有一测试封包，而该微处理器可发出该测试封包，并通过控制晶片至待测的周边装置。
一种测试装置，用以测试至少一周边装置，其中该周边装置具通用序列埠界面，所述的测试装置包含一微处理器、一控制晶片及一韧体程序，其中该微处理器是通过该控制晶片与待测的周边装置连接，而该韧体程序则用以控制微处理器测试该周边装置。
所述的控制晶片为一具通用序列埠控制晶片。
所述的微处理器可发出一预设的测试封包，并通过控制晶片至待测的周边装置。
所述的周边装置收到该测试封包后，回传至微处理器，以让微处理器判断是否与预设的测试封包相同。
利用本发明所提供的这一简单的电路架构，可有效测试各周边装置，并达到降低成本的效果，同时，由于可一次测试多数个周边装置，亦可达到简化流程、提高效率的效果。
图1是习用测试具通用序列埠界面的周边装置的方块示意图；图2是本发明一较佳实施例测试装置的方块示意图；图3是本发明一较佳实施测试装置的测试流程图。
图号说明10个人计算机12具通用序列埠界面的控制卡14周边装置16周边装置20测试装置21周边装置A22记忆体23周边装置B24微处理器25周边装置Z26控制晶片
具体实施例方式
本发明提出了一种测试装置。此装置包括有一微处理器；一记忆体，内预设有一韧体程序，且记忆体连接至微处理器；及一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接至处理器，并设有复数个连接埠，用以连接待测的周边装置；其中记忆体内的韧体程序，是用以控制微处理器通过控制晶片对待测的周边装置进行测试。
为让本发明的目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下请参阅图2及图3，为本发明一较佳实施例测试装置的方块示意图及其测试流程图；如图所示，测试装置20包含有一微处理器24，连接一控制晶片26，此控制晶片26为用以控制通用序列埠界面，且另有一记忆体22，用以储存程序与资料，亦连接至微处理器24，以供微处理器24存取使用；而数个待测的周边装置A21，周边装置B23，及周边装置Z25，则连接至控制晶片26，其各周边装置皆为具通用序列埠界面的装置，如此微处理器24便可通过控制晶片26来对各周边装置进行测试。
其中记忆体22内预设有一测试封包，及韧体程序，周以提供微处理器24测试程序；首先，依据韧体程序，微处理器24发出一测试封包，通过控制晶片26传至各周边装置，即图2中的周边装置A21，周边装置B23，及周边装置Z25，如步骤300所示；接着，当各周边装置，收到此测试封包后，便经控制晶片26回传至微处理器24，如步骤310所示，最后微处理器24再依据韧体程序来判断此测试封包与记忆体22内预设的测试封包是否相同，如步骤320所示；而若相同，则表示此周边装置为正品，为可出厂，如步骤322所示。反之，则进行淘汰等作业，如步骤324所示。
如此，利用本发明此一简单的电路架构，即可有效测试各周边装置，并达到降低成本的效果，同时，由于可一次测试多数个周边装置，亦可达到简化流程提高效率的目的。
综上所述，本发明是有关于一种实施于测试具通用序列埠界面的周边装置的测试装置，可仅利用一微处理器，通过一具通用序列埠界面的控制晶片来连接待测试的周边装置，以达到测试多个周边装置的效果。利用本发明的简单架构，测试周边装置时，可达到降低成本及简化流程的目的，并达到测试效果。
综上所述，虽然本发明已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求书范围所界定者为准。
权利要求
1.一种测试装置，是测试具通用序列埠界面的周边装置，其特征在于包括有一微处理器；一记忆体，内预设有一韧体程序，且该记忆体连接至该微处理器；及一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接至该微处理器，并设有复数个连接埠，用以连接待测的周边装置；其中所述记忆体内的韧体程序，是用以控制微处理器通过控制晶片对该待测的周边装置进行测试。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述的记忆体内还设有一测试封包，而该微处理器可发出该测试封包，并通过控制晶片至待测的周边装置。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述的周边装置收到测试封包后，回传至微处理器，以让微处理器判断是否与预设的测试封包相同。
4.一种测试装置，用以测试至少一周边装置，其中该周边装置具通用序列埠界面，其特征在于所述的测试装置包含一微处理器，内设有一记忆体，该记忆体存有一预设韧体程序；及一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接微处理器；其中该控制晶片设有复数个连接埠，用以连接待测的该周边装置。
5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于所述记忆体内还设有一测试封包，而该微处理器可发出该测试封包，并通过控制晶片至待测的周边装置。
6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于所述的周边装置收到测试封包后，回传至微处理器，以让微处理器判断是否与预设的测试封包相同。
7.一种测试装置，用以测试至少一周边装置，其中该周边装置具通用序列埠界面，其特征在于所述的测试装置包含一微处理器、一控制晶片及一韧体程序，其中该微处理器是通过该控制晶片与待测的周边装置连接，而该韧体程序则用以控制微处理器测试该周边装置。
8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于所述的控制晶片为一具通用序列埠控制晶片。
9.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于所述的微处理器可发出一预设的测试封包，并通过控制晶片至待测的周边装置。
10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于所述的周边装置收到该测试封包后，回传至微处理器，以让微处理器判断是否与预设的测试封包相同。
全文摘要
本发明所提供的一种测试装置，用以测试具通用序列埠界面的计算机周边装置，其主要包含有一微处理器；一记忆体，内预设有一韧体程序，且记忆体连接至微处理器；及一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接至微处理器，并设有复数个连接埠，用以连接待测的周边装置；其中记忆体内的韧体程序，是用以控制微处理器通过控制晶片对待测的周边装置进行测试。由于此测试装置仅利用一微处理器，通过一具通用序列埠界面的控制晶片来连接待测试的各周边装置，以对各周边装置进行测试，如此在测试各周边装置的过程中，利用此简单的电路架构来达到测试目的，即可有效降低成本及简化测试流程。
文档编号G06F11/26GK1555013SQ200310123029
公开日2004年12月15日 申请日期2003年12月23日 优先权日2003年12月23日
发明者黄晖杰 申请人:威盛电子股份有限公司