本发明涉及控制器领域，具体而言，涉及一种故障自检方法、一种故障自检装置、一种微控制器和一种计算机可读存储介质。
背景技术：
采用MCU(微控制器)作为控制器的家用电器越来越多，MCU包括ROM(只读存储器)，ROM用于存储程序代码，由于ROM作为存储单元，也存在一定的故障几率，在ROM发生故障时，会导致程序代码产生混乱，进而可能产生无法预估的故障，更严重的可能生安全危险。
相关技术中，针对存储器校验中计算使用到的CRC校验算法，CRC校验计算会占用很多CPU资源，导致每次的校验区域变小，同时存放预制CRC结果的数组或者区域就会变大，占用存储空间，从而会影响MCU的正常运行。
技术实现要素：
为了解决上述技术问题至少之一，本发明的一个目的在于提出一种故障自检方法。
本发明的另一个目的在于提出一种故障自检装置。
本发明的再一个目的在于提出一种。
本发明的又一个目的在于提出一种计算机可读取介质
为了实现上述目的，本发明第一方面的实施例提出了一种故障自检方法，包括：根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据；根据地址数据依次对父区域执行故障校验；在每个父区域校验完毕时，检测校验结果是否与校验预制值匹配；在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载。
在该技术方案中，通过读取微控制器(MCU)的只读存储器(ROM)的存储区间，以确定ROM存储区间的大小，并根据MCU的运行速度对存储区间进行分区，得到多个父区域，在运行速度较快时，分区数量较多，在运行速度较慢时，分区数量较少，并记录每个分区的地址，以根据地址逐一进行故障校验，得到对应的校验值，通过检测校验值与校验值是否匹配(通常比较是否一致)，以在检测到不匹配时，表明存在异常，一方面，通过MCU控制关闭负载，以防止在ROM发生故障时，负载根据ROM中的的混乱代码运行，进而降低事故发生的概率，另一方面，通过进行区域划分，能够减少验证过程中对CPU资源的占用，在保证了MCU正常运行的同时，有利于提升校验效率。
另外，本发明提供的上述实施例中的故障自检方法还可以具有如下附加技术特征：
在上述技术方案中，优选地，根据地址数据依次对父区域执行故障校验，具体包括以下步骤：将每个父区域划分为第二数量的子区域；在根据地址数据确定对应的父区域后，对父区域内的每个子区域执行循环冗余校验，直至父区域校验完成，并生成校验结果。
在该技术方案中，通过将每个父区域进一步划分为第二数量的子区域，从而将ROM的存储区间划分为第一数量X第二数量个虚拟子区间，并以子区间为单位进行循环冗余校验(CRC校验)，在一个父区间内的所有子区间完全校验完毕后，生成校验结果，并进行下一个负区间中的子区间的CRC校验，通过进一步减少CRC校验单位时间内的数据处理量，以进一步减少CPU的占用量，在实现自检功能的同时，维持MCU的正常运行。
在上述任一技术方案中，优选地，对父区域内的每个子区域执行循环冗余校验，具体包括以下步骤：根据预设循环周期对每个子区域执行循环冗余校验，并在一个循环周期完毕后，生成子校验结果；将子校验结果确定为下个循环周期的输入值，并在循环周期数达到预设循环周期时，将最后的子校验结果确定为父区域的校验结果。
在该技术方案中，通过周期性对每个子区域进行CRC校验，并将上个周期的子校验结果，作为下个周期的输入值，在对第二数量的子区域校验完毕后，将最后的子校验结果作为一个父区域的校验结果，从而完成一个父区域的校验，并根据校验结果确定该区域是否发生故障，最终只需要得到第一数量的校验结果，从而能够减少校验结果的占用空间。
在上述任一技术方案中，优选地，根据预设循环周期对每个子区域执行循环冗余校验，具体包括以下步骤：确定生成多项式，并根据生成多项式确定校验数据帧；确定初始数据帧，初始数据帧分别包括基于子区域生成的信息数据帧以及校验数据帧；对初始数据帧与生成多项式执行除法操作，生成CRC校验码，并将CRC校验码确定为子校验结果，以根据子校验结果与预设循环周期进入下个循环周期。
在该技术方案中，通过确定生成多项式，以将多项式对应的二进制数作为校验使用的除数，并根据二进制数的位数确定校验数据帧，由于信息数据帧也是一个二进制数组，从而将初始数据帧确定为一个多位的二级制数，通过将初始数据帧与生成多项式做除法，得到的余数为CRC校验码，以作为下一个循环周期中的校验数据帧，直至周期性循环结束后，最后得到的余数为校验结果，以将校验结果与预制验证值进行比较，根据比较结果判定是否存在故障。
在上述任一技术方案中，优选地，在根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据前，还包括：将第一数量的校验预制值存储于只读存储器中的任一存储区域中；在任一存储区域中设置校验值，以根据校验值检测任一存储区域是否故障。
在该技术方案中，通过将第一数量的校验预制值存储在任一存储区域，该存储区域用于存储校验预制值，通过在该区域对应设置校验值，以根据校验值检测该区域是否存在故障，进而实现了整个ROM存储区间的故障检测，以避免在存放CRC校验结果区域发生错误时，导致故障误判。
在上述任一技术方案中，优选地，在检测到校验结果与预设校验阈值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载，还包括：在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，生成报错信号，以提示只读存储器故障。
在该技术方案中，通过在控制关闭连接负载的同时，生成报错信号，以提示存储器故障，进而使用户根据报错信号及时进行问题定位与修复。
本发明第二方面的实施例提出了一种故障自检装置，包括：划分单元，用于根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据；校验单元，用于根据地址数据依次对父区域执行故障校验；检测单元，用于在每个父区域校验完毕时，检测校验结果是否与校验预制值匹配；控制单元，用于在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载。
在该技术方案中，通过读取微控制器(MCU)的只读存储器(ROM)的存储区间，以确定ROM存储区间的大小，并根据MCU的运行速度对存储区间进行分区，得到多个父区域，在运行速度较快时，分区数量较多，在运行速度较慢时，分区数量较少，并记录每个分区的地址，以根据地址逐一进行故障校验，得到对应的校验值，通过检测校验值与校验值是否匹配(通常比较是否一致)，以在检测到不匹配时，表明存在异常，一方面，通过MCU控制关闭负载，以防止在ROM发生故障时，负载根据ROM中的的混乱代码运行，进而降低事故发生的概率，另一方面，通过进行区域划分，能够减少验证过程中对CPU资源的占用，在保证了MCU正常运行的同时，有利于提升校验效率。
在上述技术方案中，优选地，划分单元还用于：将每个父区域划分为第二数量的子区域；校验单元还用于：在根据地址数据确定对应的父区域后，对父区域内的每个子区域执行循环冗余校验，直至父区域校验完成，并生成校验结果。
在该技术方案中，通过将每个父区域进一步划分为第二数量的子区域，从而将ROM的存储区间划分为第一数量X第二数量个虚拟子区间，并以子区间为单位进行循环冗余校验(CRC校验)，在一个父区间内的所有子区间完全校验完毕后，生成校验结果，并进行下一个负区间中的子区间的CRC校验，通过进一步减少CRC校验单位时间内的数据处理量，以进一步减少CPU的占用量，在实现自检功能的同时，维持MCU的正常运行。
在上述任一技术方案中，优选地，校验单元还用于：根据预设循环周期对每个子区域执行循环冗余校验，并在一个循环周期完毕后，生成子校验结果；故障自检装置还包括：确定单元，用于将子校验结果确定为下个循环周期的输入值，并在循环周期数达到预设循环周期时，将最后的子校验结果确定为父区域的校验结果。
在该技术方案中，通过周期性对每个子区域进行CRC校验，并将上个周期的子校验结果，作为下个周期的输入值，在对第二数量的子区域校验完毕后，将最后的子校验结果作为一个父区域的校验结果，从而完成一个父区域的校验，并根据校验结果确定该区域是否发生故障，最终只需要得到第一数量的校验结果，从而能够减少校验结果的占用空间。
在上述任一技术方案中，优选地，确定单元还用于：确定生成多项式，并根据生成多项式确定校验数据帧；确定单元还用于：确定初始数据帧，初始数据帧分别包括基于子区域生成的信息数据帧以及校验数据帧；故障自检装置还包括：执行单元，用于对初始数据帧与生成多项式执行除法操作，生成CRC校验码，并将CRC校验码确定为子校验结果，以根据子校验结果与预设循环周期进入下个循环周期。
在该技术方案中，通过确定生成多项式，以将多项式对应的二进制数作为校验使用的除数，并根据二进制数的位数确定校验数据帧，由于信息数据帧也是一个二进制数组，从而将初始数据帧确定为一个多位的二级制数，通过将初始数据帧与生成多项式做除法，得到的余数为CRC校验码，以作为下一个循环周期中的校验数据帧，直至周期性循环结束后，最后得到的余数为校验结果，以将校验结果与预制验证值进行比较，根据比较结果判定是否存在故障。
在上述任一技术方案中，优选地，还包括：存储单元，用于将第一数量的校验预制值存储于只读存储器中的任一存储区域中；设置单元，用于在任一存储区域中设置校验值，以根据校验值检测任一存储区域是否故障。
在该技术方案中，通过将第一数量的校验预制值存储在任一存储区域，该存储区域用于存储校验预制值，通过在该区域对应设置校验值，以根据校验值检测该区域是否存在故障，进而实现了整个ROM存储区间的故障检测，以避免在存放CRC校验结果区域发生错误时，导致故障误判。
在上述任一技术方案中，优选地，还包括：报错单元，用于在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，生成报错信号，以提示只读存储器故障。
在该技术方案中，通过在控制关闭连接负载的同时，生成报错信号，以提示存储器故障，进而使用户根据报错信号及时进行问题定位与修复。
本发明第三方面的技术方案提出了一种微控制器，包括处理器，处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如上述第一方面的技术方案中任一项所述的故障自检方法的步骤。
在该技术方案中，在家用电器行业，采用MCU执行电控操作，由于当前家电行业普遍采用底端的MCU，自带的处理器(CPU)运算能力较弱，自带的存储器(ROM)存储空间有限，通过本发明提出的故障自检方法，在实现ROM自检功能的同时，能够。节省CPU运算资源以及ROM的占用资源。
本发明的第四方面的实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面的技术方案中任一项的故障自检方法的步骤。
通过本发明提出的故障自检方案，可以自动根据ROM区域的大小调整分区(父区域与子区域)数量，并获得分区的地址数据，并通过分区降低了ROM存储区的CRC校验对CPU资源的占用比，通过将每个区域校验后的子校验结果，作为下次计算的输入值，节省了校验结果的存放空间，通过在校验预制值的存储空间放置校验值，实现整个ROM区域的校验，避免由于存放CRC校验的结果区域放生错误，而导致误判的结果。
针对所要解决的技术问题，通过本发明提出的故障自检方案，可以使用一个或者多个校验值即可校验出整个ROM区域的CRC结果。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1示出了根据本发明的一个实施例的故障自检方法的示意流程图；
图2示出了根据本发明的实施例的故障自检装置的示意框图；
图3示出了根据本发明的另一个实施例的故障自检方法的示意流程图；
图4示出了根据本发明的实施例的微控制器的示意框图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
下面参照图1至图3描述根据本发明一些实施例的故障自检方案。
如图1所示，根据本发明的一个实施例的故障自检方法，包括：步骤102，根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据；步骤104，根据地址数据依次对父区域执行故障校验；步骤106，在每个父区域校验完毕时，检测校验结果是否与校验预制值匹配；步骤108，在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载。
在该实施例中，通过读取微控制器(MCU)的只读存储器(ROM)的存储区间，以确定ROM存储区间的大小，并根据MCU的运行速度对存储区间进行分区，得到多个父区域，在运行速度较快时，分区数量较多，在运行速度较慢时，分区数量较少，并记录每个分区的地址，以根据地址逐一进行故障校验，得到对应的校验值，通过检测校验值与校验值是否匹配(通常比较是否一致)，以在检测到不匹配时，表明存在异常，一方面，通过MCU控制关闭负载，以防止在ROM发生故障时，负载根据ROM中的的混乱代码运行，进而降低事故发生的概率，另一方面，通过进行区域划分，能够减少验证过程中对CPU资源的占用，在保证了MCU正常运行的同时，有利于提升校验效率。
其中，故障校验的方法可以包括CRC校验法(循环冗余校验)、奇偶校验法与累加和校验法等。
校验预制值为在ROM正常运行状态下计算出的校验值。
另外，本发明提供的上述实施例中的故障自检方法还可以具有如下附加技术特征：
实施例一：
在上述实施例中，优选地，根据地址数据依次对父区域执行故障校验，具体包括以下步骤：将每个父区域划分为第二数量的子区域；在根据地址数据确定对应的父区域后，对父区域内的每个子区域执行循环冗余校验，直至父区域校验完成，并生成校验结果。
在该实施例中，通过将每个父区域进一步划分为第二数量的子区域，从而将ROM的存储区间划分为第一数量X第二数量个虚拟子区间，并以子区间为单位进行循环冗余校验(CRC校验)，在一个父区间内的所有子区间完全校验完毕后，生成校验结果，并进行下一个负区间中的子区间的CRC校验，通过进一步减少CRC校验单位时间内的数据处理量，以进一步减少CPU的占用量，在实现自检功能的同时，维持MCU的正常运行。
实施例二：
在上述任一实施例中，优选地，对父区域内的每个子区域执行循环冗余校验，具体包括以下步骤：根据预设循环周期对每个子区域执行循环冗余校验，并在一个循环周期完毕后，生成子校验结果；将子校验结果确定为下个循环周期的输入值，并在循环周期数达到预设循环周期时，将最后的子校验结果确定为父区域的校验结果。
在该实施例中，通过周期性对每个子区域进行CRC校验，并将上个周期的子校验结果，作为下个周期的输入值，在对第二数量的子区域校验完毕后，将最后的子校验结果作为一个父区域的校验结果，从而完成一个父区域的校验，并根据校验结果确定该区域是否发生故障，最终只需要得到第一数量的校验结果，从而能够减少校验结果的占用空间。
实施例三：
在上述任一实施例中，优选地，根据预设循环周期对每个子区域执行循环冗余校验，具体包括以下步骤：确定生成多项式，并根据生成多项式确定校验数据帧；确定初始数据帧，初始数据帧分别包括基于子区域生成的信息数据帧以及校验数据帧；对初始数据帧与生成多项式执行除法操作，生成CRC校验码，并将CRC校验码确定为子校验结果，以根据子校验结果与预设循环周期进入下个循环周期。
在该实施例中，通过确定生成多项式，以将多项式对应的二进制数作为校验使用的除数，并根据二进制数的位数确定校验数据帧，由于信息数据帧也是一个二进制数组，从而将初始数据帧确定为一个多位的二级制数，通过将初始数据帧与生成多项式做除法，得到的余数为CRC校验码，以作为下一个循环周期中的校验数据帧，直至周期性循环结束后，最后得到的余数为校验结果，以将校验结果与预制验证值进行比较，根据比较结果判定是否存在故障。
具体地，CRC校验过程可以包括：
假设生成多项式为G(X)＝X4+X3+1，把生成多项式转换成二进制数，然后根据多项式各项的含义，确定对应的二进制比特串为11001。
因为生成多项式的位数为5(最高位的幂次+1)，确定CRC的校验数据帧的位数为4(校验帧的位数比生成多项式的位数少1)，假设信息数据帧为10110011，在后面加4个0，得到101100110000，然后把这个数以“模2除法”方式除以生成多项式，得到的余数，即CRC校验码为0100。
在下一个循环周期内，采用得到的校验码0100替换初始数据帧中的后四位的0000，得到新帧101100110100，再采用新帧进行下一个循环验证；
将余数作为验证结果以与预制验证值进行比较，在一致时，表明ROM正常，在不一致时，表明ROM故障。
在上述任一实施例中，优选地，在根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据前，还包括：将第一数量的校验预制值存储于只读存储器中的任一存储区域中；在任一存储区域中设置校验值，以根据校验值检测任一存储区域是否故障。
在该实施例中，通过将第一数量的校验预制值存储在任一存储区域，该存储区域用于存储校验预制值，通过在该区域对应设置校验值，以根据校验值检测该区域是否存在故障，进而实现了整个ROM存储区间的故障检测，以避免在存放CRC校验结果区域发生错误时，导致故障误判。
在上述任一实施例中，优选地，在检测到校验结果与预设校验阈值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载，还包括：在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，生成报错信号，以提示只读存储器故障。
在该实施例中，通过在控制关闭连接负载的同时，生成报错信号，以提示存储器故障，进而使用户根据报错信号及时进行问题定位与修复。
如图2所示，根据本发明的实施例的故障自检装置200，包括：划分单元202，用于根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据；校验单元204，用于根据地址数据依次对父区域执行故障校验；检测单元206，用于在每个父区域校验完毕时，检测校验结果是否与校验预制值匹配；控制单元208，用于在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载。
在该实施例中，通过读取微控制器(MCU)的只读存储器(ROM)的存储区间，以确定ROM存储区间的大小，并根据MCU的运行速度对存储区间进行分区，得到多个父区域，在运行速度较快时，分区数量较多，在运行速度较慢时，分区数量较少，并记录每个分区的地址，以根据地址逐一进行故障校验，得到对应的校验值，通过检测校验值与校验值是否匹配(通常比较是否一致)，以在检测到不匹配时，表明存在异常，一方面，通过MCU控制关闭负载，以防止在ROM发生故障时，负载根据ROM中的的混乱代码运行，进而降低事故发生的概率，另一方面，通过进行区域划分，能够减少验证过程中对CPU资源的占用，在保证了MCU正常运行的同时，有利于提升校验效率。
在上述实施例中，优选地，划分单元202还用于：将每个父区域划分为第二数量的子区域；校验单元204还用于：在根据地址数据确定对应的父区域后，对父区域内的每个子区域执行循环冗余校验，直至父区域校验完成，并生成校验结果。
在该实施例中，通过将每个父区域进一步划分为第二数量的子区域，从而将ROM的存储区间划分为第一数量X第二数量个虚拟子区间，并以子区间为单位进行循环冗余校验(CRC校验)，在一个父区间内的所有子区间完全校验完毕后，生成校验结果，并进行下一个负区间中的子区间的CRC校验，通过进一步减少CRC校验单位时间内的数据处理量，以进一步减少CPU的占用量，在实现自检功能的同时，维持MCU的正常运行。
在上述任一实施例中，优选地，校验单元204还用于：根据预设循环周期对每个子区域执行循环冗余校验，并在一个循环周期完毕后，生成子校验结果；故障自检装置200还包括：确定单元210，用于将子校验结果确定为下个循环周期的输入值，并在循环周期数达到预设循环周期时，将最后的子校验结果确定为父区域的校验结果。
在该实施例中，通过周期性对每个子区域进行CRC校验，并将上个周期的子校验结果，作为下个周期的输入值，在对第二数量的子区域校验完毕后，将最后的子校验结果作为一个父区域的校验结果，从而完成一个父区域的校验，并根据校验结果确定该区域是否发生故障，最终只需要得到第一数量的校验结果，从而能够减少校验结果的占用空间。
在上述任一实施例中，优选地，确定单元210还用于：确定生成多项式，并根据生成多项式确定校验数据帧；确定单元210还用于：确定初始数据帧，初始数据帧分别包括基于子区域生成的信息数据帧以及校验数据帧；故障自检装置200还包括：执行单元212，用于对初始数据帧与生成多项式执行除法操作，生成CRC校验码，并将CRC校验码确定为子校验结果，以根据子校验结果与预设循环周期进入下个循环周期。
在该实施例中，通过确定生成多项式，以将多项式对应的二进制数作为校验使用的除数，并根据二进制数的位数确定校验数据帧，由于信息数据帧也是一个二进制数组，从而将初始数据帧确定为一个多位的二级制数，通过将初始数据帧与生成多项式做除法，得到的余数为CRC校验码，以作为下一个循环周期中的校验数据帧，直至周期性循环结束后，最后得到的余数为校验结果，以将校验结果与预制验证值进行比较，根据比较结果判定是否存在故障。
在上述任一实施例中，优选地，还包括：存储单元214，用于将第一数量的校验预制值存储于只读存储器中的任一存储区域中；设置单元216，用于在任一存储区域中设置校验值，以根据校验值检测任一存储区域是否故障。
在该实施例中，通过将第一数量的校验预制值存储在任一存储区域，该存储区域用于存储校验预制值，通过在该区域对应设置校验值，以根据校验值检测该区域是否存在故障，进而实现了整个ROM存储区间的故障检测，以避免在存放CRC校验结果区域发生错误时，导致故障误判。
在上述任一实施例中，优选地，还包括：报错单元218，用于在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，生成报错信号，以提示只读存储器故障。
在该实施例中，通过在控制关闭连接负载的同时，生成报错信号，以提示存储器故障，进而使用户根据报错信号及时进行问题定位与修复。
实施例四：
如图3所示，根据本发明的另一个实施例的故障自检方法，包括：步骤302，读取MCU的ROM区间，以计算区间的大小；步骤304，根据MCU运行速度，计算出适合的划分的区域，以将整个ROM区划分为N个大区域，然后每个大区域划分为M个小区域；步骤306，从一个大区域起始地址开始进行ROM的CRC校验，具体包括周期性对每个小区域进行CRC校验，将每个小区域计算出CRC校验结果作为下次计算的输入值；步骤308，在第一个ROM大区域校验结束时，将结果跟预知的ROM区的值进行比较，如果相同，MCU继续正常运行，如果不同则报警，关掉域安全相关的负载；步骤310，根据区域地址执行下一个大区域校验，直至整个ROM区域校验结束，并得到N个大区域的CRC校验和。
另外，为了校验整个ROM区域，在存放CRC的校验预制值的区域增加存放校验值，用以判断存放CRC校验预制值的区域的存储单元是否正常。
如图4所示，根据本发明的实施例的微控制器，包括处理器404，处理器404用于执行存储器402中存储的计算机程序时实现如上述任一实施例中所述的故障自检方法的步骤。
在该实施例中，在家用电器行业，采用MCU执行电控操作，由于当前家电行业普遍采用底端的MCU，自带的处理器(CPU)运算能力较弱，自带的存储器(ROM)存储空间有限，通过本发明提出的故障自检方法，在实现ROM自检功能的同时，能够。节省CPU运算资源以及ROM的占用资源。
根据本发明的实施例的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述任一实施例所述的故障自检方法的步骤。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。
本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存储器(Random Access Memory，RAM)、可编程只读存储器(Programmable Read-only Memory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory，EPROM)、一次可编程只读存储器(One-time Programmable Read-Only Memory，OTPROM)、电子抹除式可复写只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、只读光盘(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
根据本发明的技术方案，通过读取微控制器(MCU)的只读存储器(ROM)的存储区间，以确定ROM存储区间的大小，并根据MCU的运行速度对存储区间进行分区，得到多个父区域，在运行速度较快时，分区数量较多，在运行速度较慢时，分区数量较少，并记录每个分区的地址，以根据地址逐一进行故障校验，得到对应的校验值，通过检测校验值与校验值是否匹配(通常比较是否一致)，以在检测到不匹配时，表明存在异常，一方面，通过MCU控制关闭负载，以防止在ROM发生故障时，负载根据ROM中的的混乱代码运行，进而降低事故发生的概率，另一方面，通过进行区域划分，能够减少验证过程中对CPU资源的占用，在保证了MCU正常运行的同时，有利于提升校验效率。
以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。