1.一种嵌入式测试存储系统，其特征在于，包括主处理器电路、通讯接口、信号采集电路、信号调理电路接口和SDRAM存储接口电路；
所述主处理器电路的第一输入端与通讯接口相连，主处理器电路的第二输入端与信号采集电路的输出端相连，主处理器电路的第三端是一个双向接口，与SDRAM存储接口电路相连；信号调理电路接口的输出端与信号采集电路的输入端相连，信号调理电路接口的输入端用于接入外部模拟信号。
2.如权利要求1所述的嵌入式测试存储系统，其特征在于，所述主处理器电路包括ARM微处理器、Fabric查询表模块、SMC_FIC软存储模块、CORE_AXI高级可扩展模块、SDR_AXI高级可扩展接口模块、DDR Bridge桥式连接模块、RS422串口总线模块、AD采样控制转换模块和FAB_CCC时钟调节模块；
所述RS422串口总线模块和AD采样控制转换模块通过AHB总线矩阵与ARM微处理器的一端相连；所述ARM微处理器的另一端与DDR Bridge桥式连接模块的第一端相连；所述SMC_FIC软存储模块的第一端与DDRBridge桥式连接模块的第二端相连；所述CORE_AXI高级可扩展模块的第一端与SMC_FIC软存储模块的第二端相连；所述SDR_AXI高级可扩展接口模块的第一端与CORE_AXI高级可扩展模块的第二端相连；所述Fabric查询表模块的第一端与SDR_AXI高级可扩展接口模块的第二端相连，第二端用作连接外部SDRAM存储器的接口；所述FAB_CCC时钟调节模块的第一端与SDR_AXI高级可扩展接口模块的第三端相连，第二端与DDRBridge桥式连接模块的第三端相连。
3.如权利要求2所述的嵌入式测试存储系统，其特征在于，所述RS422串口总线模块用于将主处理器的总线接口连接到AHB总线矩阵，并通过Fabric查询表模块与所述通讯接口连接，实现数据交互；
AD采样控制转换模块用于将所述信号采集电路采集的模拟信号转换为数字信号后通过AHB总线矩阵和Fabric查询表模块发送到ARM微处理器，实现对采集到的模拟信号的转换及传输；
信号调理电路接口用于将外部模拟信号调理到AD采样控制转换模块可采样的信号范围；
外部SDRAM存储接口电路通过SDR_AXI高级可扩展接口模块连接到CORE_AXI高级可扩展模块，并通过SMC_FIC软存储模块将外部SDRAM存储器的数据发送ARM微处理器，或将ARM微处理器接收到的数据发送给外部SDRAM存储器，实现数据读取和存储；
DDR Bridge桥式连接模块用于实现SMC_FIC软存储模块与ARM模块的数据交互，FAB_CCC时钟调节模块用于为DDR Bridge桥式连接模块和SDR_AXI高级可扩展接口模块提供可调时钟。