专利名称：触控面板检查装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及触控面板检查装置，详细而言涉及如下所述的触控面板检查装置可 通过使用非接触方式的供电电极及检测电极，能迅速且有效地实施在触控面板形成的配线 的导通及短路检查，而不损伤触控面板。其中，本发明不限于所谓的触控面板，也可针对如同触控面板一样具有在X轴方 向及Y轴方向排列成矩阵状的配线的检查对象物而实施检查。
背景技术：
以往，对于被称为触控面板(或触控屏幕、触控画面)的具有在ITO膜上形成的在 X轴方向及Y轴方向上配置成矩阵状的配线的检查对象物，分别使触头(针状的导通探针) 与配置于X轴方向与Y轴方向的各配线接触而实施各配线的导通以及与相邻的配线的短路检查。但是，在如此使触头与各配线接触来实施检查的方法中存在下述问题在ITO膜 上形成的配线与触头间不具稳定性，因氧化膜引起的接触电阻的不稳定性而无法准确测定 电特性。并且，因为触头与检查对象的配线被压接，因而存在触头接触配线而引起的凹痕形 成的问题。另一方面，如专利文献1中公开，已知有准确地检查触控面板整体的电阻值等电 特性的检查技术，该触控面板能精度良好地检测组装后的触控面板上的预定的触控输入位 置。如此，已公开有检查组装后的触控面板的功能的电特性的技术。但是，并未公开检查如上述组装前的配线的导通及短路的技术。并且，作为具有在表面上形成的配线的玻璃基板，存在等离子显示面板(PDP)等。 PDP的玻璃基板在单方向上形成有多个条状的配线。在制造工序中，需要检查多个排列在单 方向上的配线的导通及短路。作为这种PDP的检查装置，已提出了如专利文献2所公开的非接触检查技术。在 该专利文献2所公开的非接触检查技术中，将信号供给到成为检查对象的配线，并比较从 该配线所检测到的信号与从距离该配线间隔4或5个图形的配线所检测到的信号，来检测 差分以实施检查。但是，这种专利文献2所公开的技术，可针对并列设置在单方向的配线实施检查， 但无法检查如触控面板一样在X轴方向与y轴方向配置成矩阵状的配线。现有技术文献专利文献专利文献1 日本特开2005-274225号公报专利文献2 日本特开2006-200992号公报
发明内容
本发明是鉴于以上实际情况作出的，其提供一种触控面板检查装置，即使检查对
3象物为如具有在X轴方向及1轴方向配置成矩阵状的配线的触控面板一样的检查物，也能 通过以非接触检查方式实施检查，来缩短检查时间而有效地实施检查。技术方案1所述的发明提供一种触控面板检查装置，检测具有χ轴配线和y轴配 线的检查物的上述X轴配线和y轴配线的导通及短路，所述X轴配线，并列设置有多个棒状 配线，所述y轴配线，与上述χ轴配线成矩阵状而配置，且并列设置有多个棒状配线，其特征 在于，包括第一信号供给机构，供给用于实施成为上述检查对象的χ轴配线的导通检查的 交流信号；第二信号供给机构，供给用于实施成为上述检查对象的y轴配线的导通检查的 交流信号；第三信号供给机构，供给用于实施成为上述检查对象的χ轴配线与相邻的y轴 配线之间的短路检查的交流信号；检查探头部，具有多个供电部，为了检查上述检查对象 的配线的导通以及短路而供给来自各供给机构的交流信号；和多个验电部，检测来自该配 线的电信号；移动机构，使上述检查探头部在上述检查物的表面上沿预定轴方向移动；连 接机构，将上述检查探头部的多个供电部及该多个验电部与上述第一至第三信号供给机构 电连接；共用电极部，相对于上述多个χ轴配线的一端部和上述多个y轴配线的一端部均 以非接触的方式配置，并分别与上述第一信号供给机构的一端及上述第二信号供给机构的 一端电连接；和判定机构，根据来自上述检查探头部的检测信号，实施χ轴配线和y轴配线 各自的导通及短路检查；并且，上述检查探头部，包括第一供电部，以非接触的方式配置 于成为上述检查对象的χ轴配线的另一端部上，并且与上述第一信号供给机构的另一端电 连接；第一验电部，以非接触的方式配置于上述χ轴配线上，用于检测成为上述检查对象的 χ轴配线的电信号；多个第二供电部，分别以非接触的方式配置于上述多个y轴配线的另一 端部上，并与上述第二信号供给机构的另一端或上述第三信号供给机构的一端电连接；多 个第二验电部，分别以非接触的方式配置于上述多个y轴配线上，并检测上述第二信号供 给机构和/或上述第三信号供给机构所供给的交流信号引起的电信号；和第三供电部，与 上述第三信号供给机构的另一端电连接，并与成为上述检查对象的χ轴配线以非接触的方 式进行配置。技术方案2所述的发明，提供如技术方案1所述的触控面板检查装置，其特征在 于，上述第二信号供给机构向多个第二供电部供给的交流信号，分别是不同频率的交流信 号。技术方案3所述的发明，提供如技术方案1或2所述的触控面板检查装置，其特征 在于，第一至第三信号供给机构所供给的交流信号均是不同频率的交流信号。技术方案4所述的发明，提供如技术方案1所述的触控面板检查装置，其特征在 于，上述移动机构沿在上述y轴配线所延伸设置的y轴方向移动。通过提供所述发明，可悉数解决上述问题。根据技术方案1至4中任一项所述的发明，可提供一种触控面板检查装置，即使检 查对象物为如具有在X轴方向及y轴方向配置成矩阵状的配线的触控面板一样的检查物， 也能通过以非接触检查方式实施检查，来缩短检查时间而有效地实施检查。
图1是表示成为本发明检查对象的触控面板的一实施方式的简要俯视图。图2是用于说明本检查装置的检查方法的简要示意图。
图3是表示用于说明本检查装置的检查方法的交流信号与从图形(配线)检测到 的交流信号的图表。图4表示本发明检查装置的检查探头部3与共用电极部6的一实施方式。图5是表示本检查装置实施检查时的状态的简要俯视图。图6是表示实施χ轴配线的导通检查时的简要俯视图。其中，检查对象的χ轴配 线表示图1的Line :X6。图7是表示实施y轴配线的导通检查时的简要俯视图。其中，检查对象的y轴配 线表示图1的Line :Y1。图8是表示实施χ轴配线与y轴配线的短路检查时的简要俯视图。其中，检查对 象的X轴配线表示图1的Line :Xl，y轴配线表示图1的Line =Yl0图9是表示实施y轴配线的导通检查时的简要俯视图。其中，检查对象的y轴配 线表示图1的Line :Y8。标号的说明21…第一信号供给机构22...第二信号供给机构23…第三信号供给机构3…检查探头部71…第一供电部72…第二供电部73…第三供电部81…第一验电部82…第二验电部
具体实施例方式以下说明实施本发明的优选方式。 本检查装置可提高针对如触控面板一样具有χ轴方向与y轴方向的配置成矩阵状 的多个配线的基板、玻璃基板的检查效率。首先说明成为本检查装置的检查对象的触控面板。图1是表示成为本发明检查对象的触控面板的一实施方式的简要俯视图。该图1 的触控面板TP中，在玻璃基板上分别配置有多个配置于X轴方向的X轴配线与配置于y轴 方向的y轴配线。该图1中，χ轴配线形成有14条(以符号所示的Line :X1 Line :X14)， y轴配线形成有8条(以符号所示的Line =Yl Line :Y8)。触控面板TP的χ轴配线与y轴配线，以由所述配线覆盖画面上的触控区域(被Pl 与P2覆盖的部分)的方式而配置，如图1所示通过1条χ轴配线(及y轴配线)反复形成 宽幅部与窄幅部，形成为覆盖整个触控区域。通过这样形成，在使用触控面板TP时，可检测 被触碰的部位(接触部位)是位于哪个χ轴配线与哪个y轴配线。另外，χ轴配线与y轴配线并非各限定为14条与8条，可由触控面板制造商适当 调整。并且，宽幅部与窄幅部的长度、其大小也能由触控面板制造商适当调整。所述χ轴配线与y轴配线，其一端形成有标签(tag)部T，使其可与驱动器等电子零件连接，并分别延伸形成与其它电子零件电连接的电连接部(标签部T)。该标签部T形 成于在俯视图中脱离触控区域(Pl P2)的部位，且该标签部T能电连接。图1的触控面 板TP中，在面对纸面时的右侧分别形成有(χ轴配线与y轴配线的)标签部T。该标签部T 可在触控区域以外的部位形成一处，也可使χ轴配线与y轴配线的标签部T分别形成于周 缘部。本检查装置(未图示)具有第一信号供给机构21、第二信号供给机构22、第三信 号供给机构23、检查探头部3、移动机构、连接机构、共用电极部6和判定机构。第一信号供给机构21供给用于实施成为检查对象的χ轴配线的导通检查的第一 交流信号。第一信号供给机构21是将相位180度不同的两种交流电源经由地线连接而构 成的(参考图2所示的电源PWl与电源PW2)。该第一信号供给机构21的一端与共用电极部6电连接，其另一端与第一供电部71 电连接。因此，第一信号供给机构21经由共用电极部6和第一供电部71，将用于检查的交 流信号供给到χ轴配线。第二信号供给机构22供给用于实施成为检查对象的y轴配线的导通检查的第二 交流信号。该第二信号供给机构22与第一信号供给机构21相同地是将相位180度不同的 两种交流电源经由地线连接而构成的。该第二信号供给机构22的一端与共用电极部6电 连接，其另一端与第二供电部72电连接。因此，第二信号供给机构22经由共用电极部6和 第二供电部72将用于检查的交流信号供给到y轴配线。该第二信号供给机构22设为可针对在触控面板TP形成的全部y轴配线实施导通 检查。具体而言，则有设定与y轴配线数量相等的不同频率的交流信号，并分别将各种频率 的交流信号供给到y轴配线的方法，也可将2个不同频率的交流信号交替地供给到相邻的 y轴配线。另外，该第二信号供给机构22，优选准备相等于不同频率的交流信号数量的多个 交流信号源。第三信号供给机构23供给用于实施成为检查对象的χ轴配线与相邻而配置的y 轴配线之间的短路检查的第三交流信号。该第三信号供给机构23的一端与第二供电部72电连接，其另一端与第三供电部 73电连接。因此，第三信号供给机构23经由第二供电部72和第三供电部73，检查χ轴配 线与y轴配线的短路。以下使用简要示意图说明本检查装置的检查原理。图2是用于说明本检查装置的 检查方法的示意图。本检查装置将供电部A与供电部B以物理上非接触的方式配置于配线 W的两端部，以用于检查在玻璃基板上形成的配线W的导通。从供给180度不同的交流信号 的交流电源PWl和交流电源PW2，将频率相同且相位180度不同的交流信号分别供给到该供 电部A和供电部B (参考图3)。从2个交流电源PW1、PW2供给的交流信号，将用于检查的交流信号供给到供电部 A (或供电部B)，从供电部A (或供电部B)将该交流信号供给到配线W时，因为配线W与供 电部A静电电容耦合，因而在配线W产生相位前进90度的电流。此时，因为供电部A和供 电部B将相位180度不同的交流信号供给到配线W，因而当配线W不存在不良时(导通状态 良好时)，因从2个供电部供给的交流信号的影响而信号互相抵消(参考图3所示图形施加
6电流)。因此，为了检测在配线W产生的信号而配置的检测电极部C，检测出零电平的信号。假设，图2所示的配线W上的电阻所示部位存在有导通不良(断路不良)，则检测 电极部C会检测到接受从供电部A供给的交流信号影响的信号，而可检测导通不良。另外，该检测电极部在图2实施方式中，表示2个检测电极部(C、D)，但也可以是 仅使用一方检测电极部的结构，还可以是同时使用两个检测电极部的结构。第一信号供给机构21至第三信号供给机构23所供给的交流信号，也可全部设定 成不同频率。此时，可在检测到导通或短路不良时，确定某个配线上是否存在不良。图4表示本发明的检查装置的检查探头部3与共用电极部6的一实施方式。本发 明的检查探头部3，具有供给来自各供给机构的交流信号的多个供电部和检测来自该配线 的电信号的多个验电部，以对检查对象的配线的导通及短路进行检查。图4所示的检查探头部3具有第一供电部71，该第一供电部71以非接触的方式 配置于成为检查对象的X轴配线的另一端部上，并且与第一信号供给机构21的另一端电连 接。该第一供电部71配置成位于检查探头部3的χ轴配线左端。通过配置于该位置， 共用电极部6与第一供电部71可实施从χ轴配线的端点到端点的导通检查。另外，该第一供电部71设置成配置于χ轴配线最端部的宽幅部上。在χ轴配线上具有以非接触方式配置的第一验电部81，用于检测成为检查对象的 X轴配线的电信号。该第一验电部81配置于与第一供电部71相邻的X轴配线的宽幅部上。 虽然配置该第一验电部81的部位只要是第一供电部71与共用电极部6之间就不特别限 定，但优选为在面板区域内的部位。另外，第一供电部71与第一验电部81以非接触的方式配置于同一个χ轴配线上。第一验电部81如上所述配置于检查对象的χ轴配线(1条χ轴配线)上，但也能 设置第二个验电部(辅助验电部)而用于检测X轴配线的电信号。图4中，可将辅助验电 部83配置于位于面板区域右端的χ轴配线的宽幅部上的部位。检查探头部3具有多个第二供电部72，该第二供电部72分别以非接触的方式配置 于多个y轴配线的另一端部，并与第二信号供给机构22的另一端或第三信号供给机构23 的一端电连接。该第二供电部72设为与y轴配线的数量(图1的实施例中为8个)相等，各第二 供电部72分别以与y轴配线物理上非接触的方式配置。该第二供电部72连接到第二信号供给机构22与第三信号供给机构23，并通过连 接机构控制与其中任一方相连接，或与双方相连接。 检查探头部3具有多个第二验电部82，该第二验电部82分别以非接触的方式配置 于多个y轴配线上，检测由第二信号供给机构22和/或第三信号供给机构23所供给的交 流信号引起的电信号。该第二验电部82设置成与y轴配线的数量(图1的实施例中为8个)相等，各第 二验电部82分别以与y轴配线物理上非接触的方式配置。图4所示的检查探头部3中，相对于4条y轴配线的第二供电部72与第二验电部82，因y轴配线的标签部形状而将第二供电部72配置于面对纸面时检查探头部3的上侧， 并将第二验电部82配置于相比配置有该第二供电部72的y轴配线的宽幅部而位于相邻位 置的宽幅部的上方。针对其余4条y轴配线，第二验电部82配置于面对纸面时检查探头部 3的下侧，第二供电部72配置于相比配置有该第二验电部82的y轴配线的宽幅部而位于相 邻位置的宽幅部的上方。检查探头部3具有第三供电部73，该第三供电部73与第三信号供给机构23的另 一端电连接，并且以与成为检查对象的X轴配线非接触的方式配置。该第三供电部73与第一供电部71及第二供电部72配置于同样的成为检查对象 的χ轴配线上。该第三供电部73形成为配置于触控区域内χ轴配线的大致中央部的宽幅 部上。在表示本检查装置的检查探头部3的图4中，由电极部Xll表示第一供电部71， 由电极部X21表示第一验电部81，由电极部Yl 1、电极部Y21、电极部Y31、电极部Y41、电极 部Y52、电极部Y62、电极部Y72、电极部Y82表示多个第二供电部72，由电极部Y12、电极部 Y22、电极部Y32、电极部Y42、电极部Y51、电极部Y61、电极部Y71、电极部Y81表示第二验电 部82，由电极部X51表示第三供电部73，由电极部X91表示辅助验电部83。所述电极部形成为具有与配线的宽幅部相同程度的大小的形状(例如，圆形、矩 形)。检查探头部3由具有如上所述的电极部的板状部材形成，该检查探头部3通过在 玻璃基板上移动而实施检查。首先如图4，该检查探头部3形成为具有χ轴配线的长度与y 轴配线的宽幅部的相加部分的大小。共用电极部6，相对于多个χ轴配线的一端部和上述多个y轴配线的一端部均以 非接触的方式配置，并且分别与第一信号供给机构的一端和第二信号供给机构的一端电连 接。在图5的实施方式中，χ轴配线的标签部T和y轴配线的标签部集中在玻璃基板上的 一个部位，并使所述标签部T以全部物理上非接触状态的方式配置。另外，该共用电极部6， 也能与后述的检查探头部同时移动，但与后述的全部配线维持非接触状态。本检查装置将检查探头部3在作为检查物的玻璃基板的表面上沿预定轴方向(图 5中y轴配线的长轴方向ν)移动。该移动机构可使用利用了线性马达等的在直线轨道移动 的机构。本检查装置具有将检查探头部3的多个供电部及多个验电部与第一至第三信号 供给机构电连接的连接机构。该连接机构使用多个切换开关进行适当电连接。本检查装置具有判定机构，该判定机构根据来自检查探头部3的检测信号，实施 各χ轴配线和y轴配线的各自的导通及短路检查。该判定机构，根据从各验电部检测的检查信号，判定成为检查对象的χ轴配线和y 轴配线的导通及短路。在判定成为检查对象的χ轴配线的导通时，供给来自第一供电部71和共用电极部 6的交流信号，通过第一验电部81所检测的信号是受到从第一供电部71供给的交流信号引 起的影响，还是受到从共用电极部6供给的交流信号引起的影响中受到哪一个影响而进行 判定。其中，受到来自任一供电部的影响而信号被抵消时，判定为导通良好。在判定成为检查对象的y轴配线的导通时，供给来自第二供电部72和共用电极部6的交流信号，通过第二验电部82所检测的信号是受到从第二供电部72供给的交流信号引 起的影响，还是受到从共用电极部6供给的交流信号引起的影响中受到哪一个影响而进行 判定。其中，受到来自任一供电部的影响而信号被抵消时，判定为导通良好。在判定成为检查对象的χ轴配线和y轴配线的短路时，从第二供电部72和第三供 电部73供给第三信号供给机构23的交流信号，通过第二验电部82所检测的信号是受到从 第二供电部72供给的交流信号引起的影响，还是受到从第三供电部73供给的交流信号引 起的的影响中受到哪一个影响而进行判定。此时，存在短路不良时，来自第二供电部72和 第三供电部73的交流信号抵消，或受到来自第二供电部72的信号的影响。另外，不存在短路不良时，则受到来自第三供电部73的信号的影响。触控面板TP的标签部T，因为各配线的标签部T多个并列配置，因而存在与相邻的 标签部T短路不良的问题，特别是存在如图1所示的y轴配线的标签部T产生短路不良的 情况。此时，通过将交流信号供给到配置于检查对象的y轴配线与成为短路检查对象的 y轴配线的第二供电部72，当第二验电部82检测到来自其它y轴配线的交流信号时，即检 测到短路不良。并且，检测y轴配线的短路的交流信号可设定为不同频率的交流信号，也可以设 定交替地不同的频率而检测短路。以上说明，表示检查探头部3通过移动机构而沿y轴配线的长轴方向移动时的电 极部和供电部的配置，当检查探头部3沿χ轴配线的长轴方向移动时，电极部和供电部之间 的χ轴与1轴对应被替换配置。以上是本发明的触控面板检查装置的结构。接着说明本检查装置的动作。将触控面板TP配置于本检查装置的预定位置上，开始进行触控面板TP的检查 (参考图5)。如图5所示，检查探头部3通过移动机构而向面朝纸面时的下方移动。另外，检查图1的触控面板TP时，在将第一供电部71和第一验电部81配置于χ 轴配线上，并将各第二供电部72和第二验电部82配置于y轴配线Line =Yl Y4的y轴配 线上的情况下，开始进行检查。开始进行如上所述的检查时，进行χ轴配线Line =Xl的导通检查和y轴配线Line Yl Y4的导通检查。此时，例如实施如图6所示的χ轴配线的导通检查，并实施如图7所示的y轴配线 的导通检查。实施上述的χ轴配线和y轴配线的导通检查时，实施χ轴配线(Line :X1)和所述 y轴配线(line =Yl Y8)的短路检查。接着，检查探头部3沿长轴方向ν移动，以χ轴配线Line :X2作为检查对象而进行 检查。此时，第一供电部71和第一验电部81直到配置于χ轴配线Line :X2的宽幅部上为 止而移动。此时，与X轴配线Line =Xl时同样实施导通检查，实施与各y轴配线的短路检查。χ轴配线的检查对象成为χ轴配线Line :X14，实施该导通检查时，接着，如图9所示，实施y轴配线Line :Υ5 Υ8的导通检查。在各检查工序中，检测不良(导通不良、短路不良)。以上是本发明的动作的说明。
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权利要求
一种触控面板检查装置，检测具有x轴配线和y轴配线的检查物的所述x轴配线和y轴配线的导通及短路，所述x轴配线，并列设置有多个棒状配线，所述y轴配线，与所述x轴配线成矩阵状而配置，且并列设置有多个棒状配线，其特征在于，包括第一信号供给机构，供给用于实施成为所述检查对象的x轴配线的导通检查的交流信号；第二信号供给机构，供给用于实施成为所述检查对象的y轴配线的导通检查的交流信号；第三信号供给机构，供给用于实施成为所述检查对象的x轴配线与相邻的y轴配线之间的短路检查的交流信号；检查探头部，具有多个供电部，为了检查所述检查对象的配线的导通以及短路而供给来自各供给机构的交流信号；和多个验电部，检测来自该配线的电信号；移动机构，使所述检查探头部在所述检查物的表面上沿预定轴方向移动；连接机构，将所述检查探头部的多个供电部及该多个验电部与所述第一至第三信号供给机构电连接；共用电极部，相对于所述多个x轴配线的一端部和所述多个y轴配线的一端部均以非接触的方式配置，并分别与所述第一信号供给机构的一端及所述第二信号供给机构的一端电连接；和判定机构，根据来自所述检查探头部的检测信号，实施x轴配线和y轴配线各自的导通及短路检查；并且，所述检查探头部，包括第一供电部，以非接触的方式配置于成为所述检查对象的x轴配线的另一端部上，并且与所述第一信号供给机构的另一端电连接；第一验电部，以非接触的方式配置于所述x轴配线上，用于检测成为所述检查对象的x轴配线的电信号；多个第二供电部，分别以非接触的方式配置于所述多个y轴配线的另一端部上，并与所述第二信号供给机构的另一端或所述第三信号供给机构的一端电连接；多个第二验电部，分别以非接触的方式配置于所述多个y轴配线上，并检测所述第二信号供给机构和/或所述第三信号供给机构所供给的交流信号引起的电信号；和第三供电部，与所述第三信号供给机构的另一端电连接，并与成为所述检查对象的x轴配线以非接触的方式进行配置。
2.如权利要求1所述的触控面板检查装置，其特征在于，所述第二信号供给机构向多 个第二供电部供给的交流信号，分别是不同频率的交流信号。
3.如权利要求1或2所述的触控面板检查装置，其特征在于，第一至第三信号供给机构 所供给的交流信号均是不同频率的交流信号。
4.如权利要求1所述的触控面板检查装置，其特征在于，所述移动机构沿在所述y轴配 线所延伸设置的y轴方向移动。
全文摘要
本发明提供一种触控面板检查装置，其特征在于，包括第一信号供给机构，供给用于实施成为检查对象的x轴配线的导通检查的交流信号；第二信号供给机构，供给用于实施成为上述检查对象的y轴配线的导通检查的交流信号；第三信号供给机构，供给用于实施成为上述检查对象的x轴配线与相邻的y轴配线之间的短路检查的交流信号；检查探头部，具有多个供电部，为了检查上述检查对象的配线的导通以及短路而供给来自各供给机构的交流信号；和多个验电部，检测来自该配线的电信号；移动机构，使上述检查探头部在上述检查物的表面上沿预定轴方向移动。
文档编号G06F3/041GK101887098SQ20101017634
公开日2010年11月17日 申请日期2010年5月12日 优先权日2009年5月14日
发明者山下宗宽 申请人:日本电产理德株式会社