一种智能卡掉电测试方法、测试设备和被测设备的制作方法
【专利摘要】本发明公开了智能卡的掉电测试方法，该方法应用于测试设备，包括：在TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式指令；开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令。本发明能解决传统掉电测试需要专门的测试设备和编写专门的掉电测试用例导致的测试成本高、效率低、测试力度弱的问题。本发明还公开了测试设备、被测设备和测试系统。
【专利说明】—种智能卡掉电测试方法、测试设备和被测设备
【技术领域】
[0001]本发明涉及智能卡【技术领域】，尤其涉及的是一种智能卡掉电测试方法、测试设备、被测设备和掉电测试系统。
【背景技术】
[0002]智能卡的掉电测试，即防插拔测试，其目的是检测智能卡的片内操作系统(ChipOperating System, COS)与终端(如P0S机)交互过程中意外掉电时对数据完整性的保护和自动回滚的能力。例如，一次存款交易中，智能卡在返回状态前的任何时刻掉电，卡片再次上电后应能将数据回滚到交易前的状态。智能卡写入的数据必须保证其原子性，所谓的原子性就是指一个操作序列，这些操作要么全做要么全部不做，是一个不可分割的工作单位(也可称作事务)。以保证数据写入过程中出现异常能够对数据进行回滚，同时一旦写入成功，对数据的修改应该是永久的。
[0003]传统的掉电测试使用专门的测试设备(掉电测试仪)，并且针对测试设备编写专门的掉电测试用例和脚本对测试卡(智能卡)进行测试，测试时，掉电测试仪按照预设的时间间隔对测试卡进行掉电和重新上电，验证测试卡的状态，如果正常，则掉电测试仪继续间隔一定时间进行掉电，如此循环，直到完成整个应用的业务流程的掉电测试。
[0004]现有的掉电测试技术需要高精度的掉电测试仪器，越高精度(时间间隔越小，精度越高)的掉电测试仪，成本就越高，并且，由于需要编写专门的测试用例进行掉电测试，所以对cos测试的覆盖面不够(测试力度弱)，且测试过程复杂繁琐，另外，利用掉电测试仪进行测试所耗费的测试时间长，比如，测试一个50ms完成的交易，利用掉电测试仪按照0.01ms的精度进行掉电测试需要几个小时才能测试完成。
[0005]因此，现有的掉电测试方法存在成本高、效率低、测试力度弱的缺点。
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的技术问题是提供一种智能卡掉电测试方法、测试设备、被测设备和掉电测试系统，解决传统掉电测试需要专门的测试设备和编写专门的掉电测试用例导致的测试成本高、效率低、测试力度弱的问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本发明提供了一种智能卡的掉电测试方法，该方法应用于测试设备，包括:
[0008]在兼容性测试工具TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式的指令；
[0009]开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如接收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如接收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令；[0010]其中，所述测试脚本包含一条或多条测试命令。
[0011]进一步地，该方法还包括下述特点:
[0012]如接收到的状态字和测试数据不符合预期，则中止该测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令，并保存接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用。
[0013]进一步地，该方法还包括下述特点:
[0014]所述测试命令为应用协议数据单元APDU命令。
[0015]为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种智能卡的掉电测试方法，该方法应用于被测设备，所述被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，包括:
[0016]如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加；
[0017]在掉电模式下每接收到一条测试命令后，判断是否需要写存储器，如果需要，则写存储器，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，如相等则向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟COS掉电和重新上电，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；如果不需要，则执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据，在掉电模式下等待接收下一条测试命令。
[0018]进一步地，该方法还包括下述特点:
[0019]在掉电模式下等待接收下一条测试命令的过程中，还判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则关闭掉电模式。
[0020]进一步地，该方法还包括下述特点:
[0021]所述存储器是智能卡上的可擦写存储器。
[0022]进一步地，该方法还包括下述特点:
[0023]所述智能卡为Java卡。
[0024]为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种智能卡的掉电测试方法，包括:
[0025]测试设备采用如上所述的方法对被测设备进行掉电测试；
[0026]被测设备采用如上所述的方法接受测试设备的掉电测试。
[0027]为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种测试设备，包括:
[0028]掉电测试开启模块，用于在兼容性测试工具TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式的指令；
[0029]命令发送及处理模块，用于开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如接收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如接收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令；其中，所述测试脚本包含一条或多条测试命令。
[0030]进一步地，该测试设备还包括下述特点:
[0031]所述命令发送及处理模块，还用于如接收到的状态字和测试数据不符合预期，则中止该测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令，并保存接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用。[0032]为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种被测设备，所述被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，该被测设备包括:
[0033]掉电测试开启模块，用于如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加；
[0034]命令接收及处理模块，用于在掉电模式下每接收到一条测试命令后，判断是否需要写存储器，如果需要，则写存储器，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，如相等则向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟cos掉电和重新上电，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；如果不需要，则执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据，在掉电模式下等待接收下一条测试命令。
[0035]进一步地，该被测设备还包括下述特点:
[0036]所述命令接收及处理模块，用于在掉电模式下等待接收下一条测试命令的过程中，还判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则关闭掉电模式。
[0037]进一步地，该被测设备还包括下述特点:
[0038]所述智能卡为Java卡。
[0039]为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种智能卡的掉电测试系统，包括:上述测试设备和上述被测设备。
[0040]与现有技术相比，本发明提供的一种智能卡掉电测试方法、测试设备、被测设备和掉电测试系统，在被测设备(模拟器)上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并安装TCK的测试用例，由测试设备向被测设备发送指令开启掉电测试，被测设备对写存储器操作的次数进行计数，每间隔一定的写操作次数模拟一次掉电和重新上电，并向测试设备返回掉电状态字，测试设备接收到掉电状态字，则重新运行该测试脚本，否则检查被测设备返回的状态字和测试数据是否符合预期，然后进行处理，能够解决传统掉电测试需要专门的测试设备和编写专门的掉电测试用例导致的测试成本高、效率低、测试力度弱的问题。
【专利附图】
【附图说明】
[0041]图1为本发明实施例的一种智能卡掉电测试方法(测试设备)的流程图。
[0042]图2为本发明实施例的一种智能卡掉电测试方法(被测设备)的流程图。
[0043]图3为本发明实施例的测试设备进行掉电测试的详细流程图。
[0044]图4为本发明实施例的被测设备(模拟器)进行掉电测试的详细流程图。
[0045]图5为本发明实施例的测试设备的结构示意图。
[0046]图6为本发明实施例的被测设备的结构示意图。
[0047]图7为本发明实施例的一种智能卡掉电测试系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0048]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
[0049]Java 规范是开放标准，TCK (Technology Compatibility Kit,兼容性测试工具)是一套由一组测试包和相应的测试工具组成的工具包，用于保证一个使用Java技术的实现能够完全遵守其适用的Java平台规范，并且符合相应的参考实现。
[0050]Java Card技术是把Java编程语言的一个子集同一个优化的运行时环境结合在一起的技术。这种优化是专门针对小存储量的嵌入式设备的，例如智能卡。Java Card技术的目标是让那些资源受限的智能卡等设备受益于Java语言开发的软件。Java card技术规范包括三部分:1、Java Card Virtual Machine规范:该规范定义了 Java语言的一个子集和适用于智能卡的虚拟机。2、Java Card Runtime Environment规范:该规范更进一步定义了基于Java的智能卡的运行时环境。3、Java Card API规范:该规范定义了为智能卡应用程序量身定制的核心框架以及各种包和类。
[0051]Java Card TCK是一套由一组测试包和相应的自动化测试软件组成的工具包，用于保证一个使用Java Card技术的实现能够完全遵守其相应的Java Card平台规范。JavaCard TCK的测试包中提供了一系列用于Java Card测试的测试用例。
[0052]本发明提供一种基于Java Card TCK的掉电测试方法，在被测设备(模拟器)上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并安装TCK的测试用例，由测试设备向被测设备发送指令开启掉电测试，被测设备对写存储器操作的次数进行计数，每间隔一定的写操作次数模拟一次掉电和重新上电，并向测试设备返回掉电状态字，测试设备接收到掉电状态字，则重新运行该测试脚本，否则检查被测设备返回的状态字和测试数据是否符合预期，然后进行处理。本发明的测试用例基于TCK，几乎覆盖了 Java Card所有功能的测试，因此测试力度强，并且，通过软件控制掉电，无需专门的掉电测试仪，因此降低了测试成本。
[0053]如图1所示，本发明实施例提供了一种智能卡的掉电测试方法，该方法应用于测试设备，包括:
[0054]S10，在兼容性测试工具TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式的指令；
[0055]S20，开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如接收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如接收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令；其中，所述测试脚本包含一条或多条测试命令。
[0056]该方法还可以包括下述特点:
[0057]较佳地，步骤S10之前，还包括:测试设备与被测设备之间建立socket连接。
[0058]较佳地，测试命令是应用协议数据单元(Application Protocol Data Unit,APDU)命令；
[0059]较佳地，步骤S20中，还包括:如接收到的状态字和测试数据不符合预期，则中止该测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令，并保存接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用。
[0060]较佳地，表示掉电的状态字为特定的状态字，比如OxFFFF。
[0061]如图2所示，本发明实施例提供了一种智能卡的掉电测试方法，该方法应用于被测设备，所述被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统COS，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，包括:
[0062]S10，如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加；
[0063]S20，在掉电模式下每接收到一条测试命令后，判断是否需要写存储器，如果需要，则写存储器，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，如相等则向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟cos掉电和重新上电，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；如果不需要，则执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；
[0064]该方法还可以包括下述特点:
[0065]较佳地，在掉电模式下等待接收下一条测试命令的过程中，还判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则关闭掉电模式。
[0066]较佳地,所述智能卡是Java卡；
[0067]较佳地，所述测试设备与被测设备之间建立socket连接。
[0068]较佳地，所述测试命令是应用协议数据单元APDU命令；
[0069]较佳地，表示掉电的状态字为特定的状态字，比如OxFFFF。
[0070]其中，所述存储器是智能卡上的可擦写存储器(比如，EEPR0M)。
[0071]较佳地，为了提高掉电测试的精度，可以设置所述掉电步长为最小值，比如1。
[0072]模拟器在模拟写存储器操作时进行掉电，并且采用写操作次数为间隔进行掉电，与传统掉电测试方案利用时间间隔掉电的方案相比测试效率更高、测试精度更高。如果将掉电步长设置的越小，则掉电测试越精确。
[0073]如图3所示，测试设备是PC机(运行兼容性测试工具TCK)，被测设备是模拟器(模拟运行智能卡的片内操作系统COS的模拟平台)，将TCK测试用例安装到所述模拟器上后，测试设备进行掉电测试的流程包括:
[0074]步骤S101，向模拟器发送开启掉电模式的指令；
[0075]步骤S102，开始运行测试脚本；
[0076]步骤S103，向模拟器发送一条测试命令；
[0077]步骤S104，接收模拟器在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据；
[0078]步骤S105，判断状态字是否为掉电状态字，是则重新开始运行该测试脚本，也即，返回步骤S102 ;否则执行步骤S106 ；
[0079]步骤S106，判断状态字和测试数据是否符合预期，是则执行步骤S107，否则执行步骤S109 ；
[0080]步骤S107，是否存在下一条测试命令，是则向模拟器发送下一条测试命令，也即返回步骤S103，否则执行步骤S108 ；
[0081]步骤S108，结束所述测试脚本的运行，向模拟器发送关闭掉电模式的指令；
[0082]步骤S109，中止该测试脚本的运行，向模拟器发送关闭掉电模式的指令，并保存返回结果(接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用)。
[0083]如图4所示，被测设备(模拟器)上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，模拟器进行掉电测试的处理流程包括:
[0084]步骤S201，如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则执行步骤S202 ；
[0085]步骤S202，进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；
[0086]其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加；
[0087]步骤S203，接收一条测试命令；
[0088]步骤S204，判断是否需要写存储器，是则执行步骤S205，否则执行步骤S208 ；
[0089]步骤S205，写存储器；
[0090]步骤S206，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，是则执行步骤S207，否则转到步骤S209 ；
[0091]步骤S207，向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟COS掉电和重新上电，转到步骤S209 ；
[0092]步骤S208，执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据；
[0093]步骤S209，判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则执行步骤S210，否则返回步骤S203 ；
[0094]步骤S210，关闭掉电模式。
[0095]如图5所示，本发明实施例提供了 一种测试设备，包括:
[0096]掉电测试开启模块，用于在兼容性测试工具TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式的指令；
[0097]命令发送及处理模块，用于开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如接收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如接收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令；其中，所述测试脚本包含一条或多条测试命令。
[0098]该测试设备还可以包括下述特点:
[0099]较佳地，所述命令发送及处理模块，还用于如接收到的状态字和测试数据不符合预期，则中止该测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令，并保存接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用。
[0100]较佳地，所述测试命令是应用协议数据单元APDU命令；
[0101]所述被测设备是模拟智能卡片内操作系统COS的模拟平台；其中，所述智能卡为Java
[0102]如图6所示，本发明实施例提供了一种被测设备，所述被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，该被测设备包括:
[0103]掉电测试开启模块，用于如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加；
[0104]命令接收及处理模块，用于在掉电模式下每接收到一条测试命令后，判断是否需要写存储器，如果需要，则写存储器，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，如相等则向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟cos掉电和重新上电，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；如果不需要，则执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据，在掉电模式下等待接收下一条测试命令。
[0105]所述被测设备还可以包括下述特点:
[0106]较佳地，所述命令接收及处理模块，用于在掉电模式下等待接收下一条测试命令的过程中，还判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则关闭掉电模式。
[0107]较佳地，所述测试命令为应用协议数据单元APDU命令。
[0108]较佳地，所述存储器是智能卡上的可擦写存储器。
[0109]较佳地，所述智能卡为Java卡。
[0110]如图7所示，本发明实施例提供了一种智能卡掉电测试系统，包括上述测试设备和被测设备。
[0111]上述实施例提供的一种智能卡掉电测试方法、测试设备、被测设备和掉电测试系统，在被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统C0S，并安装TCK的测试用例，由测试设备向被测设备发送指令开启掉电测试，被测设备对写存储器操作的次数进行计数，每间隔一定的写操作次数模拟一次掉电和重新上电，并向测试设备返回掉电状态字，测试设备接收到掉电状态字，则重新运行该测试脚本，否则检查被测设备返回的状态字和测试数据是否符合预期，然后进行处理。本发明能够解决传统掉电测试需要专门的测试设备和编写专门的掉电测试用例导致的测试成本高、效率低、流程复杂的问题。
[0112]本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现，相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
[0113]需要说明的是，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种智能卡的掉电测试方法，该方法应用于测试设备，包括:在兼容性测试工具TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式的指令；开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如接收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如接收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令；其中，所述测试脚本包含一条或多条测试命令。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于:如接收到的状态字和测试数据不符合预期，则中止该测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令，并保存接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于:所述测试命令为应用协议数据单元APDU命令。
4.一种智能卡的掉电测试方法，该方法应用于被测设备，所述被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统COS，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，包括:如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加； 在掉电模式下每接收到一条测试命令后，判断是否需要写存储器，如果需要，则写存储器，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，如相等则向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟COS掉电和重新上电，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；如果不需要，则执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据，在掉电模式下等待接收下一条测试命令。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于:在掉电模式下等待接收下一条测试命令的过程中，还判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则关闭掉电模式。
6.如权利要求4所述的方法，其特征在于:所述存储器是智能卡上的可擦写存储器。
7.如权利要求4-6中任一项所述的方法，其特征在于:所述智能卡为Java卡。
8.一种智能卡的掉电测试方法，包括:测试设备采用如权利要求1-3中任一项所述的方法对被测设备进行掉电测试；被测设备采用如权利要求4-7中任一项所述的方法接受测试设备的掉电测试。
9.一种测试设备，包括:掉电测试开启模块，用于在兼容性测试工具TCK测试用例被安装到被测设备上后，向被测设备发送开启掉电模式的指令；命令发送及处理模块，用于开始运行测试脚本；每发送一条测试命令后，接收被测设备在执行该测试命令后返回的状态字和测试数据，如接收到的状态字为表示掉电的状态字，则重新开始运行该测试脚本；如接收到的状态字和测试数据符合预期，则判断是否存在下一条测试命令，是则继续发送下一条测试命令，否则结束所述测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令；其中，所述测试脚本包含一条或多条测试命令。
10.如权利要求9所述的测试设备，其特征在于:所述命令发送及处理模块，还用于如接收到的状态字和测试数据不符合预期，则中止该测试脚本的运行，向被测设备发送关闭掉电模式的指令，并保存接收到的状态字和测试数据供后续错误分析用。
11.一种被测设备，所述被测设备上模拟运行智能卡的片内操作系统COS，并且安装了兼容性测试工具TCK的测试用例，该被测设备包括:掉电测试开启模块，用于如接收到测试设备发送的开启掉电模式的指令，则进入掉电模式，初始化写操作计数器和掉电位置变量；其中，所述写操作计数器自动对每一次写存储器操作进行次数累加；命令接收及处理模块，用于在掉电模式下每接收到一条测试命令后，判断是否需要写存储器，如果需要，则写存储器，判断所述写操作计数器的当前计数值与所述掉电位置变量的值是否相等，如相等则向测试设备返回表示掉电的状态字，将所述掉电位置变量的值增加一个掉电步长，模拟cos掉电和重新上电，在掉电模式下等待接收下一条测试命令；如果不需要，则执行该测试命令，向测试设备返回状态字和测试数据，在掉电模式下等待接收下一条测试命令。
12.如权利要求11所述的被测设备，其特征在于:所述命令接收及处理模块，用于在掉电模式下等待接收下一条测试命令的过程中，还判断是否接收到测试设备发送的关闭掉电模式的指令，是则关闭掉电模式。
13.如权利要求 11或12所述的方法，其特征在于:所述智能卡为Java卡。
14.一种智能卡的掉电测试系统，包括:如权利要求9-10中任一项所述的测试设备；如权利要求11-13中任一项所述的被测设备。
【文档编号】G06F11/22GK103678067SQ201310706883
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月19日 优先权日:2013年12月19日
【发明者】肖洪琨 申请人:大唐微电子技术有限公司