缺陷检测装置及偏光片贴附设备的制作方法
【专利摘要】本发明提供了一种缺陷检测装置及偏光片贴附设备，该缺陷检测装置包括激光发射器、图像采集装置；所述激光发射器用于向待测面板的表面照射激光；所述图像采集装置用于根据所述表面中被照射激光的区域反射的激光获取所述被照射激光的区域中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域的灰度图像。本发明提供的缺陷检测装置，首先通过激光发射器向面板的表面发射激光，而后通过图像采集装置根据待测面板表面反射的激光得到被照射激光区域的灰度图像，在得到的灰度图像中，不同位置的高度通过不同的灰度显示，从而能够更加直观的反映出被照射区域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷检测的可靠性。
【专利说明】缺陷检测装置及偏光片贴附设备
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示领域，尤其涉及一种缺陷检测装置及偏光片贴附设备。
【背景技术】
[0002]薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor-Liquid Crystal Display,简称TFT-LCD)是当前主流的平板显示器，其基本结构包括彩膜基板、液晶层、阵列基板、偏光片等结构。
[0003]在液晶显示器的制作工艺中，当Single Panel在Sliming后，由于打磨缘故容易使面板的表面出现凹凸缺陷点，因此，需要在贴附偏光片(Pol)之前对面板的表面进行检测，目前，通常是以人眼观察的方式判断面板上是否存在缺陷点，然而，对于面板上较小的凹凸点，其不易被人眼识别，容易造成漏检，从而造成面板表面缺陷检测可靠性不高的问题。
【发明内容】
[0004](一 )要解决的技术问题
[0005]本发明要解决的技术问题是提供一种缺陷检测装置及偏光片贴附设备，能够提高面板表面缺陷检测的可靠性。
[0006]( 二 )技术方案
[0007]为解决上述技术问题，本发明提供了一种缺陷检测装置，包括激光发射器、图像采集装置；
[0008]所述激光发射器用于向待测面板的表面照射激光；
[0009]所述图像采集装置用于根据所述表面中被照射激光的区域反射的激光获取所述被照射激光的区域中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域的灰度图像。
[0010]进一步地，所述图像采集装置包括:
[0011]光线接收模块，用于采集所述表面中被照射激光的区域反射的激光；
[0012]转换模块，用于根据所述反射的激光获取所述被照射激光的区域中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域的灰度图像。
[0013]进一步地，所述缺陷检测装置还包括传送装置，所述激光发射器为固定在所述传送装置上方的线性激光发射器，通过所述传送装置控制所述待测面板在预设的方向移动得到多个对应所述表面不同区域的灰度图像。
[0014]进一步地，所述待测面板的移动方向与所述线性发射器发射的线性激光垂直。
[0015]进一步地，所述激光发射器以及所述光线接收模块均位于所述传送装置的正上方。
[0016]进一步地，所述图像采集装置还包括拼接模块，用于将得到的多个灰度图像进行拼接，得到所述待测面板的表面的整体灰度图像。
[0017]进一步地，还包括显示装置，用于显示所述图像采集装置得到的灰度图像。
[0018]为解决上述技术问题，本发明还提供了一种偏光片贴附设备，包括上述任一的缺陷检测装置。
[0019](三)有益效果
[0020]本发明提供的缺陷检测装置，首先通过激光发射器向面板的表面发射激光，而后通过图像采集装置根据待测面板表面反射的激光得到被照射激光区域的灰度图像，在得到的灰度图像中，不同位置的高度通过不同的灰度显示，从而能够更加直观的反映出被照射区域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷检测的可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0021]图1是本发明实施方式提供的一种缺陷检测装置的示意图；
[0022]图2是本发明实施方式提供的另一种缺陷检测装置的示意图。
【具体实施方式】
[0023]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0024]图1是本发明实施方式提供的一种缺陷检测装置的示意图，该缺陷检测装置包括激光发射器1、图像采集装置2;
[0025]所述激光发射器I用于向待测面板3的表面照射激光；
[0026]所述图像采集装置2用于根据所述表面中被照射激光的区域31反射的激光获取所述被照射激光的区域31中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域31的灰度图像。
[0027]具体地，图像采集装置可采用激光三角法获取被照射激光的区域中不同位置的高度信息，其中，该图像采集装置包括:
[0028]光线接收模块，用于采集所述表面中被照射激光的区域反射的激光；
[0029]转换模块，用于根据所述反射的激光获取所述被照射激光的区域中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域的灰度图像。
[0030]本发明实施方式提供的缺陷检测装置，首先通过激光发射器向面板的表面发射激光，而后通过图像采集装置根据待测面板表面反射的激光得到被照射激光区域的灰度图像，在得到的灰度图像中，不同位置的高度通过不同的灰度显示，从而能够更加直观的反映出被照射区域中的缺陷信息，提高面板表面缺陷检测的可靠性。
[0031]参见图2，图2是本发明实施方式提供的另一种缺陷检测装置的示意图，该缺陷检测装置包括激光发射器1、图像采集装置、传送装置4 ；
[0032]其中，激光发射器I为线性激光发射器，图像采集装置包括光线接收模块21和转换模块22，激光发射器I和光线接收模块21均固定在传送装置4的上方，通过所述传送装置控制所述待测面板3在预设的方向移动从而能够得到多个对应于待测面板3表面上不同区域的灰度图像。优选地，上述激光发射器I以及光线接收模块21可均设置于传送装置4的正上方。
[0033]本发明实施方式中，图像采集装置可采用激光三角法获取待测面板表面各个位置的高度信息，具体地，激光发射器I以预设的发射角度对待测面板的表面进行激光照射，在待测面板表面的宽方向上产生一条线性激光束，光线接收模块可采用面阵CCD图像传感器，对待测面板表面的激光束进行扫描，其扫描的方向垂直于待测面板表面，从而得到被照射区域在宽方向上各个位置的高度信息，在被照射区域中，其宽方向上的各个位置得到各自的高度信息，而后通过转换模块将各个位置的高度信息转换为对应的灰度信息，从而得到被照射区域的灰度图像，而后，通过传送装置4控制待测面板3在预设的方向移动，其移动方向可与所述线性发射器发射的线性激光术相垂直(即待测面板的移动方向与待测面板4的宽方向垂直)，从而改变待测面板表面被照射激光区域的位置，光线接收模块再次对待测面板表面的激光束进行扫描，从而得到改变后的激光照射区域中宽方向上各个位置的高度信息，进而得到对应的灰度图像，通过控制传送装置的移动速度和光线接收模块的扫描频率，从而能够得到待测面板表面在长方向上(即移动方向)各个区域的灰度图像。优选地，上述图像采集装置还包括拼接模块，通过该拼接模块将得到的多个灰度图像进行拼接，从而能够得到待测面板的表面的整体灰度图像。
[0034]优选地，参见图2，上述的缺陷检测装置还包括显示装置5，通过显示装置5可实时地显示图像采集装置得到的灰度图像，从而方便用户查看检测结果。
[0035]本发明实施方式提供的缺陷检测装置，通过激光发射器在待测面板的表面照射线性激光，并通过传送装置改变待测面板表面被照射激光的区域，使得图像采集模块能够得到待测面板表面在移动方向上各个区域的灰度图像，而后将得到的各个区域的灰度图像拼接得到待测面板的表面的整体灰度图像，通过该待测面板的整体灰度图像能够直观地反映出待测面板表面的缺陷信息，避免人为因素对面板表面缺陷检测的影响，提高面板表面缺陷检测的可靠性。
[0036]此外，本发明实施方式还提供了一种偏光片贴附设备，包括上述的缺陷检测装置。
[0037]以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关【技术领域】的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
【权利要求】
1.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括激光发射器、图像采集装置； 所述激光发射器用于向待测面板的表面照射激光； 所述图像采集装置用于根据所述表面中被照射激光的区域反射的激光获取所述被照射激光的区域中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域的灰度图像。
2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像采集装置包括: 光线接收模块，用于采集所述表面中被照射激光的区域反射的激光； 转换模块，用于根据所述反射的激光获取所述被照射激光的区域中不同位置的高度信息，并将所述高度信息转换为对应的灰度信息，得到所述被照射激光的区域的灰度图像。
3.根据权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括传送装置，所述激光发射器为固定在所述传送装置上方的线性激光发射器，通过所述传送装置控制所述待测面板在预设的方向移动得到多个对应所述表面不同区域的灰度图像。
4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述待测面板的移动方向与所述线性发射器发射的线性激光垂直。
5.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述激光发射器以及所述光线接收模块均位于所述传送装置的正上方。
6.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像采集装置还包括拼接模块，用于将得到的多个灰度图像进行拼接，得到所述待测面板的表面的整体灰度图像。
7.根据权利要求1至6任一所述的缺陷检测装置，其特征在于，还包括显示装置，用于显示所述图像采集装置得到的灰度图像。
8.一种偏光片贴附设备，其特征在于，包括如权利要求1-7任一所述的缺陷检测装置。
【文档编号】G06T5/50GK104316541SQ201410645979
【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年11月12日 优先权日:2014年11月12日
【发明者】孙琦, 马彬, 赵秀强 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司